CN108472894A - 用于管理轮胎检查设备的方法和适于根据所述方法操作的轮胎检查设备 - Google Patents
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Abstract
一种用于管理轮胎检查设备的方法,所述设备(1)包括:用于轮胎检查的光学结构(430),所述光学结构(430)包括至少第一光学工具(43a);适于移动所述第一光学工具(43a)的第一构件(40a)。所述轮胎检查包括在第一持续时间内对第一轮胎执行的至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行的第二检查序列。所述方法包括:通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎执行第一检查(C1);通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎或所述第二轮胎执行第二检查(C2);其中所述第一检查(C1)和所述第二检查(C2)由时间间隔(T1)分开,所述时间间隔短于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间之和;其中所述第一光学工具(43a)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;其中所述方法包括在所述时间间隔(T1)期间验证所述第一光学工具(43a)。还描述了适于根据所述方法操作的轮胎检查设备(1)。
Description
技术领域
本发明涉及用于管理轮胎检查设备的方法。
本发明还涉及适于根据所述方法操作的轮胎检查设备。
背景技术
用于车辆车轮的轮胎通常包括胎体结构,所述胎体结构包括至少一个胎体帘布层,所述至少一个胎体帘布层具有相应地相对的端部折片,所述端部折片与相应的环形锚固结构接合,所述环形锚固结构一般称作“胎圈芯”并且在通常称为“胎圈”的区域中加以识别,所述胎圈的内径基本对应于轮胎的所谓“配合直径”,以用于将轮胎装配在相应安装轮辋上。该轮胎还包括胎冠结构,所述胎冠结构包括:带束结构,所述带束结构具有相对于胎体帘布层(多个胎体帘布层)布置在径向外部位置中的至少一个带束条;和相对于带束条(多个带束条)的径向外部胎面带。在胎面带和带束条(多个带束条)之间可以布置由弹性体材料制成的所谓的“底层”,所述弹性体材料具有用于确保带束条(多个带束条)与胎面带本身稳定连接成一体的适当性质。在胎体结构的侧表面上还施加有弹性体材料的相应侧壁,每个侧壁均从胎面带的侧边缘中的一个延伸直到胎圈的相应环形锚固结构。在“无内胎”轮胎中,胎体帘布层内部覆盖有通常称为“衬里”的弹性体材料层,其优选地为丁基弹性体材料层,所述衬里具有优化的气密性而且从一个胎圈延伸到另一个胎圈。
术语“光学”、“光”等是指所使用的电磁辐射,所述电磁辐射具有落入光波带的扩大邻域但是不一定严格落入该光波带(即,400nm-700nm)内的光谱的至少一部分,例如光波带的这个扩大邻域可以从紫外到红外(例如,介于约100nm和约1μm之间的波长)。
术语“光学工具”意在表示一种单元,其包括:支撑件,其适于允许光学工具与作为轮胎检查设备的一部分的构件之间的联接;适于发射光辐射的至少一个发射器装置,其安装在所述支撑件上;适于检测这种光辐射的至少一个检测器装置,其安装在所述支撑件上。特别地,检测器装置适于在由发射器装置发射的光辐射与待检查的轮胎相互作用(例如,根据反射和/或漫射现象)之后检测这样的辐射。
光学工具在检查操作中的术语“使用”或“采用”意在表示至少部分地基于由所述光学工具检测光辐射来执行轮胎检查操作。
术语“光学结构”意在表示包括一个或多个光学工具的组件。
在用于车辆车轮的轮胎的制造和构造处理中,适合对成品实施质量检查,其旨在防止有缺陷的轮胎被投放市场和/或逐步调节所使用的设备和机器以便改进和优化在制造过程中实施的操作的执行。这些质量检查包括例如由操作人员实施的质量检查,所述操作人员花费固定时间,例如介于30s和60s之间的时间,对轮胎实施视觉和触觉检查;如果操作人员根据自己的经验和敏感性怀疑轮胎不符合某些质量标准,则该轮胎将通过更详细的人工检查和/或通过适当的设备接受进一步检查,以便深化任何结构和/或质量缺陷的评估。
文献EP 1120640 A1描述了一种用于检查轮胎的外观和形状并且特别是用于评估轮胎本身的内表面的质量的设备:轮胎位于转台上。支撑结构将光发射器和相机保持在轮胎的中空部分的中心处,以便检测关注特征。
文献US 2012/0134656 A1描述了一种用于检测轮胎形状缺陷的照明装置和检查装置。
本申请人已经观察到,EP 1120640 A1和US 2012/0134656 A1中所示类型的设备/装置基于电磁辐射,特别是光辐射的发射和检测。为使检测精确和可靠,必须适当地校准所使用的仪器。
本申请人还已经观察到,由于若干因素(例如,光学工具的透镜的雾化、发射器装置和/或检测器装置的故障、发射器/检测器装置相对于支撑件的不希望和不受控制的移动等),光学工具的操作条件随时间而变化并且从其初始设置改变,对于执行预期的检查而言,所述初始设置被认为是理想的或者至少适合的。这会导致测量结果的准确性和一致性降低,从而导致所执行的检查的可靠性降低。
因此,本申请人已经认识到,应该定期检查光学工具,以便识别和校正在系统操作期间出现的任何问题。
然而,本申请人认为,优选的是基本上在线地检查轮胎,即,基本上连续地在轮胎生产过程的下游检查轮胎。因此,为了执行上述检查,将需要中断检查活动,从而使整个过程失去效率。
本申请人还已经注意到,在设置有需要检查的多个彼此不同的光学工具的设备的情况下,这些中断可能会持续特别长的时间。
因此,本申请人已经认为,需要找到一种技术方案,其使得可以在轮胎的检查期间检查光学工具的操作,以便不会影响检查操作的执行时机。
本申请人已经观察到,EP 1120640 A1和US 2012/0134656 A1中所示类型的装置/设备不能提供关于该要求的任何解决方案或任何建议。实际上,这些文献没有涉及光学工具的可能故障和/或检查过程的执行时机的管理。
然后,本申请人已经注意到,尽管从一般的观点来看,轮胎检查操作可能在基本连续的情况下执行,但在一次检查和随后检查之间(通常,在轮胎检查结束时,在开始检查下一个轮胎之前)仍然存在时间间隔,在该时间间隔期间不使用光学工具。
本申请人还已经证实,这些时间间隔通常具有足以允许检查至少一个光学工具的操作和/或校准条件的持续时间。
因此,本申请人已经认识到,可以使用相同的间隔来检查光学工具,而同时又不需要专用于检查活动的中断。
更具体地,本申请人已经发现,通过在检查过程的空闲间隔期间对至少一个光学工具进行检查,可选地使所述至少一个光学工具在适当布置的参考元件附近移动,可以在不以任何方式影响整个过程的执行时机的情况下周期性检查各个光学工具。
发明内容
根据其第一方面,本发明涉及一种用于管理轮胎检查设备的方法。
优选地,所述设备包括用于所述检查的光学结构。
优选地,所述光学结构包括至少第一光学工具。
优选地,所述设备包括适于移动所述第一光学工具的第一构件。
优选地,所述轮胎检查包括在第一持续时间中对第一轮胎执行的至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间中对第二轮胎执行的第二检查序列。
优选地,规定:通过所述光学结构对所述第一轮胎执行第一检查。
优选地,规定:通过所述光学结构对所述第二轮胎执行第二检查。
优选地,所述第一检查和所述第二检查由时间间隔分开。
优选地,所述时间间隔小于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间的和。
优选地,所述第一光学工具在所述时间间隔期间不用于轮胎检查。
优选地,规定:在所述时间间隔期间验证所述第一光学工具。
本申请人认为,以这种方式,形成检查设备的一部分的各个光学工具可以保持处于适当的操作条件下,并且因此可以在具有连续性并且同时具有可靠结果的情况下实施检查过程。
根据其第二方面,本发明涉及一种轮胎检查设备。
优选地,提供光学结构以执行一个或多个轮胎检查。
优选地,所述光学结构包括至少第一光学工具。
优选地,提供第一构件,其适于移动所述第一光学工具。
优选地,提供处理单元,其适于在第一持续时间内对第一轮胎执行至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行第二检查序列。
优选地,提供处理单元,其适于驱动所述光学结构以对所述第一轮胎执行第一检查。
优选地,规定:所述处理单元适于驱动所述光学结构以对所述第二轮胎执行第二检查。
优选地,所述第一检查和所述第二检查由时间间隔分开。
优选地,所述时间间隔小于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间的和。
优选地,所述第一光学工具在所述时间间隔期间不用于轮胎检查。
优选地,规定:所述处理单元适于在所述时间间隔期间验证所述第一光学工具。
本发明在其上述方面中的至少一个中可以包括下面描述的优选特征中的一个或多个。
优选地,为了验证所述第一光学工具,规定:将所述第一光学工具相对于参考元件定位在给定位置。
有利地,当第一光学工具相对于参考元件处于所述给定位置时,所述第一光学工具面向所述参考元件。
优选地,为了验证所述第一光学工具,规定:通过所述第一光学工具检测代表所述参考元件的至少一部分的光辐射。
优选地,为了验证所述第一光学工具,规定:在所检测到的光辐射和参考数据之间进行比较。
优选地,为了验证所述第一光学工具,规定:根据所述比较产生通知信号。
优选地,所述参考元件包括屏幕,其适于显示用于执行所述验证的预定形状。
优选地,为了将第一光学工具定位在所述给定位置,规定:驱动所述第一构件,以使得所述第一光学工具将被放置在所述给定位置。
优选地,规定:执行用于学习所述参考元件的位置的学习操作。
优选地,在执行所述第一检查之前执行所述学习操作。
优选地,所述学习操作包括驱动所述第一构件以将其置于一位置,以使得所述第一光学工具将相对于所述参考元件被放置在所述给定位置。
优选地,为了执行所述学习操作,规定:手动驱动所述第一构件。
优选地,所述学习操作包括将指示所述第一构件所占据的位置的位置数据存储到与所述第一构件相关联的存储介质中。
优选地,为了验证所述第一光学工具,规定:将所述第一构件驱动到由所述位置数据限定的位置。
优选地,所述第一光学工具包括适于发射光辐射的至少一个发射器装置。
优选地,所述第一光学工具包括适于检测所述光辐射的至少一个检测器装置。
优选地,所述第一光学工具包括支撑件,所述发射器装置和所述检测器装置安装在所述支撑件上。
优选地,所述光学结构包括第二光学工具。
优选地,所述第二光学工具在所述时间间隔期间不用于轮胎检查。
优选地,规定:在所述时间间隔期间验证所述第二光学工具。
优选地,所述第一持续时间介于约15秒和约120秒之间。
优选地,所述第二持续时间介于约15秒和约120秒之间。
优选地,所述第一持续时间基本上等于所述第二持续时间。
优选地,所述处理单元适于驱动所述第一构件以用于移动所述第一光学工具,以便验证所述第一光学工具。
优选地,提供参考元件。
优选地,所述处理单元适于驱动所述第一构件以用于将所述第一光学工具相对于所述参考元件定位在给定位置,以便验证所述第一光学工具。
优选地,所述处理单元适于在所述时间间隔期间验证所述第二光学工具。
附图说明
从对本发明的优选和非排他性实施例的详细描述中,将更清楚地看出其它特征和优点。在下文参考附图给出该描述,附图也仅用于说明性目的而非限制性目的,其中:
-图1示意性地示出了用于构造用于车辆车轮的轮胎的装备;
-图2示出了作为图1中的装备的一部分的轮胎检查设备的放大正视图;
-图3示出了作为先前附图中的设备的一部分的站的透视图;
-图4示出了可以由根据本发明的设备使用的形状;
-图5示出了作为根据本发明的设备的一部分的光学工具;
-图6示出了代表在根据本发明的方法中执行的操作的流程图;
-图7示出了代表根据本发明的设备的一些部分的框图。
具体实施方式
参考附图,附图标记1表示根据本发明的轮胎检查设备。
设备1可以放置在轮胎生产线的下游,以便在模制和硫化之后检查所述轮胎。
作为附加方案或替代方案,设备1可以在构造结束时并且在模制和硫化步骤之前操作。
在图1和2中的实施例中,放置在模制和硫化单元14下游的轮胎检查设备1包括第一检查单元19,所述第一检查单元具有用于来自生产线12的待检查的成品轮胎2的入口20和相应的出口21。在第一检查单元19的下游,在所述第一检查单元19的出口21处放置翻转和运输装置22。翻转和运输装置22的下游是第二检查单元23,所述第二检查单元具有用于来自翻转和运输装置22的成品轮胎2的入口24和相应的出口25。第一检查单元19的入口20是轮胎检查设备1的入口。第二检查单元23的出口25是轮胎检查设备1的出口。待检查的轮胎2依次一个接一个地进入入口20,沿着检查路径26在轮胎检查设备1内依序行进,并通过出口25离开。沿着检查路径26,轮胎2接受质量检查,以便根据将在下文描述的过程验证缺陷的可能存在,在图1和2中示出的实施例中,所述检查路径是直的。
第一检查单元19包括沿着检查路径26依次一个接一个放置的第一检查站27a、第二检查站27b和第三检查站27c。
所述检查站27a、27b、27c中的每一个均包括(图3,其示出了第一检查站27a)框架28,所述框架具有构造成搁置在地板上的下部部分29和在下部部分29上方延伸的上部部分30。所示的框架28是由四个竖向立柱31形成的框架,所述四个竖向立柱在平面图中布置在正方形或矩形的顶点处。竖向立柱31在上方在顶部部分30处由一对上纵向横梁32a(平行于检查路径26取向)和多个上横向横梁32b(垂直于检查路径26取向)连接。
相同的竖向立柱31在下方在下部部分29处由多个下纵向横梁33a和多个下横向横梁33b连接。
下横梁33a、33b承载由转台限定的支撑件34,所述转台具有大致水平的搁置区域35,所述搁置区域构造成接收并支撑待检查的成品轮胎2的侧壁。这样的搁置区域35可以由在附图中未详细示出的作为支撑件34的一部分的传送带的上分支限定。传送带限定将轮胎2从检查站27a、27b、27c转移到同一检查单元19、23的后续检查站27b、27c或到翻转和运输装置22的转移装置36。
更详细地说,在图3所示的实施例中,支撑件34包括围绕竖向旋转轴线“Y”铰接到下部部分29的转台。转台优选地联接到传送带,所述传送带在其平移运动期间限定运输方向“X”。
在未示出的不同实施例中,代替传送带,可以存在多个马达驱动的辊,轮胎2直接搁置在所述马达驱动的辊上。
优选地,设备1包括一个或多个构件40a、40b、40d、40e、40f、40c,用于移动光学工具(下文对其进行描述)。
构件40a、40b、40d、40e、40f、40c中的每一个均可以优选地实施为拟人机器人臂。甚至更优选地,每个拟人机器人臂都可以具有至少5个轴/自由度。
例如,每个检查站27a、27b、27c都可包括一对构件。特别地,第一站27a可包括第一构件40a和第二构件40b;第二站27b可包括第三构件40c和第四构件40d;第三站27c可包括第五构件40e和第六构件40f。
为简单起见,下文仅描述第一站27a的第一构件40a和第二构件40b;在任何情况下,以下描述也适用于作为第二站27b和第三站27c的一部分的构件。
第一构件40a和第二构件40b安装在支撑件34上方并且被约束到上横向横梁32b。每个所述构件40a、40b均具有连接到上横向横梁32b的其基部部分41和从基部部分41开始并通过关节件连接的一系列连续布置的分段。
每个构件40a、40b均在搁置区域35上方从上横向横梁32b悬臂延伸。在所示实施例中,构件40a、40b的两个基部部分41安装在上纵向横梁32a的相对纵向端部处和框架28的相对边缘处。因此,所述基部部分41未位于支撑件34的正上方,而是在其相对的两侧处移动。
每个构件40a、40b的末端均承载一个或多个光学工具43a、43b、43c。
在搁置区域35和所述上横向横梁32b之间,框架28界定了用于构件40a、40b和相应光学工具的操纵空间44。构件40a、40b限定光学工具43a、43b、43c的支撑和移动装置。
除了由相应的构件40a、40b、40c、40d、40e、40f承载的光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h的类型之外,第一检查站27a、第二检查站27b和第三检查站27c具有与上述相同的结构。
举例来说,第一检查站27a的第一构件40a承载第一光学工具43a,所述第一光学工具包括第一数码相机和光源,例如LED,所述光源适于利用漫射光和/或基本上沿着第一相机的光轴的直射光或利用掠射光和/或相对于所述第一相机的光轴倾斜的直射光照射由第一数码相机拍摄的轮胎2的部分。相同的第一构件40a还承载第二光学工具43b,所述第二光学工具包括第二相机和直射激光器,所述直射激光器相对于所述第二相机的光轴倾斜,以便突出轮胎2的特定轮廓,例如胎冠结构的径向内部部分或侧壁的径向外部部分上的轮廓。
第一检查站27a的第二构件40b承载单个第三光学工具43c,所述第三光学工具包括第三数码相机和远离第三相机的光源(例如,通过特殊支架),所述光源优选地根据介于大约60°和大约100°之间,例如大约90°的角度相对于所述第三相机的光轴取向,以便在轮胎2上投射出能够突出轮胎2本身的浮凸缺陷的掠射光,例如在胎面带的块体之间出现的帘线。相同的光学工具43c优选地包括低分辨率扫描器,以便扫描轮胎2的特定轮廓,例如胎冠结构的径向内部部分。
属于第二检查站27b的第三构件40c承载第四光学工具43d,所述第四光学工具与第一光学工具43a相似或相同并且包括第四数码相机和光源,所述光源适于利用漫射光和/或基本上沿着第四相机的光轴的直射光或利用掠射光和/或相对于所述第四相机的光轴倾斜的直射光照射由第四数码相机拍摄的轮胎2的部分。相同的第三构件40c还承载第五光学工具43e,所述第五光学工具包括第五相机和直射激光器,所述直射激光器相对于所述第五相机的光轴倾斜,以便突出轮胎2的特定轮廓,例如胎面带或胎圈的径向外部部分。
属于第二检查站27b的第四构件40d承载单个第六光学工具43f,所述第六光学工具包括第六相机和相对于所述第六相机的光轴倾斜的直射激光器,以便突出轮胎2的特定轮廓,例如侧壁的轮廓。第六光学工具43f还包括反射镜,所述反射镜拦截第六相机的光轴以拍摄轮胎2的径向内部部分,例如对应于侧壁11或与胎肩或胎圈相关的径向内部部分。所述反射镜还拦截激光,从而将其朝向拍摄区域投射。
属于第三检查站27c的第五构件40e承载单个第七光学工具43g,所述第七光学工具与第一光学工具43a相似或相同并且包括第七数码相机和光源,所述光源适于利用漫射光和/或基本上沿着第七相机的光轴的直射光或利用掠射光和/或相对于所述第七相机的光轴倾斜的直射光照射由第七数码相机拍摄的轮胎2的部分。
属于第三检查站27c的第六构件40f承载第八光学工具43h,所述第八光学工具也与第一光学工具43a相似或相同并且包括第八数码相机和光源,所述光源适于利用漫射光和/或基本上沿着第八相机的光轴的直射光或利用掠射光和/或相对于所述第八相机的光轴倾斜的直射光照射由第八数码相机拍摄的轮胎2的部分。所述第八光学工具43h还包括反射镜,所述反射镜拦截第八相机的光轴以拍摄轮胎2的径向内部部分。
第二检查单元23也包括沿着检查路径26依次一个接一个放置的第一检查站27a、第二检查站27b和第三检查站27c。因为第二检查单元23的所述检查站27a、27b、27c与第一检查单元19的所述检查站27a、27b、27c(包括光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h)基本相同,所以它们由与第一检查单元19的检查站27a、27b、27c相同的附图标记标识。因此,将不再详细描述它们。
形成轮胎检查设备1的一部分的光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h形成在附图中由附图标记430表示的光学结构。因此,光学结构430包括一个或多个光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h。
通常,每个光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h均包括:适于发射光辐射的至少一个发射器装置220;适于检测所述光辐射的至少一个检测器装置230;支撑件210,所述发射器装置220和所述检测器装置230安装在所述支撑件上。
举例来说,如上所述,检测器装置230可以是数码相机。优选地,发射器装置220可以是光源,例如LED,其适于照射由所述数码相机拍摄的轮胎2的部分。
作为示例,图5示出了第一光学工具43a,其中突出显示发射器装置220和检测器装置230。
轮胎检查设备1还设置有处理单元600(图7)。
优选地,处理单元600可操作地连接到第一检查单元19的和第二检查单元23的构件40a、40b、40c、40d、40e、40f、连接到光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h、连接到允许支撑件34旋转的马达38、连接到移动传送带的马达、连接到作为设备1本身的一部分的可能的其它光学工具以及任何传感器和连接到翻转和运输装置22的马达。
处理单元600可以是设备1在其中工作的整个装备的相同的电子管理单元,或者它可以可操作地连接到专用于装备本身的其它部分的一个或多个其它单元。
处理单元600优选地与位于上游的生产线12协调配合地管理轮胎检查设备1的操作。
根据本发明,处理单元600适于驱动光学结构430以在第一持续时间内对第一轮胎执行至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行第二检查序列。
优选地,所述第一持续时间介于约15秒和约120秒之间,甚至更优选地介于约20秒和约60秒之间。
优选地,所述第二持续时间介于约15秒和约120秒之间,甚至更优选地介于约20秒和约60秒之间。
所述第一持续时间可以等于所述第二持续时间。
所述第一检查序列包括对所述第一轮胎的至少第一检查C1。
由形成光学结构430的一部分的光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h中的一个或多个执行第一检查C1。
这样的一个或多个光学工具43a、43b、43c、43d、43e、43f、43g、43h通过相应的构件40a、40b、40c、40d、40e、40f移动并移动到适于发射和检测对收集代表所述第一轮胎的数据所需的辐射的位置。
举例来说,安装在第一构件40a上的第一光学工具43a和第二光学工具43b以及安装在第二构件40b上的第三光学工具43c可以用于第一检查C1。
优选地,通常,属于同一检查站,例如第一检查站27a的光学工具用于第一检查C1。
处理单元600还适于驱动光学结构430以对所述第一轮胎或所述第二轮胎执行第二检查C2。
所述第二检查C2实际上可以属于对所述第一轮胎的所述第一检查序列或对所述第二轮胎的所述第二检查序列。
第二检查C2可以涉及第一检查C1的相同光学工具和相同构件,或者它可以涉及不同的光学工具和/或构件。
作为示例,安装在第一构件40a上的第一光学工具43a和第二光学工具43b以及安装在第二构件40b上的第三光学工具43c可以用于第二检查C2。
优选地,通常,属于同一检查站,例如第一检查站27a的光学工具用于第二检查C2。
第一检查C1和第二检查C2由时间间隔T1分开。
时间间隔T1优选地是其中执行第一检查C1和/或第二检查C2的检查站不执行任何轮胎检查的时间间隔。
换句话说,在时间间隔T1期间,用于第一检查C1和/或第二检查C2的所有光学工具均不用于执行任何检查。
在不同的实施例中,在时间间隔T1期间,用于第一检查C1和/或第二检查C2的光学工具中的一个或多个用于另外的检查。换句话说,时间间隔T1不与检查站的完全不活动的时间段重合,而是包括其中一些光学工具用于检查轮胎而其它光学工具不用于检查轮胎的时间段。
所述时间间隔T1小于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间之和。
在时间间隔T1期间,至少第一光学工具43a不用于轮胎检查。
优选地,这意味着第一光学装置43a是其一部分的检查站(因此例如第一检查站27a)在时间间隔T1期间不执行对轮胎的检查,或者第一检查站27a在时间间隔T1中执行检查,但不使用第一光学工具43a。
有利地,处理单元600适于在时间间隔T1期间或者在被包括在对第一轮胎并且还可能对第二轮胎执行的检查序列的总持续时间内的时间间隔内验证第一光学工具43a。
以这种方式,可以验证第一光学工具43a而同时又不会对第一光学工具43a本身的操作和/或对第一检查站27a产生负面影响。
优选地,处理单元600驱动至少第一构件40a以移动第一光学工具43a以验证第一光学工具43a本身。
然后,可以将第一光学工具43a移动到合适的位置以进行验证。
设备1便利地包括参考元件300,所述参考元件用于验证至少第一光学工具43a。
参考元件300可以实现为屏幕300a,在所述屏幕上显示参考形状以执行第一光学工具43a的检查。
图4示意性地示出了可以在参考元件300上表示/显示的一些形状。
因此,为了执行第一光学工具43a的检查,处理单元600适于驱动第一构件40a以移动所述第一光学工具43a,以便将所述第一光学工具置于相对于参考元件300的给定位置,例如,面向参考元件。
如图3中示意性地所示,参考元件300优选地安装在框架28上,并且特别是安装在上纵向横梁32a中的一个上。
更一般地,参考元件300也可以安装在不同的位置中,只要光学工具43a、43b、43c可以通过相应的构件40a、40b到达所述不同的位置即可。
优选地,时间间隔T1可以用于还检查第二光学工具43b。
如上述示例性实施例所示,第二光学工具43b可以安装在安装有第一光学工具43a的同一第一构件40a上。在不同的实施例中,第二光学工具43b安装在不同于所述第一构件40a的构件上。
优选地,第一光学工具43a和第二光学工具43b是同一检查站,例如,所述第一检查站27a的一部分。
第二光学工具43b在时间间隔T1期间不用于轮胎检查。替代地,第二光学工具43b可以例如用于第一检查C1和/或第二检查C2。
然后,处理单元600配置成在时间间隔T1期间还验证第二光学工具43b。
优选地,对第二光学工具43b执行检查的方式与对第一光学工具43a执行检查的方式相同。
优选地,第二光学工具43b通过驱动相应的构件(可以是第一构件40a或不同的构件)而相对于参考元件300定位在给定位置。
优选地,依序执行对光学工具43a、43b、43c的检查。例如,首先将第一光学工具43a放置在相对于参考元件300的给定位置,并且对第一光学工具43a执行检查。然后移除第一光学工具43a,并且将第二光学工具43b定位在相对于参考元件300的给定位置。然后对第二光学工具43b执行检查。然后移除第二光学工具43b,并且将第三光学工具43c正确定位,以便还检查第三光学工具。
下面描述对第一光学工具43a执行的检查。应当注意的是,基本上以相同的方式对其它光学工具(诸如,第二光学工具43b)执行检查。
当第一光学工具43a相对于参考元件300处于给定位置时,通过第一光学工具43a本身检测光辐射W,所述光辐射代表参考元件300的至少一部分。
优选地,第一光学元件43的检测器装置230用于检测这样的光辐射W。
优选地,还使用第一光学元件43a的发射器装置220:这样的发射器装置220产生指向参考元件300的辐射,并且通过例如基于反射和/或漫射现象与参考元件300本身的相互作用,它们继而产生光辐射W。
在任何情况下,可以设想参考元件300可以是背光式,因此可以消除使用发射器装置300进行检查的需要。
实际上,可以将光辐射W检测为代表参考元件300的至少一部分的图像。
将光辐射W与参考数据Ref进行比较,并且根据该比较,生成通知信号NS。
有利地,光辐射W和参考数据Ref之间的比较由上述处理单元600执行。
光辐射W和参考数据Ref之间的比较旨在验证由第一光学工具43a检测到的内容对应于参考元件300的预先确定的预定义表示。换句话说,参考数据Ref表示预期由第一光学工具43a检测到的内容。
如果光辐射W(或由此定义的图像)与参考数据Ref之间存在显著差异,则通知信号NS将指示该差异,使得操作员可以进行干预。
在存在这种差异的情况下,优选地设想关于正在被检查的轮胎2的检查结果不被视为有效。
因此,干预将由校正第一光学工具43a的校准或用适当校准的类似工具替换第一光学工具构成。
如果第一光学工具43a的测量结果与预期的一致,则可以不生成通知信号NS,或者其可以指示工具正常工作。
如上所述,可以对第二光学工具43b使用相同的检查程序。
优选地,特别是根据上述标准,在时间间隔T1期间验证作为第一检查站27a的一部分的所有光学工具43a、43b、43c。
参考上述第一检查站27a的示例,可以在时间间隔T1中检查第一光学工具43a、第二光学工具43b以及第三光学工具43c。
以这种方式,当在对所述第一轮胎的连续检查操作之间或对所述第一轮胎的检查与对所述第二轮胎的检查之间发生不活动的时间段时,可以检查作为第一检查站27a的一部分的所有光学工具43a、43b、43c。
优选地,在对光学工具43a、43b、43c执行检查之前,执行学习操作SL。
学习操作SL允许设备1获知并存储参考元件300的位置。
特别地,在执行第一检查C1之前执行学习操作SL。
为了执行学习操作SL,驱动第一构件40a以将第一构件置于一位置,以使得第一光学工具43a将相对于参考元件300被放置在给定位置。
优选地,为了实施该操作,手动驱动第一构件40a。
实际上,操作者使用合适的界面与第一构件40a进行作用并驱动第一构件以使第一光学工具43a面向参考元件300。
当第一光学工具43a处于正确位置时,将定位数据PD存储在与第一构件40a相关联的存储介质610中。定位数据PD表示当第一光学工具43a相对于参考元件300处于给定位置时第一构件40a所占据的位置。
存储介质610有利地与上述处理单元600相关联。存储介质610可以是处理单元600在其操作期间访问的一个或多个存储区域的一部分。
定位数据的存储可以由操作者激活,一旦第一光学工具43a并且因此第一构件40a已经正确定位,则操作者通过上述用户界面(例如,通过按下按钮确认)通信应保存第一构件40a的当前位置。
一旦已经存储了定位数据,则它们随后用于执行第一光学工具43a的检查:当必须检查第一光学工具时,处理单元600从存储介质610读取定位数据PD并驱动第一构件40a以将其置于由定位数据PD本身定义的位置。以这种方式,第一光学工具43a正确地定位在参考元件300的前方,并且通过检测图像W,可以检查它。
应当注意的是,可以预先存储与其它光学工具和/或其它构件的定位有关的类似信息,从而执行与上述学习操作SL类似的操作。
以上描述基本上仅涉及第一检查站27a。如上所述,也可以对第一检查单元19和第二检查单元23两者的其余第二检查站27b和第三检查站27c执行完全类似的操作。
Claims (17)
1.一种用于管理轮胎检查设备的方法,所述设备(1)包括:
用于轮胎检查的光学结构(430),所述光学结构(430)包括至少一个第一光学工具(43a);
适于移动所述第一光学工具(43a)的第一构件(40a),
其中,所述轮胎检查包括在第一持续时间内对第一轮胎执行的至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行的第二检查序列,
其中,所述方法包括:
通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎执行第一检查(C1);
通过所述光学结构(430)对所述第一轮胎或所述第二轮胎执行第二检查(C2);
其中,所述第一检查(C1)和所述第二检查(C2)由时间间隔(T1)分开,所述时间间隔短于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间之和;
其中,所述第一光学工具(43a)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;
其中,所述方法包括在所述时间间隔(T1)期间验证所述第一光学工具(43a)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,验证所述第一光学工具(43a)包括:
将所述第一光学工具(43a)相对于参考元件(300)定位在给定位置;
通过所述第一光学工具(43a)检测代表所述参考元件(300)的至少一部分的光辐射(W);
在所检测到的光辐射(W)和参考数据(Ref)之间进行比较;
根据所述比较产生通知信号(NS)。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参考元件(300)包括屏幕(300a),其适于显示用于执行所述验证的预定形状。
4.根据权利要求2或3所述的方法,其中,将所述第一光学工具(43a)定位在所述给定位置包括驱动所述第一构件(40a),以使得所述第一光学工具(43a)将被放置在所述给定位置。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法,其包括在执行所述第一检查(C1)之前,执行用于学习所述参考元件(300)的位置的学习操作(SL)。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,为了执行所述学习操作,规定:手动驱动所述第一构件(40a)。
7.根据权利要求4和5所述的方法,其中,所述学习操作(SL)包括:
驱动所述第一构件(40a)以将其置于一位置,以使得所述第一光学工具(43a)将相对于所述参考元件(300)被放置在所述给定位置;
将指示所述第一构件(40a)所占据的位置的位置数据(PD)存储到与所述第一构件(40a)相关联的存储介质(610)中。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,为了验证所述第一光学工具(43a),所述第一构件(40a)被驱动到由所述位置数据(PD)限定的位置。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述第一光学工具(43a)包括:
至少一个发射器装置(220),其适于发射光辐射;
至少一个检测器装置(230),其适于检测所述光辐射;
支撑件(210),所述发射器装置(220)和所述检测器装置(230)安装在所述支撑件上。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述光学结构(430)包括第二光学工具(43b),
其中,所述第二光学工具(43b)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;
所述方法包括在所述时间间隔(T1)期间验证所述第二光学工具(43b)。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述第一持续时间介于约15秒和约120秒之间。
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述第二持续时间介于约15秒和约120秒之间。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述第一持续时间基本上等于所述第二持续时间。
14.一种轮胎检查设备,其包括:
光学结构(430),其用于对轮胎(2)执行一个或多个检查,所述光学结构(430)包括至少一个第一光学工具(43a);
第一构件(40a),其适于移动所述第一光学工具(43a);
处理单元(600),其适于:
在第一持续时间内对第一轮胎执行至少第一检查序列,以及随后在第二持续时间内对第二轮胎执行第二检查序列;
驱动所述光学结构(430),以便对所述第一轮胎执行第一检查(C1);
驱动所述光学结构(430),以便对所述第二轮胎执行第二检查(C2);
其中,所述第一检查(C1)和所述第二检查(C2)由时间间隔(T1)分开,所述时间间隔短于或等于所述第一持续时间和所述第二持续时间之和;
其中,所述第一光学工具(43a)在所述时间间隔(T1)期间不用于轮胎检查;
其中,所述处理单元(600)适于在所述时间间隔(T1)期间验证所述第一光学工具(43a)。
15.根据权利要求14所述的设备,其中,所述处理单元(600)适于驱动所述第一构件(40a)以用于移动所述第一光学工具(43a),以便验证所述第一光学工具(43a)。
16.根据权利要求15所述的设备,其包括参考元件(300),所述处理单元(600)适于驱动所述第一构件(40a)以用于将所述第一光学工具(43a)相对于所述参考元件(300)定位在给定位置,以便验证所述第一光学工具(43a)。
17.根据权利要求14至16中任一项所述的设备,其中,所述光学结构包括第二光学工具(43b),
其中,所述第二光学工具(43b)在所述时间间隔(T1)期间不用于检查,
其中,所述处理单元(600)适于在所述时间间隔(T1)期间验证所述第二光学工具(43b)。
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PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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