CN108388494A - 电子装置与其控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种电子装置与其控制方法。该电子装置包含控制器、使用者界面与传感器，使用者界面与传感器耦接控制器。使用者界面用以传送第一使用者指令至控制器以控制该控制器进入突发模式。控制器用以于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制传感器连续量测芯片或芯片所处的环境以产生多个感测值，并根据这些感测值产生感测数据。

Description

电子装置与其控制方法

技术领域

本案是有关于一种电子装置及其控制方法，且特别是有关于一种于突发模式内感测芯片状态的电子装置及其控制方法。

背景技术

于系统芯片(System on chip，SOC)的设计中，常使用嵌入式传感器(例如包含电压传感器、制程变异传感器、速度传感器、温度传感器)来监测芯片的状态。然而，当使用者通过使用者界面启动或读取传感器时，大部分的时间耗费在启动或读取过程，因此难以量测得芯片状态的于短时间内连续变化。此外，于一些特定应用中，使用者界面为无法使用状态，因此无法经由使用者界面控制传感器量测此时的芯片状态。

发明内容

本案的一态样是提供一种电子装置，其包含控制器、使用者界面与传感器，使用者界面与传感器耦接控制器。使用者界面用以传送第一使用者指令至控制器以控制该控制器进入突发模式(Burst mode)。控制器用以于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制传感器连续量测芯片或芯片所处的环境以产生多个感测值，并根据这些感测值产生感测数据。

本案的次一态样是提供一种控制方法，适用于电子装置。电子装置包含控制器、使用者界面与传感器。控制方法包含以下步骤。借由使用者界面，传送第一使用者指令至控制器以控制控制器进入突发模式。借由控制器，于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制传感器连续量测芯片或芯片所处的环境以产生多个感测值。借由控制器，根据这些感测值产生感测数据。

综上所述，本案可有效地缩短每次量测之间的时间间隔，进而达到连续监测芯片状态的效果。此外，于使用者界面无法使用的情况(例如芯片进行扫描测试、内存内建自测试)中，本案可利用进入突发模式的控制器来控制传感器持续监测芯片状态以助于准确地芯片性能分析。

附图说明

为让本案的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：

图1是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图2是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图3是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图4是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图5是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图6是根据本案一实施例示出的电子装置的示意图；

图7是说明本案一实施例的控制方法流程图；以及

图8是说明本案一实施例的控制方法流程图。

具体实施方式

以下揭示提供许多不同实施例或例证用以实施本发明的特征。本揭示在不同例证中可能重复引用数字符号且/或字母，这些重复皆为了简化及阐述，其本身并未指定以下讨论中不同实施例且/或配置之间的关系。

关于本文中所使用的「耦接」或「连接」，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，而「耦接」或「连接」还可指二或多个元件相互操作或动作。

请参考图1。图1是根据本案一实施例示出的电子装置100的示意图。电子装置100包含控制器110、使用者界面120与传感器130。使用者界面120与传感器130耦接控制器110。

使用者可通过使用者界面120控制该控制器110进入突发模式(Burst mode)与闲置模式其中一个。举例而言，使用者可通过使用者界面120传送第一使用者指令(例如致能信号)至控制器110以控制该控制器110进入突发模式，或传送第二使用者指令(例如禁能信号)至控制器110以控制该控制器110结束突发模式并进入闲置模式。

于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制器110还用以控制传感器130连续量测芯片或芯片运作环境以产生多个感测值(例如电压、温度)，接收传感器130产生的感测值并根据感测值产生感测数据。举例而言，于突发模式时，控制器110执行控制传感器130量测芯片以产生感测值，并记录感测值的循环直到接收到使用者界面120传送的第二使用者指令(例如禁能信号)，而控制器110还用以判断感测值当中的最大值与最小值以产生感测数据。此外，于另一实施例中，控制器110还用以记录最大值的时间数据与最小值的时间数据以产生感测数据。

须说明的是，传感器130不一定直接连接至芯片。举例而言，传感器130可以是电压传感器，而芯片与电压传感器的电源线且/或地线连接在一起。或者，传感器130可以是时钟传感器，其连接至芯片的时钟(clock)信号端。或者，传感器130可以是温度传感器，其测量芯片的环境温度，因此温度传感器并未直接连接至芯片。

使用者可操作使用者界面120传送第二使用者指令(例如禁能信号)至控制器110以控制该控制器110进入闲置模式。于接收第二使用者指令而进入闲置模式的控制器110则控制传感器130停止量测芯片，并且使用者可操作使用者界面120读取控制器110产生的感测数据。

实作上，控制器110可为集成电路或为嵌入式控制器，使用者界面120可为主机界面(Host interface)或为嵌入式界面，传感器130可为芯片的内嵌式传感器，例如电压传感器、制程变异传感器、速度传感器、温度传感器，此外，传感器亦可为外部环境传感器，如环境温度传感器，但本案不以此为限。

由于进入突发模式的控制器110控制传感器130量测芯片状态所需的时间(例如约10～100微秒(μs))远小于使用者界面120控制传感器130量测芯片状态加上读取对应感测值所需的时间(例如约1～100毫秒(ms))，因此，利用控制器110于突发模式中控制传感器130量测芯片状态可有效地缩短每次量测之间的时间间隔，进而让使用者能监测芯片状态的状态变化。举例来说，使用者利用使用者界面120控制传感器130，并使其量测芯片状态10次需花费10毫秒(每次量测花费1毫秒的情况下)；相较之下，使用者利用使用者界面120使控制器110进入突发模式，控制器110可在10毫秒内连续量测1000次(在控制器110控制传感器130量测芯片状态所需的时间为10微秒的情况下)，因此，利用本案的技术可有效监测芯片的状态变化。

须补充的是，如图1所示，传感器130可支持多个控制界面，亦即使用者可通过使用者界面120直接控制传感器130量测芯片以产生当前感测值与读取当前感测值。

或者，于另一实施例中，传感器230仅支持单一控制界面。请参考图2。图2是根据本案一实施例示出的电子装置200的示意图。除了控制器210耦接于使用者界面220与传感器230之间，电子装置200与电子装置100的架构大致上相同。

运作上，电子装置200与电子装置100大致相同，此处仅说明不同处。由于传感器230仅支持单一控制界面，若使用者欲通过使用者界面220操作传感器230，可操作使用者界面220控制于闲置状态的控制器210来控制传感器230量测芯片以产生当前感测值与读取当前感测值。

在一些实施例中，于闲置模式时，电子装置200内的控制器210具有旁路(bypass)功能，即可让使用者通过使用者界面220直接控制传感器230。

或者，于另一实施例中，传感器330仅支持单一控制界面。请参考图3。图3是根据本案一实施例示出的电子装置300的示意图。除了多工器MUX耦接于使用者界面320(或控制器310)与传感器330之间，电子装置300与电子装置100的架构大致上相同。

运作上，电子装置300与电子装置100大致相同，此处仅说明不同处。使用者可通过使用者界面320控制多工器MUX切换传感器330耦接至使用者界面320与控制器310其中一个。若使用者界面320控制多工器MUX以使于突发状态的控制器310耦接至传感器330并控制该控制器310进入突发状态，则于突发状态的控制器310可控制传感器330连续量测芯片状态。反之，若使用者界面320控制多工器MUX以使于突发状态的控制器310耦接至使用者界面320，则使用者界面320可控制传感器230量测芯片以产生当前感测值与读取当前感测值。此外，如上述，使用者亦可经由使用者界面320读取控制器310产生的感测数据。

于一些实施例中，于芯片进行被设置用于特定测试(例如扫描测试、内存内建自测试(Memory built-in self-test，MBIST))程序。于此些特定测试程序中，使用者界面120为无法使用状态。于此条件下，仍可能通过进入突发模式的控制器110、210、310控制传感器130、230、330连续量测测试中的芯片状态。如上述，控制器110、210、310可根据感测值产生感测数据(例如包含感测值的最大值与最小值与其时间数据)。以电压为例，控制器110、210、310可产生于测试中芯片的最高电压与其发生时间以及最低电压与其发生时间以助于准确地芯片性能分析。关于时间数据，具体而言，控制器110、210、310可记录感测值的最大值(例如最高电压)与最小值(例如最低电压)的循环编号，进而计算出感测值的最大值与最小值的发生时间点。

于一些实施例中，电子装置可包含储存器，请参考图4至图6。图4至图6是根据本案一些实施例示出的电子装置400～600的示意图。除了耦接控制器110、210、310的储存器440、540、640外，电子装置400～600与电子装置100～300的架构大致上相同。

运作上，电子装置400～600与电子装置100～300大致相同，此处仅说明不同处。储存器440、540、640用以储存控制器110、210、310产生的感测数据，使用者可操作使用者界面120、220、320通过于闲置模式的控制器110、210、310读取储存器440、540、640内的感测数据。或者，于另一实施例中，使用者可操作使用者界面120、220、320直接读取储存器440、540、640内的感测数据。

实作上，储存器440、540、640可为缓存器、静态随机存取内存(Static random-access memory，SRAM)、设置于芯片上的内存或与芯片分别设置的内存。

图7、图8是说明本案一些实施例的控制方法700流程图。控制方法700具有多个步骤S702～S706，控制方法800具有多个步骤S802～S810，其可应用于如图1至图6所示的电子装置100～600。然熟习本案的技术人员应了解到，在上述实施例中所提及的步骤，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行。

于步骤S702，借由使用者界面120、220、320，传送第一使用者指令(例如致能信号)至控制器110、210、310以控制控制器110、210、310进入突发模式。

于步骤S704，借由控制器110、210、310，于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制传感器130、230、330连续量测芯片或芯片所处的环境以产生多个感测值。

于步骤S706，借由控制器110、210、310，根据这些感测值产生感测数据。

控制方法800说明进行扫描测试的芯片量测步骤。

于步骤S802，借由使用者界面120、220、320，传送第一使用者指令(例如致能信号)至控制器110、210、310以控制控制器110、210、310进入突发模式。

于步骤S804，此时将芯片切换为扫描测试模式并进行扫描测试，同时借由控制器110、210、310，于接收第一使用者指令而进入突发模式的情况中，控制传感器130、230、330连续量测扫描测试中的芯片以产生这些感测值，并根据这些感测值产生感测数据以及将这些感测数据存入储存器440、540、640中。如上述，于芯片进行扫描测试时，使用者界面120、220、320为无法使用状态。

在一些实施例中，扫描测试模式可为其他测试模式。

在一些实施例中，每次量测扫描所得到的感测值会分别存入于储存器440、540、640的对应空间。

于步骤S806，当扫描测试结束后，将芯片切换回一般使用者界面模式。

于步骤S808，借由使用者界面120、220、320，传送第二使用者指令(例如禁能信号)至控制器110、210、310以控制控制器110、210、310进入闲置模式。

于步骤S810，借由使用者界面120、220、320，当控制器110、210、310于接收第二使用者指令而进入闲置模式的情况中，通过控制器110、210、310读取储存器440、540、640内的感测数据。

综上所述，本案可有效地缩短每次量测之间的时间间隔，进而达到连续监测芯片状态的效果。此外，于使用者界面120、220、320无法使用的情况(例如芯片进行扫描测试、内存内建自测试)中，本案可利用进入突发模式的控制器110、210、310控制传感器130、230、330持续监测芯片状态以助于准确地芯片性能分析。

虽然本案已以实施方式披露如上，然其并非用以限定本案，任何熟习此技术的人，在不脱离本案的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本案的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

【符号说明】

100、200、300、400、500、600：电子装置

110、210、310：控制器

120、220、320：使用者界面

130、230、330：传感器

MUX：多工器

440、540、640：储存器

700、800：控制方法

S702～S706、S802～S810：步骤。

Claims (10)

1.一种电子装置，包含：

一控制器；

一使用者界面，耦接该控制器并用以传送一第一使用者指令至该控制器以控制该控制器进入一突发模式；以及

一传感器，耦接该控制器，其中该控制器用以于接收该第一使用者指令而进入该突发模式的情况中，控制该传感器连续量测一芯片或该芯片所处的一环境以产生多个感测值，并根据所述感测值产生一感测数据。

2.如权利要求1所述的电子装置，其中该使用者界面还用以传送一第二使用者指令至该控制器以控制该控制器进入一闲置模式，当该控制器于接收该第二使用者指令而进入该闲置模式的情况中，该使用者界面还用以读取该控制器的该感测数据。

3.如权利要求1所述的电子装置，还包含：

一储存器，耦接该控制器，其中该控制器还用以将该感测数据储存于该储存器内。

4.如权利要求2所述的电子装置，其中该控制器还用以判断所述感测值当中的一最大值与一最小值以产生该感测数据。

5.如权利要求4所述的电子装置，其中该控制器还用以记录该最大值的一时间数据与该最小值的一时间数据以产生该感测数据。

6.如权利要求1所述的电子装置，还包含：

一多工器，耦接该使用者界面、该控制器与该传感器，其中该使用者界面还用以控制该多工器以切换该传感器耦接至该使用者界面与该控制器其中一个。

7.如权利要求1所述的电子装置，其中该芯片被设置以执行一扫描测试程序，且该控制器还用以于该突发模式时，控制该传感器连续量测执行该扫描测试程序的该芯片。

8.如权利要求1所述的电子装置，其中该芯片被设置以执行一内存内建自测试程序，且该控制器还用以于该突发模式时，控制该传感器连续量测执行该内存内建自测试程序的该芯片。

9.如权利要求1所述的电子装置，其中该使用者界面还用以传送一第二使用者指令至该控制器以控制该控制器进入一闲置模式，该控制器还用以于接收该第二使用者指令而进入该闲置模式的情况中，控制该传感器停止量测该芯片。

10.一种控制方法，适用于一电子装置，该电子装置包含一控制器、一使用者界面与一传感器，该控制方法包含：

借由该使用者界面，传送一第一使用者指令至该控制器以控制该控制器进入一突发模式；

借由该控制器，于接收该第一使用者指令而进入该突发模式的情况中，控制该传感器连续量测一芯片或该芯片所处的一环境以产生多个感测值；以及

借由该控制器，根据所述感测值产生一感测数据。