CN108352604A - 一种功率耦合测试装置 - Google Patents

Abstract

一种功率耦合测试装置，包括功率计和载台，还包括至少一个用于接收终端设备的射频信号的耦合天线，每个耦合天线包括至少一个振子机构和至少一个馈电机构，每个振子机构包括两个天线振子，与振子机构对应的馈电机构的一端分别与两个天线振子的一端连接，与振子机构对应的馈电机构的另一端与功率计信号连接，每个振子机构中的两个天线振子均为平板结构且互相对称，每个天线振子包括一个内侧边，两个天线振子的两个内侧边相对设置并形成间隙，每个内侧边在远离馈电机构的一端的至少一部分为指数曲线。该功率耦合测试装置降低了待测终端设备的位置变化对测试结果的影响，提高了功率耦合测试装置的测试准确性。

Description

一种功率耦合测试装置 技术领域

本发明涉及耦合测试领域，特别涉及一种功率耦合测试装置。

背景技术

在例如手机、平板电脑、笔记版电脑等使用无线通信技术的终端设备的生产过程中，为保证终端设备的无线通信质量，须在产品组装完成后对其进行功率耦合测试，以检测产品的无线性能。

目前常采用功率耦合测试装置对组装完成的终端设备进行功率耦合测试，常见的功率耦合测试装置的结构示意图如图1所示，包括屏蔽箱01、载台02和耦合板03。载台02位于屏蔽箱01的内部，屏蔽箱01可起到屏蔽外界干扰与减少内部反射的作用。在该功率耦合测试装置的测试过程中，待测试的终端设备04设置于载台02上，耦合板03通过有线连接方式外接功率计(图中未示出)，耦合板03为功率耦合测试装置起到能量传递的关键作用的核心部件，可将待测的终端设备04的辐射功率吸收并传递给功率计，从而达到探测耦合功率的效果。

在实际测试过程中，由于耦合板的频带窄且能量场形分布不均匀，待测终端设备的位置变化会使测试结果产生较大的变化，从而易导致功率耦合测试装置产生误测风险，降低了功率耦合测试装置的测试准确性。

因此，随着终端设备产品的快速发展和对测试精度要求的不断提升，提高功率耦合测试装置的测试准确性已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供了一种功率耦合测试装置，可降低待测终端设备的位置变化对测试结果的影响，减少功率耦合测试装置产生误测的概率，提高了功率耦合测试装置的测试准确性。

第一方面，提供一种功率耦合测试装置，包括功率计和载台，所述载台设有用于承载终端设备的承载面，其特征在于，还包括至少一个用于接收所述终端设备的射频信号的耦合天线，每个所述耦合天线包括至少一个振子机构和至少一个馈电机构，且每个所述振子机构与一个所述馈电机构对应连接，其中:

每个所述振子机构包括两个天线振子，与所述振子机构对应的所述馈电机构的一端分别与两个所述天线振子的一端连接，与所述振子机构对应的所述馈电机构的另一端与所述 功率计信号连接，所述馈电机构用于将与所述馈电机构所在的耦合天线接收的射频信号传送至所述功率计；

每个所述振子机构中的所述两个天线振子均为平板结构且互相对称，所述两个天线振子位于同一侧的表面之间的夹角为180°，每个所述天线振子包括一个内侧边，所述两个天线振子的两个所述内侧边相对设置并形成间隙，每个所述内侧边在远离所述馈电机构的一端的至少一部分为指数曲线；沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上，所述两个天线振子的两个所述内侧边之间的间隙逐渐增大。

结合上述第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述指数曲线的函数满足下列公式：

y(x)＝(d/2)e^kx；

其中，所述x为每个所述天线振子在沿所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上的长度；

所述y(x)为每个所述天线振子的内侧边在垂直于沿所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上与所述两个天线振子的对称轴之间的距离；

所述d为所述两个天线振子的两个所述内侧边之间的间隙的最小值；

所述K为常数，且0.03≤K≤0.1。

结合上述第一方面、第一方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，每个所述耦合天线还包括与每个所述天线振子一一对应设置的波导板，每个所述天线振子远离所述天线振子的所述内侧边的一侧与对应的所述波导板连接，且每个所述波导板与对应的所述天线振子垂直，沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向上，两个波导板之间的距离逐渐增大。

结合上述第一方面的第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述馈电机构为同轴线，且在每个所述振子机构的两个所述天线振子中，所述同轴线的外层导电体与一个天线振子电连接、所述同轴线的内层导电体与另一个天线振子电连接。

结合上述第一方面、第一方面的第一种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，每个所述天线振子形成于印刷电路板上。

结合上述第一方面的第四种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中，所述馈电机构为形成于印刷电路板的传输线。

结合上述第一方面，在第六种可能的实现方式中，每个所述耦合天线包括两个所述振子机构，所述两个振子机构的对称轴线重合，且所述两个振子机构中，一个振子机构中的天线振子与另一个振子机构中的天线振子垂直。

结合上述第一方面，在第七种可能的实现方式中，每个所述耦合天线的预设耦合频段为400MHz-6GHz。

结合上述第一方面，在第八种可能的实现方式中，所述耦合天线为两个且设置于所述载台远离所述承载面的一侧，每个所述耦合天线中，所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向与所述承载面垂直，且每个所述馈电机构位于所述馈电机构所在的所述耦合天线远离所述承载面的一端。

结合上述第一方面，在第九种可能的实现方式中，还包括设置与所述载台上、并用于安装每个所述7耦合天线的支撑架，所述支撑架中用于安装耦合天线的部分在沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向位置可调，且所述支撑架中用于安装耦合天线的部分在垂直于沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向的平面上位置可调。

根据第一方面提供的功率耦合测试装置中，采用耦合天线代替现有技术中使用的耦合板，且耦合天线包括至少一个振子机构，每个振子机构中的两个天线振子为平板状结构且对称设置，两个振子相对形成间隙的内侧边的至少一部分为指数曲线，因此，每个天线振子形成一个双脊波导结构，使该耦合天线相对于现有技术中使用的耦合板而言耦合频带较宽，降低了待测终端设备的位置变化对测试结果的影响，从而减少了功率耦合测试装置产生误测的概率，提高了功率耦合测试装置的测试准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是背景技术中采用耦合板的功率耦合测试装置的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的功率耦合测试装置的结构示意图；

图3a是本发明实施例提供的耦合天线的立体结构示意图；

图3b是本发明实施例提供的耦合天线的另一种立体结构示意图；

图3c为图3a中所示的耦合天线在垂直于天线口面方向上的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的耦合天线的平面结构示意图；

图5是本发明实施例提供的耦合天线的另一种立体结构示意图；

图6是本发明实施例提供的耦合天线的另一种立体结构示意图；

图7是本发明实施例提供的支撑架的结构示意图；

图8a是耦合天线在700MHz频点的口面能量分布图；

图8b是耦合天线在3GHz频点的口面能量分布图；

图8c是耦合天线在8GHz频点的口面能量分布图；

图9是耦合天线的天线口面位置处的耦合能量波动测试结果图；

图10是采用耦合天线和采用耦合板的功率耦合测试装置的耦合能量分布测试结果比较图；

图11a是耦合天线2.4G WIFI的A路耦合过程能力测试结果图；

图11b是耦合天线2.4G WIFI的B路耦合过程能力测试结果图；

图11c是耦合天线5G WIFI的A路耦合过程能力测试结果图；

图11d是耦合天线5G WIFI的B路耦合过程能力测试结果图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图2，图2为本发明实施例提供的功率耦合测试装置的结构示意图。

如图2所示，本发明实施例提供的功率耦合测试装置，包括功率计(图2中未示出)和用于承载终端设备的载台10，具体实施中，载台10可采用图2中所示的结构，包括承载板11，承载板11上设有用于承载终端设备的承载面111，另外，为使终端设备在测试过程中放置稳定，承载板11上设有用于夹持待测试终端设备的夹具12，还包括用于支撑承载板11的底板14和两个支撑板13，承载板11、支撑板13和底板14围成框架结构；

本发明实施例提供的功率耦合测试装置还包括用于接收承载于载台10上的终端设备的射频信号的至少一个耦合天线20，具体实施中，参见图2所示，耦合天线20可为图2中所示的两个或可为多个；

参见图3a和图3b所示，图3a为本发明实施例提供的耦合天线的立体结构示意图，图3b为本发明实施例提供的耦合天线的另一种立体结构示意图，每个耦合天线包括至少一个振子机构21，具体实施中，振子机构21也可为两个或多个；参见图4所示，图4为本发明实施例提供的耦合天线的平面结构示意图，耦合天线20还包括至少一个馈电机构22，振子机构21和馈电机构22的数量相等，且每个振子机构21对应连接一个馈电机构22；

继续参见图4所示，每个振子机构21均包括两个天线振子，例如图4中所示的第一天线振子211和第二天线振子212，与振子机构21对应的馈电机构22的一端与两个天线振子的一端连接、与振子机构21对应的馈电机构22的另一端与功率计连接(功率计图4中未示出)，馈电机构22用于将与馈电机构22所在的耦合天线20接收的射频信号传送至 功率计；具体实施中，每个振子机构21还包括图4中所示的短路板213；

继续参见图4所示，每个振子机构21中的每个天线振子均为平板结构互相对称，每个天线振子均包括一个内侧边，具体如图4中所示，第一天线振子211和第二天线振子212沿图4中所示的x轴对称，第一天线振子211包括第一内侧边2111，第二天线振子212包括第二内侧边2121，第一内侧边2111和第二内侧边2121相对设置并形成间隙，第一内侧边2111和第二内侧边2121背离馈电机构22的一端的至少一部分为指数曲线，参见图4所示，具体实施中，每个内侧边背离馈电结构的一端的一部分为指数曲线，而内侧边靠近馈电结构的一端的一部分为直线；参见图3c所示，图3c为图3a中所示的耦合天线在垂直于天线口面方向上的结构示意图，两个天线振子位于同一侧的表面之间的夹角为180°，即图3c中所示的角A和角B均为180°；

且继续参见图4所示，沿两个天线振子与馈电机构22连接的一端到两个天线振子远离馈电机构22的一端的方向上，即沿图4中所示的x轴所指方向上，第一天线振子211的第一内侧边2111和第二天线振子212的第二内侧边2121之间的间隙逐渐增大。

本发明实施例提供的功率耦合测试装置中，采用耦合天线代替现有技术中使用的耦合板，且耦合天线包括至少一个振子机构，每个振子机构中的每个天线振子为对称设置的平板状结构，两个振子相对形成间隙的内侧边的至少一部分为指数曲线，则每个振子机构形成一个双脊波导结构，在对终端设备进行功率耦合测试时，终端设备的天线发出射频信号，振子机构形成射频接收电路，对终端设备的天线发出的射频信号进行匹配接收并部分耦合出射频信号，馈电结构由与天线振子的连接处接收天线振子耦合到的射频信号，并输出到功率计。由于该耦合天线采用双脊波导结构，相对于现有技术中使用的耦合板而言，双脊波导结构耦合频带较宽，耦合效率较高，降低了待测终端设备的位置变化对测试结果的影响，从而减少了功率耦合测试装置产生误测的概率，提高了功率耦合测试装置的测试准确性。

一种具体实施方式中，每个内侧边的指数曲线函数满足下列公式：

y(x)＝(d/2)e^kx；

其中，参见图2所示，x为每个天线振子在沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向上的长度；

继续参见图2所示，y(x)为每个天线振子的内侧边在垂直于沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向上与两个天线振子的对称轴之间的距离；

d为两个天线振子的两个内侧边之间的间隙的最小值；

K为常数，且0.03≤K≤0.1。

天线振子的内侧边在采用上述指数曲线函数时，可提高耦合天线的口面功率分布的均 匀度，在进行功率耦合测试时，可降低耦合能量的波动，进一步降低待测终端设备的位置变化对测试结果的影响，从而进一步提高了功率耦合测试装置的测试准确性。

一种具体实施方式中，参见图3a和图3b所示，每个耦合天线还包括与每个天线振子一一对应设置的波导板，例如图3a和图3b中所示的与第一天线振子211对应设置的第一波导板24、与第二天线振子212对应设置的第二波导板23，则天线振子与波导板配合使该耦合天线构成喇叭天线结构，可进一步拓宽耦合天线的频带且增加耦合天线的方向性；

继续参见图3a和图3b所示，每个波导板与对应的天线振子背离内侧边的一侧连接、且每个波导板与对应的天线振子垂直，沿两个天线振子与馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向上，两个波导板之间的距离逐渐增大，两个波导板之间可采用图3a中所示的连接板25进行支撑，也可采用图3b中所示的连接杆27进行支撑；具体实施中，天线振子和波导板均采用导电材料制成，例如金属材料。

一种具体实施方式中，参见图4所示，在耦合天线采用上述结构时，馈电机构22为同轴线，且同轴线的外层导电体与第一天线振子211电连接、同轴线的内层导电体与第二天线振子212电连接。

一种具体实施方式中，参见图6所示，图6为本实施例提供的另一种结构的耦合天线，该结构中的每个耦合天线形成于印刷电路板上，例如图6中所示的印刷电路板27，天线振子21形成于印刷电路板的表层，则印刷电路板27和天线振子21配合形成印刷电路板天线。

采用上述印刷电路板天线结构可降低耦合天线的制作成本。

一种具体实施方式中，在耦合天线包括印刷电路板且每个天线振子形成于印刷电路板的表层时，馈电机构为形成于印刷电路板的传输线，可进一步降低耦合天线的制作成本。具体实施中，上述印刷电路板天线中的天线振子和传输线可采用铜材料制成，以提高其导电效率，而印刷电路板中未包括天线振子和传输线的部分采用绝缘材料制成。

一种具体实施方式中，每个耦合天线包括两个振子机构，两个振子机构的对称轴线重合、且两个振子机构中，一个振子机构中的天线振子与另一个振子机构中的天线振子垂直。具体参见图5和图6所示，图5和图6为耦合天线包括两个振子机构时的两种天线的结构示意图，图5中的耦合天线20包括两个振子机构21，且每个振子机构中的天线振子均对应设有一个波导板；图6中所示的耦合天线采用四个印刷电路板拼接而成。

上述结构的耦合天线中，每个耦合天线包括两个振子机构，包括两个振子机构的耦合天线的结构相当于两个只包括一个振子机构的耦合天线的组合，可进一步拓宽耦合天线的耦合频段。

一种具体实施方式中，每个耦合天线的预设耦合频段为400MHz-6GHz，可覆盖终端设备的主天线、WIFI、GPS以及分集天线使用的频段。

一种具体实施方式中，参见图2所示，耦合天线20为两个，且设置于载台10中远离承载面111的一侧，每个耦合天线20中，两个天线振子21与馈电机构22连接的一端到两个天线振子21原理馈电机构22的一端的方向与承载面111垂直，即图4中所示的x轴方向与承载面111垂直，且每个耦合天线20中的馈电机构22位于该馈电机构22所在的耦合天线远离承载面111的一端；

采用两个耦合天线可进一步提高功率耦合测试装置的功率耦合准确性；具体实施中，两个耦合天线需通过功分器与功率计连接，以将两个耦合天线接收到的两路射频信号合成一路传输到功率计。

一种具体实施方式中，参见图1所示，本发明实施例提供的功率耦合测试装置还包括设置于载台10上、并用于安装耦合天线20的支撑架15，每个支撑架15中用于安装耦合天线20的部分在沿两个天线振子21与馈电机构22连接的一端到两个天线振子21的另一端的方向上位置可调，且每个支撑架15中用于安装耦合天线20的部分在垂直于两个天线振子21与馈电机构22连接的一端到两个天线振子21的另一端的方向的平面上位置可调；从而使安装于支撑架15上的耦合天线20与载台10上承载的待测终端设备之间的相对位置可调，以根据待测的终端设备调整合适的耦合天线20的位置。

具体实施中，该支撑架15可采用多个滑动机构组合实现，具体参见图7所示，图7为本实施例提供的支撑架10的结构示意图，该支撑架15包括第一支撑板151和两个第二支撑板152，两个第二支撑板153平行且相对设置，并分别与第一支撑板151活动连接，第一支撑板15上设有第一开槽1511，第一开槽1511的延伸方向沿两个耦合天线的安装方向设置，每个第二支撑板152上设有第二开槽1521和第三开槽1522，第二开槽1521的延伸方向平行于底板14所在平面且与第一开槽1511的延伸方向垂直，第三开槽1522的延伸方向垂直于底板14所在平面；

每个第二支撑板152上的第二开槽1521通过螺钉安装于底板14，螺钉可在第二开槽1521内滑动，以使第二支撑板152沿图7中所示的x方向移动；

第一支撑板151通过螺钉与两个第二支撑板152上的第三开槽1522连接，螺钉可在第三开槽1522内滑动，以使第一支撑板151沿图7中所示的z方向移动；

每个耦合天线20背离载台的一侧通过螺钉安装于第一支撑板151上的第一开槽1511，螺钉可在第一开槽1511内滑动，以使耦合天线沿图7中所示的y方向移动；

因此，采用上述结构的支撑架15可使安装于支撑架15上的耦合天线20与载台10上承载的待测终端设备之间的相对位置在空间内x、y、z三个方向上可调，以根据待测的终端设备调整合适的耦合天线的位置。

应当说明的是，本实施例提供的支撑架并不以上述结构的支撑架为限。

为进一步说明本发明实施例提供的功率耦合测试装置的功率耦合稳定性，对上述功率 耦合测试装置中采用的耦合天线进行测试，具体地，该耦合天线采用图3a或图3b中所示结构，即包括一个耦合机构的喇叭天线结构，且每个天线振子的内侧边的指数曲线部分符合上述函数公式y(x)＝(d/2)e^kx；

采用Agilent功率计对上述耦合天线进行口面能量分布测试，并取在距离天线口面位置100mm以上处、1000mm×1000mm范围的区域内的能量分布状态为测试结果，分别测试700MHz、3GHz和8GHz频点的能量分布，测试结果参见图8a-图8c所示，图8a是耦合天线在700MHz频点的口面能量分布图、图8b是耦合天线在3GHz频点的口面能量分布图、图8c是耦合天线在8GHz频点的口面能量分布图；由图8a可得出耦合天线在700MHz频点的能量均匀分布在600mm×600mm的区域内，由图8b可得出耦合天线在3G频点口面区域550mm×400mm范围内能量呈均匀状态分布；由图8c可得出8G频点口面能量则均匀的分布在400mm×400mm区域内；由图8a-图8c可看出，随着频率的增高，耦合天线口面的能量稳定分布区域逐渐缩小，但符合现阶段所需要测试的产品带宽。

同时，为了进一步验证待测终端位置对测试耦合能量的影响，对待测终端设备在空间内X、Y、Z三个方向上的位移以及Theta&Phi两个矢量角的变化对耦合能量造成的波动进行测试，具体地，分别针对会引起耦合能量变化的关键参数Z(喇叭口面到待测天线的距离)、H(待测天线相对喇叭投影面中心位置的水平偏移量)、H(待测天线相对喇叭投影面中心位置的垂直偏移量)&θ(待测天线相对喇叭口面的角度)进行测试，扫参域为5mm&5°,step为0.5mm&1°，并进行100组取样扫描，测试结果参见图9所示，图9是耦合天线的天线口面位置处的耦合能量波动测试结果图，由图9可得出，能量在2.4G和5GWIFI工作频带内最大波动为10dB，而现有技术中的功率耦合测试装置中的耦合板的最大波动一般为20dB，本发明实施例提供的耦合天线的波动有明显改善。

为更进一步说明本发明实施例提供的功率耦合测试装置的功率耦合稳定性，对采用上述耦合天线的功率耦合测试装置进行功率耦合测试，并和采用大耦合板的功率耦合测试装机进行对比，对比结果参见图10所示，图10是采用耦合天线和采用耦合板的功率耦合测试装置的耦合能量分布测试结果比较图，从测试结果图中可以看出，随着横坐标中的偏移尺寸的增大，采用上述耦合天线的功率耦合测试装置的能量分布曲线变化较为平滑且无锯齿状曲线出现，则证明与采用大耦合板的功率耦合测试装置相比，终端设备的位置变化对采用上述耦合天线的功率耦合测试装置的耦合能量的影响更小，且由图10可看出，采用大耦合板的功率耦合测试装置的耦合能量分布在偏移尺寸为1mm-29mm区间内较为稳定，采用上述耦合天线的功率耦合测试装置的耦合能量分布在偏移尺寸为11mm-39mm区间内较为稳定，因此两者拥有同样的测试范围。

同时，在生产现场对上述功率耦合测试装置进行实际产品小批量CPK(制程能力指数)验证，该测试中共测试终端设备283台，满足CPK验证机数量大于200的采样需求。

该CPK验证测试中，分别测试每个终端设备的2.4G和5G WIFI性能，测试结果参见图11a-图11d所示，其中，图11a是2.4G WIFI的A路耦合过程能力测试结果图、图11b是2.4G WIFI的B路耦合过程能力测试结果图、图11c是5G WIFI的A路耦合过程能力测试结果图、图11d是5G WIFI的B路耦合过程能力测试结果图，由图11a-图11d可看出，CPK在验证中提升明显，本实施例提供的功率耦合测试装置可提高功率测试稳定性。

应该说明的是，本实施例中提供的耦合天线可采用线极化、正交极化、圆极化、椭圆极化形式，此外，还可采用微带天线、波导天线、平面Vivaldi天线等类型的耦合天线，通过改变辐射体形状及辐射方式、相位分布等方法，来实现近场口面能量均匀分布，以达到提高功率耦合测试装置的测试准确性的目的。

显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1. 一种功率耦合测试装置，包括功率计和载台，所述载台设有用于承载终端设备的承载面，其特征在于，还包括至少一个用于接收所述终端设备的射频信号的耦合天线，每个所述耦合天线包括至少一个振子机构和至少一个馈电机构，且每个所述振子机构与一个所述馈电机构对应连接，其中:

   每个所述振子机构包括两个天线振子，与所述振子机构对应的所述馈电机构的一端分别与两个所述天线振子的一端连接，与所述振子机构对应的所述馈电机构的另一端与所述功率计信号连接，所述馈电机构用于将与所述馈电机构所在的耦合天线接收的射频信号传送至所述功率计；

   每个所述振子机构中的所述两个天线振子均为平板结构且互相对称，所述两个天线振子位于同一侧的表面之间的夹角为180°，每个所述天线振子包括一个内侧边，所述两个天线振子的两个所述内侧边相对设置并形成间隙，每个所述内侧边在远离所述馈电机构的一端的至少一部分为指数曲线；沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上，所述两个天线振子的两个所述内侧边之间的间隙逐渐增大。
2. 根据权利要求1所述的功率耦合测试装置，其特征在于，所述指数曲线的函数满足下列公式：

   y(x)＝(d/2)e^kx；

   其中，所述x为每个所述天线振子在沿所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上的长度；

   所述y(x)为每个所述天线振子的内侧边在垂直于沿所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向上与所述两个天线振子的对称轴之间的距离；

   所述d为所述两个天线振子的两个所述内侧边之间的间隙的最小值；

   所述K为常数，且0.03≤K≤0.1。
3. 根据权利要求1或2所述的功率耦合测试装置，其特征在于，每个所述耦合天线还包括与每个所述天线振子一一对应设置的波导板，每个所述天线振子远离所述天线振子的所述内侧边的一侧与对应的所述波导板连接，且每个所述波导板与对应的所述天线振子垂直，沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向上，两个波导板之间的距离逐渐增大。
4. 根据权利要求3所述的功率耦合测试装置，其特征在于，所述馈电机构为同轴线，且在每个所述振子机构的两个所述天线振子中，所述同轴线的外层导电体与一个天线振子 电连接、所述同轴线的内层导电体与另一个天线振子电连接。
5. 根据权利要求1或2所述的功率耦合测试装置，其特征在于，每个所述天线振子形成于印刷电路板上。
6. 根据权利要求5所述的功率耦合测试装置，其特征在于，所述馈电机构为形成于印刷电路板的传输线。
7. 根据权利要求1所述的功率耦合测试装置，其特征在于，每个所述耦合天线包括两个所述振子机构，所述两个振子机构的对称轴线重合，且所述两个振子机构中，一个振子机构中的天线振子与另一个振子机构中的天线振子垂直。
8. 根据权利要求1所述的功率耦合测试装置，其特征在于，每个所述耦合天线的预设耦合频段为400MHz-6GHz。
9. 根据权利要求1所述的功率耦合测试装置，其特征在于，所述耦合天线为两个且设置于所述载台远离所述承载面的一侧，每个所述耦合天线中，所述两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到所述两个天线振子远离所述馈电机构的一端的方向与所述承载面垂直，且每个所述馈电机构位于所述馈电机构所在的所述耦合天线远离所述承载面的一端。
10. 根据权利要求1所述的功率耦合测试装置，其特征在于，还包括设置与所述载台上、并用于安装每个所述7耦合天线的支撑架，所述支撑架中用于安装耦合天线的部分在沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向位置可调，且所述支撑架中用于安装耦合天线的部分在垂直于沿两个天线振子与所述馈电机构连接的一端到两个天线振子的另一端的方向的平面上位置可调。