CN108321262A - 一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED及其制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种垂直结构p‑金刚石/i‑SiC/n‑金刚石LED及其制作方法,垂直结构p‑金刚石/i‑SiC/n‑金刚石LED包括依次层叠设置的单晶金刚石衬底、p型硼高掺杂金刚石层、i型碳化硅层和n型磷高掺杂金刚石层,单晶金刚石衬底向外依次设置欧姆接触电极和保护金属层,n型磷高掺杂金刚石层向外依次设置欧姆接触电极和保护金属层,解决了金刚石LED发光效率问题。
Description
【技术领域】
本发明属于半导体器件技术领域,具体涉及一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED及其制作方法。
【背景技术】
发光二极管(LED)具有高效率、长寿命、节能和环保等优点,目前广泛应用于指示灯、数码管、显示屏、信号灯和固态照明等领域。作为一种全新的照明技术,LED是利用半导体芯片作为发光材料、直接将电能转换为光能的发光器件。自20世纪60年代世界第一个半导体发光二极管诞生以来,LED照明由于具有寿命长、节能、色彩丰富、安全、环保的特性,被誉为人类照明的第三次革命。2014年诺贝尔物理学奖就授予给了蓝光LED的发明者,其所用材料为GaN。目前,LED的研究向着紫外和深紫外延伸。深紫外光是指波长100纳米到280纳米之间的光波,半导体深紫外光源在照明、杀菌、医疗、印刷、生化检测、高密度的信息储存和保密通讯等领域具有重大应用价值。深紫外LED除菌净化功能已日渐被广泛应用在医疗和健康领域,作为新一代紫外杀菌技术,具有无汞、安全环保和广泛的环境适应性等特点,属于物理广谱杀菌,无化学残留特性。与常见的用于照明的LED相比,深紫外LED在材料、工艺和应用方面有明显区别,其要求材料的禁带宽度比较大,氮化镓材料难以胜任,因此需要寻找合适的散热材料。此时,金刚石材料就是最佳的选择。金刚石的禁带宽度为5.5eV,载流子迁移率大,热导率最高,对深紫外到远红外光的透过性好,十分适合制备LED。一般而言,金刚石LED是p-金刚石/i-金刚石/n-金刚石结构,这种情况下,i层的发光波长与n层的吸收波长一致,会影响金刚石的发光效率。因此,需要寻求一种禁带宽度略窄的材料来做有源层,并且由于异质结的存在可以形成势阱,提高复合概率,从而提高发光效率。尽管减少n型磷高掺杂金刚石层的厚度能够减少光吸收,但是无法完全避免。因此,我们从能带结构入手,寻求一种禁带宽度略窄的材料来做有源层,从而稍微降低发光波长,使得n型磷高掺杂金刚石层不吸收i型碳化硅层发出的光,提高发光效率。并且由于异质结的存在可以形成势阱,有利于空穴和电子的积累,提高复合概率,也能提高发光效率。
【发明内容】
本发明的目的是提供一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED及其制作方法,以解决金刚石LED发光效率问题。
本发明所采取的技术方案是:一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,包括依次层叠设置的单晶金刚石衬底、p型硼高掺杂金刚石层、i型碳化硅层和n型磷高掺杂金刚石层,单晶金刚石衬底向外依次设置欧姆接触电极和保护金属层,n型磷高掺杂金刚石层向外依次设置欧姆接触电极和保护金属层。
进一步的,i型碳化硅层生长于单晶金刚石衬底1上的生长条件为:采用MPCVD方法,选用气体为CH4,H2和SiH4,气体流量为500sccm,气压为100-130Torr,CH4与H2的体积比为0.01%-10%,SiH4与CH4的体积比为0.5-1.5,单晶金刚石衬底1温度为850-1050℃。
进一步的,i型碳化硅层的厚度为1-100nm,缺陷密度小于1010cm-2。
进一步的,p型硼高掺杂金刚石层为硼掺杂层,掺杂浓度NA>1019cm-3,厚度为1-10μm。
进一步的,n型磷高掺杂金刚石层为磷掺杂层,掺杂浓度ND>1019cm-3,厚度为0.1-2μm。
进一步的,单晶金刚石衬底为重掺杂。
本发明采用的第二种技术方案是,一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED的制作方法,其特征在于,首先,采用MPCVD方法在单晶金刚石衬底上依次生长p型硼高掺杂金刚石层,i型碳化硅层和n型磷高掺杂金刚石层;然后,在单晶金刚石衬底和n型磷高掺杂金刚石层上分别向外淀积欧姆接触电极和保护金属层;最后对整体进行高温退火;
其中,外延生长i型碳化硅层时,选用气体为CH4,H2和SiH4,气体流量为500sccm,气压为100-130Torr,CH4与H2的体积比为0.01%-10%,SiH4与CH4的体积比为0.5-1.5,单晶金刚石衬底1温度为850-1050℃。
进一步的,外延生长i型碳化硅层的生长条件为:选用气体为CH4,H2和SiH4,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4/H2=0.01%,SiH4/CH4=1,单晶金刚石衬底1温度为900℃。
进一步的,采用MPCVD方法在该衬底表面外延生长1μm p型硼高掺杂金刚石层,生长条件为:选用气体CH4、H2和TMB,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.01%,TMB与CH4的体积比为80ppm,单晶金刚石衬底的温度为950℃,最终得到的掺杂浓度为1019cm-3。
进一步的,采用MPCVD方法在i型碳化硅层上外延生长100nm n型磷高掺杂金刚石层,生长条件为:选用气体CH4、H2和PH3,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.05%,PH3与CH4的体积比为300ppm,单晶金刚石衬底温度为850℃,掺杂浓度为1019cm-3。
本发明具有以下有益效果:提供一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED及其制作方法,利用碳化硅作有源层,略微改变了发光波长,从而减少n型磷高掺杂金刚石层对光的吸收,同时异质结的存在能够在有源层形成载流子堆积,提高了发光效率。此外,金刚石材料具有优异的导热性能,可以改善器件的散热性能,提高晶体质量,减少窗口材料吸收,提高发光效率。
【附图说明】
图1是本发明实施例中垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED的示意图。
其中,1.单晶金刚石衬底;2.p型硼高掺杂金刚石层;3.i型碳化硅层;4.n型磷高掺杂金刚石层,5.欧姆接触电极,6.保护金属层。
【具体实施方式】
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理做进一步说明。
本发明提供了一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,包括依次层叠设置的单晶金刚石衬底1、p型硼高掺杂金刚石层2、i型碳化硅层3和n型磷高掺杂金刚石层4,单晶金刚石衬底1向外依次设置欧姆接触电极5和保护金属层6,n型磷高掺杂金刚石层4向外依次设置欧姆接触电极5和保护金属层6。
其中,i型碳化硅层3的厚度为1-100nm,缺陷密度小于1010cm-2。i层碳化硅3是LED的有源层,通过MPCVD技术外延生长实现,反应气体变为甲烷、氢气和硅烷,厚度为1-100nm,并且缺陷密度小于1010cm-2。
p型硼高掺杂金刚石层2为硼掺杂,通过MPCVD技术外延生长实现,反应气体采用甲烷、氢气和三甲基硼(TMB),掺杂浓度大于1019cm-3,厚度为1-10μm。
n型磷高掺杂金刚石层4为磷掺杂,通过MPCVD外延技术获得,掺杂浓度大于1019cm-3,厚度为0.1-2μm。
欧姆接触电极5采用钛、钨为Ti或W等能与金刚石形成碳化物或固溶体的金属,淀积在金刚石表面后,通过高温退火形成良好的欧姆接触。
为了防止氧化,在欧姆电极层上淀积保护金属金6,保护金属层6可以采用Au,Pd,Pt等惰性金属,用于防止欧姆接触电极5氧化,同时便于封装引线;
单晶金刚石衬底1可以是高温高压合成衬底,也可以是CVD合成衬底,还可以是自支撑金刚石薄膜,取向均为(100)方向;单晶金刚石衬底1的形状为矩形、圆形、椭圆形或者其他形状。
n型磷高掺杂金刚石层4上欧姆电极形状为网格形。p型硼高掺杂金刚石层2上欧姆电极为矩形、圆形、椭圆形或者其他形状。
单晶金刚石衬底1为p型重掺杂衬底,直接在背面淀积欧姆接触电极5和保护金属层6。
本发明提供了一种垂直结构的p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED的制作方法,首先,采用MPCVD方法在单晶金刚石衬底1上依次生长p型硼高掺杂金刚石层2,i型碳化硅层3和n型磷高掺杂金刚石层4;然后,在单晶金刚石衬底1和n型磷高掺杂金刚石层4上分别向外淀积欧姆接触电极5和保护金属层6;最后对整体进行高温退火以形成良好的欧姆接触。
其中,外延生长I型碳化硅层3时,选用气体为CH4,H2和SiH4,气体流量为500sccm,气压为100-130Torr,CH4与H2的体积比为0.01%-10%,SiH4与CH4的体积比为0.5-1.5,单晶金刚石衬底1温度为850-1050℃。
实施例
如图1,垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,衬底1为高温高压合成的重硼掺杂单晶金刚石,尺寸为3*3*0.3mm3,掺杂浓度为3*1019cm-3。
采用MPCVD方法在该衬底表面外延生长1μm p型硼高掺杂金刚石层2,生长条件为:选用气体CH4、H2和TMB,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.01%,TMB与CH4的体积比为80ppm,单晶金刚石衬底1的温度为950℃,最终得到的掺杂浓度为1019cm-3。
再采用MPCVD方法在p型硼高掺杂金刚石层2上外延生长50nm本征i型碳化硅层3,生长条件为:选用气体为CH4,H2和SiH4,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4/H2=0.01%,SiH4/CH4=1,单晶金刚石衬底1温度为900℃。
再采用MPCVD方法在i型碳化硅层3上外延生长100nm n型磷高掺杂金刚石层4,生长条件为:选用气体CH4、H2和PH3,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.05%,PH3与CH4的体积比为300ppm,单晶金刚石衬底1温度为850℃,掺杂浓度为1019cm-3。
在n型磷高掺杂金刚石层4上和单晶金刚石衬底层1背面淀积50nm欧姆接触电极5Ti和100nm采用Au的保护金属层6,在氩气环境中450℃下退火10min形成欧姆接触。
一般而言,金刚石LED是p-金刚石/i-金刚石/n-金刚石结构,这种情况下,i层的发光波长与n层的吸收波长一致,会影响金刚石的发光效率。因此,需要寻求一种禁带宽度略窄的材料来做有源层,并且由于异质结的存在可以形成势阱,提高复合概率,从而提高发光效率。尽管减少n型磷高掺杂金刚石层的厚度能够减少光吸收,但是无法完全避免。因此,我们从能带结构入手,寻求一种禁带宽度略窄的材料来做有源层,从而稍微降低发光波长,使得n型磷高掺杂金刚石层不吸收i型碳化硅层发出的光,提高发光效率。并且由于异质结的存在可以形成势阱,有利于空穴和电子的积累,提高复合概率,也能提高发光效率。
本发明采用SiC作为i型层,可以形成势阱,便于电子和空穴的积累,提高发光效率,同时可以稍微增加发光波长,提减少窗口层的吸收,提高出光效率。利用碳化硅作有源层,略微改变了发光波长,从而减少n型磷高掺杂金刚石层对光的吸收,同时异质结的存在能够在有源层形成载流子堆积,提高了发光效率。此外,金刚石材料具有优异的导热性能,可以改善器件的散热性能,提高晶体质量,减少窗口材料吸收,提高发光效率。
Claims (10)
1.一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,包括依次层叠设置的单晶金刚石衬底(1)、p型硼高掺杂金刚石层(2)、i型碳化硅层(3)和n型磷高掺杂金刚石层(4),所述单晶金刚石衬底(1)向外依次设置欧姆接触电极(5)和保护金属层(6),所述n型磷高掺杂金刚石层(4)向外依次设置欧姆接触电极(5)和保护金属层(6)。
2.如权利要求1所述的一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,所述i型碳化硅层(3)生长于单晶金刚石衬底1上的生长条件为:采用MPCVD方法,选用气体为CH4,H2和SiH4,气体流量为500sccm,气压为100-130Torr,CH4与H2的体积比为0.01%-10%,SiH4与CH4的体积比为0.5-1.5,单晶金刚石衬底1温度为850-1050℃。
3.如权利要求2或所述的一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,所述i型碳化硅层(3)的厚度为1-100nm,缺陷密度小于1010cm-2。
4.如权利要求1-3中任意一项所述的一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,所述p型硼高掺杂金刚石层(2)为硼掺杂层,掺杂浓度NA>1019cm-3,厚度为1-10μm。
5.如权利要求1-3中任意一项所述的一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,所述n型磷高掺杂金刚石层(4)为磷掺杂层,掺杂浓度ND>1019cm-3,厚度为0.1-2μm。
6.如权利要求1-3中任意一项所述的一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED,其特征在于,所述单晶金刚石衬底(1)为重掺杂。
7.一种垂直结构p-金刚石/i-SiC/n-金刚石LED的制作方法,其特征在于,首先,采用MPCVD方法在单晶金刚石衬底(1)上依次生长p型硼高掺杂金刚石层(2),i型碳化硅层(3)和n型磷高掺杂金刚石层(4);然后,在单晶金刚石衬底(1)和n型磷高掺杂金刚石层(4)上分别向外淀积欧姆接触电极(5)和保护金属层(6);最后对整体进行高温退火;
其中,外延生长i型碳化硅层(3)时,选用气体为CH4,H2和SiH4,气体流量为500sccm,气压为100-130Torr,CH4与H2的体积比为0.01%-10%,SiH4与CH4的体积比为0.5-1.5,单晶金刚石衬底1温度为850-1050℃。
8.如权利要求7所述的制作方法,其特征在于,所述外延生长i型碳化硅层(3)的生长条件为:选用气体为CH4,H2和SiH4,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4/H2=0.01%,SiH4/CH4=1,单晶金刚石衬底1温度为900℃。
9.如权利要求7所述的制作方法,其特征在于,采用MPCVD方法在该衬底表面外延生长p型硼高掺杂金刚石层(2)的生长条件为:选用气体CH4、H2和TMB,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.01%,TMB与CH4的体积比为80ppm,单晶金刚石衬底(1)的温度为950℃,最终得到的掺杂浓度为1019cm-3。
10.如权利要求7所述的制作方法,其特征在于,采用MPCVD方法在i型碳化硅层(3)上外延生长n型磷高掺杂金刚石层(4)的生长条件为:选用气体CH4、H2和PH3,气压均为100Torr,气体流量均为500sccm,CH4与H2的体积比为0.05%,PH3与CH4的体积比为300ppm,单晶金刚石衬底(1)温度为850℃,掺杂浓度为1019cm-3。
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