CN108287968B - 测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质，包括：获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；计算所述第一平面和所述第二平面的平行度，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。上述技术方案，通过计算天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度，使得将天线口径和扫描架间的平行度的计算转换为天线口径面和扫描架测量面的平行度的计算，从而确定天线口径和扫描架的平行状态。

Description

测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置及系统

技术领域

本发明涉及天线近场测量技术领域，特别是涉及一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

背景技术

平面近场测试仪是通过测试天线近场幅相数据推算远场电磁特性的一类重大专业科学仪器设备，是雷达、通信、导航等诸多领域的微波天线研究与测试的必要手段。常规的平面近场测试系统分为四个部分，发射模块，采样模块，接收模块和数据分析及处理模块。其中采样模块负责在一个平面的若干点上接收来自发射模块的信号，并将之传递给接收模块，由接收模块提取幅度和相位信息后传递给数据分析及处理模块，推算出天线的远场特性。

实际应用中，为了让采样模块中的扫描架能准确获取发射模块中的待测天线发射的信号，一般要求待测天线口径与扫描架维持在一定平行度内。传统应用是借助经纬仪或全站仪等测量仪器保证扫描架水平方向和垂直方向上的精确，进而确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。但是，要确定天线口径与扫描架间的平行度存在一定的难度。首先，得保证扫描架位置的精准安装，因此，在安装扫描架时需要借助经纬仪，而且对施工人员的技术水平也要求很高；其次，即使在施工中保证了扫描架位置的精度，由于待测天线需要经常进行更换，也难以根据所述天线口径与所述扫描架间的平行度，确保扫描架时刻与待测天线口径维持在一定的平行度内。最后，并不是所有的扫描架都采用固定机座的安装方式，在一些特殊发的应用场景下，扫描架是采用移动式的安装方式，而在这种情况下，更加难以确保天线口径与扫描架保持平行状态。

发明内容

基于此，有必要针对难以确保扫描架与天线口径维持平行状态的问题，提供一种测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，包括：

获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；

根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

在其中一个实施例中，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。

在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。

在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面和所述第二平面的平行度的步骤，包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。

在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和所述第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上。所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度。

在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面与所述第二平面在垂直方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第二天线测量点与所述第三扫描架测量点的第六测量距离，获取所述第二扫描架测量点与第三扫描架测量点间的第七测量距离；根据所述第五测量距离、第六测量距离和第七测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第三直线距离；获取所述第三天线测量点与所述第二扫描架测量点的第八测量距离，获取所述第三天线测量点与所述第三扫描架测量点的第九测量距离；根据所述第七测量距离、第八测量距离和第九测量距离，计算所述第三天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第四直线距离；根据所述第三直线距离和所述第四直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面垂直方向上的平行度。

一种测算天线口径与扫描架平行度的装置，包括：

平面构建模块，用于获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

平行度计算模块，用于计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；

平行度确定模块，用于根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

一种测算天线口径与扫描架平行度的系统，包括：测距设备、处理器和驱动装置；

所述测距设备设置在天线口径，和/或扫描架上，用于获取天线口径上的测量点与扫描架上的测量点间的距离并发送给处理器；

所述处理器用于根据所述距离，计算所述天线测量点构成的第一平面和所述扫描架测量点构成的第二平面间的平行度，并将所述平行度发送至驱动装置；

所述驱动装置用于根据所述平行度，调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述天线口径和所述扫描架平行。

上述测算天线口径与扫描架平行度的方法、装置和系统，先通过在天线口径和扫描架上选取测量点，构建天线口径面和扫描架测量面；然后计算天线口径面和扫描架测量面的平行度；最后根据该平行度来确保天线口径和扫描架间的平行度，使得可以确定天线口径和扫描架的平行状态。

一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述测算天线口径与扫描架平行度的方法。

上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，实现了确定天线口径与扫描架的平行状态。

一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述测算天线口径与扫描架平行度的方法。

上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，实现了维确定天线口径与扫描架的平行状态。

附图说明

图1是一实施例测算天线口径与扫描架平行度的方法应用环境图；

图2是一实施例校准天线口径与扫描架平行度的方法流程图；

图3是一实施例测算天线口径与扫描架平行度的方法流程图；

图4是一实施例中测量点位置关系示意图；

图5是一实施例中测量点距离关系示意图；

图6是一实施例中的测算天线口径与扫描架平行度的装置的结构示意图；

图7是一实施例的测算天线口径与扫描架平行度的系统的结构示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及取得的效果，下面结合附图及较佳实施例，对本发明实施例的技术方案，进行清楚和完整的描述。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，本发明实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序。应该理解“第一\第二\第三”区分的对象在适当情况下可以互换，以使这里描述的本发明的实施例能够已除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

图1是一实施例测算天线口径与扫描架平行度的方法应用环境图。如图1所示，计算机系统100包括处理器110、存储器120、系统总线130和存储设备140。处理器110是一个用来通过计算机系统中基本的算术和逻辑运算来执行计算机程序指令的硬件。存储器120是一个用于临时或永久性存储计算程序或数据(例如，程序状态信息)的物理设备。系统总线130可以为以下几种类型的总线结构中的任意一种，包括存储器总线或存储控制器、外设总线和局部总线。处理器110和存储器120可以通过系统总线130进行数据通信。其中存储器120包括只读存储器(ROM)或闪存(图中都未示出)，以及随机存取存储器(RAM)，RAM通常是指加载了操作系统和应用程序的主存储器。存储设备140可以从多种计算机可读介质中选择，计算机可读介质是指可以通过计算机系统100访问的任何可利用的介质，包括移动的和固定的两种介质。例如，计算机可读介质包括但不限于，闪速存储器(微型SD卡)，CD-ROM，数字通用光盘(DVD)或其它光盘存储、磁带盒、磁带、磁盘存储或其它磁存储设备，或者可用于存储所需信息并可由计算机系统100访问的任何其它介质。

如上面详细描述的，适用于本发明的计算机系统100能执行校准天线口径与扫描架平行度的方法的指定操作。计算机系统100通过处理器110运行在计算机可读介质中的软件指令的形式来执行这些操作。存储在存储器120中的软件指令使得处理器110执行上述的校准天线口径与扫描架平行度的方法。此外，通过硬件电路或者硬件电路结合软件指令也能同样实现本发明。因此，实现本发明并不限于任何特定硬件电路和软件的组合。

如图2所示，图2是一实施例测算天线口径与扫描架平行度的方法流程图，包括如下步骤：

步骤S11，获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点，根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上。

上述步骤中，获取的天线测量点和扫描架测量点的数量均至少为3个，且所有的天线测量点构成第一平面，所有的扫描架测量点构成第二平面。

步骤S12，计算所述第一平面和所述第二平面的平行度。

上述步骤中，平行度为两个平面平行程度的判断标准。若两个平面的平行度在一定的阈值内，则可判定两个平面平行。

步骤S13，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

上述步骤中，根据第一平面和第二平面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度。当第一平面和第二平面的平行度不在设定的范围内时，则判断天线口径与扫描架不平行；当第一平面和第二平面的平行度在设定范围内，则判断天线口径与扫描架平行。

上述校准天线口径与扫描架平行度的方法，先通过分别在天线口径和扫描架上选取测量点后，构建天线口径面和扫描架测量面；然后计算天线口径面和扫描架测量面间的平行度；最后根据该平行度来确定天线口径和扫描架间的平行度，使得可以通过天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架间的平行度。

如图3所示，图3是另一实施例校准天线口径与扫描架平行度的方法流程图，包括如下步骤：

步骤S21，获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点，根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上。

上述步骤中，获取的天线测量点和扫描架测量点的数量均至少为3个，且所有的天线测量点构成第一平面，所有的扫描架测量点构成第二平面。

步骤S22，计算所述第一平面和所述第二平面的平行度，根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

上述步骤中，平行度为两个平面平行程度的判断标准；若两个平面的平行度在一定的阈值内，则可判定两个平面平行。

步骤S23，根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。

上述步骤中，可以根据第一平面和第二平面的平行度调整天线口径和扫描架其中一个或者两个的位置，并在调整位置后检测天线口径和扫描架的平行度。当天线口径和扫描架的平行度不在设定阈值内，则重新执行步骤S22和步骤S23，直至天线口径和扫描架的平行度在设定阈值内。

上述校准天线口径与扫描架平行度的方法，先通过分别在天线口径和扫描架上选取测量点后，构建天线口径面和扫描架测量面，然后计算天线口径面和扫描架测量面间的平行度，根据该平行度来确定天线口径和扫描架间的平行度，最后根据平行度来调整天线口径和扫描架间的位置，控制天线口径和扫描架维持在一个平行的状态，使得扫描架上的探头能能够准确获取天线发射的信号。

在其中一个实施例中，所述计算所述第一平面和所述第二平面的平行度的步骤，包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。需要说明的是，两个平面的平行度由两个平面在水平方向上的平行度和两个平面在垂直方向上的平行度共同决定，即当两个平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度同时满足在设定的阈值内时，则两个平面平行；当两个平面在水平方向上的平行度或垂直方向上的平行度其中一个不满足在设定的阈值内，则两个平面不平行。

在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和所述第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上。所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度。

在另一个实施例中，所述计算所述第一平面与所述第二平面在垂直方向上的平行度的步骤包括：获取所述第二天线测量点与所述第三扫描架测量点的第六测量距离，获取所述第二扫描架测量点与第三扫描架测量点间的第七测量距离；根据所述第五测量距离、第六测量距离和第七测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第三直线距离；获取所述第三天线测量点与所述第二扫描架测量点的第八测量距离，获取所述第三天线测量点与所述第三扫描架测量点的第九测量距离；根据所述第七测量距离、第八测量距离和第九测量距离，计算所述第三天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第四直线距离；根据所述第三直线距离和所述第四直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面垂直方向上的平行度。

在其中一个实施例中，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。

如图4所示，图4是一实施例中测量点位置关系示意图。首先，选取天线口径上和扫描架上的四个测量点。T1、T2、T3、T4为选取的待测天线口径上的四个天线测量点，且T1、T2、T3、T4构成天线口径面，T1、T2在天线口径面的同一水平方向上，T3、T4在天线口径面的同一水平方向上，T1、T4在天线口径面的同一竖直方向上，T2、T3在天线口径面的同一竖直方向上；S1、S2、S3、S4为选取的扫描架上的四个点，且S1、S2、S3、S4构成扫描架测量面；S1、S2在扫描架测量面的同一水平方向上，S3、S4在扫描架测量面的同一水平方向上，S1、S4在扫描架测量面的同一垂直方向上，S2、S3在扫描架测量面的同一垂直方向上。然后，计算天线口径面与扫描架测量面的平行度。

如图5所示，图5是一实施例中测量点距离关系示意图。从天线测量点T1出发，测量其与扫描架测量点S1的距离T1S1，测量其与扫描架测量点S2的距离T1S2，测量S1与S2点间的距离T1S2。距离T1S1、T1S2和T1S2构成了以天线测量点T1为顶点，扫描架测量点S1、S2为另外两个点的三角形。根据三角形的计算公式，计算得到T1到S1、S2构成的边的距离d1。

从天线测量点T2出发，测量其与扫描架测量点S1的距离T2S1，测量其与扫描架测量点S2的距离T2S2，测量S1与S2点间的距离T2S2。距离T2S1、T2S2和T2S2构成了以天线测量点T2为顶点，扫描架测量点S1、S2为另外两个点的三角形。根据三角形的计算公式，计算得到T2到S1、S2构成的边的距离d2。

比较距离d1和d2。若d1和d2相等，即可判断天线测量点T1、T2构成的直线平行于扫描架测量点S1、S2构成的执行，则天线口径面与扫描架测量面在水平方向平行；若d1和d2不相等，则逐步调整天线口径面水平方向上的旋转角度，直到d1和d2无限接近相等，则天线口径面与扫描架测量面在水平方向上平行。

从天线测量点T2出发，测量其与扫描架测量点S3的距离T2S3，测量S2与S3点间的距离S2S3。距离T2S2、T2S3和S2S3构成了以天线测量点T2为顶点，扫描架测量点S2、S3为另外两个点的三角形。根据三角形的计算公式，计算得到T2到S2、S3构成的边的距离d3。

从天线测量点T3出发，测量其与扫描架测量点S2的距离T3S2，测量其与扫描架测量点S3的距离T3S3。距离T3S2、T3S3和S2S3构成了以天线测量点T3为顶点，扫描架测量点S2、S3为另外两个点的三角形。根据三角形的计算公式，计算得到T3到S2、S3构成的边的距离d4。

比较距离d3和d4。若d3和d4相等，即可判断天线测量点T2、T3构成的直线平行于扫描架测量点S2、S3构成的执行，则天线口径面与扫描架测量面在水平方向平行；若d3和d4不相等，则逐步调整天线口径面垂直方向上的旋转角度，直到d3和d4无限接近相等，则天线口径面与扫描架测量面在垂直方向上平行。

最后，确定天线口径与扫描架的平行度。

当上述距离d1和d2相等，且距离d3和d4也相等时，天线口径面与扫描架测量面平行，则可判定天线口径与扫描架平行。

如图6所示，图6是一实施例中测算天线口径与扫描架平行度的装置的结构示意图，包括：

平面构建模块410，用于获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上。

获取的天线测量点和扫描架测量点的数量均至少为3个，且所有的天线测量点构成第一平面，所有的扫描架测量点构成第二平面。

平行度计算模块420，用于计算所述第一平面和所述第二平面的平行度。

在一实施例中，平行度为两个平面平行程度的判断标准。若两个平面的平行度在一定的阈值内，则可判定两个平面平行。

平行度确认模块430，用于根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

其中，根据第一平面和第二平面的平行度来确定天线口径和扫描架的平行度。当第一平面和第二平面的平行度不在设定的范围内时，则判断天线口径与扫描架不平行；当第一平面和第二平面的平行度在设定范围内，则判断天线口径与扫描架平行。

上述测算天线口径与扫描架平行度的装置，首先通过平面构建模块410分别在天线口径和扫描架上选取测量点，构建天线口径面和扫描架测量面；然后通过平行度计算模块420计算天线口径面和扫描架测量面的平行度；最后通过平行度确认模块430根据天线口径面和扫描架测量面的平行度，确认天线口径与所述扫描架间的平行度，使得可以通过天线口径面和扫描架测量面的平行度来确定天线口径和扫描架间的平行度。

在其中一个实施例中，所述平行度计算模块，包括：第一平行度计算单元，用于分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；第二平行度计算单元，用于根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。需要说明的是，两个平面的平行度由两个平面在水平方向上的平行度和两个平面在垂直方向上的平行度共同决定，即当两个平面在水平方向上的平行度满足在设定的阈值内，同时两个平面在垂直方向上的平行度也满足在设定的阈值内，则两个平面平行；当两个平面在水平方向上的平行度或垂直方向上的平行度其中一个不满足在设定的阈值内，则两个平面不平行。

如图7所示，图7是一实施例的测算天线口径与扫描架平行度的系统的结构示意图，包括：测距设备510、处理器520和驱动装置530。

所述测距设备510设置在天线口径上，和/或扫描架上，用于将获取的天线测量点与扫描架测量点间的距离发送给处理器520。

需要说明的是，天线口径上和扫描架上均设置有至少三个测量点，天线口径上的测量点构成一个平面，扫描架上的测量点构成一个平面。另外，测距设备510设置在天线测量点上或设置在扫描架测量点上，用来测量天线测量点与扫描架测量点间的距离。

所述处理器520用于根据所述距离，计算所述天线测量点构成的第一平面和所述扫描架测量点构成的第二平面间的平行度，并将所述平行度发送至驱动装置530。其中，两个平面的平行度由两个平面在水平方向上的平行度和两个平面在垂直方向上的平行度共同决定，即当两个平面在水平方向上的平行度满足在设定的阈值内，同时两个平面在垂直方向上的平行度也满足在设定的阈值内，则两个平面平行；当两个平面在水平方向上的平行度或垂直方向上的平行度其中一个不满足在设定的阈值内，则两个平面不平行。

所述驱动装置530用于根据所述平行度，调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述天线口径和所述扫描架平行。

其中，当天线口径和扫描架间的平行度不在设定的范围内时，即可判断天线口径与扫描架不平行，则重新调整天线口径或者扫描架的位置，通过将第一平面和第二平面的平行度控制在设定范围内，使得天线口径和扫描架保持平行。

上述测算天线口径与扫描架平行度的系统，先通过测距设备510获取天线口径上选取的测量点与扫描架上选取的测量点的距离；然后通过处理器520，根据天线口径上测量点与扫描架上测量点的距离，计算天线口径面与扫描架测量面的平行度；最后通过驱动装置530根据天线口径面与扫描架测量面的平行度，调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，使两者的位置维持在一定的平行度内，使得扫描架能够准确获取天线发射的信号。

本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的服务器或者设备的限定，具体的服务器或者设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

基于如上所述的示例，在一个实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行所述程序时实现如上述各实施例中的任意一种测算天线口径与扫描架平行度的方法。

上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，实现了确定天线口径与扫描架的平行状态。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性的计算机可读取存储介质中，如本发明实施例中，该程序可存储于计算机系统的存储介质中，并被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现包括如上述各睡眠辅助方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)等。

据此，在一个实施例中还提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，其中，该程序被处理器执行时实现如上述各实施例中的任意一种测算天线口径与扫描架平行度的方法。

上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，实现了确定天线口径与扫描架的平行状态。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，包括：

获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；具体包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度；其中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、第二扫描架测量点和第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上；

所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：

获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；

获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；

根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度；

根据计算的所述第一平面和所述第二平面的平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

2.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，在根据所述平行度确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度步骤之后，还包括：

根据所述平行度调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述平行度在设定范围内。

3.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述至少三个天线测量点包括四个天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括四个扫描架测量点；其中，所述四个天线测量点构成矩形形状；所述四个扫描架测量点构成矩形形状。

4.根据权利要求1所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法，其特征在于，所述计算所述第一平面与所述第二平面在垂直方向上的平行度的步骤，包括：

获取所述第二天线测量点与所述第三扫描架测量点的第六测量距离，获取所述第二扫描架测量点与第三扫描架测量点间的第七测量距离；根据所述第五测量距离、第六测量距离和第七测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第三直线距离；

获取所述第三天线测量点与所述第二扫描架测量点的第八测量距离，获取所述第三天线测量点与所述第三扫描架测量点的第九测量距离；根据所述第七测量距离、第八测量距离和第九测量距离，计算所述第三天线测量点到所述第二扫描架测量点与所述第三扫描架测量点构成的直线的第四直线距离；

根据所述第三直线距离和所述第四直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面垂直方向上的平行度。

5.一种测算天线口径与扫描架平行度的装置，其特征在于，包括：

平面构建模块，用于获取天线口径上的至少三个天线测量点，根据所述至少三个天线测量点构建第一平面；获取扫描架上的至少三个扫描架测量点,根据所述至少三个扫描架测量点构建第二平面；其中，所述至少三个天线测量点、所述至少三个扫描架测量点均不在同一直线上；

平行度计算模块，用于计算所述第一平面和所述第二平面的平行度；具体包括：具体包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度；其中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、第二扫描架测量点和第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上；

所述平行度计算模块，进一步用于：获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度；

平行度确定模块，用于根据计算的所述第一平面和所述第二平面的确定所述天线口径与所述扫描架间的平行度。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第一平行度计算单元和第二平行度计算单元，其中，

所述第一平行度计算单元，用于分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；

所述第二平行度计算单元，用于根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述平行度确定模块，进一步用于当所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度满足在设定的阈值内，同时两个平面在垂直方向上的平行度也满足在设定的阈值内，则判断所述第一平面与所述第二平面平行；当所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度或垂直方向上的平行度其中一个不满足在设定的阈值内，则判断所述第一平面与所述第二平面不平行。

8.一种测算天线口径与扫描架平行度的系统，其特征在于，包括：测距设备、处理器和驱动装置；

所述测距设备设置在天线口径上，和/或扫描架上，用于获取天线口径上的至少三个天线测量点与扫描架上的至少三个扫描架测量点间的距离并发送给处理器；

所述处理器用于根据所述距离，计算所述至少三个天线测量点构成的第一平面和所述至少三个扫描架测量点构成的第二平面间的平行度，并将所述平行度发送至驱动装置；具体包括：分别计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度和在垂直方向上的平行度；根据所述水平方向上的平行度和所述垂直方向上的平行度确定所述第一平面和所述第二平面的平行度；其中，所述至少三个天线测量点包括：第一天线测量点、第二天线测量点和第三天线测量点；所述至少三个扫描架测量点包括：第一扫描架测量点、第二扫描架测量点和第三扫描架测量点；其中，所述第一天线测量点和所述第二天线测量点在所述第一平面的水平面上；所述第二天线测量点和所述第三天线测量点在所述第一平面的垂直面上；所述第一扫描架测量点和所述第二扫描架测量点在所述第二平面的水平面上；所述第二扫描架测量点和所述第三扫描架测量点在所述第二平面的垂直面上；

所述计算所述第一平面与所述第二平面在水平方向上的平行度的步骤，包括：

获取所述第一天线测量点与所述第一扫描架测量点的第一测量距离，获取所述第一天线测量点与所述第二扫描架测量点间第二测量距离，获取所述第一扫描架测量点与第二扫描架测量点间的第三测量距离；根据所述第一测量距离、第二测量距离和第三测量距离，计算所述第一天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第一直线距离；

获取所述第二天线测量点与所述第一扫描架测量点的第四测量距离，获取所述第二天线测量点与所述第二扫描架测量点间第五测量距离；根据所述第三测量距离、第四测量距离和第五测量距离，计算所述第二天线测量点到所述第一扫描架测量点与所述第二扫描架测量点构成的直线的第二直线距离；

根据所述第一直线距离和所述第二直线距离，计算所述第一平面与所述第二平面水平方向上的平行度；

所述驱动装置用于根据所述平行度，调整所述天线口径和/或所述扫描架的位置，直到所述天线口径和所述扫描架平行。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任意一项所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法。

10.一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任意一项所述的测算天线口径与扫描架平行度的方法。

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