CN108279342B - 一种元件的异电压性能测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及元件的生产设备，具体涉及一种元件的异电压性能测试系统。包括主控制器，与主控制器连接的PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，所述的主控制器还连接有检测元件的电源开关驱动电路和8N路开关驱动电路；所述的电源开关驱动电路连接有检测电源开关，所述的检测电源开关连接有四路检测电源；所述的8N路开关驱动电路连接检测回路，所述的检测回路包括并联连接的8N路检测支路；所述的N是1至12的自然数。所述主控制器根据通电电流值启动8路、16路、24路……96路检测支路。实现同样一台检测机器可以给不同规格、不同型号的元件进行检测，检测效率高、检测精度好、检测成本低、安全性好。

Description

一种元件的异电压性能测试系统
技术领域
本发明涉及元件的生产设备，具体涉及一种元件的异电压性能测试系统。
背景技术
现有的加热元件电性能检测装置，主要包括主控制器，与主控制器连接的 PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，检测电源和检测回路，由于检测电源和检测回路固定，没有选择的测试电源和测试回路，检测的加热元件型号或规格比较有限，当用户需要测量多种规格加热片电性能时，就需多台检测装置，检测成本高；另外，测试时间长了，加热元件常使测试夹具发热，影响测试精度。
发明内容
针对上述测试成本高，测试精度低的技术问题，本发明解决的技术问题是提供一种多型号、多规格元件的异电压性能测试系统。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：一种元件的异电压性能测试系统，包括主控制器，与主控制器连接的PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，所述的主控制器还连接有检测元件的电源开关驱动电路和8N路开关驱动电路，所述的N是1至12的自然数；所述的电源开关驱动电路连接有检测电源开关，所述的检测电源开关连接有四路检测电源；所述的8N 路开关驱动电路连接检测回路，所述的检测回路包括并联连接的多路检测支路。所述的检测支路数也是8N路，N是1至12的自然数。主控制器根据不同规格、不同型号的元件，随时选择适合的测试电源进行测试，所述主控制器根据通电电流值启动8路、16路、24路…… 96路检测支路。
进一步：在上述测试装置中，所述的四路检测电源分别是AC低压电源、 AC高压电源、DC低压电源和DC高压电源。所述的电源开关驱动电路中设有逻辑选择电路；8N路开关驱动电路中设有逻辑选择电路。根据预设时间频率，检测电源开关依次选择AC低压电源、DC低压电源、AC高压电源、DC高压电源，8N路开关驱动电路同样根据预设时间频率选择支路测试1、2、3、4........ 循环测试。所述的检测支路包括串联连接的串联电阻、保险丝和测试夹具，检测支路的安全性高。测试夹具夹住发热元件，就可以及时检测发热元件的电性能参数。在测试夹具和保险丝之间还串联有开合开关，短、开路可以瞬间断开，并在显示屏上对应工位显示。为了保护测试电路，所述的测试夹具还串联有监测线路电流的电流比较器。
再进一步：在上述元件的异电压性能测试系统中，所述的PLC逻辑控制器还连接有夹具冷却控制电路，及时冷却测试夹具的温度，避免温度升高带来的测试误差。所述的PLC逻辑控制器还连接有元件故障报警器，如果元件出现非正常测试时，故障报警器报警，及时清除掉故障元件。
与现有技术相比，本发明的元件的异电压性能测试系统，包括主控制器，与主控制器连接的PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，所述的主控制器还连接有检测元件的检测电源开关驱动电路和8N路开关驱动电路，所述的N是1至12的自然数；所述的检测电源开关驱动电路连接有检测电源开关，所述的检测电源开关连接有四路检测电源；所述的8N路开关驱动电路连接检测回路，所述的检测回路包括并联连接的多路检测支路。所述的检测支路数也是8N路，N是1至12的自然数。主控制器根据不同规格、不同型号的元件，随时选择适合的测试电源进行测试，所述主控制器根据通电电流值启动8路、16路、24路…… 96路检测支路。系统根据元件的型号、功率大小，选择合适的检测电源，实现同样一台检测机器可以给不同规格、不同型号的元件进行检测，检测效率高、检测精度好、检测成本低、安全性好。
附图说明
图1为实施例一检测装置工作原理图；
图2为检测回路的电路图；
图3为实施例二检测装置工作原理图；
图4为实施例三检测装置工作原理图；
其中：1串联电阻、2保险丝、3测试夹具、4开合开关、5电流比较器。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员理解，下面将结合附图以及实施例对本发明进行进一步详细描述。
实施例一：参照图1、2，一种元件的异电压性能测试系统，包括主控制器，与主控制器连接的PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，所述的主控制器还连接有检测元件的电源开关驱动电路和8N路开关驱动电路；所述的电源开关驱动电路连接有检测电源开关，所述的检测电源开关连接有四路检测电源；所述的8N路开关驱动电路连接检测回路，所述的检测回路包括并联连接的8N路检测支路；所述的N是1至12的自然数。所述的四路检测电源分别是AC低压电源、AC高压电源、DC低压电源和DC高压电源。所述的电源开关驱动电路中设有逻辑选择电路；8N路开关驱动电路中设有逻辑选择电路。所述的检测支路包括串联连接的串联电阻、保险丝和测试夹具。在测试夹具和保险丝之间还串联有开合开关。所述的测试夹具还串联有监测线路电流的电流比较器。
实施例二：如图3，与实施例一不同的是，所述的PLC逻辑控制器还连接有夹具冷却控制电路。
实施例三：如图4，与实施例二不同的是，所述的PLC逻辑控制器还连接有元件故障报警器。
上述三种实施例的加热测试装置，都可以给不同规格、不同型号的元件进行检测，检测效率高、检测精度好、检测成本低、安全性好。
显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求保护范围之内。

Claims (3)

1.一种元件的异电压性能测试系统，包括主控制器，与主控制器连接的PLC逻辑控制器、液晶触摸屏、系统电源和启动复位按键，其特征在于：
所述的主控制器还连接有检测元件的电源开关驱动电路和8N路开关驱动电路；
所述的电源开关驱动电路连接有检测电源开关，所述的检测电源开关连接有四路检测电源；
所述的8N路开关驱动电路连接检测回路，所述的检测回路包括并联连接的8N路检测支路；
所述的N是1至12的自然数；
所述的四路检测电源分别是AC低压电源、AC高压电源、DC低压电源和DC高压电源；所述的电源开关驱动电路中设有逻辑选择电路；8N路开关驱动电路中设有逻辑选择电路；
所述检测电源开关根据预设时间频率，依次选择所述AC低压电源、所述DC低压电源、所述AC高压电源、所述DC高压电源；
所述8N路开关驱动电路根据预设时间频率选择支路并循环测试；
所述的检测支路包括串联连接的串联电阻、保险丝和测试夹具；
所述的测试夹具还串联有监测线路电流的电流比较器；
所述的PLC逻辑控制器还连接有夹具冷却控制电路。
2.根据权利要求1所述的元件的异电压性能测试系统，其特征在于：在测试夹具和保险丝之间还串联有开合开关。
3.根据权利要求2所述的元件的异电压性能测试系统，其特征在于：所述的PLC逻辑控制器还连接有元件故障报警器。
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