CN105548868A - 一种温度开关性能测试设备及方法 - Google Patents

一种温度开关性能测试设备及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105548868A
CN105548868A CN201510880777.6A CN201510880777A CN105548868A CN 105548868 A CN105548868 A CN 105548868A CN 201510880777 A CN201510880777 A CN 201510880777A CN 105548868 A CN105548868 A CN 105548868A
Authority
CN
China
Prior art keywords
temperature switch
temperature
circuit
performance test
switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510880777.6A
Other languages
English (en)
Inventor
韦双
喻波
李号召
盛军
吴晓鸣
张海澎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC
Original Assignee
Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC filed Critical Luoyang Institute of Electro Optical Equipment AVIC
Priority to CN201510880777.6A priority Critical patent/CN105548868A/zh
Publication of CN105548868A publication Critical patent/CN105548868A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

本发明涉及一种温度开关性能测试设备及方法,该设备包括加热电路、温度检测电路及温度开关状态指示电路,所述加热电路包括第一电源和电阻加热带,所述温度开关状态指示电路包括依次串联的指示装置、第二电源及用于串入温度开关的接口,所述温度检测电路包括用于粘贴在电阻加热带上的铂热电阻及与铂热电阻连接的数字欧姆表,所述数字欧姆表由第二电源供电。该方法通过加热电路加热,通过温度检测电路判断是否达到温度开关的跳变阈值,当到达,通过温度开关状态指示电路判断温度开关是否正常。本发明的设备及方法操作简单,检测快速、高效,结果判断直观、准确率高,可以兼容多种型号的温度开关。

Description

一种温度开关性能测试设备及方法
技术领域
本发明属于电子测试技术领域,具体涉及一种温度开关性能测试设备及方法。
背景技术
温度开关是一种用双金属片作为感温元件的温度开关,当电器正常工作时,双金属片处于自由状态,触点处于闭合/断开状态,当温度升高至动作温度值时,双金属元件受热产生内应力而迅速动作,打开/闭合触点,切断/接通电路,从而起到热保护作用。当温度逐渐降到指定温度时触点自动闭合/断开,恢复正常工作状态。温度开关广泛用于家用电器电机及电器设备,如洗衣机电机、空调风扇电机、变压器、镇流器、电热器具等。传统的温度开关测试设备加温和降温装置复杂,造价较高,且操作麻烦,检测效率低。
发明内容
本发明提供了一种温度开关性能测试设备及方法,以解决传统的温度开关测试设备加温和降温装置复杂,造价较高,且操作麻烦,检测效率低的问题。
为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是:该设备包括加热电路、温度检测电路及温度开关状态指示电路,其特征在于,所述加热电路包括第一电源和电阻加热带,所述温度开关状态指示电路包括依次串联的指示装置、第二电源及用于串入温度开关的接口,所述温度检测电路包括用于粘贴在电阻加热带上的铂热电阻及与铂热电阻连接的数字欧姆表,所述数字欧姆表由第二电源供电。
所述加热电路上设置有数字电流表。
所述加热电路上设置有一单刀双掷开关。
所述指示装置为发光二级管。
所述温度开关状态指示电路上还设置有一双刀双掷开关,所述双刀双掷开关的两个动端A、B、与动端A对应的不动端A1、A2、与动端B对应的不动端B1、B2,所述动端A、B及不动端A1接入温度开关状态指示电路,所述不动端B1连接数字电流表和数字欧姆表。
所述第一电源是输出电压可调的直流电源。
所述用于串入温度开关的接口为插座。
本发明的温度开关性能测试方法包括如下步骤:
1)将温度开关接入温度开关状态指示电路,并将温度开关和铂热电阻粘贴到电阻加热带上;
2)接通温度开关状态指示电路及加热电路,根据温度检测电路的检测值,获得电阻加热带温度,当电阻加热带温度达到温度开关的跳变阈值时,观察指示装置是否发生状态跳变,若发生状态跳变,说明温度开关正常,否则,表明温度开关损坏;
3)温度开关正常时,继续加热设定时间,然后断开加热电路,停止加热,观察显示装置是否发生状态跳变,若发生状态跳变,说明温度开关正常。
在加热电路中设置电流表,通过观察电流表的电流值,得知当前加热速度。
所述温度检测电路的检测值是电阻值,通过查询温度值与电阻值的关系,获得电阻加热带温度。
本发明的技术效果是:本发明仅需通过调节电源一的电压值来控制加热速度,电压值越高,加速速度越快;通过温度检测电路来判断温度开关所达到的温度;通过温度开关状态指示电路中指示装置的状态来判断温度开关闭合/断开的动作,操作简单,检测快速、高效,结果判断直观、准确率高,可以兼容多种型号的温度开关。
附图说明
图1为温度开关测试设备的结构原理图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的技术方案作进一步详细说明。
温度开关性能测试设备实施例
图1为本实施例的温度开关测试设备实施例的结构原理图,由图1可知,本实施例的温度开关性能测试设备包括加热电路、温度检测电路及温度开关状态指示电路,加热电路包括串联在一起的第一电源及电阻加热带,温度开关状态指示电路包括依次串联的指示装置、第二电源及用于串入温度开关的接口,温度检测电路用于检测电阻加热带的实际温度。
本实施例的加热电路可包括一个数字电流表,用于显示加热电路的电流,从而判断出电阻加热带的加热速度。在加热电路中还可包括一个单刀双掷开关。
本实施例的温度检测电路包括串接在一起的铂热电阻和数字欧姆表,数字欧姆表由第二电源供电。数字欧姆表显示电阻值,电阻值越大,表明电阻加热带温度越高,通过查询PT100温度值与电阻值对应关系表,可得到电阻加热带的实际温度。当然作为其他实施方式,温度检测电路可为一温度传感器。
本实施例的温度开关状态指示电路还可包括一双刀双掷开关及限流电阻。温度开关状态指示电路中的显示装置可为一绿色发光二级管或指示灯。
本实施例中的第一电源是输出电压为0到30V可调的直流电源,第二电源是输出电压为5V的直流电源。
本实施例中的用于串入温度开关的接口可为两芯插座。
各个电子器件的连接关系如下:第一电源P1的正极接单刀双掷开关K1的A端,P1的负极接电阻加热带R1的1脚;K1的A1端接数字电流表L1的4脚,A2端空置;R1的2脚接L1的3脚;第二电源P2的正极接双刀双掷开关K2的A端、B端,P2的负极接插座J1的2脚、L1和数字欧姆表L2的2脚;K2的A1端接限流电阻R3的1脚,K2的A2端、B2端空置,K2的B1端接L1和L2的1脚;R3的1脚接所述显示装置V1的1脚;V2的2脚接所述J1的2脚,铂热电阻R2的1脚接L2的3脚,R2的2脚接L2的4脚;温度开关U1的1脚接J1的1脚,U1的2脚接J1的2脚。
温度开关性能测试方法实施例
基于上述测试设备的检测方法如下:
1)将待测温度开关U1的两个引脚分别插入到插座J1内;
2)用导热胶垫将温度开关U1和铂热电阻R2紧紧贴到电阻加热带R1上,导热胶垫剪取面积的大小以能同时缠包住U1、R2为适合;
3)将开关K1、K2拨到第一组动触点接通,调节P1的电压值,观察L1的电流值,电流值越大加热速度越快;观察L2的电阻值,L2的电阻值越大,表明加热片的温度越高。通过查询PT100温度值与电阻值对应关系表,可得到加热片的实际温度;
4)待温度达到温度开关的跳变阈值时,观察发光二极管指示状态是否跳变(由点亮变熄灭或由熄灭变点亮),若发生跳变,则说明温度开关功能正常,否则的话说明温度开关已损坏。
5)继续加热一段时间(1分钟以上),将开关K1拨到第二组动触点,停止加热,使加热片自然冷却,观察发光二极管是否再次发生状态跳变以进行再次验证。
6)将K1、K2均拨到第二组动触点,,将温度开关引线从J1插座中拔出,结束测试。

Claims (10)

1.一种温度开关性能测试设备,该设备包括加热电路、温度检测电路及温度开关状态指示电路,其特征在于,所述加热电路包括第一电源和电阻加热带,所述温度开关状态指示电路包括依次串联的指示装置、第二电源及用于串入温度开关的接口,所述温度检测电路包括用于粘贴在电阻加热带上的铂热电阻及与铂热电阻连接的数字欧姆表,所述数字欧姆表由第二电源供电。
2.根据权利要求1所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述加热电路上设置有数字电流表。
3.根据权利要求2所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述加热电路上设置有一单刀双掷开关。
4.根据权利要求3所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述指示装置为发光二级管。
5.根据权利要求4所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述温度开关状态指示电路上还设置有一双刀双掷开关,所述双刀双掷开关的两个动端A、B、与动端A对应的不动端A1、A2、与动端B对应的不动端B1、B2,所述动端A、B及不动端A1接入温度开关状态指示电路,所述不动端B1连接数字电流表和数字欧姆表。
6.根据权利要求1所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述第一电源是输出电压可调的直流电源。
7.根据权利要求1所述的温度开关性能测试设备,其特征在于,所述用于串入温度开关的接口为插座。
8.一种温度开关性能测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)将温度开关接入温度开关状态指示电路,并将温度开关和铂热电阻粘贴到电阻加热带上;
2)接通温度开关状态指示电路及加热电路,根据温度检测电路的检测值,获得电阻加热带温度,当电阻加热带温度达到温度开关的跳变阈值时,观察指示装置是否发生状态跳变,若发生状态跳变,说明温度开关正常,否则,表明温度开关损坏;
3)温度开关正常时,继续加热设定时间,然后断开加热电路,停止加热,观察显示装置是否发生状态跳变,若发生状态跳变,说明温度开关正常。
9.根据权利要求8所述温度开关性能测试方法,其特征在于,在加热电路中设置电流表,通过观察电流表的电流值,得知当前加热速度。
10.根据权利要求8所述温度开关性能测试方法,其特征在于,所述温度检测电路的检测值是电阻值,通过查询温度值与电阻值的关系,获得电阻加热带温度。
CN201510880777.6A 2015-12-05 2015-12-05 一种温度开关性能测试设备及方法 Pending CN105548868A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510880777.6A CN105548868A (zh) 2015-12-05 2015-12-05 一种温度开关性能测试设备及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510880777.6A CN105548868A (zh) 2015-12-05 2015-12-05 一种温度开关性能测试设备及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105548868A true CN105548868A (zh) 2016-05-04

Family

ID=55828185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510880777.6A Pending CN105548868A (zh) 2015-12-05 2015-12-05 一种温度开关性能测试设备及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105548868A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108267688A (zh) * 2018-01-15 2018-07-10 温州大学苍南研究院 一种测量小型断路器热时间常数的新方法
CN109375097A (zh) * 2018-09-26 2019-02-22 惠州市豪鹏科技有限公司 一种温控开关精准度测试电路和装置
CN109541447A (zh) * 2018-09-07 2019-03-29 国营芜湖机械厂 一种温度继电器检测设备及方法
WO2020065067A1 (de) * 2018-09-27 2020-04-02 Bosch Termotecnologia S.A. Verfahren zum testen eines bimetallschalters

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201225932Y (zh) * 2008-06-03 2009-04-22 比亚迪股份有限公司 温度开关测试装置
CN202305186U (zh) * 2011-09-29 2012-07-04 青岛科技大学 多波段电机温度开关测试系统
CN103163455A (zh) * 2011-12-15 2013-06-19 海洋王照明科技股份有限公司 温度保护开关的寿命测试方法
CN203025324U (zh) * 2013-01-29 2013-06-26 甘艳芬 温控开关寿命测试仪
CN203037819U (zh) * 2013-01-14 2013-07-03 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种温度继电器寿命自动测试平台
CN203519788U (zh) * 2013-09-16 2014-04-02 国家电网公司 一种主变温度继电器校验装置
CN204215015U (zh) * 2014-11-28 2015-03-18 中投仙能科技(苏州)有限公司 一种锂电池保护器开关的检测筛选装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201225932Y (zh) * 2008-06-03 2009-04-22 比亚迪股份有限公司 温度开关测试装置
CN202305186U (zh) * 2011-09-29 2012-07-04 青岛科技大学 多波段电机温度开关测试系统
CN103163455A (zh) * 2011-12-15 2013-06-19 海洋王照明科技股份有限公司 温度保护开关的寿命测试方法
CN203037819U (zh) * 2013-01-14 2013-07-03 中国电子科技集团公司第四十研究所 一种温度继电器寿命自动测试平台
CN203025324U (zh) * 2013-01-29 2013-06-26 甘艳芬 温控开关寿命测试仪
CN203519788U (zh) * 2013-09-16 2014-04-02 国家电网公司 一种主变温度继电器校验装置
CN204215015U (zh) * 2014-11-28 2015-03-18 中投仙能科技(苏州)有限公司 一种锂电池保护器开关的检测筛选装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
曹阳,俸永格,王赵主编: "《大学物理实验教程》", 31 January 2015, 中国农业出版社 *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108267688A (zh) * 2018-01-15 2018-07-10 温州大学苍南研究院 一种测量小型断路器热时间常数的新方法
CN109541447A (zh) * 2018-09-07 2019-03-29 国营芜湖机械厂 一种温度继电器检测设备及方法
CN109541447B (zh) * 2018-09-07 2020-11-13 国营芜湖机械厂 一种温度继电器检测设备及方法
CN109375097A (zh) * 2018-09-26 2019-02-22 惠州市豪鹏科技有限公司 一种温控开关精准度测试电路和装置
CN109375097B (zh) * 2018-09-26 2021-08-31 惠州市豪鹏科技有限公司 一种温控开关精准度测试电路和装置
WO2020065067A1 (de) * 2018-09-27 2020-04-02 Bosch Termotecnologia S.A. Verfahren zum testen eines bimetallschalters

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103278766B (zh) 一种测试负荷开关可靠性的方法及其系统
CN105548868A (zh) 一种温度开关性能测试设备及方法
CN102841321B (zh) 一种灯具老化试验报警控制电路及其报警工装
CN101793943B (zh) 智能型熔断器寿命试验系统
CN201225932Y (zh) 温度开关测试装置
CN201654166U (zh) 智能型熔断器寿命试验系统
CN104808041A (zh) 一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置
CN202189273U (zh) 一种用于空调控制器测试的通用工装检测装置
CN203310966U (zh) 一种测试负荷开关可靠性系统
CN201765302U (zh) 霍尔集成电路性能检测装置
CN204794018U (zh) 微机保护与测控装置
CN203519788U (zh) 一种主变温度继电器校验装置
CN208190075U (zh) 开关柜智能操控装置
CN107957548B (zh) 一种用于三相断路器的分合闸同期检测装置
CN206361806U (zh) 一种多点测温控制装置
CN108279342B (zh) 一种元件的异电压性能测试系统
CN109541447B (zh) 一种温度继电器检测设备及方法
CN104198864B (zh) 一种ptc 电阻可靠性的检验装置及方法
CN208488190U (zh) 一种用于变电站中的指针式主变温度系统故障检测装置
CN208667854U (zh) 阴极保护设备调试保护装置
CN208239582U (zh) 一种ptc电路测试装置
CN111007295A (zh) 一种可自动测量的万用表
CN103116126A (zh) 一种温度继电器寿命自动测试平台
CN201177649Y (zh) 一种绕组温升自动测试装置
CN203720319U (zh) 限温器检测工装

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20160504

RJ01 Rejection of invention patent application after publication