CN108267873A - 一种检验goa电路可靠性的方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种检验GOA电路可靠性的方法和系统，其中所述方法包括以下步骤：先提供一液晶面板，将所述液晶面板与直下式背光/侧入式背光搭配形成液晶显示模组；然后在所述液晶面板的上表面，四周边缘区域中至少一边设置有加热器，且所述加热器沿所述液晶面板延伸至对应GOA电路区域的相应位置；再对所述液晶显示模组进行可靠性测试，所述加热器加热所述液晶面板至预设温度；最后观察所述液晶面板的画面情况，本发明在不限定背光架构的情况下，都能在可靠性测试中检验温度对GOA电路可靠性的影响。

Description

一种检验GOA电路可靠性的方法和系统
技术领域
本发明涉及显示面板制造领域，尤其涉及一种检验GOA电路可靠性的方法和系统。
背景技术
GOA(Gate driver on Array)是直接将栅极驱动电路(gate driver ICs)做到阵列基板(array)上，来代替外界驱动IC的一种技术。与传统液晶面板相比，GOA在工作时，TFT基板上的电路会发热，导致GOA电路布置区域温度上升。一旦加上高温，就存在GOA电路在高温下无法正常工作的风险。
另一方面，GOA显示面板出货前都会搭配相应的背光进行OC可靠性验证。目前面板厂背光主要是外购的直下式背光，这是因为市面上可供进行可靠性(RA)测试的小批量背光种类不多，尤其是尺寸越大时，可选择性越小，一般都为直下式。即外购的背光不一定是客户家的背光。比如厂内采用直下式背光验证RA，而整机厂客户搭配的是侧入式背光。直下式背光其温度分布均匀，在GOA区域的温度低，而侧入式则易在GOA区域形成明显的温度梯度，尤其是当光源在GOA区域下方时(双短边入光)。因此，现有厂内RA测试无法全面的反应出直下式和侧入式背光产生的温度对GOA电路正常工作的影响，当出现画面异常等现象时，由于无法获知客户背光(尤其是侧入式)产生的热在RA条件下对GOA电路的影响，都会首先怀疑是否是温度过高引起电路的异常等。因此通常做法是出现问题后，就先投相关的实验来进行排查温度对GOA电路工作的影响，这就会浪费人力物力。
发明内容
本发明提供一种检验GOA电路可靠性的方法和系统，能够在直下式背光上反馈侧入式背光对GOA电路的温度效应，不受背光架构限制，都能在可靠性测试条件下检验温度对GOA电路可靠性的影响。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种检验GOA电路可靠性的方法，所述方法包括以下步骤：
步骤S 1、提供一液晶面板，将所述液晶面板与直下式背光/侧入式背光搭配形成液晶显示模组；
步骤S2、在所述液晶面板的上表面，四周边缘区域中至少一边设置有加热器，且所述加热器沿所述液晶面板延伸至对应GOA电路区域的相应位置；
步骤S3、对所述液晶显示模组进行可靠性测试，所述加热器加热所述液晶面板至预设温度；
步骤S4、观察所述液晶面板的画面情况，当在所述可靠性测试条件下未出现画面异常情况时，排除温度对GOA电路可靠性的影响。
根据本发明一优选实施例，所述加热器设置于所述液晶面板两短边中至少一所述短边对应的边缘区域，且对应所述液晶面板的黑色矩阵区域设置。
根据本发明一优选实施例，所述加热器覆盖所述GOA电路区域。
根据本发明一优选实施例，所述加热器的宽度在5mm～20mm之间。
根据本发明一优选实施例，所述加热器的厚度在0.05mm～0.5mm之间。
根据本发明一优选实施例，所述可靠性测试中，所述加热器的温度小于75℃。
根据本发明一优选实施例，所述加热器的温度呈均匀分布或呈梯度分布。
本发明还提供一种检验GOA电路可靠性的系统，所述系统包括：
腔室温控单元，用以控制液晶显示模组的RA测试腔室的温度；
所述液晶显示模组包括液晶面板以及直下式背光/侧入式背光；
加热器温控单元，用以控制对应所述液晶面板的GOA电路区域的加热器的温度；
监测单元，在RA测试条件下用以检验温度对GOA电路可靠性的影响，并用以监测所述液晶面板的画面情况；
警报单元，用以根据所述监测单元在监测到所述液晶面板画面异常时发出警报。
根据本发明一优选实施例，所述系统还包括数字显示单元，所述数字显示单元用以显示所述腔室温控单元、所述加热器温控单元以及所述监测单元的数据信息。
根据本发明一优选实施例，在所述可靠性测试中，所述加热器温控单元的温度设置为环境温度、所述直下式背光与所述侧入式背光的所述液晶面板的温差、余量温差三者之和，且小于75℃。
本发明的有益效果为：相较于现有的液晶面板可靠性测试，本发明提供的检验GOA电路可靠性的方法和系统，通过在液晶显示模组上设置加热器及相应的温控系统，在可靠性测试中，能够在直下式背光上反馈侧入式背光对GOA电路的温度效应，不受背光架构的限制(直下式/侧入式背光均可)，都能评估该可靠性测试(RA)条件下温度对GOA电路可靠性的影响。同时该方法也可用于非RA条件下的测试，只需设定相应的加热温度，节约人力物力，提高工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有液晶面板的结构示意图；
图2为本发明提供的检验GOA电路可靠性的方法流程图；
图3为本发明实施例一提供的用于搭配双短边侧入式背光的液晶面板结构示意图；
图4为本发明提供的检验GOA电路可靠性的系统示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。
本发明针对现有技术的液晶面板可靠性测试，在RA测试中无法全面的反应出直下式和侧入式背光产生的温度对GOA电路正常工作的影响，从而造成浪费人力物力的技术问题，本实施例能够解决该缺陷。
参考图1，为现有液晶面板的结构示意图，液晶面板10包含有显示区域101以及GOA电路区域102，所述GOA电路区域102位于所述显示区域101的外围，且对应所述液晶面板10的短边设置。在所述液晶面板10出货前都会搭配相应的背光进行OC可靠性验证。而背光可按入光方式分为直下式背光和侧入式背光，其中侧入式背光又包括双长边入光、单长边入光、双短边入光、单短边入光等，但是市面上可供进行RA测试的一般都为直下式背光。
本发明提供一种检验GOA电路可靠性的方法，如图2所示，所述方法包括以下步骤：
步骤S 1、提供一液晶面板，将所述液晶面板与直下式背光/侧入式背光搭配形成液晶显示模组；
步骤S2、在所述液晶面板的上表面，四周边缘区域中至少一边设置有加热器，且所述加热器沿所述液晶面板延伸至对应GOA电路区域的相应位置；
步骤S3、对所述液晶显示模组进行可靠性测试，所述加热器加热所述液晶面板至预设温度；
步骤S4、观察所述液晶面板的画面情况，当在所述可靠性测试条件下未出现画面异常情况时，排除温度对GOA电路可靠性的影响。
具体地，请参照图3所示，为本发明实施例一提供的用于搭配双短边侧入式背光的液晶面板结构示意图，液晶面板30与直下式背光搭配形成液晶显示模组，在所述液晶面板30的上表面，所述液晶面板30两短边对应的边缘区域各设置有加热器，且呈中心对称，所述加热器优选为第一加热薄板301以及第二加热薄板302。所述液晶面板30包括显示区域与非显示区域，所述第一加热薄板301以及所述第二加热薄板302位于所述非显示区域，且对应所述液晶面板30的黑色矩阵区域设置。在所述显示区域外围对应所述液晶面板30的短边设置有GOA电路区域(如图1所示)。所述第一加热薄板301以及所述第二加热薄板302覆盖所述液晶面板30的所述GOA电路区域。
所述第一加热薄板301以及所述第二加热薄板302的宽度在5mm～20mm之间，厚度在0.05mm～0.5mm之间。优选的，所述宽度为10mm，所述厚度为0.1mm～0.25mm之间。
以RA高温操作50℃/80RH为例，对所述液晶显示模组进行RA测试，所述第一加热薄板301以及所述第二加热薄板302加热所述液晶面板30至预设温度。其中，所述预设温度为环境温度、分别采用所述直下式背光与侧入式背光的所述液晶面板的温差、余量温差三者之和。其中，所述环境温度为所述RA测试制程的腔室温度，本实施例中为50℃；在考虑最严苛的情况(双短边侧入式背光)，通过实际量测、仿真数据以及以往理论设计经验表明，采用所述直下式背光和所述双短边侧入式背光的液晶面板的温差约在10℃左右。因此，严苛考量，所述第一加热薄板301以及所述第二加热薄板302的加热温度设置在约72℃(RA测试温度50℃+温差10℃+余量1～2℃＝72℃)；另外，所述加热温度小于75℃，因为该值接近液晶正常工作的温度的上限。
观察所述液晶面板30的画面情况，在所述RA测试条件下检验温度对GOA电路可靠性的影响，如果未出现画面异常，则所述液晶面板30在后续搭配客户家的侧入式背光出现画面异常(issue)等不良情况时，排除温度的影响；在所述RA测试过程中，如果出现画面异常，则需继续理清是否与温度有关，以免流入客户端。
可以理解的是，当所述液晶面板30用于搭配单短边侧入式背光时，所述液晶面板30表面只用设置所述第一加热薄板301/所述第二加热薄板302中的一者，设置于光源一侧并覆盖所述GOA电路区域。在所述RA测试中用于搭配所述液晶面板30的背光也可选用侧入式背光，在本发明中对该背光的选用类型不做限定。
所述加热器的温度参数可以呈梯度设计，模拟所述GOA电路区域的实际温度分布情况，以此实现更加准确的检验，具体温度梯度的设计可根据实际情况进行设定。
本发明实施例中的液晶面板还可用于搭配客户家的四边侧入式背光、U形侧入式背光或L形侧入式背光等等。其中，与上述实施例一类似，所述液晶面板表面对应GOA电路区域的相应位置设置有加热器，用来在RA测试或者其他测试中检验温度对GOA电路可靠性的影响。
本发明还提供一种检验GOA电路可靠性的系统，如图4所示，所述系统包括：腔室温控单元401、加热器温控单元402、监测单元403、警报单元404。
所述腔室温控单元401，用以控制液晶显示模组的RA测试腔室的温度；所述液晶显示模组包括液晶面板以及搭配的用于RA测试的直下式背光/侧入式背光；所述腔室温控单元401的温度根据检验测试的不同类型进行设定。
所述加热器温控单元402，用以控制对应所述液晶面板的GOA电路区域的加热器的温度；所述加热器温控单元402的温度设定根据所述腔室温控单元401的温度，再结合采用所述直下式背光与所述侧入式背光的所述液晶面板的温差，以及余量温差进行设定。
所述监测单元403，在RA测试条件下监测GOA工作信号，用以检验温度对GOA电路可靠性的影响，并用以监测所述液晶面板的画面情况。
所述警报单元404，用以根据所述监测单元403在监测到所述液晶面板画面异常时发出警报；其中，如果未出现画面异常，则所述液晶面板后续搭配客户家侧入式背光出现画面异常(issue)等不良情况时，排除温度的影响；在所述RA测试过程中，如果出现画面异常，则需继续理清是否与温度有关，以免流入客户端。
其中，在所述RA测试中，所述加热器温控单元402的温度设置为环境温度、所述直下式背光与所述侧入式背光的所述液晶面板的温差、余量温差三者之和，且小于75℃。
相较于现有的液晶面板可靠性测试，本发明提供的检验GOA电路可靠性的方法和系统，通过在液晶显示模组上设置加热器及相应的温控系统，在可靠性测试中，能够在直下式背光上反馈侧入式背光对GOA电路的温度效应，不受背光架构的限制(直下式/侧入式背光均可)，都能评估该可靠性测试条件下温度对GOA电路可靠性的影响。同时该方法也可用于非RA条件下的测试，只需设定相应的加热温度，节约人力物力，提高工作效率。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种检验GOA电路可靠性的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
步骤S1、提供一液晶面板，将所述液晶面板与直下式背光/侧入式背光搭配形成液晶显示模组；
步骤S2、在所述液晶面板的上表面，四周边缘区域中至少一边设置有加热器，且所述加热器沿所述液晶面板延伸至对应GOA电路区域的相应位置；
步骤S3、对所述液晶显示模组进行可靠性测试，所述加热器加热所述液晶面板至预设温度；
步骤S4、观察所述液晶面板的画面情况，当在所述可靠性测试条件下未出现画面异常情况时，排除温度对GOA电路可靠性的影响。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述加热器设置于所述液晶面板两短边中至少一所述短边对应的边缘区域，且对应所述液晶面板的黑色矩阵区域设置。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述加热器覆盖所述GOA电路区域。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述加热器的宽度在5mm～20mm之间。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述加热器的厚度在0.05mm～0.5mm之间。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可靠性测试中，所述加热器的温度小于75℃。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述加热器的温度呈均匀分布或呈梯度分布。
8.一种检验GOA电路可靠性的系统，其特征在于，所述系统包括：
腔室温控单元，用以控制液晶显示模组的RA测试腔室的温度；
所述液晶显示模组包括液晶面板以及直下式背光/侧入式背光；
加热器温控单元，用以控制对应所述液晶面板的GOA电路区域的加热器的温度；
监测单元，在RA测试条件下用以检验温度对GOA电路可靠性的影响，并用以监测所述液晶面板的画面情况；
警报单元，用以根据所述监测单元在监测到所述液晶面板画面异常时发出警报。
9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述系统还包括数字显示单元，所述数字显示单元用以显示所述腔室温控单元、所述加热器温控单元以及所述监测单元的数据信息。
10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，在所述可靠性测试中，所述加热器温控单元的温度设置为环境温度、所述直下式背光与所述侧入式背光的所述液晶面板的温差、余量温差三者之和，且小于75℃。
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