CN108241095A - 一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法 - Google Patents

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    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10Radiation diagrams of antennas

Abstract

本发明公开了一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法,旨在解决现有的天线测量系统中无法实现从米波级频带到毫米波级频带的测量的缺点,其技术方案要点是:一种多探头和单探头综合测试系统,包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头的单探头检测装置。本发明的测试系统和测试方法实现了对被测物从米波级频带到毫米波级频带辐射特性数据的测量,且测量过程更加便捷。

Description

一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法
技术领域
本发明涉及天线测量技术领域,更具体地说,它涉及一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法。
背景技术
在天线测量系统中需要测定电磁性能的被测物通常会具有从米波级频带到毫米波级频带不同频段的波长,而一种探头只能覆盖有限的一段,为了实现米波级频带到毫米波级频带的频率覆盖一般需要几十种探头,在单一的多探头阵列中是无法实现的;同时米波级频带的探头一般都比较大,尺寸可以通常在1米到3米,将它作为多探头阵列布置在一个弧形阵列上是难以实现的,而毫米波级频带虽然探头尺寸小,但是其配到的波导和扩频模块体积也非常大,在弧形阵列上布局多探头也是不现实的,因此在现有的天线测量系统中,要实现从米波级频带到毫米波级频带的测量是十分困难的。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的第一个目的在于提供一种多探头和单探头综合测试系统,具有实现从米波级频带到毫米波级频带的测量更加便捷的优点。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种多探头和单探头综合测试系统,包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头的单探头检测装置。
通过采用上述技术方案,在测试时,驱动承载台转动,第一探头即可形成对被测物的检测球面,从而检测出被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据;若需要检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据,驱动第二探头绕被测物转动一周,第二探头对被测物的一个切面进行检测,随后再驱动承载台转动至被测物的另一个切面,第二探头对被测物的第二个切面进行检测,直至承载台转动一周,第二探头也形成对被测物的检测球面,从而检测出被测物米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据;通过多探头阵列装置和单探头检测装置的同步使用,实现了对被测物从超长波到毫米波级频带辐射特性数据的测量,测量过程更加便捷。
本发明进一步设置为:所述多探头阵列装置包括用于固定多个所述第一探头且呈扇形状的安装环和用于固定所述安装环的支撑架,所述承载台位于所述安装环的圆心处。
通过采用上述技术方案,安装环呈扇形状,从而第一探头在安装环上即呈环形阵列分布,形成对被测物的检测弧面,实现对被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据的测量。
本发明进一步设置为:所述单探头检测装置包括立架、转动连接于所述立架用于固定所述第二探头的摆臂、以及用于驱动所述摆臂转动的驱动机构,所述第二探头位于所述承载台的正上方。
通过采用上述技术方案,通过驱动机构驱动摆臂转动,从而带动第二探头绕被测物进行旋转,形成对被测物的检测弧面,实现对被测物米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据的测量。
本发明进一步设置为:所述驱动机构包括承托架、固定于所述承托架的第一驱动电机、固定于所述第一驱动电机转轴的第一主动齿轮、以及固定于所述摆臂且与所述第一主动齿轮相啮合的第一从动齿轮。
通过采用上述技术方案,启动第一驱动电机带动第一主动齿轮转动,从而带动第一从动齿轮转动,即带动摆臂转动,最终带动第二探头绕被测物转动形成检测弧面。
本发明进一步设置为:所述承托架滑移连接于所述立架,且所述立架上设有用于驱动所述摆臂沿竖直方向移动的升降机构。
通过采用上述技术方案,在测试前,根据被测物的形状和大小通过升降机构驱动摆臂在竖直方向上滑移,使摆臂的转动中心位于与被测物的中心位置相对齐,从而使第二探头形成的检测弧面更加完整,检测效果更好。
本发明进一步设置为:所述升降机构包括固定于所述立架的第二驱动电机和固定于所述第二驱动电机转轴且螺纹连接于所述承托架的第一丝杆。
通过采用上述技术方案,启动第二驱动电机即带动第一丝杆转动,由于承托架与立架滑移连接,因此第一丝杆在正反转的过程中即可带动承托架沿竖直方向移动。
本发明进一步设置为:所述承载台包括载物平台、用于驱动所述载物平台转动的周向驱动组件和用于驱动所述载物平台升降的轴向驱动组件。
通过采用上述技术方案,通过周向驱动组件驱动载物平台转动,从而形成对被测物的检测球面,通过轴向驱动组件驱动载物平台的升降,方便被测物的放置,并能够调整被测物的位置,使被测物位于安装环的圆心处,从而使检测效果更好。
本发明进一步设置为:所述周向驱动组件包括的转动连接于地面的支撑杆、固在地面上的第三驱动电机、固定于所述第三驱动电机转轴的第二主动齿轮、固定于所述支撑杆且与所述第二主动齿轮相啮合的第二从动齿轮以及固定于所述支撑杆端部的支撑平台。
通过采用上述技术方案,启动第三驱动电机即可带动第二主动齿轮转动,并啮合第二从动齿轮转动,即可带动支撑杆转动,从而带动支撑平台转动,最终实现载物平台的转动。
本发明进一步设置为:所述轴向驱动组件包括固定于所述支撑平台的安装套筒、转动连接于所述安装套筒底壁的从动锥齿轮、固定于所述从动锥齿轮端面的升降套筒、螺纹连接于所述升降套筒且滑移连接于所述安装套筒的升降杆、转动连接于所述升降套筒且与所述从动锥齿轮相啮合的主动锥齿轮、以及固定于所述支撑平台且转轴固定于所述主动锥齿轮的第四驱动电机,所述载物平台固定于所述升降杆的端部。
通过采用上述技术方案,启动第四驱动电机即可带动主动锥齿轮转动,并啮合从动锥齿轮转动,升降套筒跟随从动锥齿轮同步转动,由于升降杆与安装套筒滑移连接且升降套筒滑移连接,因此升降套筒在转动的过程中即会驱动升降管进行竖直方向的升降运动,从而带动载物平台升降。
本发明进一步设置为:所述承载台还包括用于驱动所述载物平台沿水平方向发生倾斜的横向驱动组件。
通过采用上述技术方案,通过横向驱动组件驱动载物平台发生倾斜或由倾斜状态恢复水平,从而使被测物具有不同的检测角度,根据被测数据的需要调整被测物角度,提高对被测物的检测效果。
本发明进一步设置为:所述支撑平台包括上、下分体设置且相互贴合的上支撑板和下支撑板,所述上支撑板和所述下支撑板的贴合处呈弧形设置,且所述上支撑板滑移连接于所述下支撑板;所述横向驱动组件包括固定于所述上支撑板的驱动齿条、固定与所述下支撑板的第五驱动电机、以及固定于所述第五驱动电机转轴且与所述驱动齿条相啮合的第三主动齿轮。
通过采用上述技术方案,启动第五驱动电机即可带动第三主动齿轮转动,从而啮合驱动齿条移动,即带动上支撑板发生左右滑移,而由于上支撑板和下支撑板的贴合处为弧形,因此上支撑板在左右偏移后即可相对与下支撑板发生倾斜,从而带动载物平台发生倾斜。
本发明进一步设置为:地面上设有滑轨,所述支撑架和所述立架均滑移连接于所述滑轨,且在地面上设有用于驱动所述支撑架所述立架沿所述滑轨滑移的滑移驱动组件。
通过采用上述技术方案,通过滑移驱动组件驱动支撑架和立架沿着滑轨滑移,可以调节安装环和摆臂与承载台的位置关系,使被测物能够更加准确的位于安装环的中心或位于摆臂的转动中心,从而提高检测效果;同时可以通过滑移驱动组件可以将支撑架和立架滑移至暗室的一侧,使暗室具有较大的活动空间以便完成其余的检测工作;同时可以通过滑移支撑架和立架带动第一探头和第二探头移动而对被测物形成平面扫描,使测试形式更加多样化,满足不同形式的测试要求。
本发明进一步设置为:所述滑移驱动组件包括固定在地面上的第六驱动电机、固定于所述第六驱动电机转轴且与所述支撑架螺纹连接的第二丝杆、固定在地面上的第七驱动电机、固定于所述第七驱动电机转轴且与所述立架螺纹连接的第三丝杆。
通过采用上述技术方案,启动第六驱动电机即带动第二丝杆转动,由于支撑架与滑轨滑移连接,因此第二丝杆在正反转的过程中即可带动支撑架沿滑轨往复移动;启动第七驱动电机即带动第三丝杆转动,由于立架与滑轨滑移连接,因此第三丝杆在正反转的过程中即可带动立架沿滑轨往复移动。
本发明的第二个目的在于提供一种多探头和单探头综合测试方法,具有实现从米波级频带到毫米波级频带的测量更加便捷的优点。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的: 一种多探头和单探头综合测试方法,包括
步骤一:启动所述第三驱动电机以驱动所述载物平台转动,并控制所述第一探头测试出米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据;
步骤二:启动所述第一驱动电机以驱动所述摆臂转动以使所述第二探头绕被测物转动形成检测弧面,并控制所述第二探头测试出被测物一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据;
步骤三:启动所述第三驱动电机转动控制被测物转动至另一切面,并控制所述第二探头测试出被测物另一切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,直至测试出被测物整个球面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据。
通过采用上述技术方案,通过第一探头检测被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据,并通过第二探头先测试出被测物一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,在测出下一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,直至检测出被测物整个球面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,从而实现了从米波级频带到毫米波级频带的辐射特性数据的测量,测量过程更加便捷。
综上所述,本发明具有以下有益效果:
其一,通过设置多探头阵列装置和单探头检测装置的同步使用,实现了对被测物从米波级频带到毫米波级频带辐射特性数据的测量,测量过程更加便捷;
其二,通过设置周向驱动组件、轴向驱动组件和横向驱动组件,实现了载物平台的转动、升降和倾斜,提高检测了检测效果;
其三,通过设置滑轨和滑移驱动组件,方便调节安装环和摆臂与载物平台之间位置,同时可以对被测物形成平面扫描,使测试形式更加多样化,满足不同形式的测试要求。
附图说明
图1为实施例一的结构示意图;
图2为实施例一中驱动机构和升降机构的结构示意图;
图3为实施例一中承载台的结构示意图;
图4为图3的A部放大图;
图5为实施例二的结构示意图。
图中:11、支撑架;12、安装环;13、第一探头;21、立架;22、摆臂;23、第二探头;241、承托架;242、第一驱动电机;243、第一主动齿轮;244、第一从动齿轮;245、固定板;246、第一变速齿轮;247、第二变速齿轮;251、第二驱动电机;252、第一丝杆;31、载物平台;321、支撑杆;322、第三驱动电机;323、第二主动齿轮;324、第二从动齿轮;3251、上支撑板;3252、下支撑板;331、安装套筒;332、从动锥齿轮;333、升降套筒;334、升降杆;335、主动锥齿轮;336、第四驱动电机;341、驱动齿条;342、第五驱动电机;343、第三主动齿轮;4、滑轨;51、第六驱动电机;52、第二丝杆;53、第七驱动电机;54、第三丝杆。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本发明进行详细描述。
实施例一:一种多探头和单探头综合测试系统,如图1所示,地面上设有承载台用于放置被测物,在承载台的两侧设有分别用于测量米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据的多探头阵列装置和用于测量米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据的单探头检测装置。
如图1所示,探头阵列装置包括支撑架11、安装环12和多个第一探头13,地面上位于承载台的两侧固定有滑轨4,支撑架11滑移连接于滑轨4,支撑架11上设有与滑轨4相配合的滑块,滑块嵌入滑轨4中即可实现支撑架11与滑轨4的滑移连接,通常为了方便支撑架11的滑移,在支撑架11的底部设有多个滚轮,从而将滑动摩擦力转换成滚动摩擦力,在滑轨4的一端通过螺栓固定有第六驱动电机51,第六驱动电机51的转轴通过联轴器固定有第二丝杆52,第二丝杆52螺纹连接在支撑架11上,且在滑轨4的端部嵌有轴承,第二丝杆52的端部穿设在轴承的内圈,使第二丝杆52转动连接于滑轨4,启动第六驱动电机51即带动第二丝杆52转动,由于支撑架11与滑轨4滑移连接,因此第二丝杆52在正反转的过程中即可带动支撑架11沿滑轨4往复移动;安装环12焊接在支撑架11上且呈扇形状,本实施例中扇形的圆心角为90°,多个第一探头13均匀分布在安装环12上,从而形成环形阵列的分布形式,第一探头13为用于测量米波级与毫米波级之间频带的测试探头;通常在支撑架11上和安装架上还包裹有吸波材料,用于吸收电磁辐射,减少电磁辐射的反射。
如图1所示,单探头检测装置包括立架21、摆臂22和驱动机构,立架21滑移连接于滑轨4,立架21上设有与滑轨4相配合的滑块,滑块嵌入滑轨4中即可实现立架21与滑轨4的滑移连接,通常为了方便立架21的滑移,在立架21的底部设有多个滚轮,从而将滑动摩擦力转换成滚动摩擦力,在滑轨4的一端通过螺栓固定有第七驱动电机53,第七驱动电机53的转轴通过联轴器固定有第三丝杆54,第三丝杆54螺纹连接在立架21上,且在滑轨4的端部嵌有轴承,第三丝杆54的端部穿设在轴承的内圈,使第三丝杆54转动连接于滑轨4,启动第七驱动电机53即带动第三丝杆54转动,由于立架21与滑轨4滑移连接,因此第三丝杆54在正反转的过程中即可带动立架21沿滑轨4往复移动;摆臂22呈“L”形,包括竖直段和倾斜段,倾斜段的端部延伸至承载台的正上方,在倾斜段的端部固定有第二探头23,从而第二探头23也位于承载台的正上方,第二探头23为用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的测试探头;通常在立架21和摆臂22上也均包裹有吸波材料,用于吸收电磁辐射;
如图2所示,驱动机构包括承托架241、第一驱动电机242、第一主动齿轮243和第一从动齿轮244,承托架241滑移连接在立架21内,在立架21的内壁上开设有多个“T”形滑槽,承托架241上一体成型有与滑槽相配合的“T”形滑块,从而实现了承托架241与立架21的滑移连接;第一驱动电机242通过螺栓固定在承托架241上,第一主动齿轮243套接在第一驱动电机242的转轴上,立架21面向摆臂22的一侧开设有滑移口,摆臂22的竖直段上焊接有转动杆,转动杆穿过滑移口延伸入立架21内,第一从动齿轮244焊接在转动杆上,且在滑移口的内壁上滑移连接有固定板245,在承托台上设有轴承座,轴承座内嵌有双排交叉式滚柱轴承,转动杆转动连接在固定板245上且穿过该轴承的内圈,固定板245可以限制摆臂22发生侧翻并保持转动杆处于水平的状态,同时在竖直段的下端固定有平衡配重,使摆臂22的转动更加稳定;
如图2所示,为了方便控制摆臂22的转速,在第一主动齿轮243和第一从动齿轮244之间设有二级变速结构,二级变速结构包括转动连接在承托架241上且与第一主动齿轮243啮合的第一变速齿轮246以及与第一变速齿轮246同轴转动且与第一从动齿轮244相啮合的第二变速齿轮247,在承托架241上焊接有安装座,安装座内嵌设有轴承,第一变速齿轮246和第二变速齿轮247的中心焊接有联动杆,联动杆穿设在轴承内从而实现了第一变速齿轮246和第二变速齿轮247的同轴转动;
启动第一驱动电机242带动第一主动齿轮243转动,从而带动第一从动齿轮244转动,即带动摆臂22转动,同时第一驱动电机242的自锁力可以对摆臂22形成锁紧作用,防止摆臂22自由转动。
如图2所示,在立架21内设有用于驱动承托架241沿竖直方向滑移的升降机构,升降机构包括第二驱动电机251和第一丝杆252,第二驱动电机251通过螺栓固定在立架21内,第一丝杆252与第二驱动电机251的转轴通过联轴器固定连接,且第一丝杆252与承托架241螺纹连接,启动第二驱动电机251即带动第一丝杆252转动,由于承托架241与立架21滑移连接,因此第一丝杆252在正反转的过程中即可带动承托架241沿竖直方向移动,同时第一丝杆252与承托架241支架具有自锁力,可以对承托架241进行支撑。
如图3所示,承托台包括载物平台31、周向驱动组件、轴向驱动组件和横向驱动组件;
如图3所示,周向驱动组件用于驱动载物平台31转动,包括支撑杆321、第三驱动电机322、第二主动齿轮323、第二从动齿轮324和支撑平台,支撑杆321转动连接在地面上,地面上嵌有推力轴承,支撑杆321的端部嵌设在推力轴承内,从而实现了与地面的转动连接,第三驱动电机322通过螺栓固定在地面上,第二主动齿轮323套设在第三驱动电机322的转轴上,第二从动齿轮324焊接在支撑杆321上且与第二主动齿轮323相啮合,支撑平台焊接在支撑杆321的端部,启动第三驱动电机322即可带动第二主动齿轮323转动,并啮合第二从动齿轮324转动,即可带动支撑杆321转动,从而带动支撑平台转动;
如图3所示,支撑平台包括上支撑板3251和下支撑板3252,上支撑板3251和下支撑板3252呈上、下分体形式设置且相互贴合,上支撑板3251与下支撑板3252贴合处呈弧形设置,且上支撑板3251滑移连接于下支撑板3252,在下支撑板3252上开设有弧度与上支撑板3251和下支撑板3252贴合处相适配的弧形滑槽,上支撑板3251的底部设有与弧形滑槽相配合的弧形滑块,弧形滑块嵌入弧形滑槽内从而实现了上支撑板3251与下支撑板3252之间的滑移连接;
如图3所示,横向驱动组件用于驱动载物平台31沿水平面发生倾斜,包括驱动齿条341、第五驱动电机342和第三主动齿轮343,驱动齿条341一体成型于弧形滑块的下表面,且在下支撑板3252上开设有用于供驱动齿条341滑移的空腔,在下支撑板3252还开设有容纳空腔,第五驱动电机342通过螺栓固定在容纳空腔内,第三主动齿轮343套设在第五驱动电机342的转轴上且与驱动齿条341相啮合;启动第五驱动电机342即可带动第三主动齿轮343转动,从而啮合驱动齿条341移动,即带动上支撑板3251发生左右滑移,而由于上支撑板3251和下支撑板3252的贴合处为弧形,因此上支撑板3251在左右偏移后即可相对与下支撑板3252发生倾斜,从而带动载物平台31发生倾斜;
如图4所示,轴向驱动组件用于驱动载物平台31转动,包括固定于上支撑板3251的安装套筒331、转动连接于安装套筒331底壁的从动锥齿轮332、固定于从动锥齿轮332端面的升降套筒333、螺纹连接于升降套筒333且滑移连接于安装套筒331的升降杆334、转动连接于升降套筒333且与从动锥齿轮332相啮合的主动锥齿轮335、以及固定于上支撑板3251且转轴固定于主动锥齿轮335的第四驱动电机336,在安装套筒331的底部嵌有轴承,从动锥齿轮332套设在升降杆334上,升降套筒333的端部穿设在轴承内,从而实现了从动锥齿轮332与安装套筒331的转动连接,在安装套筒331的侧壁上嵌有轴承,主动齿轮上焊接有转动轴,转动轴穿设在轴承内且套设在第四驱动电机336的转轴上;启动第四驱动电机336即可带动主动锥齿轮335转动,并啮合从动锥齿轮332转动,升降套筒333跟随从动锥齿轮332同步转动,由于升降杆334与安装套筒331滑移连接且升降套筒333滑移连接,因此升降套筒333在转动的过程中即会驱动升降杆334进行竖直方向的升降运动,从而带动载物平台31升降,而升降套筒333和升降杆334直接的螺纹的锁紧力可实现载物平台31的固定。
在测试前,先将被测物放置在载物平台31上,启动第四驱动电机336使承载台上升至安装环12的圆心位置,再根据被测物的形状和大小启动第一驱动电机242驱动摆臂22在竖直方向上滑移,使摆臂22的转动中心位于与被测物的中心位置相对齐,启动第六驱动电机51和第七驱动电机53驱动支撑架11和立架21沿着滑轨4滑移,调节安装环12和摆臂22与承载台的位置关系,使被测物位于安装环12的中心或位于摆臂22的转动中心;
在测试时,启动第三驱动电机322带动支撑杆321转动,从而带动载物平台31发生转动,第一探头13即可形成对被测物的检测球面,从而检测出被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据;若需要检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,启动第一驱动电机242带动摆臂22转动,从而带动第二探头23绕被测物转动一周,第二探头23对被测物的一个切面进行检测,随后再驱动承载台转动至被测物的另一个切面,第二探头23对被测物的第二个切面进行检测,直至承载台转动一周,第二探头23也形成对被测物的检测球面,从而检测出被测物米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据;在测试的过程中还可以启动第五驱动电机342使载物平台31发生倾斜或由倾斜状态恢复水平,从而使被测物具有不同的检测角度,根据被测数据的需要调整被测物角度,提高对被测物的检测效果;同时可以通过滑移支撑架11和立架21带动第一探头13和第二探头23移动而对被测物形成平面扫描,使测试形式更加多样化,满足不同形式的测试要求;
测试完成后,启动第六驱动电机51和第七驱动电机53可以将支撑架11和立架21滑移至暗室的一侧,使暗室具有较大的活动空间以便完成其余的检测工作。
通过多探头阵列装置和单探头检测装置的同步使用,实现了对被测物从米波级频带到毫米波级频带的辐射特性数据的测量,测量过程更加便捷;同时本实施例的测试系统更加适合于检测汽车等只关注上半部分辐射特性的被测物的测量。
实施例二:一种多探头和单探头综合测试系统,如图5所示,与实施例一的不同之处在于,安装环12的圆心角为180°,在检测使将载物平台31上升安装环12的圆心处,从而能够使第一探头13和第二探头23完成被测物整个球面的检测。
实施例三:一种多探头和单探头综合测试方法,包括
步骤一:将被测物放置在载物平台31上,调整被测物的位置,使被测物位于安装环12的圆心处,并调节摆臂22的高度,使摆臂22的转动中心与被测物的中心对齐,启动第三驱动电机322以驱动载物平台31转动,并控制第一探头13测试出被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据,其检测过程为控制载物平台31逐步转动,使第一探头13逐步测试出被测物各切面内的数据,从而得出被测物整个球面内的数据;
步骤二:启动第一驱动电机242以驱动摆臂22转动,第二探头23即绕着被测物转动形成检测弧面,在摆臂22转动的过程中控制第二探头23测试出被测物一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据;
步骤三:启动第三驱动电机322转动带动载物平台31转动,从而带动被测物转动至另一切面,再次启动第一电机使摆臂22转动,同时控制第二探头23测试出被测物另一切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,以此类推,直至测试出被测物整个球面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据。
通过第一探头13检测被测物的米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据,并通过第二探头23先测试出被测物一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,在测出下一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,直至检测出被测物整个球面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,从而实现了从米波级频带到毫米波级频带的辐射特性数据的测量,测量过程更加便捷。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头(13)的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头(23)的单探头检测装置。
2.根据权利要求1所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述多探头阵列装置包括用于固定多个所述第一探头(13)且呈扇形状的安装环(12)和用于固定所述安装环(12)的支撑架(11),所述承载台位于所述安装环(12)的圆心处。
3.根据权利要求2所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述单探头检测装置包括立架(21)、转动连接于所述立架(21)用于固定所述第二探头(23)的摆臂(22)、以及用于驱动所述摆臂(22)转动的驱动机构,所述第二探头(23)位于所述承载台的正上方。
4.根据权利要求3所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述驱动机构包括承托架(241)、固定于所述承托架(241)的第一驱动电机(242)、固定于所述第一驱动电机(242)转轴的第一主动齿轮(243)、以及固定于所述摆臂(22)且与所述第一主动齿轮(243)相啮合的第一从动齿轮(244)。
5.根据权利要求4所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述承托架(241)滑移连接于所述立架(21),且所述立架(21)上设有用于驱动所述摆臂(22)沿竖直方向移动的升降机构。
6.根据权利要求5所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述升降机构包括固定于所述立架(21)的第二驱动电机(251)和固定于所述第二驱动电机(251)转轴且螺纹连接于所述承托架(241)的第一丝杆(252)。
7.根据权利要求1至6任意一项所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述承载台包括载物平台(31)、用于驱动所述载物平台(31)转动的周向驱动组件和用于驱动所述载物平台(31)升降的轴向驱动组件。
8.根据权利要求7所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述周向驱动组件包括的转动连接于地面的支撑杆(321)、固在地面上的第三驱动电机(322)、固定于所述第三驱动电机(322)转轴的第二主动齿轮(323)、固定于所述支撑杆(321)且与所述第二主动齿轮(323)相啮合的第二从动齿轮(324)以及固定于所述支撑杆(321)端部的支撑平台。
9.根据权利要求8所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述轴向驱动组件包括固定于所述支撑平台的安装套筒(331)、转动连接于所述安装套筒(331)底壁的从动锥齿轮(332)、固定于所述从动锥齿轮(332)端面的升降套筒(333)、螺纹连接于所述升降套筒(333)且滑移连接于所述安装套筒(331)的升降杆(334)、转动连接于所述升降套筒(333)且与所述从动锥齿轮(332)相啮合的主动锥齿轮(335)、以及固定于所述支撑平台且转轴固定于所述主动锥齿轮(335)的第四驱动电机(336),所述载物平台(31)固定于所述升降杆(334)的端部。
10.根据权利要求7所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述承载台还包括用于驱动所述载物平台(31)沿水平方向发生倾斜的横向驱动组件。
11.根据权利要求10所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述支撑平台包括上、下分体设置且相互贴合的上支撑板(3251)和下支撑板(3252),所述上支撑板(3251)和所述下支撑板(3252)的贴合处呈弧形设置,且所述上支撑板(3251)滑移连接于所述下支撑板(3252);所述横向驱动组件包括固定于所述上支撑板(3251)的驱动齿条(341)、固定与所述下支撑板(3252)的第五驱动电机(342)、以及固定于所述第五驱动电机(342)转轴且与所述驱动齿条(341)相啮合的第三主动齿轮(343)。
12.根据权利要求3所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:地面上设有滑轨(4),所述支撑架(11)和所述立架(21)均滑移连接于所述滑轨(4),且在地面上设有用于驱动所述支撑架(11)所述立架(21)沿所述滑轨(4)滑移的滑移驱动组件。
13.根据权利要求12所述的一种多探头和单探头综合测试系统,其特征在于:所述滑移驱动组件包括固定在地面上的第六驱动电机(51)、固定于所述第六驱动电机(51)转轴且与所述支撑架(11)螺纹连接的第二丝杆(52)、固定在地面上的第七驱动电机(53)、固定于所述第七驱动电机(53)转轴且与所述立架(21)螺纹连接的第三丝杆(54)。
14.一种多探头和单探头综合测试方法,其特征在于:包括
步骤一:启动所述第三驱动电机(322)以驱动所述载物平台(31)转动,并控制所述第一探头(13)测试出米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据;
步骤二:启动所述第一驱动电机(242)以驱动所述摆臂(22)转动以使所述第二探头(23)绕被测物转动形成检测弧面,并控制所述第二探头(23)测试出被测物一个切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据;
步骤三:启动所述第三驱动电机(322)转动控制被测物转动至另一切面,并控制所述第二探头(23)测试出被测物另一切面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据,直至测试出被测物整个球面内的米波级频带及毫米波级频带上下延伸的辐射特性数据。
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