CN108182300A - 一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法及装置 - Google Patents

一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法及装置,属于油气田开发技术领域。本发明充分考虑了遮挡层对酸液滤失的屏蔽作用,通过计算酸化半径的增加值,将得到的半径增加值加上常规酸化半径作为实际基质酸化半径,本发明所得到的实际基质酸化半径更加准确,且计算原理可靠,计算方法简单,适用于工程施工过程中对酸化半径的估算。

Description

一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法及装置
技术领域
本发明涉及一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法及装置,属于油气田开发技术领域。
背景技术
水平井是致密砂岩和碳酸盐岩油气藏开发的有效手段,水平井裸眼完井具有油气渗流面积大、施工成本低等优势,但是由于钻井液滤液和杂质等对近井筒基质的伤害,导致大部分水平井裸眼完井后无法直接投产,需要进行酸化解堵作业才能建产。酸化半径的大小对于解除钻井液污染至关重要,直接影响酸化效果。
目前,水平井裸眼酸化半径的计算方法通常是以直井径向滤失为基础,未考虑遮挡层对酸液滤失的屏蔽作用,计算的酸化半径一般偏小,使得施工过程中由于对酸化半径的错误估计导致无法通过酸化解除钻井液对储层的污染。
发明内容
本发明的目的是提供一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,以解决目前未考虑遮挡层对酸液滤失的屏蔽作用导致确定的酸化半径不准确的问题;同时,本发明还提供了一种裸眼水平井基质酸化半径的确定装置。
本发明为解决上述技术问题而提供了一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,方法方案一:该方法包括以下步骤:
1)建立储层地质模型;
2)根据储层地质模型和酸液用量计算酸化半径;
3)计算水平井上覆遮挡层和下覆遮挡层对酸液滤失的屏蔽量;
4)计算酸液滤失屏蔽量所引起的酸化半径增加值,并将该酸化半径增加值与酸化半径之和作为该水平井实际酸化半径。
本发明充分考虑了遮挡层对酸液滤失的屏蔽作用,通过计算酸化半径的增加值,将得到的半径增加值加上常规酸化半径作为实际基质酸化半径,本发明所得到的实际基质酸化半径更加准确,且计算原理可靠,计算方法简单,适用于工程施工过程中对酸化半径的估算。
方法方案二:在方法方案一的基础上,所述步骤3)中的屏蔽量是根据酸化半径与水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离之间的关系确定的,所采用公式为:
当R+≤Min(a,b)时,VP=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时,
其中,VP为遮挡层对酸液的屏蔽量;a为水平井井眼距离上覆遮挡层距离;b为水平井井眼距离下覆遮挡层距离;R+为酸化半径。
方法方案三:在方法方案二的基础上,所述步骤4)根据屏蔽量计算酸化半径增加值所采用的计算公式为:
当R+≤a或b,R++=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时
其中R++为酸液屏蔽量所增加的酸化半径。
方法方案四:在方法三的基础上,当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,若计算出的R++≤Max(a,b)-R+,则R++未受距离较远的遮挡层影响,以所计算出的R++作为酸液屏蔽量所增加的酸化半径;若计算出的R++>Max(a,b)-R+,则R++同时受到距离较远的遮挡层影响,此时酸液屏蔽量所增加的酸化半径为:
方法方案五、六:分别在方法二、四的基础上,所述步骤1)中的储层地质模型是根据储层厚度、基质孔隙度、裸眼酸化水平井段长度、井眼半径以及水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离建立的。
本发明还提供了一种裸眼水平井基质酸化半径确定装置,该装置包括以下技术方案,装置方案一:该装置包括存储器和处理器,以及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器与所述存储器相耦合,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下指令:
A.建立储层地质模型;
B.根据储层地质模型和酸液用量计算酸化半径;
C.计算水平井上覆遮挡层和下覆遮挡层对酸液滤失的屏蔽量;
D.计算酸液滤失屏蔽量所引起的酸化半径增加值,并将该酸化半径增加值与酸化半径之和作为该水平井实际酸化半径。
装置方案二:在装置方案一的基础上,所述指令C中的屏蔽量是根据酸化半径与水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离之间的关系确定的,所采用公式为:
当R+≤Min(a,b)时,VP=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时,
其中,VP为遮挡层对酸液的屏蔽量;a为水平井井眼距离上覆遮挡层距离;b为水平井井眼距离下覆遮挡层距离;R+为酸化半径。
装置方案三:在装置方案二的基础上,所述指令D中根据屏蔽量计算酸化半径增加值所采用的计算公式为:
当R+≤a或b,R++=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时
其中R++为酸液屏蔽量所增加的酸化半径。
装置方案四:在装置方案三的基础上,当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,若计算出的R++≤Max(a,b)-R+,则R++未受距离较远的遮挡层影响,以所计算出的R++作为酸液屏蔽量所增加的酸化半径;若计算出的R++>Max(a,b)-R+,则R++同时受到距离较远的遮挡层影响,此时酸液屏蔽量所增加的酸化半径为:
装置方案五、六:分别在装置方案二、四的基础上,所述智力A中的储层地质模型是根据储层厚度、基质孔隙度、裸眼酸化水平井段长度、井眼半径以及水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离建立的。
附图说明
图1是本发明所建立的地质模型示意图;
图2是本发明裸眼水平井基质酸化半径确定方法的原理图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的具体实施方式做进一步的说明。
本发明在常规酸化半径计算方法的基础上,综合考虑酸化施工过程中储层上下遮挡层对酸液的屏蔽作用,利用等效计算方法,计算遮挡层对酸液的屏蔽量,进而根据屏蔽酸量计算酸化半径所增加的半径,最后得到实际的酸化半径,如图2所示。下面以某一具体的水平井为例对本发明的酸化半径确定方法进行详细说明,具体实施过程如下:
1.建立储层地质模型。
储能地质模型建立所需要的参数包括:储层纵向厚度H、平均孔隙度Φ以及水平井裸眼酸化井段长度L、井眼半径r以及水平井井眼距离上覆遮挡层距离a和下覆遮挡层距离b。本实例中的水平井X井储层厚度H=4.0m,平均孔隙度Φ=10%,采用三级井身结构裸眼完井,三开井眼2r=152.4mm,酸化井段长度L=200m,水平井井眼轨迹距离上覆泥岩隔层a=0.5m,建立的储层地质模型如图1所示。
2.利用酸液用量V计算酸化半径R+
根据裸眼酸化水平段长L、基质孔隙度Φ、井眼半径r和酸液用量V,计算酸化半径R+。具体计算公式简化为:
式中:R+为酸化半径;V为酸液用量;π为圆周率;R为基质酸化半径;r为井眼半径;L为水平井酸化裸眼井段长度;Φ为储层基质孔隙度。
本实例拟采用酸化解堵求产,施工泵注酸液总量100m3,通过井区内同等地质条件和钻井液分析,初步判断本井钻井过程中钻井液对储层基质的污染半径约1.4m,若要分析酸化是否能够解除钻井液对储层的污染,确定酸化半径为:
3.计算上下遮挡层对酸液滤失的屏蔽量VP
遮挡层对酸液的屏蔽量通过等效计算方法计算,该等效计算方法首先假设遮挡层能够与储层一样滤失酸液,由此计算出遮挡层内酸液滤失量,遮挡层内的酸液滤失量即等效于遮挡层对酸液的屏蔽量,具体计算公式为:
1)若a=b,即当水平井井眼位于储层中心部位,与上下遮挡层间的距离相同。
①若R+≤a或b,即酸化半径R+小于井眼与上下遮挡层之间的距离,此时酸化未受遮挡层影响,所以遮挡层对酸液的屏蔽量:
VP=0
②若R+>a或b,即酸化半径R+大于井眼与上下遮挡层的距离,此时酸化同时受上下遮挡层影响,所以遮挡层对酸液的屏蔽量通过等效计算方法计算,简化后计算公式为:
2)若a≠b,即当水平井位于储层非中心部位,此时井眼与上下遮挡层间的距离各不相同。
①若R+≤Min(a,b),即酸化半径R+小于井眼与上下遮挡层的距离,此时酸化未受遮挡层影响,所以遮挡层对酸液的屏蔽量:
VP=0
②若Min(a,b)<R+≤Max(a,b),即酸化半径R+大于井眼与遮挡层的最小距离,而小于等于井眼与遮挡层的最大距离,此时酸化受距离较近的遮挡层影响,而不一定受距离较远遮挡层的影响,所以距离较近遮挡层对酸液的屏蔽量通过等效计算方法计算,简化后计算公式为:
因为上式前提是酸化只受距离较近的遮挡层影响,而实际酸化半径增加,可能会收到距离较远遮挡层的影响,所以在实际酸化半径的计算过程中同时需要考虑距离较远遮挡层的影响。
③若R+>Max(a,b),即酸化半径大于井眼与上下遮挡层的最大距离,此时酸化同时受上下遮挡层影响,所以遮挡层对酸液的屏蔽量可以通过等效计算方法计算,简化后计算公式为:
式中:VP为遮挡层对酸液的屏蔽量;a为水平井井眼距离上覆遮挡层距离;b为水平井井眼距离下覆遮挡层距离。
对于本实例而言,计算的酸化半径1.26m大于水平井井眼轨迹与上覆泥岩隔层的距离0.5m,但小于水平井井眼轨迹与下覆泥岩隔层的距离2.5m,所以,计算得到上覆遮挡层对酸液的屏蔽量为:
4.计算酸液屏蔽量所引起的酸化半径增加值R++
化半径增加值R++可认为遮挡层对酸液屏蔽量所引起的酸化半径增加值,发明假设遮挡层所形成的渗流阻力均匀作用于酸化半径内,所以,酸液屏蔽量所引起的酸化半径增加值在径向同步增加,具体计算公式为:
1)若a=b,即当水平井井眼位于储层中心部位,与上下遮挡层间的距离相同:
①若R+≤a或b,则酸化未受遮挡层影响,遮挡层对酸液的屏蔽量为0,所以酸化半径增加值:
R++=0
②若R+>a或b,则酸化同时受上下遮挡层影响,酸化半径增加值R++可由遮挡层对酸液的屏蔽量VP计算得到,计算公式简化为:
2)若a≠b,即当水平井井眼位于储层非中心部位,井眼与上下遮挡层距离
不同:
①若R+≤Min(a,b),则酸化未受遮挡层影响,遮挡层对酸液的屏蔽量为0,所以酸化半径增加值:
R++=0
②若Min(a,b)<R+≤Max(a,b),则酸化受距离较近的遮挡层影响,酸化半径增加值R++可由遮挡层对酸液的屏蔽量VP计算得到,计算公式简化为:
如果R++≤Max(a,b)-R+,则R++未受距离较远的遮挡层影响,则其计算公式与上式相同;如果R++>Max(a,b)-R+,则R++受到距离较远的遮挡层影响,其计算公式为:
③若R+>Max(a,b),则酸化同时受上下遮挡层影响,酸化半径增加值R++同样可由遮挡层对酸液的屏蔽量VP计算得到,计算公式简化为:
对于本实例而言,计算得到的酸化半径增加值为:
5.计算实际酸化半径RR
实际酸化半径增加值RR为酸化半径R+与酸化半径增加值R++之和,即:
RR=R++R++
1)若a=b,即当水平井井眼位于储层中心部位,与上下遮挡层间的距离相同:
①若R+≤a或b,则酸化未受遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
②若R+>a或b,则酸化同时受上下遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
2)若a≠b,即当水平井井眼位于储层非中心部位,井眼与上下遮挡层距离不同:
①若R+≤Min(a,b),则酸化未受遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
②若Min(a,b)<R+≤Max(a,b),且R++≤Max(a,b)-R+,则酸化受距离较近的遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
③若Min(a,b)<R+≤Max(a,b),但R++>Max(a,b)-R+,则酸化先受距离较近的遮挡层影响,后受距离较远的遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
④若R+>Max(a,b),则酸化同时受上下遮挡层影响,则酸化受距离较近的遮挡层影响,实际酸化半径RR为:
对本实例而言,实际酸化半径为:
RR=R++R++=1.26+0.23=1.49m
实际酸化半径为1.49m,能够解除近井筒基质区钻井液污染,若不考虑遮挡层对酸液的屏蔽作业,分析的酸化半径仅1.26m,得到酸化半径不足的判断。
可见,本发明由于考虑了遮挡层对酸液滤失的屏蔽作用,通过计算酸化半径的增加值,使确定的实际基质酸化半径更加准确,适用于工程施工过程中对酸化半径的估算。
上述方法可以作为一种计算机程序,存储在裸眼水平井基质酸化半径确定装置中的存储器中并可在裸眼水平井基质酸化半径确定装置中的处理器上运行。
最后所应说明的是:以上实施例仅用以说明而非限定本发明的技术方案,尽管参照上述实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解;依然可以对本发明进行修改或者等同替换,而不脱离本发明的精神和范围的任何修改或局部替换,其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
1)建立储层地质模型;
2)根据储层地质模型和酸液用量计算酸化半径;
3)计算水平井上覆遮挡层和下覆遮挡层对酸液滤失的屏蔽量;
4)计算酸液滤失屏蔽量所引起的酸化半径增加值,并将该酸化半径增加值与酸化半径之和作为该水平井实际酸化半径。
2.根据权利要求1所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,其特征在于,所述步骤3)中的屏蔽量是根据酸化半径与水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离之间的关系确定的,所采用公式为:
当R+≤Min(a,b)时,VP=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时,
其中,VP为遮挡层对酸液的屏蔽量;a为水平井井眼距离上覆遮挡层距离;b为水平井井眼距离下覆遮挡层距离;R+为酸化半径。
3.根据权利要求2所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,其特征在于,所述步骤4)根据屏蔽量计算酸化半径增加值所采用的计算公式为:
当R+≤a或b,R++=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时
其中R++为酸液屏蔽量所增加的酸化半径。
4.根据权利要求3所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,其特征在于,当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,若计算出的R++≤Max(a,b)-R+,则R++未受距离较远的遮挡层影响,以所计算出的R++作为酸液屏蔽量所增加的酸化半径;若计算出的R++>Max(a,b)-R+,则R++同时受到距离较远的遮挡层影响,此时酸液屏蔽量所增加的酸化半径为:
5.根据权利要求2或4所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定方法,其特征在于,所述步骤1)中的储层地质模型是根据储层厚度、基质孔隙度、裸眼酸化水平井段长度、井眼半径以及水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离建立的。
6.一种裸眼水平井基质酸化半径的确定装置,其特征在于,该装置包括存储器和处理器,以及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器与所述存储器相耦合,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下指令:
A.建立储层地质模型;
B.根据储层地质模型和酸液用量计算酸化半径;
C.计算水平井上覆遮挡层和下覆遮挡层对酸液滤失的屏蔽量;
D.计算酸液滤失屏蔽量所引起的酸化半径增加值,并将该酸化半径增加值与酸化半径之和作为该水平井实际酸化半径。
7.根据权利要求6所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定装置,其特征在于,所述指令C中的屏蔽量是根据酸化半径与水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离之间的关系确定的,所采用公式为:
当R+≤Min(a,b)时,VP=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时,
其中,VP为遮挡层对酸液的屏蔽量;a为水平井井眼距离上覆遮挡层距离;b为水平井井眼距离下覆遮挡层距离;R+为酸化半径。
8.根据权利要求7所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定装置,其特征在于,所述指令D中根据屏蔽量计算酸化半径增加值所采用的计算公式为:
当R+≤a或b,R++=0;
当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,
当R+>Max(a,b)时
其中R++为酸液屏蔽量所增加的酸化半径。
9.根据权利要求8所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定装置,其特征在于,当Min(a,b)<R+≤Max(a,b)时,若计算出的R++≤Max(a,b)-R+,则R++未受距离较远的遮挡层影响,以所计算出的R++作为酸液屏蔽量所增加的酸化半径;若计算出的R++>Max(a,b)-R+,则R++同时受到距离较远的遮挡层影响,此时酸液屏蔽量所增加的酸化半径为:
10.根据权利要求7或9所述的裸眼水平井基质酸化半径的确定装置,其特征在于,所述智力A中的储层地质模型是根据储层厚度、基质孔隙度、裸眼酸化水平井段长度、井眼半径以及水平井距离上覆遮挡层距离和下覆遮挡层距离建立的。
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