CN108181091A - 光纤扭转测试装置和测试方法 - Google Patents

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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

Abstract

本发明公开了一种光纤扭转测试装置,其特征在于:包括固定盘和转动盘,所述转动盘能够绕自身的轴线转动,所述固定盘和转动盘上均设有供单根光纤穿入的过纤孔,待扭转的光纤穿入固定盘和转动盘上的过纤孔;所述固定盘和转动盘上均设有光纤夹持器,所述光纤夹持器用于夹持待扭转的光纤,所述固定盘和转动盘上的光纤夹持器同时夹紧待扭转的光纤后,所述转动盘转动带动光纤扭转。本发明的光纤扭转测试装置,启动旋转转动盘来扭转被定位夹持后的光纤,以此来模拟光纤在中继器中所受到的扭力,用以辅助测试光纤扭转不同角度后的传输性能,可以非常方便的在实验室里进行光纤扭转性能的测试,为分析光纤的扭转性能提供依据,具有结构简单轻便、占用空间小的特点。

Description

光纤扭转测试装置和测试方法
技术领域
本发明涉及一种光纤扭转测试装置和测试方法。
背景技术
目前海洋通信技术飞速发展,各个国家均在建设自己的海洋通信网络,以海洋光纤为通信材料的海缆承担起了海洋通信网络建设的主要任务。海洋通信安全是国防安全的重要保障,我国已经开始研制属于自己的海洋光纤及其系统,打破国外技术垄断,维护国家的信息通信安全。海洋光纤相比于陆地上应用的光纤,其性能更优异,稳定性更强,环境可靠性也更高。海洋光纤敷设在环境复杂的海底,通过中继器进行连接,在中继器中光纤通过熔接连接起来,由于中继器两端海缆受力不同,海缆发生扭转,带动中继器中的光纤也发生扭转,因此,在中继器中的光纤及光纤熔接点会受到扭转力的作用,受到扭转影响的光纤其传输性能会发生变化,为了测试这种变化是否在可控范围内,海洋光纤都要进行扭转性能的测试。目前,对扭转性能的测试是在海缆接头盒中进行扭转,模拟真实场景,没有专门的测试设备,对于在实验室里测试扭转性能非常不便。
发明内容
本发明提供一种光纤扭转测试装置,用于模拟测试光纤以及带有熔接点光纤扭转不同角度后的传输性能,可以非常方便的在实验室里进行光纤扭转性能的测试,为分析光纤的扭转性能提供依据。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种光纤扭转测试装置,包括固定盘和转动盘,所述转动盘能够绕自身的轴线转动,所述固定盘和转动盘上均设有供单根光纤穿入的过纤孔,待扭转的光纤穿入固定盘和转动盘上的过纤孔;所述固定盘和转动盘上均设有光纤夹持器,所述光纤夹持器用于夹持待扭转的光纤,固定盘和转动盘上的光纤夹持器同时夹紧待扭转的光纤后,所述转动盘转动带动光纤扭转。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括所述转动盘能够沿其与固定盘的连线方向往复滑动。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括其还包括移动滑轨,所述移动滑轨上设有能够沿其滑动的滑块,所述转动盘安装在滑块上;所述固定盘固定安装在移动滑轨上。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括所述转动盘上设有转动角度采集器。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括所述固定盘和转动盘上均设有多个所述过纤孔。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括光纤检测设备,光纤穿出固定盘和转动盘上的过纤孔后的端部连接光纤检测设备。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括所述固定盘和转动盘之间的光纤长度为10cm~15cm。
为了解决上述技术问题,本发明还提供一种光纤扭转性能测试方法,包括以下步骤:
(1)待扭转的光纤依次穿入固定盘和转动盘上的过纤孔,穿出过纤孔后的端部连接光纤检测设备;
(2)启动固定盘和转动盘上的光纤夹持器同时夹持光纤,记录光纤检测设备上显示的性能参数x0,记录转动角度采集器上显示的角度值y0;
(3)旋转所述转动盘扭转光纤,记录光纤检测设备上显示的性能参数X,记录转动角度采集器上显示的角度值Y;
(4)计算光纤扭转1°的参数变化率α,
(5)计算光纤扭转任意角度时的传输性能:δ=θ*α;
θ为光纤扭转的角度;
α为光纤扭转1°的参数变化率;
δ为光纤扭转θ角后的传输性能。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括测量多根光纤扭转1°的参数变化率α1、α2、α3······αn,按照步骤(4)中的公式计算每根光纤扭转1°的参数变化率α1、α2、α3······αn,取多根光纤参数变化率的平均值作为当前测量光纤的扭转1°参数变化率。
本发明一个较佳实施例中,进一步包括测量光纤熔接点处的性能参数时,移动所述转动盘,使得光纤穿入固定盘和转动盘过纤孔过后熔接点位于固定盘和转动盘的正中间。
本发明的光纤扭转测试装置,启动旋转转动盘来扭转被定位夹持后的光纤,以此来模拟光纤在中继器中所受到的扭力,用以辅助测试光纤扭转不同角度后的传输性能,可以非常方便的在实验室里进行光纤扭转性能的测试,为分析光纤的扭转性能提供依据,具有结构简单轻便、占用空间小的特点。
附图说明
图1是本发明第一实施例中光纤扭转测试装置的结构示意图;
图2是图1中光纤扭转测试装置的主视结构示意图。
其中:1-光纤,2-固定盘,4-转动盘,6-过纤孔,8-光纤夹持器,10-滑轨,12-滑块,14-转动角度采集器,16-光纤检测设备。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施,但所举实施例不作为对本发明的限定。
实施例一
如图1-2所示,本实施例公开了一种光纤扭转测试装置,包括固定盘2、转动盘4和光纤检测设备16,上述转动盘4能够绕自身的轴线转动,转动盘4的转动动力源根据需要可以设计成手动或者自动(电机驱动或者旋转缸驱动)。上述固定盘2和转动盘4上均设有供单根光纤穿入的过纤孔6,待扭转的光纤1穿入固定盘2和转动盘4上的过纤孔6,光纤1穿出固定盘2和转动盘4上的过纤孔6后的端部连接光纤检测设备16,控制调整转动盘4的位置,使得上述固定盘2和转动盘4之间的光纤1长度为10cm~15cm;上述固定盘2和转动盘4上均设有光纤夹持器8,上述光纤夹持器8用于夹持待扭转的光纤1,任意能够夹紧或者释放光纤1的器件均可以用作光纤夹持器8;光纤1被固定盘2和转动盘4上的光纤夹持器8定位夹持后,启动旋转转动盘4来扭转被定位夹持后的光纤,以此来模拟光纤1在中继器中所受到的扭力,固定盘2转动不同的角度施加给光纤1的扭转力不同,沿一个方向转动的角度越大施加给光纤的扭转力越大,以此可以模拟施加到光纤上的多种不同扭转力。为了直观的读取转动盘4转动的角度,上述转动盘4上设有转动角度采集器14。
转动盘4旋转后,会拉伸被夹持在固定盘2和转动盘4之间的光纤1,为了合适的调整光纤1的松紧度,使待测光纤1不会因拉得过紧而导致测试的误差,以及为了避免拉断光纤1,本实施例技术方案中,上述转动盘4能够沿其与固定盘2的连线方向往复滑动。
本实施例技术方案中,实现转动盘4往复移动的优选结构为:还包括移动滑轨10,上述移动滑轨10上设有能够沿其滑动的滑块12,上述转动盘4安装在滑块12上;上述固定盘2固定安装在移动滑轨10上。转动盘4旋转时,在光纤1的反向牵引力作用下转动盘4沿移动滑轨10向固定盘2移动,以此来自适应调整光纤夹持旋转过程中的松紧。
上述固定盘2和转动盘4上均设有多个上述过纤孔6,可以同时进行多根光纤的扭转实验。
使用以上结构的扭转装置和扭转测试装置测试光纤性能的方法包括以下步骤:
(1)待扭转的光纤1依次穿入固定盘2和转动盘4上的过纤孔6,穿出过纤孔6后的端部连接光纤检测设备16;
(2)启动固定盘2和转动盘4上的光纤夹持器8同时夹持光纤1,记录光纤检测设备16上显示的性能参数x0,记录转动角度采集器14上显示的角度值y0;
(3)旋转上述转动盘4扭转光纤1,记录光纤检测设备16上显示的性能参数X,记录转动角度采集器14上显示的角度值Y;
(4)计算光纤扭转1°的参数变化率α,
(5)多根光纤同时被夹持旋转后,测量每根光纤的扭转1°的参数变化率α1、α2、α3······αn,取多根光纤参数变化率的平均值作为当前测量光纤的扭转1°参数变化率。
光纤检测设备16是市面上能够直接购买得到的设备,光纤接入光纤检测设备16后,光纤检测设备16能够直接测量得到光纤的传输性能。测量得到光纤扭转1°的参数变化率后,根据这一参数变化率可以计算获得光纤扭转任意角度后的传输性能,计算公式为δ=θ*α,θ为光纤扭转的角度,α为光纤扭转1°的参数变化率,δ为光纤扭转θ角后的传输性能。
测量光纤1的单端性能时,光纤的其中一个穿出端部连接光纤检测设备,另一端不接光纤检测设备;光纤穿出过纤孔6的两端都连接光纤检测设备时,可以同时测量光纤两端扭转后的传输性能。
测量带有熔接点的光纤时,移动上述转动盘4,使得光纤1穿入固定盘2和转动盘4过纤孔6过后熔接点位于固定盘2和转动盘4的正中间,此时测量值视为熔接点的参数值。
以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例,本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换,均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (10)

1.一种光纤扭转测试装置,其特征在于:包括固定盘和转动盘,所述转动盘能够绕自身的轴线转动,所述固定盘和转动盘上均设有供单根光纤穿入的过纤孔,待扭转的光纤穿入固定盘和转动盘上的过纤孔;所述固定盘和转动盘上均设有光纤夹持器,所述光纤夹持器用于夹持待扭转的光纤,所述固定盘和转动盘上的光纤夹持器同时夹紧待扭转的光纤后,所述转动盘转动带动光纤扭转。
2.如权利要求1所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:所述转动盘能够沿其与固定盘的连线方向往复滑动。
3.如权利要求2所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:其还包括移动滑轨,所述移动滑轨上设有能够沿其滑动的滑块,所述转动盘安装在滑块上;所述固定盘固定安装在移动滑轨上。
4.如权利要求1所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:所述转动盘上设有转动角度采集器。
5.如权利要求1所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:所述固定盘和转动盘上均设有多个所述过纤孔。
6.如权利要求1-5任一项所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:其包括光纤检测设备,光纤穿出固定盘和转动盘上的过纤孔后的端部连接光纤检测设备。
7.如权利要求6所述的光纤扭转测试装置,其特征在于:所述固定盘和转动盘之间的光纤长度为10cm~15cm。
8.一种光纤扭转性能测试方法,其特征在于:使用权利要求6所述的光纤扭转测试装置,其包括以下步骤,
(1)待扭转的光纤依次穿入固定盘和转动盘上的过纤孔,穿出过纤孔后的端部连接光纤检测设备;
(2)启动固定盘和转动盘上的光纤夹持器同时夹持光纤,记录光纤检测设备上显示的性能参数x0,记录转动角度采集器上显示的角度值y0;
(3)旋转所述转动盘扭转光纤,记录光纤检测设备上显示的性能参数X,记录转动角度采集器上显示的角度值Y;
(4)计算光纤扭转1°的参数变化率α,
(5)计算光纤扭转任意角度时的传输性能:δ=θ*α;
θ为光纤扭转的角度;
α为光纤扭转1°的参数变化率;
δ为光纤扭转θ角后的传输性能。
9.如权利要求8所述的光纤扭转后的性能测试方法,其特征在于:测量多根光纤扭转1°的参数变化率α1、α2、α3······αn,按照步骤(4)中的公式计算每根光纤扭转1°的参数变化率α1、α2、α3······αn,取多根光纤参数变化率的平均值为当前测量光纤的扭转1°参数变化率。
10.如权利要求8所述的光纤扭转后的性能测试方法,其特征在于:测量光纤熔接点处的性能参数时,移动所述转动盘,使得光纤穿入固定盘和转动盘过纤孔后熔接点位于固定盘和转动盘的正中间。
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