CN108153637A - 检测eeprom读写功能的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提出一种检测EEPROM读写功能的方法及装置，其中，该方法包括：在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间，对所述EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。本发明中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题。

Description

检测EEPROM读写功能的方法及装置
技术领域
本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种检测EEPROM读写功能的方法及装置。
背景技术
电可擦写只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-OnlyMemory，简称EEPROM)，一般用来保存用户重要数据即非易失数据。EEPROM是一种掉电后所存储的数据不丢失的存储芯片，为即插即用的存储器。用户使用时可以在线擦除EEPROM上已有的信息，也可以实时更新EEPROM上的信息。比如，利用EEPROM来存储车辆的上电次数，对车辆每上一次电，该EEPROM就可以对上电的次数加1，并且车辆掉电后该EEPROM上所记录的上电次数并不会丢失。当对车辆再次上电后，EEPROM会继续对上电次数加1。
目前，很多产品通过EEPROM来记录用户的重要信息或者使用信息，因此，EEPROM具有有效的读写功能是使用EEPROM记录数据的重要前提，因为EEPROM读写功能的有效性，直接关系到产品对应的用户的重要信息是否可以正常存储及读取。
现有技术中，部分产品中可以对EEPROM的读写功能进行检测，但是在产品已经成品或者已经面向市场应用时，才对产品的EEPROM读写功能进行检测。在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测的过程中，当检测出EEPROM存在问题时，则需要将已经成品的产品或者已经面向市场应用给的产品返厂维修或者报废，返厂维修必定带来较大的返修成本，报废势必造成资源浪费，使得产品的成本增加。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的第一个目的在于提出一种检测EEPROM读写功能的方法，以实现在产品未成品或者为面向市场之前检测EEPROM读写功能的，用于解决现有技术中由于是对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，存在在检测出EEPROM存在问题时会导致产品成本加大的问题。
本发明的第二个目的在于提出一种检测EEPROM读写功能的装置。
为达上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种检测EEPROM读写功能的方法，包括：
在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上所安装的EEPROM的存储空间；
对所述EEPROM的存储空间执行写检测；
在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
本发明实施例的检测EEPROM读写功能的方法，通过在产品的PCB产出下线后，就获取到PCB上所安装的EEPROM的存储空间，然后对EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后下载相应的应用程序，再将产品投入市场应用。本发明实施例中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题，从而可以减少返修的概率，并且减低由于报废造成的资源浪费。
为达上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种检测EEPROM读写功能的装置，包括：
获取模块，用于在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间；
检测模块，用于对所述EEPROM的存储空间执行写检测，以及在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
下载模块，用于当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
本发明实施例的检测EEPROM读写功能的装置，通过在产品的PCB产出下线后，就获取到PCB上所安装的EEPROM的存储空间，然后对EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后下载相应的应用程序，再将产品投入市场应用。本发明实施例中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题，从而可以减少返修的概率，并且减低由于报废造成的资源浪费。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本发明实施例所提供的一种检测EEPROM读写功能的方法的流程示意图；
图2为本发明实施例所提供的另一种检测EEPROM读写功能的方法的流程示意图；
图3为本发明实施例所提供的一种检测EEPROM读写功能的装置的结构示意图；
图4为本实施例提供的一种检测模块12的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
图1为本发明实施例所提供的一种检测EEPROM读写功能的方法的流程示意图。该检测EEPROM读写功能的方法包括以下步骤：
S101、在产品的PCB装配完成后，获取PCB上EEPROM的存储空间。
本实施例中，在产品对应的印制电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)装配完成后，就可以对PCB上安装的EEPROM进行读写功能的检测。具体地，搜集产品在硬件和软件开发过程中的相关资料，对相关资料进行分析整理，并且根据产品的硬件和软件所需的资源和相关配置参数，从这些相关信息或者资料中可以提取出该PCB上安装的EEPROM被分配了多少的存储空间或者地址。
S102、对EEPROM的存储空间执行写检测。
S103、在写检测成功后对EEPROM的存储空间执行读检测。
在获取到EEPROM的存储空间后，就可以针对该EEPROM的每个存储空间进行读写功能的检测，对EEPROM上每个存储空间执行写检测，在写检测成功后，继续对该存储空间执行读检测。
本实施例中，可以预先编写一个专门针对该产品的EEPROM的全部存储空间进行读写功能检测的软件，在PCB装配完成后，就可以利用该软件对EEPROM的每个存储空间进行读写功能的检测。在对EEPROM的每个存储空间进行读写功能的检测之前，需要对PCB进行上电连接，保证该PCB处于工作状态。
优选地，在对EEPROM的读写功能进行检测时，由于EEPROM的存储空间较大，可以采用分布式的读写方式对EEPROM的读写功能进行检测。具体地，并行地对EEPROM每个存储空间的读写进行检测，这种分布式的读写方式具有较高的检测效率。
可选地，在对EEPROM的读写功能进行检测时，由于EEPROM的存储空间较大，为了保证整个检测不会出现死机，可以采用阻塞式的读写方式，式对EEPROM的读写功能进行检测。具体地，可以每次只对设定数量的存储空间进行检测，当这个部分存储空间未检测完成时，则处于阻塞状态，避免后续存储空间进入检测过程中，由于每次检测的数量相对存储空间的总量较少，可以避免由于同时对大量的存储空间进行检测，而造成的死机现象的出现，能够保证检测的持续进行。
S104、当检测成功后，在产品上下载面向市场的应用程序。
当对EEPROM的读和写的检测均成功后，说明该EEPROM的读写功能有效，用户在使用产品时，可以正常地向该EEPROM中写入重要数据或信息。此时，可以在产品上下载面向市场的应用程序，将该产品面投入市场应用。
本实施例提供的检测EEPROM读写功能的方法，通过在产品的PCB产出下线后，就获取到PCB上所安装的EEPROM的存储空间，然后对EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后下载相应的应用程序，再将产品投入市场应用。本实施例中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题，从而可以减少返修的概率，并且减低由于报废造成的资源浪费。
图2为本发明实施例所提供的另一种检测EEPROM读写功能的方法的流程示意图。该检测EEPROM读写功能的方法包括以下步骤：
201、按照检测需求对用于对EEPROM的读写功能进行检测的上位机进行配置。
具体地，检测人员可以根据检测需求，预先为用于对EEPROM进行读写功能检测的上位机进行配置，配置的内容可以包括：检测命令、控制器局域网总线(ControllerAreaNetwork，简称CAN)协议、请求命令以及监测命令等。例如，可以将检测需求变成上位机的开发需求表，在开发人员对上位机开发时，将按照该检测需求通过该开发需求表，制作上位机以实现对EEPROM的读写功能检测。当通过上位机对EEPROM进行读写功能检测时，可以通过上位机的操作界面，启动检测按钮来开启对EEPROM读写功能的检测。
202、在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取PCB上EEPROM的存储空间。
本实施例中，在产品对应的印制电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)装配完成后，就可以对PCB上安装的EEPROM进行读写功能的检测。具体地，搜集产品在硬件和软件开发过程中的相关资料，对相关资料进行分析整理，并且根据产品的硬件和软件所需的资源和相关配置参数，从这些相关信息或者资料中可以提取出该PCB上安装的EEPROM被分配了多少的存储空间或者地址。将提出的EEPROM的存储空间，配置到上位机中。
在对EEPROM的读写功能进行检测之前，需要对PCB进行上电连接，使PCB处于正常使用状态。
S203、接收检测命令。
在将EEPROM的存储空间对应的地址配置到上位机以及将PCB上电连接后，就可以启动上位机以触发检测命令，执行对EEPROM读写功能的检测。其中，可以用“1”表示开启检测命令，可以用“0”表示关闭检测命令。
S204、对EEPROM的存储空间执行写检测。
在接收到检测命令后，则可以对EEPROM的存储空间进行写检测，以确定数据是可以存储到EEPROM中。如果写检测成功，则执行S205，如果写检测失败，则执行S209。
S205、对EEPROM的存储空间执行读检测。
在写检测成功后，则可以执行对EEPROM存储空间的读检测，以确定写入的数据是可以从EEPROM中读取出来。如果读检测成功，则执行S206，如果读检测失败，则执行S209。
S206、检测的次数是否达到预设的次数。
本实施例中，为了提高检测的准确率，可以对EEPROM的存储空间进行多次检测，避免由于意外导致的误判。预先设置一定的检测次数，按照预设的检测次数对EEPROM的读写功能进行检测。本实施例中，对检测的次数进行记录，每当读写检测都成功之后，则记录的检测次数就进行加1操作，进一步地，则可以判断当前检测的次数是否达到预设的次数，如果达到预设的次数，则执行S207。如果当前检测次数未达到预设的次数，则执行S210。
S207、返回检测成功指示。
当判断出当前检测的次数已经达到预设的次数，并且每次读写检测均成功，则说明该EEPROM的读写功能有效，用户在使用时可以正常存储数据和读取数据，此时则返回检测成功指示。
在获取到检测成功指示后，则可以在产品上下载面向市场应用的应用程序，继而可以将产品投入市场推广应用。
S208、在产品上下载面向市场的应用程序。
S209、返回检测失败指示。
本实施例中，每当检测出写或者读失败时，则返回一个检测失败指示。
进一步地，在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中该相关信息可以包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。检测人员在检测失败时可以根据返回的相关信息，分析出产品的EEPROM检测失败的原因。例如，该检测失败是批量存在，还是个别存在，或者，该检测失败是采购前存在的问题，还是采购后在生成产品的过程中出现的问题，或者，该检测失败是偶然问题还是既定问题，有利于向检测人员对EEPROM的优化或者维护提供指导意见。
可选地，对EEPROM进行一次读写功能的检测，即在一次写和读检测均成功时，就返回检测成功指示。
S210、返回当前检测的进程指示。
具体地，当检测到当前次数未达到预设的次数，则可以返回一个当前检测的进程指示，该进程指示可以指示出当前检测正在进行中。
可选地，在对EEPROM进行读写功能的检测的过程中，可以按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。该进程指示可以指示出当前检测正在进行中，或者该进程指示可以为一个进度条，通过该进度条检测人员可以知道当前检测的进度。
本实施例提供的检测EEPROM读写功能的方法，通过在产品的PCB产出下线后，就获取到PCB上所安装的EEPROM的存储空间，然后对EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后下载相应的应用程序，再将产品投入市场应用。本实施例中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题，从而可以减少返修的概率，并且减低由于报废造成的资源浪费。
图3为本发明实施例所提供的一种检测EEPROM读写功能的装置的结构示意图。该检测EEPROM读写功能的装置包括：获取模块11、检测模块12和下载模块13。
其中，获取模块11，用于在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间。
检测模块12，用于对所述EEPROM的存储空间执行写检测，在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测。
下载模块13，用于当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
图4为本实施例提供的一种检测模块12的结构示意图。如图4所示，该所述检测模块，包括：接收单元121、检测单元122和返回单元123。
接收单元121，用于接收检测命令。
检测单元122，用于对所述EEPROM的存储空间执行写检测，在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测。
返回单元123，用于在读检测成功后则返回检测成功指示。
进一步地，检测模块12，具体用于：
按照预设的次数对所述EEPROM进行读写功能的检测。
当预设的次数内均写检测和读检测成功，则返回检测成功指示。
进一步地，返回单元123，还用于：
在对所述EEPROM进行读写功能的检测的过程中，按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。
进一步地，返回单元123，还用于在预设的次数内出现写检测或者读检测失败，则返回检测失败指示。
进一步地，返回单元123，还用于在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中所述相关信息包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。
进一步地，检测模块12，具体用于按照分布式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
进一步地，检测模块12，具体用于按照阻塞式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
进一步地，该检测EEPROM读写功能的装置，还包括：
配置模块14，用于按照检测需求对用于对所述EEPROM的读写功能进行检测的上位机进行配置。
本实施例提供的检测EEPROM读写功能的装置，通过在产品的PCB产出下线后，就获取到PCB上所安装的EEPROM的存储空间，然后对EEPROM的存储空间进行读写功能检测，当检测成功后下载相应的应用程序，再将产品投入市场应用。本实施例中由于将对EEPROM的读写功能的检测，放置在产品下载应用程序之前，在EEPROM读写功能被验证成功后，才会在产品上下载面向市场的应用程序投入实际应用，从而可以避免现有技术中在对已经成品或者已经面向市场应用的产品的EEPROM的读写功能进行检测，出现在EEPROM的读写功能存在问题时由于返修或者报废而导致产品成本增加的问题，从而可以减少返修的概率，并且减低由于报废造成的资源浪费。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现定制逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。如，如果用硬件来实现和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种检测电可擦写只读存储器EEPROM读写功能的方法，其特征在于，包括：
在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间；
对所述EEPROM的存储空间执行写检测；
在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
2.根据权利要求1所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
按照预设的次数对所述EEPROM进行读写功能的检测；
当预设的次数内均写检测和读检测成功，则返回检测成功指示。
3.根据权利要求2所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
在对所述EEPROM进行读写功能的检测的过程中，按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。
4.根据权利要求3所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中所述相关信息包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。
5.根据权利要求1-4任一项所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，按照分布式的读写方式或阻塞式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
6.一种检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间；
检测模块，用于对所述EEPROM的存储空间执行写检测，以及在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
下载模块，用于当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
7.根据权利要求6所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于：
按照预设的次数对所述EEPROM进行读写功能的检测；
当预设的次数内均写检测和读检测成功，则返回检测成功指示。
8.根据权利要求7所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测的模块，还用于：
在对所述EEPROM进行读写功能的检测的过程中，按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。
9.根据权利要求8所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，还用于在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中所述相关信息包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。
10.根据权利要求10-15任一项所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于按照分布式的读写方式或者阻塞式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
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