CN1081343A - 制鞋用的鞋楦 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种制鞋用的鞋楦，该鞋楦具有一个 与被测足部相配的外成型表面，该表面包括长度尺 寸、宽度尺寸和弯曲角度尺寸。其特征在于所述的长 度尺寸、宽度尺寸和弯曲角度尺寸都是由被测足部的 测量值得出的。由于本发明中的鞋楦是根据一组精 确测量的数据制得的，可使制出的鞋更适合于被测量 的足。

Description

本申请是申请号为90104051.7，申请日为900531，发明名称为测量足部尺寸的方法及其鞋楦的分案申请。

本发明涉及一种制鞋用的鞋楦，特别是一种利用一组精确的足部测量尺寸数据制成的鞋楦。

在测量足部尺寸和鞋业制造领域中，存在许多不精确的尺寸。综观鞋业制造史，在测量足部尺寸和鞋楦头制造中，一般使用很少的实际测量尺寸。因此，制出的鞋楦和鞋能达到精确匹配的只占很小一部分。由于尺寸上的问题造成大量存货。

过去，测量足部尺寸普遍应用并为大部分鞋购买者熟知的标准是勃兰诺克（Brannock）测量体系和装置。勃兰诺克体系和装置仅给出足部长度和宽度的测量值。这种测量方法提供了很少的实际数据，而且这些数据与许多变量有关，只有对这些变量进行选定才能获得精确的足部尺寸和鞋子。而且，用于制造鞋的楦头都是根据勃兰诺克体系测量的外表面尺寸制成的。

因此，本发明的目的是根据一组比较精确的足部测量尺寸提出一种制鞋用的鞋楦，其外表面形状是根据一种改进的足部尺寸测量方法测得的数据确定的。

本发明提出的制鞋用的鞋楦具有一个外成形表面，该表面包括：

a）长度尺寸;

b）宽度尺寸;

和c）弯曲角度尺寸;

其特征在于：

所述外表面的长度尺寸、宽度尺寸和弯曲角度尺寸都是由被测量足部的测量值得出的;所述的长度尺寸对应于一个沿着足跟底部上的足跟点至第二趾的趾尖中点延伸的足部中心线测量的足部长度线，该足部长度线从足跟点延伸至与一条足部宽度线相交的交点;所述的宽度尺寸对应于一个沿着一条在第一跖骨突出部分上足部最宽部位至第五跖骨突出部分上足部的最宽部位之间的连线测量的足部宽度尺寸;所述弯曲角度尺寸对应于（1）一个在足部中心线和从足跟点到足部宽度线上第五跖骨突出部分上的足部最宽部位的连线之间测量的足部外侧弯曲角度，和（2）一个在足部中心线和从足跟点到足部宽度线上第一跖骨突出部分上的足部最宽部分的连线之间测量的足部内侧弯曲角度。

本发明的其他目的和优点在以下结合附图所作的详细说明中是很明显的，其中所列举的实施例的目的仅在于说明本发明，并非对发明范围进行限定。

图1是一只足的底视图，表示了足跟质量中心和一条足部中心线。

图2是一只足的底视图，表示了一条宽度尺寸线。

图3是一只足的底视图，表示一条宽度尺寸线与中心线的交点。

图4a是一只足的底视图，表示从足部中心线延伸至弓形线的测量矢量。

图4b是一只足的底视图，表示一个平足。

图4c是一只足的底视图，表示一个标准的弓形足。

图4d是一只足的底视图，表示一个大弓形足。

图5是一只足的底视图，其上标有从足部中心线到曲线内侧和曲线外侧的角度。

图6是一只足的底视图，表示一个足跟宽度尺寸。

图7是一只足的侧视图，表示一种从足跟外侧向上延伸绕至足背并越过上足背的环周测量方法。

图8是一种改进的测量足部尺寸方法的逻辑流程图。

图9是根据本发明的尺寸比例制成的鞋楦的透视图。

下面按要求公开本发明的详细实施例。不言而喻，这里公开的实施例只是作为举例说明，它可以有各种不同形式的体现。因此，这里所公开的结构和功能上的详细叙述并不认为具有限制性，而是作为一个基准借以指导本行业内熟练人员以各种方式和任意适当的装置来使用本发明。

图1中的足部10表示一只有代表性的人足。大足趾12伴随着带趾尖15的第二趾14，第三趾16，第四趾18和第五趾20。绝大部分人类的大足趾12都越出其它足趾尖。但是，也有一些人，他们的第二趾14超出其它足趾尖，还有大约5%的人，他们的第三趾是最长的趾，超出任何其他趾尖。因此，以最长趾长度作为足形的决定的因素的现行足部测量体系，由于最长趾长度与经精确测量足部的其它测量值之间的不对称关系，结果渗入了许多不希望有的变数。常用的现有足部测量体系包括测量足部的最长趾长度并利用这一测量值与足宽值配合，得出最佳的鞋尺寸和宽度。由本发明叙述的这种方法可知现有体系具有很多的缺点，例如，现有足部测量体系一般包含一些关联的参数。这些关联的参数没有提供出精确的足部尺寸。这点可以从足部测量的一般情况中看出，一个鞋型选配人员将测量穿鞋者脚形的长度和宽度，然后，他回到鞋储藏室内找出一系列与测量者脚形相近似的鞋;接着，开始实际的鞋的“选配工作”，实际上这种选配无非是更换鞋的长度或者宽度，让穿带者在脚上试穿，直至穿着者感到舒服时为止。这样一种程序是效率非常低并且带有许多缺点。例如，这种程序不能考虑穿着者脚与鞋的伏贴可能性。事实上，由于一般的穿着者在做出购买决定之前在鞋店内只能有极短的时间试穿该对鞋，这就使问题变得复杂化。虽然鞋的长度和宽度的综合有可能使穿着者感到舒适，但这只是在一两处部位提供满意的支撑，而不是在整个足部。由于试穿的时间太短或其他理由选购者不能选出带有合适弓形支承的鞋。

现有技术中足部测量相关问题的另一例子可以将一只标准的9D号鞋表面与一只标准10C号鞋的表面面积作比较看出。如果使用勃兰诺克式测量体系，两种鞋表面的大小实际上几乎完全相同。顾客理应相信10D号鞋和9D号鞋的宽度基本上是相同的，但实际上它们是不同的。根据勃兰诺克体系制成的这两种鞋在宽度上的差异可以是数毫米。

本发明测量足部尺寸的方法包括实际测量一只脚或多只脚，以获得更精确的实际测”量值或设计鞋楦头的形状用的标定器，由此制出的鞋能精确地支撑和保护所测量的整个足部。另一方面，测量足部的这种方法对存货的选配是非常有用的。这一用途在制造、销售和选配方面都带来了亟需的效应。

标号10表示一只待测量的足部。人足部10包括一个带有质量中心30的足跟区26。质量中心30一般对应于足跟区26的中心，但是在个别情况下也可能有稍微的偏差。一条足部中心线，如图中所示的Ⅰ-Ⅰ线，从第二趾的中央延伸通过足跟区26的质量中心30。足部中心线Ⅰ-Ⅰ的延长线与足跟尖34相交。正如这里将要进一步讨论的，越过足跟（穿过质量中心30）量得的足跟宽度和中心线Ⅰ-Ⅰ是确定本发明的长度和宽度尺寸所必不可少的。

参考图2，在足部10的前掌球状突出部分的最宽部位的内侧部40和最宽部位的外侧部42之间有一条Ⅱ-Ⅱ线。更加具体地说，Ⅱ-Ⅱ线是一条行走的宽度线，该宽度线位于接近足的最宽外侧边的弯曲点和接近足的最宽内侧边的弯曲点之间延伸的弯曲区域内。应当指出，过去常用的测量足部的方法仅包括足部一侧对一侧的足部宽度测量。这种足部宽度测量值在确定足部的实际动态特性和需要方面是不合适的。上面所指的弯曲区域包含足上五个跖骨中的若干跖骨头部。因此，常常称为“跖骨窝”的这一弯曲部位是人足测量方法论者最感兴趣的部位。可以意识到，足部最宽部位之间的线与第一个跖骨突出部和第五个跖骨突出部之间的连线，如Ⅱ-Ⅱ线，有很大的差异。这在鞋舒适性设计中是非常重要的考虑因素，其原因是由于人足的高度敏感性，来自于弯曲区域的平衡矢量以及从这些测量数值得出的鞋的长期支承特性所造成的。因此，应当认识到，宽度尺寸线Ⅱ-Ⅱ应位于足部10前掌球状突出部分的内弯曲点和外侧部分弯曲点之间延伸。

如图3所示，足部中心线Ⅰ-Ⅰ和足部宽度尺寸线Ⅱ-Ⅱ相交于点44处，以外称为T点。这样，从足跟尖34沿着足部中心线Ⅰ-Ⅰ至T点44的一段距离称作T距离，如图3中标明的那样。T点44并不总是对应于足部侧边对侧边之间宽度测量线的中心点上，但却总是代表这里所描述的足部中心线Ⅰ-Ⅰ和宽度尺寸线Ⅱ-Ⅱ之间的交叉点。图9最好地说明了宽度尺寸线Ⅱ-Ⅱ与现有技术体系通常测量出的侧边对侧边足部宽度线Ⅲ-Ⅲ之间的不同。

图4a，4b，4c和4d各表示一种足部形状的底部表面。这些图形中的每个图形表示具有代表性的足部10接触在步行表面上时其底部的各种不同平面形状，或者，更加具体地说，这些图形表示出当一块平面形的测量面轻轻地压在足部10的底部时，留在该测量面的上足部的压印。因此，在图4a中显示的是足部10的一个底部表面，该表面具有添加在其上的足部中心线Ⅰ-Ⅰ和若干垂直于足部中心线Ⅰ-Ⅰ延伸的表示足部10弓形拱线的矢量48。也就是说，弓形线50包括描述大致与步行表面或足部10底部的其余部分共面的一个表面的轮廓线。在足部中心线Ⅰ-Ⅰ至弓形线50之间延伸的垂直矢量的长度确定足部10是属于平直弓形，标准弓形，或是一高度弓形。应当理解，足部中心线Ⅰ-Ⅰ与弓形线50之间的距离值与一系列作为样板的距离，面积，或弓形状作比较时，可以包含一组复合值或是给定值。图4b表示的是一只具有代表性的足部10，它没有明显的弓形线50，因此可以被认为是一只平足。然而，如图4c所示，由矢量58表示的足部中心线Ⅰ-Ⅰ和弓形线50之间的距离表示出一种为大部分足部10所共有的标准弓形线。而图4d所显示的是由矢量64所代表的一种非常高的弓形线。除了用矢量分析来确定弓形线的型式是属于Ⅰ型（大拱型），还是2型（标准弓型），或是3型（平弓型）之外，也可以用面积分析法，例如，确定包含在足部中心线Ⅰ-Ⅰ和弓形线50所形成的线内的面积也可以用作这类分析。将实际的面积大小与样板面积大小作比较也属于本发明的范围之内，以确定弓形线的型式。

在获得长度尺寸数据和弓形数据之外，确定经每只被测量脚的弯曲特性也是很重要的。图5表示了分析足部10的足部弯曲度的方法。如前所述，足部中心线Ⅰ-Ⅰ与足跟相交于足跟点34处。下一步要做的是确定相对于足部中心线Ⅰ-Ⅰ的足部10的弯曲度。一种较好的方法是确定从足跟点34至外侧点42的连线和从足跟点34至内侧点40的连线分别对中心线的角度然后，一系列三角关系可以用来确定足部的弯曲度。一种较好的确定这种曲度值的方法是测量足部中心线Ⅰ-Ⅰ和上面所叙述的足跟点34至内侧点40的矢量和足跟点34至外侧点42的矢量与中心线之间形成的角度。因此，所提供的就是一对如图5所示分别以M和L标示的角度。角度M代表足的内侧弯曲的度数，而角度L则代表足的外侧弯曲的度数。另一种表达这些角度值的方法是将M角称为CMD而将L角称为CLD。然后比较CMD和CLD值，就可以得出一个弯曲度值，用这种较好的测量尺寸并进行编号体系。例如，这种较佳的编号分析包括比较CMD和CLD，如果CMD大于CLD就编为1号，同样情况，如果CMD等于CLD就编为2号。如CMD小于CLD则有三种选择存在。第一种选择是当CMD和CLD之间的差值小于0.5°，则编为3号。第二种选择是当CMD和CLD值的差值在0.5°和1.5°之间，在这种情况则编为4号。最后，当CMD和CLD值相差大于1.5°（CMD小于CLD）则编号为5。

参看图6，图中显示了足部10和足部中心线Ⅰ-Ⅰ。图中还显示了足跟宽度尺寸线Ⅳ-Ⅳ，该线基本上垂直于足部中心线Ⅰ-Ⅰ并穿过质量中心30。图6中以长度70显示的足跟宽度尺寸线Ⅳ-Ⅳ的长度提供了一个用于上述测量足部尺寸方法的附加测量尺寸。对于各种足跟宽度可以用一个足跟宽度值或者若干个足跟宽度值表示。

为了更精确地确定足背的形状和每个足部的总体体积，最好提供体积测量值。参看图7，它以侧视图表示了足部10的侧面。为了克服现有技术中缺少体积测量值的缺点，一种较佳的体积测量方法是测量从足跟区26向上绕过足背区76，然后向下回至足部10另一边的周圈距离，形成一个与体积相关的测量值。便为具体地说，一种测量工具，例如一条软的带尺80，从足跟点34沿着外侧足踝区84向上延伸，绕过上足背区76，然后沿着足部10的内侧向下直至足跟点34。这个周圈测量的总长度提供了一个与提供人足体积值或定等级有关的数值。这个体积测量值对确立足部10的足背部位的足踝大小具有关键性意义，并对利用这些测量值制造出精确尺寸的鞋大有帮助。

本发明所提供的测量足部10尺寸的方法包括几个步骤。如图8所示，该方法包括沿着一条与足跟区26底部的足跟点34至第二趾14的顶部15延伸的足部中心线Ⅰ-Ⅰ对准的轴向长度测量尺寸。这种轴向的测量线最好从足跟点34延伸与一条足部宽度测量线如足部宽度线Ⅱ-Ⅱ相交，如图3所示。这个轴向的测量值最好以毫米表示。下一步计算足部10最宽部位之间的宽度线是必要的，该宽度线延伸于两个弯曲点之间，也就是在足部10最宽部位的内侧前掌球部40和外侧点42之间。

然后就需要从许多弓形线型式中确定具体的弓形线型式并确定足的弯曲度。弓形线型式的测量最好通过测量足部中心线至足部弓形线之间的距离来完成，然后将这一距离与一样板距离基本数据相比较，以确定足部弓形线型式的数值。足部10的弯曲度可以通过将足跟部位的足跟点34至足部10最宽部位的内侧边连线与中心线形成的弯曲角度与从足跟点34至足部10最宽部位的外侧边连线与中心线形成的角度相比较来确定。实际上，足部10的足跟宽度测量步骤最好由确定侧壁接触点，如图6中的点82和点83来完成。换名话说，侧壁接触点82，83之间的距离就是足跟宽度尺寸70。为了在测量足部10的尺寸中能获得更高的精确度，一个最好的步骤包括从足部10的足跟点34向上至上足背区76并绕过上足背区76再向下回至足跟点34的周圈距离来获得足部体积的测量值。因此这项足部体积的测量包括测量经足部10的内侧及外侧两边衡量从足跟点34至上足背区76的距离。

因此，这里提供的方法是从仅仅极少量的测量点产生出一个三维面。虽然勃兰诺克体系和其他的现有技术衡量足部的体系曾企图获得这一体系，其结果不是不精确就是相对性的，而不是实际的。实际上，本申请人已给出很多可以非常精确地确定被测量的足部形状和体积的标定关系。虽然在本发明的范围内可以设想出其他的定标关系，但是这里公开的测量体系精确确定的足部关系远远超过本行业中所已知的。例如，体积的测量就非常精确地提供了一个从足跟点延伸至足背区的包括的面积。在足背区76上的体积测量位置交点提供了一个朝着前面所述的T点。倾斜向下的位置。确实，这种关系提供了许多基本上是三角形的平面区域，使足部在鞋内的适应较之通常的以长度和宽度的测量更加精确。然而，这种另加的测量足跟宽度和相对足中心线的足部弯曲度的综合对过去的测量体系提出了实质性的改进。将这个有价值的数据与线Ⅱ-Ⅱ相结合，则足部弯曲动态特性也被计算出，以提供另一主要的标定或测量值。这样，就提出一种基本上互不牵连的标定或测量值，以制出一个三维平面，从而使足部能够被实际测量，而不是象现有技术测量体系中的相对地测量。例如，在现有技术中，长度的任何改变可能会影响其宽度的测量值。相形之下，本发明的测量体系保持一个T点长度值为一数字，而改变任何几个其它因素都与这个数字无关。

因此，本发明提出测量足部尺寸的方法包括以下步骤：轴向地测量长度尺寸，计算出一条足部宽度线，和比较由足部弯曲形成的角。更加具体地说，轴向测量一个长度尺寸的步骤包括沿着足部中心线长度轴向地衡量足部的一个长度尺寸，足部中心线与足跟底部足跟点与第二趾趾尖的连线成一条线，测量从足跟点延伸直至与足部宽度测量线相交的交叉点。下一步是计算出一条在第一跖骨突出部分区的足部最宽部分与第五跖骨突出部分区的足部最宽部分之间的足部宽度线。最后，将从第一跖骨突出部分至足跟底部足跟点连线与中心线形成的足部内侧边弯曲角度与从第五跖骨突出部分至足跟底部足跟点连线与中心线形成的足部外侧边弯曲角度作比较。此外，可以确定被测足的特有弓形线，并从许多弓形线型式中对该弓形线编号。

根据本发明，还提供一种利用若干快速确定足部标定值精确测量足部尺寸的方法。其步骤包括：测量足部长度标定值，确定足跟宽度标定值，和确定足部弯曲标定值。更加具体的是，足部长度标定值是以从足跟点至与足部宽度线交叉点的距离来确定的。足部长度标定值是沿着在足跟点经足跟的质量中心，和第二趾顶尖的中心点之间延伸的一条直线测量的。相交的足部宽度线一条基本上在足部第一跖骨突出部分与足部第五跖骨突出部分区之间延伸的直线。这条足部宽度线本身可以是一个标定值。足跟宽度标定值的确定是通过确定平常步行与平面相接触的脚跟两侧边之间延伸的直线矢量的大小来实现的。还有，足部弯曲度标定值是通过将从第一跖骨突出部分至足跟底部足跟点连线与中心线形成的足部内侧边弯曲角度与从第五跖骨突出部分至足跟底部足跟点连线与中心线形成的足部外侧边弯曲角度作比较来实现的。还可以提供一个足部体积标定值，进一步增加上述标定值的数量。足部体积标定值是通过周向地测量从足跟点开始向上绕过上足背部位，然后向下沿着足部对面一侧直至足跟点的周圈距离。供选择，也可提供一顶部距离标定值，其方法是测量从所述足部宽度线至一个预先选定的足趾点的距离。例如，可以选择这样一个足趾距离标定值，它包括沿着足部中心线上的T点至第二趾趾尖末端的距离。这个一般被认为是一种供选择的标定值，因为一般鞋或鞋楦的头部通常都是根据鞋的款式设计的，而不是根据足趾中特殊长的或特殊形状的足趾设计的。当然，如果愿意也可以允许应用按一定标准头部型式设计的鞋楦。因此，可以看出本发明可用描绘三维足面的少量标定值基本上描绘出在T点或共后部位或朝着足跟点方向的整个足面。因此，可以再一次看出几乎完全依靠从足跟点至足趾的足部长度测量体系具有的固有谬误。本申请人认为确定一只足部需有许多变数，而基本上所有这些变数都可以从T点朝着足跟点的测量标定值来确定。还有，如前所述，这里提到的标定值或测量值可以单独改变而不会影响到与其相关的标定值或测量值。这是与现有技术测量体系根本上的不同。

在各种型号的鞋制造过程中，总是应用一种鞋楦来为所制的鞋成形。因此，借助改进的测量足部尺寸的精确度和效应，根据前面所讨论的改进的测量方法和数据制成的鞋楦就可能提高制鞋的能力。因而，如图9所示，一个用于为鞋类成形的鞋楦100包括一个外表面，其形状是根据本发明的测量方法对足部实际测量得出的。从所述测量足部制成的鞋楦包括一个轴向测量的长度尺寸，这是从足部沿着一条从足跟底部处足跟点34至第二趾趾尖延伸的足部中心线Ⅰ-Ⅰ上的长度轴测量得出的。该长度尺寸的测量从足跟点延伸至与一条足部宽度测量线Ⅱ-Ⅱ的交叉点为止。鞋楦的宽度将由足部宽度尺寸或宽度线形成。足部宽度尺寸可以从一组足部宽度线中选出，该宽度尺寸线包括一条在足部前掌内侧球状突出部分处足部的最宽部位与足部最宽的外侧部位之间延伸的线，一条在足部内侧弯曲点处的足部最宽部位与在外侧弯曲点处的足部最宽外侧部位之间延伸的足部宽度线，和一条在足部第一跖骨突出部分区与足部第五跖骨突出部分区之间延伸的足部宽度线。还有，一个足部弯曲度尺寸可以从将足部最宽部分的内侧边至足眼底部处足跟点连线与中心线形成的弯曲度角和足部最宽部位的外侧边至足跟点尖连线与中心线形成的弯曲度角作比较而得出。这个足部弯曲度尺寸将对鞋楦制做提供适当的数据，以使制造出的鞋适合于测量的足。

鞋制造业中鞋楦外表面定形用的另外的实际数值包括一个足跟宽度值和一个内容积值。鞋楦足跟宽度值不是与被测量足跟宽度的测量值匹配，就是与实际测量的模型匹配。内容积值即鞋楦外表面内的容量是沿着一条从足部足跟尖由外侧向上至足部的上足背区76，然后再由内侧向下至足部足跟点的线测量其周圈的距离而得出的。这周圈距离是一个与得出的足部体积数值相联系的数字。

虽然本发明较佳实施例已在这里说明和描述，但是业内的一般技术人员都能够意识到凡能达到同一目的其他装置和安排也可以用来替代上述的具体构形。因此，虽然本发明已结合其较佳实施例予以描述，但是显然业内的一般技术人员都能立即连想到许多其他的改进型式，因此，应将这些各种变化或变异体包括在本发明的权利要求之内。

Claims (8)

1、一种制鞋用的鞋楦，它具有一个与被测足部相配的外成形表面，该表面包括：

a)长度尺寸；

b)宽度尺寸；

和c)弯曲角度尺寸；

其特征在于：

所述外表面的长度尺寸、宽度尺寸和弯曲角度尺寸都是由被测量足部的测量值得出的；

所述的长度尺寸对应于一个沿着足跟底部上的足跟点至第二趾的趾尖中点延伸的足部中心线测量的足部长度线，该足部长度线从足跟点延伸至与一条足部宽度线相交的交点；

所述的宽度尺寸对应于一个沿着一条在第一跖骨突出部分上足部最宽部位至第五跖骨突出部分上足部的最宽部位之间的连线测量的足部宽度尺寸；

所述弯曲角度尺寸对应于(1)一个在足部中心线和从足跟点到足部宽度线上第五跖骨突出部分上的足部最宽部位的连线之间测量的足部外侧弯曲角度，和(2)一个在足部中心线和从足跟点到足部宽度线上第一跖骨突出部分上的足部最宽部分的连线之间测量的足部内侧弯曲角度。

2、如权利要求1所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括一个弓形线尺寸，该弓形线尺寸是由被测足部的测量值得出的，并对应于相对足部中心线测量的足部弓形线。

3、如权利要求2所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括，一个足跟宽度尺寸，该足跟宽度尺寸是由被测足部的测量值得出的，并对应于足跟与平地面的侧边接触点之间的距离。

4、如权利要求3所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括一个足部体积尺寸，该足部体积尺寸是由被测足部的测量值得出的，并且对应于从足部的足跟点向上延伸绕过足部的上脚背部再向下回到足跟点测量的周圈距离。

5、一种制造与具有一组已知尺寸的脚相配合的鞋用的鞋楦，所述的已知尺寸包括沿足部底面的足跟点至第二趾的趾尖中点延伸的足部中心线测量的足部长度，从足跟点至与一个足部宽度相交的交点延伸的足部长度，沿从第一跖骨突出部分上的足部最宽部份至第五跖骨突出部分上的足部最宽部分延伸的线测量的足部宽度，在足部中心线和从足跟点至足部宽度上第五跖骨突出部分上的足部最宽部分的连线之间测量的外侧弯曲角度，和在足部中心线和从足跟点至足部宽度上第一跖骨突出部分上的最宽部位的连线之间测量的内侧弯曲角度;

其特征在于：所述鞋楦的外成形表面具有下列一组尺寸：

a）对应于足部的所述足部长度的长度尺寸;

b）对应于足部的所述足部宽度的宽度尺寸;

c）对应于足部的所述外侧弯曲角度的外侧弯曲角度尺寸;

以及d）对应于足部的所述内侧弯曲角度的内侧弯曲角度尺寸。

6、如权利要求5所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括一个对应于足部弓形线的弓形线尺寸，该足部弓形线尺寸相对于足部中心线测量。

7、如权利要求6所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括一个对应于足跟与平地面的两个侧边接触点之间测量距离的足跟宽度尺寸。

8、如权利要求7所述的鞋楦，其特征在于：所述鞋楦的外成形表面还包括一个对应于从足部的足跟点向上绕过足部的足背再向下回到足跟点测量周圈距离的足部体积尺寸。

Images