CN108122518B - 响应时间的测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种响应时间的测试方法及装置，所述方法包括：获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，所述测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；将所述光信号转换为对应的电压信号；显示所述电压信号及与所述电压信号对应的时间信息；从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。本发明可精确的获取AMOLED显示屏的响应时间。

Description

响应时间的测试方法及装置

技术领域

本发明涉及AMOLED显示技术领域，特别是涉及一种响应时间的测试方法及装置。

背景技术

AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)起源于OLED显示技术，具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板。

AMOLED显示屏具有显示的色域广的特性，屏幕显示的色彩更加多样，可以还原更多真实中的颜色，且可有效提升对比度，能够看到更接近于黑夜的阴影。

AMOLED显示屏具有高对比度的特性，和传统的TFT屏幕相比，AMOLED显示屏显示出的黑，是厚重的纯黑，而TFT相比之下更像是深灰；AMOLED显示屏显示的白是纯白，从而实现更加通透的显示效果。

AMOLED显示屏能够实现超薄设计，AMOLED显示屏不需要如LCD显示屏一样设置背光源、彩色滤光片、背光模块和液晶材料等部件，同时，AMOLED显示屏采用集成触摸技术使显示屏更加纤薄。

AMOLED显示屏具有能耗低的特性，AMOLED显示屏的每个像素都可以被独立控制，无须恒定背光，从而节省设备的能耗。

AMOLED显示屏由于具有以上不可替代的特性，已经被广泛应用于手机等各种触控设备。

响应时间为屏体各像素点对输入信号反应的速度，即像素由暗转亮或由亮转暗所需要的时间，响应时间越短则使用者在看动态画面时越不会有尾影拖曳的感觉。响应时间是影响AMOLED显示屏性能的重要因素之一。AMOLED显示屏的响应时间达到微秒(μs)级别，常规的测试方法是通过逐行扫描图像获取响应时间，但这个响应时间包括了系统控制逐行扫描时的系统响应时间以及扫描不同行需要的时间，LCD显示屏由于其响应时间较长，不会存在较大的误差，但由于AMOLED显示屏的响应时间达到微秒级别，因此，系统的响应时间及扫描不同行需要的时间会对测量AMOLED显示屏的响应时间造成严重的误差。

发明内容

基于此，有必要提供一种响应时间的测试方法及装置，提高AMOLED显示屏的响应时间的准确性。

一种响应时间的测试方法，包括：

获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，所述测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；

将所述光信号转换为对应的电压信号；

显示所述电压信号及与所述电压信号对应的时间信息；

从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

在其中一个实施例中，所述获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号具体为：

获取AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

获取AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号。

在其中一个实施例中，所述测试方法还包括：

对显示的电压信号进行滤波处理；

将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线。

在其中一个实施例中，所述从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间包括：

从所述平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，所述第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，所述第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，所述电压下降曲线为由所述电压U1下降至电压U2的下降曲线，所述电压U1为电压下降时的最大峰值，所述电压U2为电压下降时的最小峰值；

从所述时间信息中获取所述第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点；

获取所述第二时间点与第一时间点之间的时间差。

在其中一个实施例中，所述从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间包括：

从所述平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，所述第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，所述第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，所述电压上升曲线为由所述电压U3上升至电压U4的上升曲线，所述电压U3为电压上升时的最小峰值，所述电压U4为电压上升时的最大峰值；

从所述时间信息中获取所述第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点；

获取所述第四时间点与第三时间点之间的时间差。

以上所述响应时间的测试方法中，在获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号时，由于第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，无论是由第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片，均可以剔除系统时间对光信号的影响，且在切换过程中，不需要逐行扫描，则进一步剔除了扫描不同行所需时间对光信号的影响，由此，可以获取准确的光信号，并进一步获取精确的响应时间。

一种响应时间的测试装置，包括：

光电探头，用于获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，所述测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；

与所述光电探头连接的光电转换模块，用于将所述光信号转换为对应的电压信号；

与所述光电转换模块连接的示波器，用于显示所述电压信号及与所述电压信号对应的时间信息；

与所述示波器连接的处理终端，用于从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

在其中一个实施例中，所述光电探头获取的光信号为：

AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号。

在其中一个实施例中，所述处理终端包括：

滤波处理模块，用于对显示的电压信号进行滤波处理；

拟合模块，用于将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线；

获取模块，用于与所述平滑的电压曲线对应的时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

在其中一个实施例中，所述获取模块包括下降曲线响应时间获取模块，所述下降曲线响应时间获取模块包括：

电压获取单元，用于从所述平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，所述第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，所述第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，所述电压下降曲线为由所述电压U1下降至电压U2的下降曲线，所述电压U1为电压下降时的最大峰值，所述电压U2为电压下降时的最小峰值；

时间获取单元，用于从所述时间信息中获取所述第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点；

计算单元，用于计算所述第二时间点与第一时间点之间的时间差。

在其中一个实施例中，所述获取模块包括上升曲线响应时间获取模块，所述上升曲线响应时间获取模块包括：

第一单元，用于从所述平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，所述第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，所述第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，所述电压上升曲线为由所述电压U3上升至电压U4的上升曲线，所述电压U3为电压上升时的最小峰值，所述电压U4为电压上升时的最大峰值；

第二单元，用于从所述时间信息中获取所述第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点；

第三单元，用于获取所述第四时间点与第三时间点之间的时间差。

以上所述响应时间的测试装置中，在获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号时，由于第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，无论是由第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片，均可以剔除系统时间对光信号的影响，且在切换过程中，不需要逐行扫描，则进一步剔除了扫描不同行所需时间对光信号的影响，由此，可以获取准确的光信号，进一步获取精确的响应时间。

附图说明

图1为一实施例的响应时间的测试方法的流程示意图；

图2为AMOLED显示屏显示第一个测试图片时的示意图；

图3为AMOLED显示屏显示第二个测试图片时的示意图；

图4为另一实施例的响应时间的测试方法的流程示意图；

图5为拟合后的曲线示意图；

图6为响应时间的测试原理电路示意图；

图7为一实施例的响应时间的测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，一实施例的响应时间的测试方法包括步骤S120至步骤S180。

步骤S120，获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；

步骤S140，将光信号转换为对应的电压信号；

步骤S160，显示电压信号及与电压信号对应的时间信息；

步骤S180，从时间信息中获取AMOLED显示屏的响应时间。

以上所述响应时间的测试方法中，在获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号时，由于第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，无论是由第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片，均可以剔除系统时间对光信号的影响，且在切换过程中，不需要逐行扫描，则进一步剔除了扫描不同行所需时间对光信号的影响，由此，可以获取准确的光信号，并进一步获取精确的响应时间。

可以知道的是，AMOLED显示屏可以为安装在智能手机、平板等各种触控设备上的显示屏。

测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，步骤S120获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号具体为：

获取AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

获取AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号。

在测试LCD显示屏的响应时间时，由于其响应时间为毫秒(ms)级别，因此，在逐行扫描形成图像时，系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间不会对LCD显示屏的响应时间造成较大影响。但由于AMOLED显示屏的响应时间为微秒级别，因此，需要剔除系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间，否则，测得的AMOLED显示屏的响应时间将严重失真。

本实施例中，设置两个测试图片，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片。AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时，明显的，初始状态时，在AMOLED显示屏显示的为第一个测试图片，此时，AMOLED显示屏全部显示的为黑色，具体参照图2所示。当其切换为显示第二个测试图片时，如图3所示，切换的瞬间，第二个测试图片中的水平白色线条显示的同时，会产生相应的光信号。AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时，明显的，初始状态时，在AMOLED显示屏显示的为第二个测试图片，如图3所示。当AMOLED显示屏切换为显示第一个测试图片时，由于水平白色线条会瞬间会转换为黑色，从而产生相应的光信号。明显的，无论从第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片均不涉及系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间，从而获取的光信号即为切换时显示水平白色线条或水平白色线条消失时的光信号，获取的光信号更为可靠。

在测试AMOLED显示屏的响应时间时，明显的，AMOLED显示屏可以重复地切换第一测试图片与第二测试图片，可以多次重复性测试响应时间，进一步提高测试响应时间的准确性。

需要指出的是，第二个测试图片包含的水平白色线条为在AMOLED显示屏显示时，由一行像素显示的白色线条，且水平白色线条为一条短线，其长度具体可以为AMOLED显示屏尺寸的宽度的三分之一左右，具体的设计可以根据AMOLED显示屏尺寸的大小进行设置。其中，第一测试图片及第二测试图片均可以通过常规的制图工具进行制作。

在获取光信号时，由步骤S140可以光信号转换为对应的电压信号。通常电压信号为一系列离散的电压点，具有对应的时间点，因此，通过步骤S160可以显示电压信号及与电压信号对应的时间信息。通常而言，由于电压信号的离散性，显示的电压信号必然不是平滑的曲线，不利于从时间信息中确定响应时间。因此，如图4所示，另一实施例的测试方法还包括步骤S170和步骤S171。

步骤S170，对显示的电压信号进行滤波处理。

明显的，由步骤S160显示的电压信号及与电压信号对应的时间信息为电压与时间的曲线图，其中显示的电压为一系列离散的点，因此，需要将明显不适合的电压点滤除掉。

步骤S171，将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线。

滤波处理后的曲线图由于不是平滑的曲线，因此，无法准确的从曲线图中获取准确的响应时间，因此，需要将滤波处理后的曲线图拟合为平滑的电压曲线。需要指出的是，具体的拟合方法可以进行具体选择，但要保证平滑曲线的自然性及与滤波处理后的曲线图的符合性。

如图5所示，为拟合后的曲线示意图，其为平滑的曲线图。在平板显示产品验证中，对AMOLED显示屏黑画面与白画面切换的响应时间具有如下定义：

上升时间(TON，AMOLED显示屏由黑画面切换为白画面的响应时间)为光输出强度从10％到90％变化的时间；

下降时间(TOFF，AMOLED显示屏由白画面切换为黑画面的响应时间)为光输出强度的90％到10％变化的时间。

由步骤S180可以从图5中的拟合曲线获取下降时间TOFF和上升时间TON。

对应的，步骤S180从图5中的拟合曲线获取下降时间TOFF时，包括步骤S181至步骤S183。

步骤S181，从平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，电压下降曲线为由电压U1下降至电压U2的下降曲线，电压U1为电压下降时的最大峰值，电压U2为电压下降时的最小峰值。

如图5所示，下降曲线为从A点对应的电压U1下降至B点对应的电压U2的下降曲线。电压U1为电压下降时的最大峰值，电压U2为电压下降时的最小峰值。下降时间TOFF为光输出强度的90％到10％变化的时间，即对应的E点所在的第一电压值对应的第一时间点T1与F点所在的第二电压值对应的第二时间点T2之间的时间，其中，第一电压值为U2+(U1－U2)*90％，第二电压值为U2+(U1－U2)*10％。具体的，由A点对应的电压U1与B点对应的电压U2可以计算出第一电压值：U2+(U1－U2)*90％，及第二电压值：U2+(U1－U2)*10％，根据第一电压值和第二电压值可以确定出对应的第一曲线点E和第二曲线点F。

步骤S182，从时间信息中获取第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点。

根据第一曲线点E和第二曲线点F可以确认对应的第一时间点T1和第二时间点T2。

步骤S183，获取第二时间点与第一时间点之间的时间差。

第一时间点T2和第二时间点T1之间的时间差即为对应的响应时间。

对应的，步骤S180从图5中的拟合曲线获取上升时间TON时，包括步骤S1810至步骤S1830。

步骤S1810，从平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，电压上升曲线为由电压U3上升至电压U4的上升曲线，电压U3为电压上升时的最小峰值，电压U4为电压上升时的最大峰值。

如图5所示，上升曲线为从C点对应的电压U3上升至D点对应的电压U4的上升曲线。电压U3为电压上升时的最小峰值，电压U4为电压上升时的最大峰值。上升时间TON为光输出强度的10％到90％变化的时间，即对应的G点所在的第三电压值对应的第三时间点T3与H点所在的第四电压值对应的第四时间点T4之间的时间，其中，第三电压值为U3+(U4－U3)*10％，第四电压值为U3+(U4－U3)*90％。具体的，由C点对应的电压U3与D点对应的电压U4可以计算出第三电压值：U3+(U4－U3)*10％，及第四电压值：U3+(U4－U3)*90％，根据第三电压值和第四电压值可以确定出对应的第三曲线点G和第四曲线点H。

步骤S1820，从时间信息中获取第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点。

根据第三曲线点G和第四曲线点H可以确认对应的第三时间点T1和第四时间点T2。

步骤S1830，获取第四时间点与第三时间点之间的时间差。

第四时间点T4和第三时间点T3之间的时间差即为对应的响应时间。

如图6所示，在测试响应时间时，由电容总容量Q＝CU，及电容电荷的计算公式Q＝It可知，响应时间t＝Q/I＝CU/I。

在常规的应用中，如智能手机，在一次电容充电过程中，具体的I、U、C的值包括如下：其中电流I＝50nA，U＝5V，C＝0.5pF，可以得出t＝0.05ms。则AMOLED显示屏的响应时间理论值为50μs左右。

本实施例中，由以上所述测试方法计算的响应时间中，其中，根据图5中的下降曲线计算的响应时间TOFF为49μs，根据图5中的上升曲线计算的响应时间TON为41μs，与理论值极为接近，在可接受的误差范围内，由此，实现了对AMOLED显示屏的响应时间的准确测试。

如图7所示，一实施例的响应时间的测试装置包括：

光电探头120，光电探头覆盖于AMOLED显示屏上，用于获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；

与光电探头120连接的光电转换模块140，用于将光信号转换为对应的电压信号；

与光电转换模块140连接的示波器160，用于显示电压信号及与电压信号对应的时间信息；

与示波器160连接的处理终端180，用于从时间信息中获取AMOLED显示屏的响应时间。

以上所述响应时间的测试装置中，在获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号时，由于第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，无论是由第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片，均可以剔除系统时间对光信号的影响，且在切换过程中，不需要逐行扫描，则进一步剔除了扫描不同行所需时间对光信号的影响，由此，可以获取准确的光信号，并进一步获取精确的响应时间。

可以知道的是，AMOLED显示屏可以为安装在智能手机、平板等各种触控设备上的显示屏。

测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片，因此，光电探头获取的光信号为：

AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号。

在测试LCD显示屏的响应时间时，由于其响应时间为毫秒(ms)级别，因此，在逐行扫描形成图像时，系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间不会对LCD显示屏的响应时间造成较大影响。但由于AMOLED显示屏的响应时间为微秒级别，因此，需要剔除系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间，否则，测得的AMOLED显示屏的响应时间将严重失真。

本实施例中，设置两个测试图片，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片。AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时，明显的，初始状态时，在AMOLED显示屏显示的为第一个测试图片，此时，AMOLED显示屏全部显示的为黑色，具体参照图2所示。当其切换为显示第二个测试图片时，如图3所示，切换的瞬间，第二个测试图片中的水平白色线条显示的同时，会产生相应的光信号。AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时，明显的，初始状态时，在AMOLED显示屏显示的为第二个测试图片，如图3所示。当AMOLED显示屏切换为显示第一个测试图片时，由于水平白色线条会瞬间会转换为黑色，从而产生相应的光信号。明显的，无论从第一个测试图片切换为第二个测试图片，或者由第二个测试图片切换为第一个测试图片均不涉及系统的响应时间及不同行之间扫描所需时间，从而获取的光信号即为切换时显示水平白色线条或水平白色线条消失时的光信号，获取的光信号更为可靠。

其中，光电探头120覆盖于AMOLED显示屏上，可以获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号。需要指出的是，光电探头120覆盖的位置必须包括在切换测试图片时第二个测试图片中的水平白色线条在AMOLED显示屏上显示的位置。

在测试AMOLED显示屏的响应时间时，明显的，AMOLED显示屏可以重复地切换第一测试图片与第二测试图片，可以多次重复性测试响应时间，进一步提高测试响应时间的准确性。

需要指出的是，第二个测试图片包含的水平白色线条为在AMOLED显示屏显示时，由一行像素显示的白色线条，且水平白色线条为一条短线，可以更为精确的测量AMOLED显示屏的响应时间。水平白色线条的长度具体可以为AMOLED显示屏尺寸的宽度的三分之一左右，具体的设计可以根据AMOLED显示屏尺寸的大小进行设置。其中，第一测试图片及第二测试图片均可以通过常规的制图工具进行制作。可以知道的是，在AMOLED显示屏扫描时，扫描的一行即为第二个测试图片包含的由一行像素显示的水平白色线条。

在获取光信号后，光电转换模块140可以光信号转换为对应的电压信号。通常电压信号一系列离散的电压点，具有对应的时间点，因此，通过示波器160可以显示电压信号及与电压信号对应的时间信息。通常而言，由于电压信号的离散性，显示的电压信号必然不是平滑的曲线，不利于从时间信息中确定响应时间。因此，需要对显示的离散电压信号进行处理。具体的，处理终端180包括：

滤波处理模块，用于对显示的电压信号进行滤波处理。

明显的，由示波器160显示的电压信号及与电压信号对应的时间信息为电压与时间的曲线图，其中显示的电压为一系列离散的点，因此，需要将明显不适合的电压点滤除掉。

拟合模块，用于将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线。

滤波处理后的曲线图由于不是平滑的曲线，因此，无法准确的从曲线图中获取准确的响应时间，因此，需要将滤波处理后的曲线图拟合为平滑的电压曲线。需要指出的是，具体的拟合方法可以进行具体选择，但要保证平滑曲线的自然性及与滤波处理后的曲线图的符合性。

获取模块，用于与平滑的电压曲线对应的时间信息中获取AMOLED显示屏的响应时间。

如图5所示，为拟合后的曲线示意图，其为平滑的曲线图。在平板显示产品验证中，对AMOLED显示屏黑画面与白画面切换的响应时间具有如下定义：

上升时间(TON，AMOLED显示屏由黑画面切换为白画面的响应时间)为光输出强度从10％到90％变化的时间；

下降时间(TOFF，AMOLED显示屏由白画面切换为黑画面的响应时间)为光输出强度的90％到10％变化的时间。

获取模块可以从图5中的拟合曲线获取下降时间TOFF和上升时间TON。对应的，获取模块包括下降曲线响应时间获取模块和上升曲线响应时间获取模块。

其中，下降曲线响应时间获取模块用于从图5中的拟合曲线获取下降时间TOFF，具体的，下降曲线响应时间获取模块包括电压获取单元、时间获取单元和计算单元。

电压获取单元用于从平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，电压下降曲线为由电压U1下降至电压U2的下降曲线，电压U1为电压下降时的最大峰值，电压U2为电压下降时的最小峰值。

如图5所示，下降曲线为从A点对应的电压U1下降至B点对应的电压U2的下降曲线。下降时间TOFF为光输出强度的90％到10％变化的时间，即对应的E点所在的第一电压值对应的第一时间点T1与F点所在的第二电压值对应的第二时间点T2之间的时间，其中，第一电压值为U2+(U1－U2)*90％，第二电压值为U2+(U1－U2)*10％。具体的，由A点对应的电压U1与B点对应的电压U2可以计算出第一电压值：U2+(U1－U2)*90％，及第二电压值：U2+(U1－U2)*10％，根据第一电压值和第二电压值可以确定出对应的第一曲线点E和第二曲线点F。

时间获取单元用于从时间信息中获取第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点。

根据第一曲线点E和第二曲线点F可以确认对应的第一时间点T1和第二时间点T2。

计算单元用于计算第二时间点与第一时间点之间的时间差。

第一时间点T2和第二时间点T1之间的时间差即为对应的响应时间。

其中，上升曲线响应时间获取模块用于从图5中的拟合曲线获取上升时间TON时，具体的，上升曲线响应时间获取模块包括第一单元、第二单元和第三单元。

第一单元用于从平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，电压上升曲线为由电压U3上升至电压U4的上升曲线，电压U3为电压上升时的最小峰值，电压U4为电压上升时的最大峰值。

如图5所示，上升曲线为从C点对应的电压U3上升至D点对应的电压U4的上升曲线。上升时间TON为光输出强度的10％到90％变化的时间，即对应的G点所在的第三电压值对应的第三时间点T3与H点所在的第四电压值对应的第四时间点T4之间的时间，其中，第三电压值为U3+(U4－U3)*10％，第四电压值为U3+(U4－U3)*90％。具体的，由C点对应的电压U3与D点对应的电压U4可以计算出第三电压值：U3+(U4－U3)*10％，及第四电压值：U3+(U4－U3)*90％，根据第三电压值和第四电压值可以确定出对应的第三曲线点G和第四曲线点H。

第二单元用于从时间信息中获取第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点。

根据第三曲线点G和第四曲线点H可以确认对应的第三时间点T1和第四时间点T2。

第三单元用于获取第四时间点与第三时间点之间的时间差。

第四时间点T4和第三时间点T3之间的时间差即为对应的响应时间。

需要指出的是，以上测试装置只是实现本实施例的一种具体的结构连接，本实施例不限于对光电探头120、光电转换模块140、示波器160、处理终端180的具体模块、终端进行等效替换，包括相应连接结构的相应改变，其均在本实施例的保护范围之内。

如图6所示，在测试响应时间时，由电容总容量Q＝CU，及电容电荷的计算公式Q＝It可知，响应时间t＝Q/I＝CU/I。

在常规的应用中，如智能手机，在一次电容充电过程中，具体的I、U、C的值包括如下：其中电流I＝50nA，U＝5V，C＝0.5pF，可以得出t＝0.05ms。则AMOLED显示屏的响应时间理论值为50μs左右。

本实施例中，由以上所述测试装置的响应时间中，其中，根据图5中的下降曲线计算的响应时间TOFF为49μs，根据图5中的上升曲线计算的响应时间TON为41μs，与理论值极为接近，在可接受的误差范围内，由此，实现了对AMOLED显示屏的响应时间的准确测试。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种响应时间的测试方法，其特征在于，包括：

获取AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

获取AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号；

其中，所述第一个测试图片为黑色图片，所述第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；所述水平白色线条为在AMOLED显示屏显示时，由一行像素显示的白色线条；

将所述光信号转换为对应的电压信号；

显示所述电压信号及与所述电压信号对应的时间信息；

从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

对显示的电压信号进行滤波处理；

将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间包括：

从所述平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，所述第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，所述第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，所述电压下降曲线为由所述电压U1下降至电压U2的下降曲线，所述电压U1为电压下降时的最大峰值，所述电压U2为电压下降时的最小峰值；

从所述时间信息中获取所述第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点；

获取所述第二时间点与第一时间点之间的时间差。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间包括：

从所述平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，所述第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，所述第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，所述电压上升曲线为由所述电压U3上升至电压U4的上升曲线，所述电压U3为电压上升时的最小峰值，所述电压U4为电压上升时的最大峰值；

从所述时间信息中获取所述第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点；

获取所述第四时间点与第三时间点之间的时间差。

5.一种响应时间的测试装置，其特征在于，包括：

光电探头，用于获取AMOLED显示屏切换测试图片时的光信号，所述测试图片具有两个，第一个测试图片为黑色图片，第二个测试图片为包含有水平白色线条的黑色图片；

其中，所述光电探头获取的光信号为：

AMOLED显示屏将第一个测试图片切换为第二个测试图片时对应黑色像素转换为白色像素时的光信号；或者

AMOLED显示屏将第二个测试图片切换为第一个测试图片时对应白色像素转换为黑色像素时的光信号；

所述水平白色线条为在AMOLED显示屏显示时，由一行像素显示的白色线条；

与所述光电探头连接的光电转换模块，用于将所述光信号转换为对应的电压信号；

与所述光电转换模块连接的示波器，用于显示所述电压信号及与所述电压信号对应的时间信息；

与所述示波器连接的处理终端，用于从所述时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述处理终端包括：

滤波处理模块，用于对显示的电压信号进行滤波处理；

拟合模块，用于将滤波后的电压信号拟合为平滑的电压曲线；

获取模块，用于与所述平滑的电压曲线对应的时间信息中获取所述AMOLED显示屏的响应时间。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述获取模块包括下降曲线响应时间获取模块，所述下降曲线响应时间获取模块包括：

电压获取单元，用于从所述平滑的电压曲线包含的电压下降曲线中确定第一电压值对应的第一曲线点和第二电压值对应的第二曲线点，所述第一电压值为：U2+(U1－U2)*90％，所述第二电压值为：U2+(U1－U2)*10％，所述电压下降曲线为由所述电压U1下降至第电压U2的下降曲线，所述电压U1为电压下降时的最大峰值，所述电压U2为电压下降时的最小峰值；

时间获取单元，用于从所述时间信息中获取所述第一曲线点和第二曲线点分别对应的第一时间点和第二时间点；

计算单元，用于计算所述第二时间点与第一时间点之间的时间差。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述获取模块包括上升曲线响应时间获取模块，所述上升曲线响应时间获取模块包括：

第一单元，用于从所述平滑的电压曲线包含的电压上升曲线中确定第三电压值对应的第三曲线点和第四电压值对应的第四曲线点，所述第三电压值为：U3+(U4－U3)*10％，所述第四电压值为：U3+(U4－U3)*90％，所述电压上升曲线为由所述电压U3上升至电压U4的上升曲线，所述电压U3为电压上升时的最小峰值，所述电压U4为电压上升时的最大峰值；

第二单元，用于从所述时间信息中获取所述第三曲线点和第四曲线点分别对应的第三时间点和第四时间点；

第三单元，用于获取所述第四时间点与第三时间点之间的时间差。

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