CN108089649A - 电子装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电子装置。电子装置包含主板、随机存取记忆体、主板电池及处理单元。随机存取记忆体设置在主板上。主板电池设置在主板上，并与随机存取记忆体电性耦接以供应随机存取记忆体的电能。处理单元设置在主板上，并与随机存取记忆体电性耦接，处理单元用以将检测值写入至随机存取记忆体中的闲置位址暂存器，并用以检测闲置位址暂存器是否维持检测值。其中当闲置位址暂存器维持检测值时，处理单元判定主板电池为正常，而当闲置位址暂存器恢复初始值时，处理单元判定主板电池为故障。

Description

电子装置及检测方法
技术领域
本发明涉及一种电子装置，更具体的说，是一种电子装置的主板电池的检测技术。
背景技术
一般电脑的主板上通常需安装一主板电池，此主板电池例如为锂电池，用以供电给例如时钟晶片及CMOS随机存取记忆体(Random Access Memory，RAM)等。在传统电脑制造过程中，主板电池的检测是以人工操作三用电表量测，然此可能存在人为疏失而无法及时发现问题，且也无法检测到整体供电路径中是否存在其他的问题。
此外，传统检测亦可根据时钟晶片提供的实时时钟功能(Real－time clock，RTC)来判断主板电池是否正常，因为时钟晶片将随着主板电池供应的电能而运作，故当主板电池没电时，实时时钟会回到出厂预设值(例如回到2010/1/1)。因此，基于系统时间会随着主板的实时时钟调整的特性，当使用者发现系统的时间恢复出厂预设值时，即能得知主板上的电池并未正常供电(没电或故障)。
然而，在例如微软作业系统window 8或以后的版本中，系统本身的日期/时间会自动修正或重新记录主板的实时时钟来同步时间，例如当系统时间大于主板时间时，系统会修正主板的实时时钟，而当系统时间小于主板时间时，系统会重新记录主板的实时时钟，因此，传统的方法已无法有效判断主板电池是否有正常供电。
发明内容
本发明提供了一种检测方法。检测方法用以检测电子装置的主板电池。检测方法包含下列步骤：在电子装置的随机存取记忆体的闲置位址暂存器填入检测值，其中主板电池用以供应随机存取记忆体的电能；检测闲置位址暂存器是否维持检测值；当闲置位址暂存器维持检测值时，判定主板电池为正常；而当闲置位址暂存器恢复初始值时，判定主板电池为故障。
本发明更提供了一种电子装置。电子装置包含主板、随机存取记忆体、主板电池及处理单元。随机存取记忆体设置在主板上。主板电池设置在主板上，并与随机存取记忆体电性耦接以供应随机存取记忆体的电能。处理单元设置在主板上，并与随机存取记忆体电性耦接，处理单元用以将检测值写入至随机存取记忆体中的闲置位址暂存器，并用以检测闲置位址暂存器是否维持检测值。其中当闲置位址暂存器维持检测值时，处理单元判定主板电池为正常，而当闲置位址暂存器恢复初始值时，处理单元判定主板电池为故障。
本发明利用随机存取记忆体的依电性特性来判断主板电池是否正常供电，不需要通过人工检测，因此减少了人为疏失的可能性，且亦可适用于windows 8以后的作业系统。
附图说明
图1为本发明的一实施例的电子装置示意图。
图2为本发明的一实施例的检测方法流程图。
图3A～图3B为本发明的一实施例的记忆体资料区示意图。
符号说明：
100：电子装置
110：主板
120：随机存取记忆体
130：主板电池
140：处理单元
150：显示器
160：扬声器
200：检测方法
300：记忆体资料区
A00～AMN：位址
C1：闲置位址暂存器
S210、S220、S230、S240：步骤
S242、S250、S252：步骤
具体实施方式：
下文举实施例配合所附图式作详细说明，但所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用来限定本发明，而结构操作的描述非用以限制其执行的顺序，任何由元件重新组合的结构，所产生具有均等功效的装置，皆为本发明公开内容所涵盖的范围。
在全篇说明书与权利要求范围所使用的用词(terms)，除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在此公开的内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本公开的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本发明的描述上额外的引导。
请参阅图1，图1绘示本发明的一实施例的电子装置100的示意图。电子装置100例如为台式电脑，其包含有主板110、随机存取记忆体120、主板电池130、处理单元140、显示器150及扬声器160。其中随机存取记忆体120、主板电池130及处理单元140皆安装设置在主板110上。处理单元140例如为中央处理器(CPU)或系统单晶片(SoC)等具备运算处理功能的组件，其分别与随机存取记忆体120、显示器150及扬声器160电性连接，并可存取或控制随机存取记忆体120、显示器150及扬声器160。详细来说，处理单元140可读取随机存取记忆体120中的资料或写入资料至随机存取记忆体120，处理单元140亦可控制显示器150显示影像及控制扬声器160产生声音。
在一实施例中，随机存取记忆体120为电脑中与基本输入/输出系统(BasicInput/Output System，BIOS)搭配的互补式金属氧化物半导体随机存取记忆体(CMOSRAM)，CMOS RAM可以用以储存电子装置100的基本输入/输出系统的设定结果(例如使用者登录资料、系统环境设置等)。应注意的是，随机存取记忆体120具有依电性，亦即，随机存取记忆体120必须保持通电才能持续保存资料，一旦对随机存取记忆体120的电力供应中止，随机存取记忆体120所储存的全部资料都将会自动消失。因此，随机存取记忆体120必须与主板电池130电性连接，以维持随机存取记忆体120自身的电力供应。即使电子装置100关机或关闭电源，只要主板电池130电力供应正常，随机存取记忆体120即能继续保存资料。
而在此例中，因随机存取记忆体120为电脑的CMOS RAM，其储存有基本输入/输出系统的设定结果，若随机存取记忆体120因断电而无法维持资料，则电子装置100将无法正常运作。因此，主板电池130必须经过检测以确定是否功能正常及有电，此外，当主板电池130与随机存取记忆体120之间的电力传输路径存在故障时，则随机存取记忆体120亦无法接收到稳定的电力而导致其中的资料消失。
请参阅图2，图2绘示本发明的一实施例的检测方法200流程图。检测方法200可用以判断主板电池130是否可正常供电。其中检测方法200事基于随机存取记忆体120的依电特性来进一步判别主板电池130的状况。亦即是说，当主板电池130正常供电时，随机存取记忆体120可保持资料，反之，当主板电池130并未正常供电时，随机存取记忆体120的资料将消失。
具体而言，检测方法200包含步骤S210、S220、S230、S240、S242、S250、S252等。在步骤S210中，可在电子装置100的随机存取记忆体120的制造过程中，在随机存取记忆体120上未被占用/使用的一闲置位址暂存器上填入一检测值。
举例来说，请参阅图3A、图3B绘示的本发明的一实施例的随机存取记忆体120的记忆体资料区300示意图。随机存取记忆体120的记忆体资料区300中包含许多个位址暂存器。记忆体资料区300例如为一阵列方式排列的位址暂存器，其中记忆体资料区300的横向可区分为0～N个区间，而纵向可区分为0～M个区间，即记忆体资料区300具有M×N个记忆体位址，其中M、N皆为正整数。位在纵向第00区间及横向第00区间的交集区为第A00位址，位在纵向第00区间及横向第01区间的交集区为A01位址，位在纵向第10区间及横向第00区间及的交集区为A10位址，依此类推，则位在纵向第M区间及横向第N区间及的交集区为AMN位址，如图3A所示。亦即，随机存取记忆体120的记忆体资料区300中共包含M×N个位址暂存器。
在图3A的实施例中，假设随机存取记忆体120的记忆体资料区300中存在未被占用的一闲置位址暂存器C1，所谓未被占用的闲置位址暂存器C1是指闲置位址暂存器C1当中并未存入有实际意义的资料或有效数值，在一实施例中，未被占用的闲置位址暂存器C1将会储存一预设的初始值。其中闲置位址暂存器C1例如位在纵向第20区间及横向第02区间的A22位址，且其所预设的初始值为”00”。在检测方法200的步骤S210中，可将闲置位址暂存器C1填入一检测值”x”，如图3B所示，其中x可为初始值”00”以外的任意数值，举例来说写入闲置位址暂存器C1的检测值可为”33”。接着，在例如电子装置100组装完成时，随机存取记忆体120已电性连接上主板电池130，则进入步骤S220。在步骤S220中，处理单元140将检测闲置位址暂存器C1的资料数值。
倘若在步骤S230中，处理单元140判断闲置位址暂存器C1并未维持着检测值”x”，而是恢复了初始值”00”(即恢复至图3A的资料)，则表示主板电池130无法正常供电，检测方法200将进入步骤S240判定主板电池130为故障状态，并进一步在步骤S242通过电子装置100的显示器150以文字或图像/影像信号、或者通过电子装置100的扬声器160产生提示音来显示主板电池130为故障的信号。
而当步骤S230中，处理单元140判断闲置位址暂存器C1仍维持着检测值”x”时，即表示主板电池130可正常供电、闲置位址暂存器C1的资料并未消失，则进入步骤S250判定主板电池130为正常，并进一步在步骤S252通过电子装置100的显示器150以文字或图像/影像信号显示、或者通过电子装置100的扬声器160产生提示音以显示主板电池130为正常的信号。
应理解的是，显示主板电池130为正常或故障的提示信号并不限制仅能通过显示器150或扬声器160来显现，例如任何根据检测结果而触发的相应变化机制皆可为本发明文件的替换做法。
藉由上述公开的电子装置100及检测方法200，主板电池130不再需要通过人工操作三用电表检测，系统本身就能显示主板电池130的状况。因此，人为检测可能产生的误判或操作疏失因素将被消除，并因为可由电子装置100自行检测及显示结果，更节省了人力成本，且检测流程更加精确且快速。
虽然本发明的实施例已公开如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求范围所界定为准。

Claims (10)

1.一种检测方法，其特征在于，用以检测一电子装置的一主板电池，该检测方法包含：
在该电子装置的一随机存取记忆体的一闲置位址暂存器填入一检测值，其中该主板电池用以供应该随机存取记忆体的电能；
检测该闲置位址暂存器是否维持该检测值；
当该闲置位址暂存器维持该检测值时，判定该主板电池为正常；以及
当该闲置位址暂存器恢复一初始值时，判定该主板电池为故障。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，其中当该闲置位址暂存器维持该检测值时，显示该主板电池为正常的一信号。
3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，其中显示该主板电池为正常的该信号为一影像信号或一声音信号。
4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，其中当该闲置位址暂存器恢复该初始值时，显示该主板电池为故障的一信号。
5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，其中显示该主板电池为故障的该信号为一影像信号或一声音信号。
6.一种电子装置，其特征在于，包含：
一主板；
一随机存取记忆体，设置在该主板上；
一主板电池，设置在该主板上，并与该随机存取记忆体电性耦接以供应该随机存取记忆体的电能；以及
一处理单元，设置在该主板上，并与该随机存取记忆体电性耦接，该处理单元用以将一检测值写入至该随机存取记忆体中的一闲置位址暂存器，并用以检测该闲置位址暂存器是否维持该检测值；
其中当该闲置位址暂存器维持该检测值时，该处理单元判定该主板电池为正常，而当该闲置位址暂存器恢复一初始值时，该处理单元判定该主板电池为故障。
7.如权利要求6所述的电子装置，其特征在于，更包含：
一显示器，与该处理单元电性连接，当该闲置位址暂存器维持该检测值时，该处理单元控制该显示器输出该主板电池为正常的一影像信号。
8.如权利要求6所述的电子装置，其特征在于，更包含：
一显示器，与该处理单元电性连接，当该闲置位址暂存器恢复该初始值时，该处理单元控制该显示器输出该主板电池为故障的一影像信号。
9.如权利要求6所述的电子装置，其特征在于，更包含：
一扬声器，与该处理单元电性连接，当该闲置位址暂存器维持该检测值时，该处理单元控制该扬声器输出该主板电池为正常的一提示音。
10.如权利要求6所述的电子装置，其特征在于，更包含：
一扬声器，与该处理单元电性连接，当该闲置位址暂存器恢复该初始值时，该处理单元控制该扬声器输出该主板电池为故障的一提示音。
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