CN108089054B - 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法 - Google Patents

一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108089054B
CN108089054B CN201611036099.6A CN201611036099A CN108089054B CN 108089054 B CN108089054 B CN 108089054B CN 201611036099 A CN201611036099 A CN 201611036099A CN 108089054 B CN108089054 B CN 108089054B
Authority
CN
China
Prior art keywords
resistance
contact
measuring
pins
plating holes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201611036099.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108089054A (zh
Inventor
徐叶
张唯
买华
翟勇
周少琼
陈优珍
张广鹏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Railway Signal Co Ltd
Original Assignee
Beijing Railway Signal Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Railway Signal Co Ltd filed Critical Beijing Railway Signal Co Ltd
Priority to CN201611036099.6A priority Critical patent/CN108089054B/zh
Publication of CN108089054A publication Critical patent/CN108089054A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108089054B publication Critical patent/CN108089054B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant

Abstract

本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻，包括以下步骤：取两个插针，分别测量两个所述插针的第一电阻，将两个所述第一电阻相加得第二电阻；在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻；将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应，并将所述插针的一端压入所述镀覆孔，然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻；将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。本发明提供的方法有利于降低测量误差且测量效率更高，使测量更加真实可靠。

Description

一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法
技术领域
本发明涉及电阻测量技术领域，特别是涉及一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法。
背景技术
在以往的印制板制作中，通常将插针焊接在镀覆孔处的焊盘上，然而，这种焊接方式制作的印制板不利于插针的更换，而且，由于更换时需要进行加热，高温还容易对印制板造成破坏。因此，目前制作印制板时，插针与镀覆孔之间常采用无焊压入式连接。
无焊压入式连接技术一般要求接触电阻小于1mΩ，因此，为了保证产品合格，需要检测无焊压入式连接的接触电阻。
目前，测量无焊压入式连接的接触电阻常用的方法如图1所示，即四线制开尔文法，由图1可见，这是一种直接测量法，该方法的弊端在于，与焊盘(位于印制板2的镀覆孔内，与压针1相接触)接触的表笔在实际操作中是很难与图1中箭头所指的测试点正确接触的。因为如果表笔贴得压针1太近，就很容易碰触到压针1，而如果它们离压针1远了，又会容易使引入的焊盘电阻过大，总之，该方法不利于实际操作，给测量工作带来不便，测量效率低，测量误差大。
综上所述，如何提供一种更加方便的测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，降低测量误差，提高测量效率成为了本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，该方法方便表笔正确地接触测试点，从而使得测量工作操作起来更加方便，有利于降低测量误差且测量效率更高，使测量更加真实可靠。
为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻，包括以下步骤：
A，取两个插针，分别测量两个所述插针的第一电阻，将两个所述第一电阻相加得第二电阻；
B，在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻；
C，将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应，并将所述插针的一端压入所述镀覆孔，然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻；
D，将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。
优选地，在上述方法中，所述步骤A为：
取两个相同规格的插针，测量其中一个所述插针的第一电阻，将所述第一电阻乘以二得第二电阻。
优选地，在上述方法中，所述步骤A在所述步骤B和所述步骤C之间。
优选地，在上述方法中，所述步骤C在所述步骤A和所述步骤B之间。
根据上述技术方案可知，本发明利用间接测量的方法来测量无焊压入式连接的接触电阻，通过镀覆孔内有压针和没有压针两种情况测量中间量，由于在表笔与焊盘接触测量第三电阻时镀覆孔内并没有压针，所以避免了压针对与焊盘接触的表笔的影响，使得表笔能正确地与焊盘接触，且操作起来更加方便，有利于降低测量误差且测量效率更高，使测量更加真实可靠。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1是现有技术中测量无焊压入式连接的接触电阻的原理示意图；
图2是本发明实施例提供的测量无焊压入式连接的接触电阻的方法的流程图。
图中标记为：
1、压针；2、印制板。
具体实施方式
为了便于理解，下面结合附图对本发明作进一步的描述。
如图2所示，本发明实施例提供了一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，该方法用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻，具体流程包括以下步骤：
S1，取两个插针，分别测量两个插针的第一电阻，将两个第一电阻相加得第二电阻。
在实际应用中，为了减少测量操作，可以取两个相同规格的插针，测量其中一个插针的第一电阻，将第一电阻乘以二得第二电阻。
S2，在两个镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个镀覆孔的焊盘之间的第三电阻。
由于镀覆孔内没有压入压针，所以表笔与焊盘接触不会受到压针的影响，操作起来较为容易和方便。
S3，将两个插针与两个镀覆孔一一对应，并将插针的一端压入镀覆孔，然后测量两个插针远离镀覆孔的一端之间的第四电阻。
在测量第四电阻时，由于表笔接触的是压针远离镀覆孔的一端，所以表笔与压针接触不会受到焊盘的影响，操作起来较为容易和方便。
S4，将第四电阻减去第二电阻与第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。
本发明利用间接测量的方法来测量无焊压入式连接的接触电阻，通过镀覆孔内有压针和没有压针两种情况测量中间量，由于在表笔与焊盘接触测量第三电阻时镀覆孔内并没有压针，所以避免了压针对与焊盘接触的表笔的影响，使得表笔能正确地与焊盘接触，且操作起来更加方便，有利于降低测量误差且测量效率更高，使测量更加真实可靠。
在其他的实施例中，步骤S1还可以在步骤S2和步骤S3之间，即具体流程包括以下步骤：
S21，在两个镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个镀覆孔的焊盘之间的第三电阻。
S22，取两个插针，分别测量两个插针的第一电阻，将两个第一电阻相加得第二电阻。
S23，将两个插针与两个镀覆孔一一对应，并将插针的一端压入镀覆孔，然后测量两个插针远离镀覆孔的一端之间的第四电阻。
S24，将第四电阻减去第二电阻与第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。
或者，在其他的实施例中，步骤S3还可以在步骤S1和步骤S2之间，即具体流程包括以下步骤：
S31，取两个插针，分别测量两个插针的第一电阻，将两个第一电阻相加得第二电阻。
S32，将两个插针与两个镀覆孔一一对应，并将插针的一端压入镀覆孔，然后测量两个插针远离镀覆孔的一端之间的第四电阻。
S33，在两个镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个镀覆孔的焊盘之间的第三电阻。
S34，将第四电阻减去第二电阻与第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (4)

1.一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法，其特征在于，用于测量在印制板上有电连接的两个镀覆孔处的接触电阻，包括以下步骤：
A，取两个插针，分别测量两个所述插针的第一电阻，将两个所述第一电阻相加得第二电阻；
B，在两个所述镀覆孔均没有压入压针的情况下，测量两个所述镀覆孔的焊盘之间的第三电阻；
C，将两个所述插针与两个所述镀覆孔一一对应，并将所述插针的一端压入所述镀覆孔，然后测量两个所述插针远离所述镀覆孔的一端之间的第四电阻；
D，将所述第四电阻减去所述第二电阻与所述第三电阻的和，所得差值的一半即为所要测量的接触电阻。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A为：
取两个相同规格的插针，测量其中一个所述插针的第一电阻，将所述第一电阻乘以二得第二电阻。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述步骤A在所述步骤B和所述步骤C之间。
4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述步骤C在所述步骤A和所述步骤B之间。
CN201611036099.6A 2016-11-22 2016-11-22 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法 Active CN108089054B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611036099.6A CN108089054B (zh) 2016-11-22 2016-11-22 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201611036099.6A CN108089054B (zh) 2016-11-22 2016-11-22 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108089054A CN108089054A (zh) 2018-05-29
CN108089054B true CN108089054B (zh) 2020-04-24

Family

ID=62169908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201611036099.6A Active CN108089054B (zh) 2016-11-22 2016-11-22 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108089054B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101587149A (zh) * 2008-05-23 2009-11-25 深圳富泰宏精密工业有限公司 阻抗测试装置
CN101672874A (zh) * 2009-09-23 2010-03-17 深圳市博敏电子有限公司 微带传输线阻抗参数测试方法
CN101788612A (zh) * 2009-01-23 2010-07-28 南亚电路板股份有限公司 印刷电路板的阻值测量模块及其测量方法
CN101900785A (zh) * 2009-09-28 2010-12-01 新奥光伏能源有限公司 测量太阳能电池面电阻及接触电阻的方法及其测量工具
CN101937021A (zh) * 2010-06-30 2011-01-05 上海华岭集成电路技术有限责任公司 探针接触电阻在线测量方法
CN105092976A (zh) * 2014-05-08 2015-11-25 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 接触电阻的测试方法和测试结构

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101363881B (zh) * 2007-08-08 2012-07-04 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种电阻测试方法
CN101762750B (zh) * 2008-12-25 2011-10-26 上海北京大学微电子研究院 通孔电阻测量结构及方法
CN102788904A (zh) * 2012-07-18 2012-11-21 苏州工业园区泰格电子科技有限公司 电池内阻检测仪

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101587149A (zh) * 2008-05-23 2009-11-25 深圳富泰宏精密工业有限公司 阻抗测试装置
CN101788612A (zh) * 2009-01-23 2010-07-28 南亚电路板股份有限公司 印刷电路板的阻值测量模块及其测量方法
CN101672874A (zh) * 2009-09-23 2010-03-17 深圳市博敏电子有限公司 微带传输线阻抗参数测试方法
CN101900785A (zh) * 2009-09-28 2010-12-01 新奥光伏能源有限公司 测量太阳能电池面电阻及接触电阻的方法及其测量工具
CN101937021A (zh) * 2010-06-30 2011-01-05 上海华岭集成电路技术有限责任公司 探针接触电阻在线测量方法
CN105092976A (zh) * 2014-05-08 2015-11-25 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 接触电阻的测试方法和测试结构

Also Published As

Publication number Publication date
CN108089054A (zh) 2018-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2017011087A (ja) 電流検出用抵抗器、電流検出装置及びその製造方法
CN102478594B (zh) 高频垂直式弹片探针卡结构
JP2016520835A (ja) テストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォーム
TW201310011A (zh) 力量感測器及力量感測器之阻值變化量的量測方法
CN108089054B (zh) 一种测量无焊压入式连接的接触电阻的方法
CN205749681U (zh) 接触电阻测试装置
CN203909240U (zh) 一种基于pcb射频信号的检测装置
CN204302384U (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
CN215641664U (zh) 一种芯片测试结构
CN105652088B (zh) 外置接口接触阻抗的测试装置
CN210604880U (zh) 测试极小间距及触点芯片的金手指
CN112630539B (zh) 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置
CN201945410U (zh) 大功率电器主回路接插件触头压力测量仪
CN202042780U (zh) 一种电路测试仪的电路转换装置
CN202599998U (zh) 低阻无弹簧治具
CN203396534U (zh) 压力传感器
KR101897522B1 (ko) 배터리 내부저항 측정 장치
CN201037848Y (zh) 一种绝缘测试探针
CN207232568U (zh) 一种带连接器端子的lcd模组检测治具
CN216560772U (zh) 一种低阻片式电阻器阻值检测装置
CN219227626U (zh) 一种通信交换机电路快速测试装置
TWI803840B (zh) 電測方法
KR101397373B1 (ko) 전기검사용 지그
CN102128695B (zh) 大功率电器主回路接插件触头压力测量仪
CN216209644U (zh) 一种芯片测试结构

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant