CN108051653A - 有源uhf rfid标签读写器杂散辐射的测试方法 - Google Patents

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冀京秋
贺明
蒋亦青
余舒浩
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Abstract

本发明公开了一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法，包括，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于当前载波频点上下各偏移工作信道带宽一预定倍数频率范围以外的杂散辐射值；根据所述第一杂散辐射功率值计算所述待测试标签读写器的杂散辐射功率。本发明获得了以下有益效果：可对有源UHF RFID标签读写器的杂散辐射功率进行有效的测试。

Description

有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法
技术领域
本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法。
背景技术
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。
现有的射频标签技术中，有源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对有源UHF RFID标签及读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源UHF RFID标签及读写器被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法。
为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：
一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法，其中，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；
步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于当前载波频点上下各偏移工作信道带宽一预定倍数频率范围以外的杂散辐射值；
步骤7，根据所述杂散辐射功率值计算所述待测试标签读写器的杂散辐射功率；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。
本发明的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。
本发明的另一方面，所述待测试标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。
本发明的另一方面，还提供一上位机及一环形器，所述RFID标签连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置连接所述环形器的第二端口，所述待测试标签读写器连接所述环形器的第三端口，所述上位机信号连接所述待测试标签读写器。
本发明的另一方面，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器杂散辐射功率的方法为，所述待测试标签读写器的杂散辐射功率等于所述杂散辐射值减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。
本发明的另一方面，所述步骤6中，所述测量所述杂散辐射值覆盖的频段为30.00MHz-3600.00MHz。
本发明的另一方面，所述所属步骤6中，测量所述杂散辐射值时，所述射频信号分析装置的频谱分辨率带宽设置为100KHz。
本发明的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。
本发明的另一方面，所述预定倍数为2.5倍。
本发明获得了以下有益效果：
可对有源UHF RFID标签读写器的杂散辐射功率进行有效的测试。
附图说明
图1为本发明有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试设备连接结构示意图；
图2为本发明有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
本发明提供一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法，如图1、图2所示，其中，提供一RFID标签1以及一射频信号分析装置2，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置2参数，使所述射频信号分析装置2工作于相应的信号分析模式；
步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器3的工作参数；
步骤4，使所述待测试标签读写器3向所述RFID标签1发送选择文件命令；
步骤5，使所述射频信号分析装置2采集所述待测试标签读写器3与所述RFID标签1通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于当前载波频点上下各偏移工作信道带宽一预定倍数频率范围以外的杂散辐射值；
步骤7，根据所述杂散辐射功率值计算所述待测试标签读写器3的杂散辐射功率；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置2为矢量信号分析仪。
本发明的另一方面，所述待测试标签读写器3的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。
本发明的另一方面，所述待测试标签读写器3的工作频率范围被划分成16个信道。具体的信道频率范围见表1。
表1
本发明的另一方面，还提供一上位机4及一环形器5，所述RFID标签1连接所述环形器5的第一端口，所述射频信号分析装置2连接所述环形器5的第二端口，所述待测试标签读写器3连接所述环形器5的第三端口，所述上位机4信号连接所述待测试标签读写器3。该上位机4用以控制待测试标签读写器3的动作。
本发明的另一方面，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器杂散辐射功率的方法为，所述待测试标签读写器的杂散辐射功率等于所述杂散辐射值减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。
本发明的另一方面，所述步骤6中，所述测量所述杂散辐射值覆盖的频段为30.00MHz-3600.00MHz。
本发明的另一方面，所述所属步骤6中，测量所述杂散辐射值时，所述射频信号分析装置的频谱分辨率带宽设置为100KHz。
本发明的另一方面，所述预定倍数为2.5倍。
本发明的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。初始化待测试标签的具体内容，如表2所示。
表2
以下，以具体实施例来说明本发明的可行性。
具体来说，在测试开始之前可对待测试标签进行初始化，以便选择文件命令可获得预期的响应内容。
在步骤1中，测试用例见表3。
信道序号 中心工作频率
0 2405.00MHz
8 2445.00MHz
15 2480.00MHz
表3
上述测试用例中，仅选择16个信道中的第0号信道，第8号信道及第15号信道进行测试。待测试标签读写器的工作频率根据测试用例对应的信号进行设置。并且，在步骤3中，将待测试标签读写器的码片速率设置为2Mcps，调制方式设置为O-QPSK调制或者DBPSK调制。
步骤4中，待测试标签读写器以最大发射功率发送选择文件命令，选择文件命令的格式见表4。
表4
步骤6中，使射频信号分析装置测量待测试标签读写器发出的选择文件命令于当前待测试标签读写器的载波频点上下各偏移工作信道带宽一预定倍数频率范围以外的杂散辐射值，并以该杂散辐射值作为待测试标签读写器的端口杂散辐射值P1(dBm)。如假定当前测试用例对应的工作信道的带宽为5MHz，则在当前待测试标签读写器的载波频点向下偏移5MHZ乘以预定倍数以下的频段，以及当前载波频点向上偏移5MHZ乘以预定倍数以上的频段进行测量。作为优选的实施方式，预定倍数可为2.5倍，测量可覆盖30.00MHz-3600.00MHz频段，并且射频信号分析装置的频谱分辨率带宽设置为100KHz。
步骤7中，计算待测试标签读写器的杂散辐射功率P的方法为：
P＝P1-Loss+G
其中，Loss(dB)为射频信号分析装置与待测试标签读写器之间的馈线损耗，G(dBi)为待测试标签读写器的天线增益。
测试结果的记录格式见表5。
表5
如待测试标签读写器在对应载波±2.5倍信道带宽以外的杂散辐射不大于-33dBm/100KHz，则测试通过，否则测试失败。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种有源UHF RFID标签读写器杂散辐射的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤3，根据选取的测试用例设置一待测试标签读写器的工作参数；
步骤4，使所述待测试标签读写器向所述RFID标签发送选择文件命令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述待测试标签读写器与所述RFID标签通信过程中的射频信号；
步骤6，使所述射频信号分析装置测量并记录所述选择文件命令于当前载波频点上下各偏移工作信道带宽一预定倍数频率范围以外的杂散辐射值；
步骤7，根据所述杂散辐射功率值计算所述待测试标签读写器的杂散辐射功率；
步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试标签读写器的工作频率为2400.00MHz～2483.50MHz。
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述待测试标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。
5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还提供一上位机及一环形器，所述RFID标签连接所述环形器的第一端口，所述射频信号分析装置连接所述环形器的第二端口，所述待测试标签读写器连接所述环形器的第三端口，所述上位机信号连接所述待测试标签读写器。
6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤7中没计算所述待测试标签读写器杂散辐射功率的方法为，所述待测试标签读写器的杂散辐射功率等于所述杂散辐射值减去所述射频信号分析装置与所述待测试标签读写器之间的馈线损耗加上所述待测试标签读写器的天线增益。
7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤6中，所述测量所述杂散辐射值覆盖的频段为30.00MHz-3600.00MHz。
8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述所属步骤6中，测量所述杂散辐射值时，所述射频信号分析装置的频谱分辨率带宽设置为100KHz。
9.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，于所述步骤1之前，预先初始化所述RFID标签的文件格式、权限及内容。
10.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预定倍数为2.5倍。
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