CN108037398B - 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法 - Google Patents

一种显示模组老化测试装置及老化测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108037398B
CN108037398B CN201810039211.4A CN201810039211A CN108037398B CN 108037398 B CN108037398 B CN 108037398B CN 201810039211 A CN201810039211 A CN 201810039211A CN 108037398 B CN108037398 B CN 108037398B
Authority
CN
China
Prior art keywords
display module
plate
test
tested
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810039211.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108037398A (zh
Inventor
高长华
叶坤
商秋锋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Hirose Opto Co Ltd filed Critical Suzhou Hirose Opto Co Ltd
Priority to CN201810039211.4A priority Critical patent/CN108037398B/zh
Publication of CN108037398A publication Critical patent/CN108037398A/zh
Priority to PCT/CN2018/119845 priority patent/WO2019141016A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108037398B publication Critical patent/CN108037398B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明公开了一种显示模组老化测试装置及老化测试方法，老化测试装置包括底板、测试板、压头及线路转接板，其中，所述测试板设置在所述底板上，包括自下而上依次设置的垫板、加热片和盖板，所述盖板上设有至少一个产品放置区，用以待测显示模组的放置及加热；所述线路转接板设置在所述底板上，且在所述测试板的所述垫板上方与所述测试板具有重叠区域；所述压头设置于所述重叠区域上，且可拆卸地固定于所述底板上，并且所述压头对应所述产品放置区，用以与待测显示模组压接。本发明通过显示模组点屏检测产生的热量将测试板加热，热量通过盖板上传到产品面上，即可直接对显示模组进行高低温老化寿命测试，大大降低了测试成本。

Description

一种显示模组老化测试装置及老化测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示模组老化测试装置及老化测试方法。
背景技术
显示模组(如OLED显示模组、液晶显示模组等)出厂前，需要进行各个方面的性能测试，其中显示模组的老化性能为显示模组检测的一个重要项目。为了检测显示模组的老化寿命，一般需要将显示模组在高温环境下进行老化寿命测试。
现有的温变老化寿命测试技术，是将显示模组放入温变装置(如老化炉)内，在设定的温变环境下，进行高低温老化寿命测试，然后再将显示模组从温变装置中取出。温变装置通常成本较高、体积大，导致测试成本较高。另一方面，由于现有的老化测试需要放置于温变装置内逐渐升温达到预定稳定后才能进行，导致检测效率较低，与显示模组产线的生产效率逐渐提高的现状不能匹配。
有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种显示模组老化测试装置及老化测试方法，使其更具有产业上的利用价值。
发明内容
本发明的目的在于提出一种显示模组老化测试装置及老化测试方法，在对显示模组老化测试时，无需温变装置即可直接进行高低温老化寿命测试。
为达此目的，本发明采用以下技术方案：
一种显示模组老化测试装置，包括底板、测试板、压头及线路转接板，其中，
所述测试板设置在所述底板上，包括自下而上依次设置的垫板、加热片和盖板，所述盖板上设有至少一个产品放置区，用以待测显示模组的放置及加热；
所述线路转接板设置在所述底板上，且在所述测试板的所述垫板上方与所述测试板具有重叠区域；
所述压头设置于所述重叠区域上，且可拆卸地固定于所述底板上，并且所述压头对应所述产品放置区，用以与待测显示模组压接。
进一步的，所述加热片上设有感应所述加热片温度的热敏电阻、与所述热敏电阻电性连接的温度控制器。
进一步的，还包含热传导线路，所述热传导线路通过所述线路转接板上延伸至所述测试板。
进一步的，所述热敏电阻及所述温度控制器与所述热传导线路电性连接。
进一步的，所述垫板与所述加热片之间设有海绵垫。
本发明提供的显示模组老化测试方法，包括以下步骤：
S1，提供显示模组老化测试装置，其中，
所述显示模组老化测试装置包括具有加热片的测试板、与所述测试板有重叠区域的线路板转接板及压头；所述压头设置于所述线路转接板上，且位于所述重叠区域上方；
S2，分别放置待测显示模组于所述测试板上；
S3，将所述压头与所述待测显示模组压接；
S4，点亮所述待测显示模组，直至显示模组温度达到老化测试温度；
S5，将所述待测显示模组进行老化测试。
进一步的，所述步骤S4和所述步骤S5之间还包括步骤：控制所述显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
进一步的，所述步骤S5还包括步骤：控制所述显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
进一步的，所述步骤S4中点亮所述待测显示模组后还包含步骤：将所述待测显示模组进行非老化测试。
进一步的，将所述待测显示模组进行非老化测试包含：显示画面检测、自动光学检测、伽马检测、外观检测、色不均检测以及触控屏检测的其中一种或多种。
本发明的有益效果为：通过显示模组点屏检测产生的热量将测试板加热，热量通过盖板上传到产品面上，即可直接对显示模组进行高低温老化寿命测试，大大降低了测试成本。
附图说明
图1是本发明具体实施方式提供的显示模组老化测试装置的结构示意图；
图2是本发明具体实施方式提供的显示模组老化测试装置中的测试板的结构示意图；
图3是本发明具体实施方式提供的显示模组老化测试装置中的压头与底板的连接结构示意图；
图4是压头中的活动块的立体结构示意图；
图5是压头中的压块的立体结构示意图；
图6是压块的另一角度的结构示意图；
图7是图1的主视图；
图8是图7中沿A-A线的剖视图。
图中：10-底板，20-线路板，30-压块，31-凹槽，32-滑槽，33-微型线轨，34-穿槽，35-第一插槽，40-活动块，41-连接部，42-抵压部，43-开口，44-销轴，45-橡胶套，46-第二插槽，47-硅胶条，51-第一弹簧，52-调节螺钉，53-导向柱，61-拨杆支撑座，62-拨杆，63-第二弹簧，70-插片，80-线路板转接板，90-测试板，91-垫板，92-海绵垫，93-加热片，94-盖板，95-产品放置区，96-热敏电阻，97-温度控制器，100-压头。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
如图1至3所示，本发明的显示模组老化测试装置包括底板10、测试板90、压头100及线路转接板80，其中，测试板90设置在底板10上，包括自下而上依次设置的垫板91、加热片93和盖板94，盖板94上设有至少一个产品放置区95，用以待测显示模组的放置及加热；线路转接板80设置在压块30与底板10之间，且在测试板90的垫板91上方与测试板90具有重叠区域；压头100设置于重叠区域上，且可拆卸地固定于底板10上，并且压头100对应产品放置区，用以与待测显示模组压接，压头100包括压块30、与产品放置区95个数相等的线路板20及活动块40，压块30与底板10可拆卸连接，线路板20穿插于压块30上，且线路板20的两端分别外露于压块30的两侧，活动块40与压块30滑动连接，且一一对应于线路板20其中一端的上方，活动块40下压线路板20、使线路板20对应的端部与放置在产品放置区95上的产品压接。此处的线路板可以是柔性线路板(FPC，Flexible Printed Circuit)，或是印刷电路板(PCB，Printed Circuit Board)，亦可以是其他类型的电性连接材料。
实际使用时，将待测显示模组放置于显示模组老化测试装置的产品放置区，对位后与压头100压接，并连通外部检测信号，点亮显示模组。显示模组点屏后因内部线路导通或检测等会产生热量，进而线路转接板80内部线路也会因工作而生热，且线路转接板80与测试板90具有重叠区域，使得测试板90收到热传导得以加热，测试板90加热后，热量通过盖板94上传到产品面上，待产品温度达到老化测试的温度，即可直接对显示模组进行高低温老化寿命测试，大大降低了测试成本。为了控制测试板90中加热片93的加热温度，本发明在加热片93上设有感应加热片93温度的热敏电阻96、与热敏电阻96电性连接的温度控制器97。另外，为提高热传导性能，于一实施例中，本发明的显示模组老化测试装置还包含热传导线路，热传导线路自外部检测线路通过线路转接板80延伸至测试板90。于一具体实施例中，热传导线路即为显示模组老化测试装置的检测线路，且检测线路采用具有较佳热传导性能的材质。进一步地，热敏电阻96及温度控制器97与热传导线路电性连接，以便于温度实时且精确控制。
于另一实施例中，还可在垫板91与加热片93之间设置海绵垫92。利用海绵垫92可以避免部分热量传导给垫板91，以确保盖板94上获得更多的热量。
通过上述方式，显示模组的老化测试不需要将待测显示模组放入老化装置加温，而是由点灯时线路产生的热量直接对显示模组的加热，检测效率提高且节省了成本。
对于压头100，如图4至图8所示，包括安装于底板10上用于固定一个或多个线路板20的压块30、与线路板20个数相等的活动块40。压块30上设有驱动活动块40下压线路板20、使线路板20对应的端部与放置在测试板90上的产品压接的第一调节组件，以及驱动活动块40上抬的第二调节组件，第一调节组件及第二调节组件与活动块40个数相等，且与活动块40一一对应。通过第一调节组件以及活动块40在压块30上的滑动连接设置，使得活动块40对线路板及产品的压力适中且可调。通过上述设计，压块30、活动块40、第一调节组件以及第二调节组件组合为一个整体，可在底板10上一体式拆装，将压头整体拆下即可实现线路板的更换，提高了线路板的更换效率。
本发明中的活动块40包括连接部41、与连接部41垂直连接的抵压部42；压块30上设有与活动块40个数相等、能够供连接部41插入的凹槽31。为使活动块40与压块30滑动连接，本发明在凹槽31底壁上设有滑槽32，滑槽32连接有微型线轨33，将微型线轨33与连接部41连接即可。如，在第一调节组件的作用下，活动块40沿微型线轨33下移，以下压线路板20；在第二调节组件的作用下，活动块40沿微型线轨33上移，从线路板20上抬起。
具体的，第一调节组件包括至少一个第一弹簧51、一个调节螺杆52，压块30上位于凹槽31侧边设有供第一弹簧51和调节螺杆52插入的孔，其中，第一弹簧51的一端伸入孔中、另一端与抵压部42连接；调节螺杆52插入孔中并抵压第一弹簧51。拧调节螺杆52可调节第一弹簧51的压缩量，第一弹簧51产生的弹性势能作用于抵压部42上，使活动块40沿微型线轨33下移，以下压线路板20，以合适的压力将线路板20与待测产品压接。作为本发明的优选实施方式，本发明在每个凹槽31的两侧均设有供第一弹簧51和调节螺杆52插入的孔，且该两个孔相对凹槽31的中心线对称，每个孔中均插有第一弹簧51和调节螺杆52。如此，从凹槽31两侧调节第一弹簧51压力，可使抵压部42稳定地抵压线路板20，确保线路板20与待测产品的压接效果；同时通过旋入或旋出调节螺杆52，也使得抵压部42的下压力度变得可调，进一步提高了压头的压接效果。
为了使活动块平稳地沿微型线轨33移动，本发明在压块30与抵压部42之间连接有导向柱53，活动块40能够沿导向柱53滑动。导向柱53起引导作用。
本发明在压块30靠近活动块40的侧壁上设有安装第二调节组件的穿槽34，第二调节组件包括拨杆支撑座61、拨杆62，其中，拨杆支撑座61安装在穿槽34的底壁上；拨杆62朝向活动块40穿过穿槽34并与拨杆支撑座61转动连接，且拨杆62朝向活动块40的端部抵压活动块40。利用杠杆原理，按压拨杆62，拨杆62抵压活动块40的端部向上顶活动块40，使活动块40沿微型线轨33上移，使活动块40脱离产品，将产品取出。
在将产品取出后，为了使活动块40平缓地上下移动，本发明在拨杆62两侧与穿槽34的顶壁和底壁之间分别连接有第二弹簧63，利用第二弹簧63的对拨杆62产生弹性作用力，使拨杆62在拨动活动块40时，拨杆62一方面缓缓地相对拨杆支撑座61转动，另一方面在第二弹簧63的弹性作用下，能够使拨杆62平稳的回到原位。
为了使拨杆62可以抵压活动块40，本发明在活动块40上设有开口43，开口43上转动连接有销轴44，销轴44上活动套接有橡胶套45；拨杆62朝向活动块40的端部抵压橡胶套45。
当拨杆62将活动块40上抬后，需将活动块40限制在设定位置，可在凹槽31相平行的两侧壁上设有第一插槽35，在连接部41相平行的两侧壁上设有分别与第一插槽35对应的第二插槽46，第一插槽35与第二插槽46用于供插片70插入，即可通过插片70将活动块40限制在设定位置。
作为本发明的优选实施方式，为了避免活动块40压破产品，本发明在抵压部42的底边边缘上设有弹性条47，弹性条47可以是硅胶条或橡胶条等，弹性条47与线路板和产品为弹性接触，为保证线路板和测试板的稳定压接，在下压力稍大的情况下，可以避免对线路板或产品的损伤。另外，压块30与底板10之间设有能够与线路板20电性连接的线路板转接板80，利用线路板转接板80对测试板上的产品进行测试。
可见，本发明通过按压压块30，压块30可对活动块40施加柔性作用力，使活动块40以合适的压力将线路板20与待测产品压接，快速的将待测产品安装在测试板上；在取出产品时，只需按压拨杆62，利用杠杆原理，即可使活动块40脱离产品，较方便的将产品取出。
利用上述的显示模组老化测试装置进行老化测试的方法，包括以下步骤：
S1，提供上述显示模组老化测试装置，
S2，分别放置待测显示模组于测试板90上；
S3，将压头100与待测显示模组压接；
S4，点亮待测显示模组，直至显示模组温度达到老化测试温度；
S5，将待测显示模组进行老化测试。进一步的，在步骤S4和步骤S5之间还包括步骤：控制所述显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
进一步的，步骤S5还包括步骤：控制显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
进一步的，步骤S4中点亮待测显示模组后还包含步骤：将待测显示模组进行非老化测试，加热等待的同时，进行其他项目的测试，可进一步提高显示模组的多性能检测效率
进一步的，将待测显示模组进行非老化测试包含：显示画面检测、自动光学检测、伽马检测、外观检测、色不均检测以及触控屏检测的其中一种或多种。
综上，本发明的显示模组老化测试装置在对显示模组老化测试时，无需温变装置即可直接进行高低温老化寿命测试，大大降低了测试成本。
以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的原理，而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本发明的其它具体实施方式，这些方式都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种显示模组老化测试装置，其特征在于，包括底板、测试板、压头及线路转接板，其中，
所述测试板设置在所述底板上，包括自下而上依次设置的垫板、加热片和盖板，所述盖板上设有至少一个产品放置区，用以待测显示模组的放置及加热；
所述线路转接板设置在所述底板上，且在所述测试板的所述垫板上方与所述测试板具有重叠区域；
所述压头设置于所述重叠区域上，且可拆卸地固定于所述底板上，并且所述压头对应所述产品放置区，用以与待测显示模组压接；
所述加热片上设有感应所述加热片温度的热敏电阻、与所述热敏电阻电性连接的温度控制器；
热传导线路，所述热传导线路通过所述线路转接板上延伸至所述测试板；
所述压头包括安装于所述底板上用于固定一个或多个线路板的压块、与所述线路板个数相等的活动块。
2.根据权利要求1所述的显示模组老化测试装置，其特征在于，所述热敏电阻及所述温度控制器与所述热传导线路电性连接。
3.根据权利要求1-2任意一项所述的显示模组老化测试装置，其特征在于，所述垫板与所述加热片之间设有海绵垫。
4.一种显示模组老化测试方法，应用于权利要求1-3任意一项所述的显示模组老化测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
S1，提供显示模组老化测试装置，其中，
所述显示模组老化测试装置包括具有加热片的测试板、与所述测试板有重叠区域的线路板转接板及压头；所述压头设置于所述线路转接板上，且位于所述重叠区域上方；
S2，分别放置待测显示模组于所述测试板上；
S3，将所述压头与所述待测显示模组压接；
S4，点亮所述待测显示模组，直至显示模组温度达到老化测试温度；
S5，将所述待测显示模组进行老化测试。
5.如权利要求4所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤S4和所述步骤S5之间还包括步骤：控制所述显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
6.如权利要求4所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤S5还包括步骤：控制所述显示模组的温度恒定于检测温度范围内。
7.如权利要求4所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，所述步骤S4中点亮所述待测显示模组后还包含步骤：将所述待测显示模组进行非老化测试。
8.如权利要求7所述的显示模组老化测试方法，其特征在于，将所述待测显示模组进行非老化测试包含：显示画面检测、自动光学检测、伽马检测、外观检测、色不均检测以及触控屏检测的其中一种或多种。
CN201810039211.4A 2018-01-16 2018-01-16 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法 Active CN108037398B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810039211.4A CN108037398B (zh) 2018-01-16 2018-01-16 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法
PCT/CN2018/119845 WO2019141016A1 (zh) 2018-01-16 2018-12-07 显示模组老化测试装置及老化测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810039211.4A CN108037398B (zh) 2018-01-16 2018-01-16 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108037398A CN108037398A (zh) 2018-05-15
CN108037398B true CN108037398B (zh) 2023-12-05

Family

ID=62096794

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810039211.4A Active CN108037398B (zh) 2018-01-16 2018-01-16 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN108037398B (zh)
WO (1) WO2019141016A1 (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108303424A (zh) * 2018-01-02 2018-07-20 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测装置及其检测方法
CN108037398B (zh) * 2018-01-16 2023-12-05 苏州精濑光电有限公司 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法
CN110525748A (zh) * 2018-05-24 2019-12-03 珠海圣诺电子设备有限公司 3c通讯模块自动化包装生产线
CN108898984B (zh) * 2018-08-03 2023-10-24 武汉精测电子集团股份有限公司 用于显示面板gamma检测的浮动工装及接触式检测装置
CN109239950A (zh) * 2018-09-30 2019-01-18 苏州精濑光电有限公司 一种对位方法
CN110618546A (zh) * 2019-09-24 2019-12-27 昆山精讯电子技术有限公司 一种显示模组的托板
CN114563882A (zh) * 2022-01-19 2022-05-31 业成科技（成都）有限公司 一种液晶模组老化测试系统
CN117741371B (zh) * 2024-02-19 2024-04-30 山东华驰变压器股份有限公司 一种变压器测试装置及测试方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000012637A (ja) * 1998-06-25 2000-01-14 Orion Mach Co Ltd 半導体ウェーハの温度試験装置
TW462103B (en) * 1998-03-27 2001-11-01 Shiu Fu Jia Wafer testing device and method
CN1755381A (zh) * 2004-09-30 2006-04-05 华为技术有限公司 一种基于散热装置的电子设备的老化方法
CN102989531A (zh) * 2012-11-14 2013-03-27 天津天维移动通讯终端检测有限公司 氙灯高温老化测试箱
CN203433003U (zh) * 2013-09-05 2014-02-12 深圳市艾卓尔泰科技开发有限公司 气动测试架
CN104502063A (zh) * 2014-11-03 2015-04-08 浙江中博光电科技有限公司 一种led光源高温长期光通维持率检测方法
JP2015094714A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 エスペック株式会社 接触式試験装置及び環境試験方法
CN107316595A (zh) * 2017-07-03 2017-11-03 深圳市华星光电技术有限公司 老化测试用背光源装置及液晶显示面板的老化测试方法
CN207895008U (zh) * 2018-01-16 2018-09-21 昆山精讯电子技术有限公司 一种显示模组老化测试装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100998281B1 (ko) * 2009-04-09 2010-12-07 고선웅 셀 에이징 팔레트시스템의 구동회로 및 그 시스템
US9244107B2 (en) * 2012-11-12 2016-01-26 Marvell World Trade Ltd. Heat sink blade pack for device under test testing
US9341663B2 (en) * 2013-11-26 2016-05-17 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS device positioning apparatus, test system, and test method
CN206146625U (zh) * 2016-11-08 2017-05-03 苏州品汇精密电子有限公司 一种手机屏幕耐老化测试治具
CN108037398B (zh) * 2018-01-16 2023-12-05 苏州精濑光电有限公司 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW462103B (en) * 1998-03-27 2001-11-01 Shiu Fu Jia Wafer testing device and method
JP2000012637A (ja) * 1998-06-25 2000-01-14 Orion Mach Co Ltd 半導体ウェーハの温度試験装置
CN1755381A (zh) * 2004-09-30 2006-04-05 华为技术有限公司 一种基于散热装置的电子设备的老化方法
CN102989531A (zh) * 2012-11-14 2013-03-27 天津天维移动通讯终端检测有限公司 氙灯高温老化测试箱
CN203433003U (zh) * 2013-09-05 2014-02-12 深圳市艾卓尔泰科技开发有限公司 气动测试架
JP2015094714A (ja) * 2013-11-13 2015-05-18 エスペック株式会社 接触式試験装置及び環境試験方法
CN104502063A (zh) * 2014-11-03 2015-04-08 浙江中博光电科技有限公司 一种led光源高温长期光通维持率检测方法
CN107316595A (zh) * 2017-07-03 2017-11-03 深圳市华星光电技术有限公司 老化测试用背光源装置及液晶显示面板的老化测试方法
CN207895008U (zh) * 2018-01-16 2018-09-21 昆山精讯电子技术有限公司 一种显示模组老化测试装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
KAWAI, Y et al.LOW TEMPERATURE-STRESSED AGING TEST OF 1.3-1.45-MU-M LASER-DIODES UNDER HIGH-POWER OPERATION.《electronics letters》.1990,53-55. *
刘向东 唐丰.电容器高温老化测试系统.《仪器仪表学报》.2001,610-613. *
齐本胜等.新一代大规模集成电路高温动态老化 测试系统的研制.《电子测量与仪器学报》.2002,5-9. *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019141016A1 (zh) 2019-07-25
CN108037398A (zh) 2018-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108037398B (zh) 一种显示模组老化测试装置及老化测试方法
CN207895008U (zh) 一种显示模组老化测试装置
CN102317802B (zh) 具有改善的热控制的用于电气/可靠性测试的集成单元
TW201346293A (zh) 電子元件壓接裝置、應用壓接裝置之測試設備及壓接控制方法
CN209728081U (zh) 芯片加热装置
CN109828152B (zh) 电池加热片的自动化测试设备
CN111798775B (zh) 根据显示面板尺寸间距可变的检测装置
KR101579090B1 (ko) 디스플레이 패널 검사 장치
JP4475206B2 (ja) 電子部品試験装置
TWI589900B (zh) Electronic components crimping device and its application test classification equipment
CN112394554A (zh) 一种lcd玻璃的压接装置
CN207529634U (zh) 一种压头
WO2019114040A1 (zh) 压头
CN208827165U (zh) 一种fpc天线柔性热压装置
CN112394237B (zh) 一种测试电感元件恒定电流装置及其方法
CN207396641U (zh) 一种假压测试装置
TW201809696A (zh) 電子元件壓接裝置及其應用之測試分類設備
TWI387752B (zh) Ｉｃ元件燒機設備及其所使用的ｉｃ加熱裝置
CN216357357U (zh) 功率半导体器件接触式加热装置
CN212341339U (zh) 自动点按测试设备
CN220961766U (zh) 一种全自动温控开关检测设备
CN109612845A (zh) 高温测压压头装置
CN113820593B (zh) 一种soic封装高温测试装置
CN215526453U (zh) 一种温控器热调炉的自动热调机构
CN216051844U (zh) 新型硅胶针自动插拔结构

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20190125

Address after: 215125 No. 892 Wusong Road, Guoxiang Street, Wuzhong District, Suzhou City, Jiangsu Province

Applicant after: SUZHOU JINGLAI OPTO Co.,Ltd.

Address before: 215334 No. 118 Organ Road, Kunshan Development Zone, Suzhou City, Jiangsu Province

Applicant before: KUNSHAN JINGXUN ELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant