CN108037076A - 电感耦合等离子体光谱仪前光路系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，电感耦合等离子体光谱仪前光路系统包括：第一反射镜，所述第一反射镜设置在等离子体火焰的径向，反射所述等离子体火焰中的第一波段的光和第二波段的光，第一波段中的最短波长大于所述第二波段中的最长波长；第二反射镜，所述第二反射镜设置在所述等离子体火焰的轴向，所述等离子体火焰中的第一波段的光穿过所述第二反射镜，第二波段的光被所述第二反射镜反射；第三反射镜，所述第三反射镜将所述第一反射镜射来的光反射到光谱仪，被所述第二反射镜反射的第二波段的光穿过所述第三反射镜上的通孔，并射向所述光谱仪。本发明具有一次采谱即可完成易电离元素的径向观测和痕量元素的轴向观测等优点。
Description
技术领域
本发明涉及元素检测，特别涉及电感耦合等离子体光谱仪前光路系统。
背景技术
电感耦合等离子体光谱仪在分析背景比较复杂的样品(如土壤样品、电池样品)时，一般采用径向观测(径向观测由于背景干扰小，耐盐能力强等原因；在分析复杂样品或碱金属样品时多采用径向观测)。在分析浓度较低、较难激发的As、Sb、Bi等元素时，采用轴向观测(由于轴向观测是整个通道各个部分的光都可被采集，从而提高了各元素的灵敏度，降低了检出限)。
当样品基底较为复杂，同时需要分析碱金属和低浓度元素时，往往采用径向观测分析碱金属，轴向分析低浓度样品的方式。但是这种分析方式要求仪器具备双向观测能力，且同一样品的分析需要不同观测模式的切换。切换观测模式不仅增加了样品分析时间和氩气消耗，同时增加了人力成本，降低了分析效率。
发明内容
为了解决上述现有技术方案中的不足，本发明提供了一种实现了径向和轴向检测、无需切换的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，有助于提高低浓度元素检测的检出限，同时保证了易电离元素检测的准确性。
一种电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，所述电感耦合等离子体光谱仪前光路系统包括：
第一反射镜，所述第一反射镜设置在等离子体火焰的径向，反射所述等离子体火焰中的第一波段的光和第二波段的光，第一波段中的最短波长大于所述第二波段中的最长波长；
第二反射镜，所述第二反射镜设置在所述等离子体火焰的轴向，所述等离子体火焰中的第一波段的光穿过所述第二反射镜，第二波段的光被所述第二反射镜反射；
第三反射镜，所述第三反射镜将所述第一反射镜射来的光反射到光谱仪，被所述第二反射镜反射的第二波段的光穿过所述第三反射镜上的通孔，并射向所述光谱仪。
根据上述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，优选地，所述第二反射镜是二向色镜。
根据上述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，优选地，所述通孔设置在所述第三反射镜的中心。
根据上述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，优选地，所述第一波段的光对应碱金属，所述第二波段的光对应钴、镍或锰。
与现有技术相比，本发明具有的有益效果为：
1.实现了同步双向检测，一次采谱即可完成易电离元素的径向检测和痕量元素的轴向观测；
在不损失Hg、As、Se等痕量元素检出限的条件下，保障了Li、Na、K等易电离元素径向观测的准确性，有效地减少了分析时间，提高了分析效率；
2.双向同时观测避免了用户使用过程中不同观测模式的切换，缩短了样品分析时间，减少了Ar气消耗，提高了样品分析通量。
附图说明
参照附图，本发明的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是：这些附图仅仅用于举例说明本发明的技术方案，而并非意在对本发明的保护范围构成限制。图中：
图1是根据本发明实施例的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统的结构简图。
具体实施方式
图1和以下说明描述了本发明的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本发明。为了教导本发明技术方案，已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本发明的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本发明的多个变型。由此，本发明并不局限于下述可选实施方式，而仅由权利要求和它们的等同物限定。
实施例1：
图1示意性地给出了本发明实施例的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统的结构简图，如图1所示，所述电感耦合等离子体光谱仪前光路系统包括：
第一反射镜2，所述第一反射镜设置在等离子体火焰1的径向，反射所述等离子体火焰中的第一波段的光和第二波段的光，第一波段中的最短波长大于所述第二波段中的最长波长；所述第一波段的光对应易电离的碱金属发射的光波段，所述第二波段的光对应钴、镍或锰等痕量元素反射的光波段；
第二反射镜3，所述第二反射镜设置在所述等离子体火焰的轴向，所述等离子体火焰中的第一波段的光穿过所述第二反射镜，第二波段的光被所述第二反射镜反射；
第三反射镜4，所述第三反射镜将所述第一反射镜射来的光反射到光谱仪，被所述第二反射镜反射的第二波段的光穿过所述第三反射镜上的通孔41，并射向所述光谱仪。
实施例2：
根据本发明实施例1的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统在电池检测中的应用例。
在该应用例中，通常要测的元素有钴、镍、锰、钾、钠、锂等；对于钴、镍、锰由于要求的检出限比较高，通常采用轴向观测；而钾、钠、锂属于碱金属易电离，通常采用径向观测或低功率下进行分析；所述第二反射镜是二向色镜；所述通孔设置在所述第三反射镜的中心；第一波段光对应钾、钠、锂等元素，所述第二波段的光对应钴、镍或锰等元素。
前光路设计使进入光谱仪的光根据波段不同来自于不同观测方式，比如碱金属钾、钠、锂的分析光来自于径向观测光，而钴、镍、锰的分析光来自于轴向观测。这种前光路的设计可以在不切换观测模式下同时分析钴、镍、锰、钾、钠、锂等多种元素，真正做到在不牺牲灵敏度和准确性的情况下，同步测定各种波段的多种元素，有效地减少了分析时间，提高了分析效率。
Claims (4)
1.一种电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，其特征在于：所述电感耦合等离子体光谱仪前光路系统包括：
第一反射镜，所述第一反射镜设置在等离子体火焰的径向，反射所述等离子体火焰中的第一波段的光和第二波段的光，第一波段中的最短波长大于所述第二波段中的最长波长；
第二反射镜，所述第二反射镜设置在所述等离子体火焰的轴向，所述等离子体火焰中的第一波段的光穿过所述第二反射镜，第二波段的光被所述第二反射镜反射；
第三反射镜，所述第三反射镜将所述第一反射镜射来的光反射到光谱仪，被所述第二反射镜反射的第二波段的光穿过所述第三反射镜上的通孔，并射向所述光谱仪。
2.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，其特征在于：所述第二反射镜是二向色镜。
3.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，其特征在于：所述通孔设置在所述第三反射镜的中心。
4.根据权利要求1所述的电感耦合等离子体光谱仪前光路系统，其特征在于：所述第一波段的光对应碱金属，所述第二波段的光对应钴、镍或锰。
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Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0862140A (ja) * | 1994-08-23 | 1996-03-08 | Seiko Instr Inc | 誘導結合プラズマ発光分析方法及びその装置 |
| JPH09318537A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-12 | Shimadzu Corp | 誘導結合プラズマ発光分析装置 |
| CN1719231A (zh) * | 2004-07-09 | 2006-01-11 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 光栅光谱仪 |
| JP2007078460A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分析装置 |
| JP2010243348A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分析装置及びｉｃｐ発光分析方法 |
| CN102235977A (zh) * | 2010-03-29 | 2011-11-09 | 精工电子纳米科技有限公司 | Icp分析装置及其分析方法 |
| JP3185626U (ja) * | 2013-06-14 | 2013-08-22 | 株式会社島津製作所 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
| CN103376158A (zh) * | 2012-04-30 | 2013-10-30 | 安捷伦科技有限公司 | 包括二向色性光束组合器的光学发射系统 |
| CN104114984A (zh) * | 2011-12-14 | 2014-10-22 | 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司 | 光谱仪和光谱学方法 |
| US20150276484A1 (en) * | 2014-03-31 | 2015-10-01 | Hitachi High-Tech Science Corporation | ICP Emission Spectrometer |
| CN106338506A (zh) * | 2016-08-29 | 2017-01-18 | 钢研纳克检测技术有限公司 | 一种应用于icp光谱仪的双向观测光路结构 |
| CN106442476A (zh) * | 2016-11-09 | 2017-02-22 | 中国科学院广州地球化学研究所 | 一种共享电感耦合等离子体光源的光谱与质谱测定装置与方法 |
| WO2017181223A1 (en) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | Gbc Scientific Equipment Pty. Ltd. | Atomic emission spectrometer |
| CN207730643U (zh) * | 2017-12-30 | 2018-08-14 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 电感耦合等离子体光谱仪前光路系统 |
-
2017
- 2017-12-30 CN CN201711485508.5A patent/CN108037076A/zh active Pending
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0862140A (ja) * | 1994-08-23 | 1996-03-08 | Seiko Instr Inc | 誘導結合プラズマ発光分析方法及びその装置 |
| JPH09318537A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-12 | Shimadzu Corp | 誘導結合プラズマ発光分析装置 |
| CN1719231A (zh) * | 2004-07-09 | 2006-01-11 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 光栅光谱仪 |
| JP2007078460A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-03-29 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分析装置 |
| JP2010243348A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Shimadzu Corp | Ｉｃｐ発光分析装置及びｉｃｐ発光分析方法 |
| CN102235977A (zh) * | 2010-03-29 | 2011-11-09 | 精工电子纳米科技有限公司 | Icp分析装置及其分析方法 |
| CN104114984A (zh) * | 2011-12-14 | 2014-10-22 | 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司 | 光谱仪和光谱学方法 |
| CN103376158A (zh) * | 2012-04-30 | 2013-10-30 | 安捷伦科技有限公司 | 包括二向色性光束组合器的光学发射系统 |
| JP3185626U (ja) * | 2013-06-14 | 2013-08-22 | 株式会社島津製作所 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
| US20150276484A1 (en) * | 2014-03-31 | 2015-10-01 | Hitachi High-Tech Science Corporation | ICP Emission Spectrometer |
| WO2017181223A1 (en) * | 2016-04-18 | 2017-10-26 | Gbc Scientific Equipment Pty. Ltd. | Atomic emission spectrometer |
| CN106338506A (zh) * | 2016-08-29 | 2017-01-18 | 钢研纳克检测技术有限公司 | 一种应用于icp光谱仪的双向观测光路结构 |
| CN106442476A (zh) * | 2016-11-09 | 2017-02-22 | 中国科学院广州地球化学研究所 | 一种共享电感耦合等离子体光源的光谱与质谱测定装置与方法 |
| CN207730643U (zh) * | 2017-12-30 | 2018-08-14 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 电感耦合等离子体光谱仪前光路系统 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 辛仁轩: "电感耦合等离子体光谱仪器技术进展与现状", 《中国无机分析化学》, vol. 1, no. 4, pages 1 - 8 * |
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