CN108036724A - 一种物体尺寸测量方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种物体尺寸测量方法及装置。所述方法包括：获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息和/或长度信息。本发明提供的物体尺寸测量方法及装置，使用方便，能快速测量物体尺寸。
Description
技术领域
本发明涉及智能交通技术领域，具体涉及一种物体尺寸测量方法及装置。
背景技术
车辆宽高测量是智能交通领域中的一个重要分支，从传统的人工拉尺测量到现今的各种非接触式测量，超声波、微波、双摄像头等技术的应用层出不穷，每种技术应用带来便利的同时也暴露技术的不足，例如超声波受环境影响大，微波对慢速和静止物体不敏感，双摄像头的标定及处理的繁琐等等问题。
激光测距技术引起了测量技术的革命，在超限检测及轮廓尺寸检测中带来足够便利。但是，高精度的二维或三维激光测距雷达价格昂贵，往往一些场合，只需要适当的测量精度和严格的成本控制。市面上，也涌现了一些利用激光光束和摄像头进行三角测距的装置，其测量的结果类似于一个单点的激光测距仪，由于需要变换方向多次测量，达不到像二维激光雷达一样的一次测量出车辆宽高结果的形式。
因此，如何提出一种方法，能够快速测量物体的长宽高尺寸，成为亟待解决的问题。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明提供了一种物体尺寸测量方法及装置。
第一方面，本发明提供一种物体尺寸测量方法，包括：
获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
第二方面，本发明提供一种物体尺寸测量装置，包括：
获取模块，用于获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
处理模块，用于在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
计算模块，用于根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
本发明提供的物体尺寸测量方法和装置，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种物体尺寸测量的方法流程示意图；
图2为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的装置示意图；
图3为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的图像处理的示意图；
图4为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的装置示意图；
图5为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的图像处理的示意图；
图6为本发明实施例的一种物体尺寸测量的装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种物体尺寸测量的方法流程示意图，如图1所示，所述方法包括：
S101、获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
S102、在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
S103、根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
具体地，所述物体尺寸的测量方法要依托于一套实体的测量装置，至少包括：单点激光测距装置、摄像装置、底座支架和图像处理单元；所述单点激光测距装置由激光发射模块、激光准直模块、回波信号接收放大模块、TDC计时模块、测距信息处理模块组成；
所述单点激光测距装置和所述摄像装置固定于所述底座支架上，且所述单点激光测距装置的激光发射准直镜片与摄像装置镜头处于同一个端面上；所述底座支架固定于龙门架或L杆上，使得所述激光测距装置和摄像装置的镜头垂直向下工作；其中，单点激光测距装置可以是单点激光测距仪，摄像装置可以是摄像机或照相机等。
基于上述的测量装置，对物体尺寸测量方法具体为：
单点激光测距装置的测距光斑落于待测量物体上方，摄像头获取待测量物体顶部图像，所述顶部图像含有所述单点激光测距装置发射到待测量物体顶部的光斑图像以及所述待测量物体的顶部轮廓信息；
图像处理单元接收到摄像头发送的顶部图像，并对图像进行处理，从所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
再根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，由此，可以计算出待测量物体的长度信息或宽度信息，也可以将长度信息和宽度信息都计算出来，具体计算哪种信息可根据需要来设定。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，当光斑个数为1时，所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中所述光斑的直径对应的像素点个数；所述光斑的实际尺寸信息为所述光斑的实际直径大小。
在上述实施例的基础上，当单点激光测距仪的光斑落于待测量物体上方时，光斑的数量可以为1个时，摄像装置在拍摄的顶部图像中，包括一个光斑和待测量物体的顶部轮廓，图像处理单元对顶部图像进行处理，通过算法进行畸变校正处理，之后进行滤波和二值化处理；
再利用轮廓检测算法提取图像的边沿轮廓，利用霍夫变换检测带测量物体的顶部轮廓两边直线边界以及光斑圆形形状，确定光斑位置以及待测量物体顶部轮廓边界位置，对目标区域图像像素点进行逐行遍历，获取待测量物体顶部轮廓左边界到右边界的像素点个数，以及光斑左边到右边的像素点个数N1x，由于N1x随着遍历行数的增加会先变大后变小，取最大值，也即是光斑直径处的像素点数，即为所述顶部图像中光斑的像素尺寸信息，所述光斑的实际尺寸信息为所述光斑的实际直径大小。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息，包括：
根据如下公式一确定所述待测量物体的宽度信息：
W1＝(N2/N1)*D+Offset1； 公式一
其中，各字母的含义为
N2为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；
N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；
D为所述光斑实际尺寸的直径；
Offset1为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值；
所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：
根据如下公式二确定所述待测量物体的长度信息：
L2＝(N2’/N1)*D+Offset2； 公式二
其中，各字母的含义为
N2’为所述待测量物体的顶部轮廓的长度对应的像素尺寸信息；
N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；
D为所述光斑实际尺寸的直径；
Offset2为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值。
在上述实施例的基础上，图2为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的装置示意图；图3为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的图像处理的示意图；
结合图2和图3，在使用算法提取的光斑轮廓以及待测量物体的顶部的边沿轮廓，可以是宽度，也可以是长度，或者两者都提取出来，计算所述光斑的直径的像素点数N1以及所述待测量物体顶部轮廓的宽度对应的像素点数N2或长度对应的像素点数N2’；
根据光斑的实际尺寸信息，那么待测量物体的宽度W1可由公式一计算出，W1＝(N2/N1)*D+Offset1；其中Offset1为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值，代入所述车辆宽度W计算公式，多次平均求取获得。其中，Offset1的值可以为0。
根据光斑的实际尺寸信息，那么待测量物体的长度W2可由公式二计算出，L2＝(N2’/N1)*D+Offset2；其中Offset2为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值，代入所述车辆宽度W2计算公式，多次平均求取获得。其中，Offset2的值可以为0。
在车辆经过检测装置的过程中，连续采集了待测量物体从头到尾的宽度或长度，经过滤波算法，再求取最大的宽度或长度值作为待测量物体的长度信息或宽度信息进行输出。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，当光斑个数为多个时，多个光斑的中心点位置在同一条直线上；
所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中两个距离最远光斑的中心点连线对应的像素点个数；
所述光斑的实际尺寸信息为所述两个距离最远的光斑中心点的实际距离。
在上述实施例的基础上，所述单点激光测距装置的数量包括但不限于一个，也可以是多个，其目的是为了通过求平均，或是使光斑和物体像素点更方便计算，得到更精确的测量结果；
两个及以上单点激光测距仪光斑分别照射物体上表面，且光斑不重叠，所述摄像头获取待测量物体顶部含有两个及以上光斑的图像信息及待测量物体的顶部轮廓。
下面举两个光斑的例子说明本方案，图4为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的装置示意图；图5为本发明又一实施例提供的一种物体尺寸测量的图像处理的示意图；
首先，所述的两个单点测距装置在所述待测量物体的顶部形成两个光斑，根据两个单点测距仪的安装位置及光束出射方向，可以确定照射在物体顶部两个光斑中心的距离S，在本实施例中，为了方便计算，两个单点测距仪均垂直向下测距，且两测距仪的激光光束平行，那么所述物体顶部两个光斑的中心点的距离S可以通过测量两个单点测距仪的位置得出；
需要说明的是，若单点测距装置有3个以上，则需要将3个以上的单点测距装置形成的光斑的圆心处于同一直线上，物体顶部光斑的中心距离S即为距离最远的两个光斑的中心点之间的距离。
所述摄像头获取两个光斑的待测量物体顶部图像，图像处理单元对顶部图像进行分析处理，提取两个光斑中心点的像素坐标，通过并计算出像素距离Ln，同时计算物体顶部图像中左右边界的像素距离Lm，显然，若两个单点测距仪纵向放置，可以得到待测量物体的长度信息。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息包括：
根据如下公式三确定所述待测量物体的宽度信息：
W3＝(Lm/Ln)*S+Offset3； 公式三
其中，各字母的含义为
Lm为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；
Ln为所述距离最远的两个光斑的像素距离；
S为所述距离最远的两个光斑中心点的实际距离；
Offset3为弧度偏差值；
所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：
根据如下公式四确定所述待测量物体的长度信息：
L4＝(Lm’/Ln)*S+Offset4 公式四
其中，各字母的含义为
Lm’为所述待测量物体的顶部轮廓的长度对应的像素尺寸信息；
Ln为所述距离最远的两个光斑的像素距离；
S为所述距离最远的两个光斑中心点的实际距离；
Offset4为弧度偏差值。
在上述实施例的基础上，根据两个单点激光测距装置的安装位置及光束方向，获取落于物体顶部两个光斑圆心的实际距离S，通过计算出的光斑像素距离Ln，同时计算出的待测量物体的顶部轮廓的左右边界的像素距离Lm，则待测量物体的实际宽度W3可以由公式三计算出，W3＝(Lm/Ln)*S+Offset3，其中Offset3为弧度误差，其中，Offset3的值可以为0，可以通过已知宽度和高度的物体进行标定计算出；若获取纵向上的两个光斑信息，依照同样的方法，可以获取物体的长度信息。
则待测量物体的长度L4可以由公式四计算出，L4＝(Lm’/Ln)*S+Offset4，其中Offset4为弧度误差，其中，Offset4的值可以为0，可以通过已知宽度和高度的物体进行标定计算出。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。
在上述实施例的基础上，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。例如，单点激光测距装置是横向安装或者纵向安装，发射光斑的角度，及有几个单点激光测距装置发射光斑等。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，所述方法还包括：
获取所述单点激光测距装置到所述待测量物体顶部的距离及所述单点激光测距装置到地面的距离；
根据所述单点激光测距装置到所述待测量物体顶部的距离和所述单点激光测距装置到地面的距离，确定差值最大的高度值为所述待测量物体的高度信息。
在上述实施例的基础上，基于本发明的装置，在测量待测量物体的宽度或长度的同时，还可以测量物体的高度。
当单点激光测距装置的光斑落于待测量物体的上方，获取所述单点激光测距装置到所述待测量物体顶部的距离H1及所述单点激光测距装置到地面的距离Hs；通过公式计算出，高度H＝max(Hs-H1,Hs-H2,…,Hs-Hn)；其中Hs为所述单点激光测距装置测量的距离地面的高度值，H1到Hn为待测量物体经过所述单点激光测距装置下方，每个测量周期测量的距离物体顶部的距离值，做差为物体的高度值，取测量的最大高度作为物体的高度值。
本发明提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，所述光斑实际尺寸的直径为：
D＝H1*α，其中：
D为所述光斑实际尺寸的直径；
H1为所述单点激光测距仪到所述待测试物体顶部的距离；
α为所述单点激光测距仪的激光发散角。
具体地，当单点激光测距仪在所述待测量物体的顶部形成光斑时，获取所述单点激光测距仪到物体顶部的距离H1，所述单点激光测距仪的激光发散角为α；
根据所述距离H1和所述发散角α，计算出落于所述被测物体上方的实际光斑直径D＝H1*α；其中，所述的单点激光测距仪的发散角为5mrad到50mrad之间，激光光波长包括但不限于905nm；本发明实施例中优选地，发散角为11mrad。
本发明实施例提供的物体尺寸测量方法，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
图6为本发明实施例的物体尺寸测量装置的结构示意图，如图6所示。所述装置包括获取模块10、处理模块20和计算模块30，其中：
获取模块10用于获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
处理模块20用于在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
计算模块30用于根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
在上述实施例的基础上，获取模块10获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；处理模块20在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；计算模块30根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；和/或，根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
本发明实施例提供的物体尺寸测量装置，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
可选地，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。
在上述实施例的基础上，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。，例如，单点激光测距装置是横向安装或者纵向安装，发射光斑的角度，及有几个单点激光测距装置发射光斑等。
本发明实施例提供的物体尺寸测量装置，通过单点激光测距装置和摄像头结合使用，快速完成对物体的尺寸测量，极大地节省了测量时间，充分利用了单点激光测距装置的优势，并将其测量能力升级到两个维度，本发明提供的方法和装置结构简单，安装使用方便，成本低廉。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
以上所描述的装置以及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
Claims (10)
1.一种物体尺寸测量方法，其特征在于，包括：
获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当光斑个数为1时，所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中所述光斑的直径对应的像素点个数；所述光斑的实际尺寸信息为所述光斑的实际直径大小。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息，包括：
根据如下公式一确定所述待测量物体的宽度信息：
W1＝(N2/N1)*D+Offset1； 公式一
其中，各字母的含义为
N2为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；
N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；
D为所述光斑实际尺寸的直径；
Offset1为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值；
所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：
根据如下公式二确定所述待测量物体的长度信息：
L2＝(N2’/N1)*D+Offset2； 公式二
其中，各字母的含义为
N2’为所述待测量物体的顶部轮廓的长度对应的像素尺寸信息；
N1为所述光斑的直径对应的像素点个数；
D为所述光斑实际尺寸的直径；
Offset2为使用已知宽度和高度的物体进行标定后得出的偏差值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当光斑个数为多个时，多个光斑的中心点位置在同一条直线上；
所述光斑的像素尺寸信息为所述顶部图像中两个距离最远光斑的中心点连线对应的像素点个数；
所述光斑的实际尺寸信息为所两个距离最远的光斑中心点的实际距离。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息，包括：
根据如下公式三确定所述待测量物体的宽度信息：
W3＝(Lm/Ln)*S+Offset3； 公式三
其中，各字母的含义为
Lm为所述待测量物体的顶部轮廓的宽度对应的像素尺寸信息；
Ln为所述距离最远的两个光斑的像素距离；
S为所述距离最远的两个光斑中心点的实际距离；
Offset3为弧度偏差值；
所述根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息，包括：
根据如下公式四确定所述待测量物体的长度信息：
L4＝(Lm’/Ln)*S+Offset4 公式四
其中，各字母的含义为
Lm’为所述待测量物体的顶部轮廓的长度对应的像素尺寸信息；
Ln为所述距离最远的两个光斑的像素距离；
S为所述距离最远的两个光斑中心点的实际距离；
Offset4为弧度偏差值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。
7.根据权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
获取所述单点激光测距装置到所述待测量物体顶部的距离及所述单点激光测距装置到地面的距离；
根据所述单点激光测距装置到所述待测量物体顶部的距离和所述单点激光测距装置到地面的距离，确定差值最大的高度值为所述待测量物体的高度信息。
8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述光斑实际尺寸的直径为：
D＝H1*α，其中：
D为所述光斑实际尺寸的直径；
H1为所述单点激光测距仪到所述待测试物体顶部的距离；
α为所述单点激光测距仪的激光发散角。
9.一种物体尺寸测量装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取待测量物体的顶部图像，所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述待测量物体的顶部轮廓信息，其中，所述光斑是通过单点激光测距装置向所述待测量物体顶部发射激光在所述待测量物体顶部形成的光斑；
处理模块，用于在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息；
计算模块，用于根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的宽度信息；
和/或，
根据所述光斑的实际尺寸信息，在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述待测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息，确定所述待测量物体的长度信息。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述光斑的实际尺寸信息由所述单点激光测距装置的设置位置、发射状态以及光斑个数确定。
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