CN108007318A - 一种孔深专用检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种孔深专用检测装置，用于插入待测孔底部且其纵向中心轴线与待测孔的中心线轴线重合的标准量块；位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块；所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块，以实现当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时能够使待测孔的深度合格。应用该装置，所述标准量块分别与所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块的高度差均可有待测孔的公差转化而来，无需读数，节省了时间，提高了精度，故可以快速准确地检测孔深是否合格。

Description

一种孔深专用检测装置

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种孔深专用检测装置。

背景技术

一台机器通常包括若干个零部件，各个零部件之间的连接需要各种孔，例如，基准孔、螺钉孔、减重孔等。以基准孔为例，基准孔是工件加工或装配的依据，影响着整个工件的加工精度，自然，测量已加工的基准孔的直径、深度、直线度等就显得尤为必要。因此，测量孔深是非常必要。

然而，现有的测量孔深的装置有以下两种：

一是，使用深度游标卡尺测量孔的深度，测量时，通常先将游标卡尺的测量基座的端面紧靠在待测孔的端面上，然后将尺身伸进待测孔中，并保证尺身的与待测孔的中心线平行，然后读取数值，则尺身端面至测量基座端面之间的距离便变为待测孔的深度。因此，尺身与工件的中心轴线不平行，或者读数视线不与刻度线相垂直等因素，均会造成待测孔的深度测量结果不准，精度较低。

二是，同时使用游标卡尺和测量销测量孔的深度，测量时，通常将与待测孔相吻合的测量销放入待测孔中，并在测量销上标出待测孔的实际深度值，再用游标卡尺测量测量销上的标准深度，测量结果比仅使用深度游标卡尺的测量结果准确，精度较高，但是在测量中仍需要安装测量销、测量数值、读取数值、比较数值，操作过程复杂，测量效率低。

因此，如何快速准确地测量孔深是否合格，是本领域的技术人员目前要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种孔深专用检测装置，可以快速准确地检测孔深是否合格。

其具体方案如下：

本发明提供一种孔深专用检测装置，包括：

用于插入待测孔底部且其纵向中心轴线与待测孔的中心线轴线重合的标准量块；

位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块；

其中，所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块，以实现当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时能够使待测孔的深度合格。

优选地，所述测量块为具有用于供所述标准量块穿过的中心孔的整体式测量块。

优选地，所述整体式测量块的中心轴线与所述标准量块的中心轴线重合。

优选地，所述整体式测量块的中心孔的内壁与所述标准量块的外周相吻合。

优选地，所述整体式测量块的外周为圆柱形。

优选地，所述标准量块为圆柱销。

优选地，还包括安装于所述整体式测量块且能够与所述标准量块相接触、用于固定所述标准量块的紧固件。

相对于背景技术，本发明所提供的孔深专用检测装置，包括用于插入待测孔底部的标准量块，其中，所述标准量块的纵向中心轴线与待测孔的中心轴线重合。因此，待测孔的深度便是所述标准量块的量块的一部分，可以用所述标准量块检测待测孔的深度。

本发明还包括位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块；所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块。

又由于所述标准量块、所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块三者的高度均是可以预设的。如果设所述标准量块的高度为A，所述最大孔深测量块的高度为B，所述最小孔深测量块的高度为C，待测孔的上偏差为ES，待测孔的下偏差为EI。又由于所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块在同一在待测孔的平面上，故所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块高度差为待测孔的公差，即ES-EI＝C-B。当待测孔的深度加工到最大时，所述标准量块与所述最大孔深测量块的高度齐平，待测孔的最大深度为A-B；当待测孔的深度加工到最小时，所述标准量块与所述最小孔深测量块的高度齐平，待测孔的最小深度为A-C，故待测孔的深度差(A-B)-(A-C)＝C-B＝ES-EI。

因此，当待测孔的深度大于最大极限深度时，所述最大孔深测量块顶部和所述最小孔深测量块顶部分别到待测孔底部的距离均变大，相应地，所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块高度均上升，当所述标准量块的高度低于所述最大孔深测量块的高度时，待测孔深度不合格。

同理，当待测孔的深度小于最小极限深度时，所述最大孔深测量块和所述最小孔深测量块高度均下降，当所述标准量块的高度高于所述最小孔深测量块的高度时，待测孔深度不合格。

由此可知，当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时，待测孔的深度合格；否则，不合格。因此，所述测量块顶部到所述标准量块顶部之差即为待测孔所允许的上、下偏差尺寸，可以将待测孔的公差转换为所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部分别与所述标准量块的顶部的高度差。

在检测待测孔深度时，仅需将所述标准量块放入待测孔中，判断所述标准量块的顶部分别与所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间的高度差便可。因而在判断待测孔的实际加工深度是否合格时，测量人员仅需用手触摸或者眼睛目测等手段便可判断所述标准量块的顶部分别与所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间的高度差，无需读数，一方面避免了反复读数，提升了测量精度；另一方面避免了反复调整量具，提高了测量速度。

因此，本发明所提供的孔深专用检测装置，可以快速准确地检测孔深是否合格。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明具体实施例所提供的一种孔深专用检测装置的剖面结构示意图；

图2为本发明具体实施例所提供的一种孔深专用检测装置使用时的剖面结构示意图。

附图标记如下：

标准量块1、测量块2和紧固件3；

最大孔深测量块21和最小孔深测量块22。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明。

请参考图1和图2，图1为本发明具体实施例所提供的一种孔深专用检测装置的剖面结构示意图；图2为本发明具体实施例所提供的一种孔深专用检测装置使用时的剖面结构示意图。

本发明实施例公开了一种孔深专用检测装置，包括标准量块1、测量块2和紧固件3。

标准量块1主要用于插入待测孔底部，以便检测待测孔的实际加工深度。为了准确检测待测孔的实际加工深度，标准量块1的纵向中心轴线与待测孔的中心轴线重合，避免测量误差偏大。在该具体实施例中，标准量块1具体为圆柱销，为了测量准确，该圆柱销的外径与待测孔的孔径相同，以免在测量时标准量块1发生偏转，影响测量精度。重要的是，该圆柱销的底面必须与待测孔的底面完全吻合，否则测量结果不准确。另外，标准量块1必须具有较高的加工精度，否则也会影响测量结果。标准量块1的高度是可以提前预设的。当然，标准量块1也可以用其它形式的标准量块替代，并不影响实现本发明的目的。

测量块2位于待测孔的顶部，一般地，待测孔的顶部为水平面，故测量块2的就相当于向上延伸待测孔的深度。

测量块2的必须保证与标准量块1的中心轴线保持平行，如果不平行，则表示测量块2发生倾斜，故测量块2的基准高度便出现偏差，影响测量精度。

测量块2包括最大孔深测量块21和最小孔深测量块22，主要用于判断待测孔深度是否合格。其中，最大孔深测量块21的高度低于最小孔深测量块22的高度，且两者的高度差可设为待测孔的深度公差。在该具体实施例中，测量块2为整体式，但是其中心开设有用于供标准量块1穿过的中心孔。为了保证插入测量块2中的标准量块1在测量时不会发生晃动，该中心孔的内壁必须与标准量块1的外周相吻合，且该中心孔的中心轴线必须与标准量块1的中心轴线重合。由于标准量块1的外周为圆柱形，故中心孔的内壁也为圆柱形。具体地，测量块2的外周为圆柱形，当然，也可以是方形，或者其他规则的多边形，并不影响实现本发明的目的。当然，测量块2也可以是分体式或者组合式，其结构不限于此。测量块2上下底面必须具有较高的加工精度，以便获取准确的测量结果；同时，测量块2的还必须有足够的强度和刚度，以防磨损或变形，从而影响检测结果。

同标准量块1的高度一样，最大孔深测量块21和最小孔深测量块22的高度也可以预设。不过标准量块1和测量块2预设值均可以依据待批量加工的孔的设计尺寸而定。由于一个标准量块1仅能够用于测量一种深度尺寸的加工孔，一套测量块2仅能够用于测量一种公差尺寸的加工孔，故不同的孔深可以选用不同的标准量块，不同的尺寸公差可以选用不同的测量块。

设标准量块1的高度为A，最大孔深测量块21的高度为B，最小孔深测量块21的高度为C，待测孔的上偏差为ES，待测孔的下偏差为EI。又由于最大孔深测量块21和最小孔深测量块21在同一在待测孔的平面上，故待测孔的公差为最大孔深测量块21和最小孔深测量块21高度差，即ES-EI＝C-B。当待测孔的深度加工到最大时，标准量块1与最大孔深测量块21的高度齐平，待测孔的最大深度为A-B；当待测孔的深度加工到最小时，标准量块1与最小孔深测量块21的高度齐平，待测孔的最小深度为A-C，故待测孔的深度差(A-B)-(A-C)＝C-B＝ES-EI。因此，当待测孔的深度大于最大极限深度时，标准量块1的高度低于最大孔深测量块21的高度；同理，当待测孔的深度小于最小极限深度时，标准量块1的高度高于最小孔深测量块21的高度；待测孔深度均不合格。

因此，测量块2顶部到标准量块1顶部之差即为待测孔所允许的上、下偏差尺寸，可以将待测孔的公差转换为最大孔深测量块21的顶部和最小孔深测量块21的顶部分别与标准量块1的顶部的高度差。

在检测待测孔深度时，仅需将标准量块1放入待测孔中，判断标准量块1的顶部分别与最大孔深测量块21的顶部和最小孔深测量块21的顶部之间的高度差便可。因而测量人员仅需用手触摸或者眼睛目测等手段替代读数便可判断待测孔的深度是否合格，使测量精度和测量速度均有所提升。

另外，本发明还包括安装于整体式测量块2上且能够与标准量块1相接触、用于所述标准量块1的紧固件3。在该具体实施例中，紧固件3具体为固定在最大孔深测量块21上的紧定螺钉，当然，也可以固定在最小孔深测量块22，且紧定螺钉的个数不止一个。当然，也可以用其他紧固件替代紧定螺钉，并不影响实现本发明的目的。

综上所述，本发明所提供的孔深专用检测装置，包括标准量块1和测量块2，测量块2又包括最大孔深测量块21和最小孔深测量块22，标准量块1分别与最大孔深测量块21和最小孔深测量块22的高度差均可有待测孔的公差转化而来，无需读数，节省了时间，提高了精度，因此可以快速准确地检测孔深是否合格。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的孔深专用检测装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施例及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (7)

1.一种孔深专用检测装置，其特征在于，包括：

用于插入待测孔底部且其纵向中心轴线与待测孔的中心线轴线重合的标准量块；

位于待测孔顶部且与所述标准量块的中心轴线相平行、用于判断待测孔深度是否合格的测量块；

其中，所述测量块包括用于检测待测孔所允许的最大孔深的最大孔深测量块和用于检测待测孔所允许的最小孔深的最小孔深测量块，以实现当所述标准量块的顶部在所述最大孔深测量块的顶部和所述最小孔深测量块的顶部之间时能够使待测孔的深度合格。

2.根据权利要求1所述的孔深专用检测装置，其特征在于，所述测量块为具有用于供所述标准量块穿过的中心孔的整体式测量块。

3.根据权利要求2所述的孔深专用检测装置，其特征在于，所述整体式测量块的中心轴线与所述标准量块的中心轴线重合。

4.根据权利要求2所述的孔深专用检测装置，其特征在于，所述整体式测量块的中心孔的内壁与所述标准量块的外周相吻合。

5.根据权利要求2所述的孔深专用检测装置，其特征在于，所述整体式测量块的外周为圆柱形。

6.根据权利要求5所述的孔深专用检测装置，其特征在于，所述标准量块为圆柱销。

7.根据权利要求2至6任一项所述的孔深专用检测装置，其特征在于，还包括安装于所述整体式测量块且能够与所述标准量块相接触、用于固定所述标准量块的紧固件。