CN107995054A - 一种集中测试装置、方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集中测试装置、方法及系统，其中装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

Description

一种集中测试装置、方法及系统

技术领域

本发明涉及通信领域中的测试技术，尤其涉及一种集中测试装置、方法及系统。

背景技术

为了适应5G多样的场景需求，随着近几年4G网络大规模的部署，移动网络性能得到了跨越式的提升，客观上培养了移动用户的使用习惯，同步提升了对网络更高速率、更低延迟需求。在5G移动通信系统中引入的更大规模的MIMO技术，通信设备的天线数由LTE时代最大8天线增大到64天线，乃至128以及更大规模的天线阵。能巨大提升无线速率流量，但由于5G移动基站的天线规模数巨大，并且一般采用一体化天线技术，由此给基站的测试造成了严峻的挑战。在基站系统测试中，一般要包含衰减器、线缆以及一些其他必要的射频测试器件及转接头，由于5G的端口及天线规模巨大，造成测试环境极为复杂，频繁的手动连接及切换测试通道造成了人工工作量极大，以及必然随之而来的不可靠性，都给5G基站测试带来了困难。

目前在基站通信测试领域，有部分开关系统产品可以实现多通道的切换，但功能及集成度较低，未能集成必要的射频器件，需要另外搭建复杂的附加的测试环境，同时不支持多台级联，当通道数在目前的基础上再提升时需要升级测试系统。5G基站系统具有64路或者以上的通道数，且普遍采用天线一体化的设计，进行射频等指标测试时需要将天线断开，逐个连接射频收发通道，工作量巨大且稳定性较低。由于采用天线断开后转接的方式，设备无法或者不能可靠的进行振动、温湿等环境测试。除此之外，目前的产品操作方式人性化较差，不能很好的解决目前5G基站测试带来的上述挑战。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种集中测试装置、方法及系统，能至少解决现有技术中存在的上述问题。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种集中测试装置，所述装置包括：

射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

一种集中测试方法，所述方法包括：

射频开关阵列单元获取到指令信息，基于所述指令信息从与基站的至少一路射频通路中选取目标测试通路；

所述射频开关阵列单元从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

一种集中测试系统，所述系统包括：集中测试装置以及转换罩；其中，

所述集中测试装置，用于通过转换罩与基站的至少一路射频通路建立连接；获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

所述转换罩，用于与所述基站的至少一路射频通路建立连接。

本发明实施例提供了一种集中测试装置、方法及系统，根据控制指令信息，从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。如此，就能够使得装置具有更多的输入通道，集成度高，并且支持大规模MIMO基站的测试，还能够根据用户的指令信息进行控制，使得操作方便，并且效率较高。

附图说明

图1为本发明实施例集中测试装置结构示意图一；

图2为本发明实施例集中测试装置结构示意图二；

图3为集中测试装置的前面板示意图；

图4为本发明实施例射频开关阵列单元示意图一；

图5为本发明实施例集中测试装置结构示意图三；

图6为本发明实施例集中测试装置使用在测试中的测试系统架构示意图；

图7为集中测试装置的后面板示意图；

图8为本发明实施例射频开关阵列单元示意图二；

图9为本发明实施例集中测试方法流程示意图；

图10为本发明实施例系统组成结构示意图；

图11为本发明实施例转换罩前后面板示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。

实施例一、

本发明实施例提供了一种集中测试装置，如图1所示，包括：

射频开关阵列单元11，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

控制单元12，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

集中测试装置的功能是输入端连接5G基站设备的64路天线口，经过内部开关交换后，将指定的某一路天线口与信号源和频谱仪连接。本发明中5G移基站设备与集中测试装置之间采用集束射频接口连接，采用集束射频接口后，5G基站设备的64路输出可简化为4路，大幅降低测试复杂度，提高测试效率及测试可靠性。

本实施例中所述选取至少一个目标测试通路，可以为从所述64路射频通路中选取一个或四个。相应的，当选取一个目标测试通路时，可以连接一个频谱测试仪以及一个信号源；当选取四个目标测试通路时，可以连接四个频谱测试仪以及四个信号源。

参见图2以及图3，所述集中测试装置具备前面板以及背板；所述装置还包括：

显示单元13，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的选取操作界面；比如参见图3，在图3中可以看出显示单元的交互操作界面显示在前面板；

相应的，所述控制单元12，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。

其中，所述操作信息可以为显示单元获取到的触控操作信息。

控制单元12，也就是主板(MCU)，用于接收用户输入的控制信息，将控制信息转化为开关动作信号，并将信号传递给从板。支持的用户输入方式包括：触摸控制、远程控制以及级联控制。

进一步地，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；

相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

图3所示为集中测试装置的前面板示图，前面板包括可触摸交互的高清显示屏，与信号源以及频谱仪连接的仪表连接头；由于本装置可以支持64选1、或者4个16选1，前面板的仪表连接头数量为8个，两两一组分别连接信号源及频谱仪。

进一步地，参见图4，所述射频开关阵列单元，至少包括：

第一开关子模块41，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；

环形器43，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。

具体来说，射频开关阵列为本发明的核心部分，用于将用户指定的通道连接至测试仪表。

第一开关子模块41支持最大64路输入。阵列中输入部分使用SP8T同轴射频开关，每八路输入信号连接至一个SP8T开关中。将每两个SP8T使用DPDT开关连接，组成四个模块，每个模块即支持通过环形器连接至仪表，也支持四个模块合一后通过环形器连接至仪表，提高了设备的通用性。设备即支持64选1(单独测试某一个通道)，也支持四个16选1(同时测试4个通道)。

环形器的作用是实现射频信号的方向性导通，收发信号的隔离。

进一步地，如图5所示，所述装置还包括：

从控制单元14，用于接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平，并发送所述控制电平至所述射频开关阵列单元；

相应的，所述射频开关阵列单元11，具体用于根据所述从控制单元发来的控制电平从第一开关子模块的所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。

从控制单元，进行开关控制，用于接收控制单元来的开关动作信号，并将信号转换为射频开关需要的电平，控制射频开关的动作，完成用户指定的动作。

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号通过与所述环形器的N个测试连接口连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；

和/或，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行上行行测试时，通过与所述集中测试装置的前面板的N个仪表连接头连接的N个测试连接口接收到所述信号源发送的射频上行测试信号，通过所述至少一路目标测试通路将上行输出信号发送至基站。

具体来说，比如，参见图6，在下行测试中，5G基站设备发射的射频信号经过集中测试装置开关交换后输出给频谱仪，由频谱仪完成射频指标的测试；在上行测试中信号源输出的射频信号，经过集中测试装置开关交换后，输出给5G基站设备。进一步地，通过图6提供的连接图，能够看出还可以外接一个测试PC，通过测试PC得到并显示最终的测试结果。

另外，在上述实施例提供的装置的组成结构之上，本实施例提供的集中测试装置还可以多个进行级联，也就是说，能够通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。具体如下：

参见图7，所述集中测试装置的背板中至少设置有针对至少一个射频通路的射频接口、以及两个级联接口；其中，

所述两个级联接口中的第一级联接口，用于获取到级联输入信息；

所述两个级联接口中的第二级联接口，用于输出级联输出信息；其中，图7中的第一级联接口以及第二级联接口不做限定，根据实际情况进行设置，比如，可以为左侧的为第一级联接口，右侧为第二级联接口，反之也可，本实施例不对其进行限定；

相应的，

所述控制单元，还用于若获取到级联输出信息，则通过从控制单元发送所述级联输出信息至射频开关阵列单元；以及若通过所述第一级联接口接收到级联输入信息，则将所述级联输入信息通过从控制单元发送至射频开关阵列单元；

所述射频开关阵列单元，还用于将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

也就是说，本实施例带有一路级联输入口和级联输出口，通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。

参见图8，所述射频开关阵列单元，还包括：

第二开关子模42，用于当接收到所述从控制单元发来的级联输入信息时，根据所述级联输入信息，控制从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，并将选出的所述至少一路目标测试通路连接至N个测试连接口；

以及当接收到所述从控制单元发来的级联输出信息时，将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

射频开关阵列为本发明的核心，功能是将用户指定的输入口与测试仪表连接，同时支持与另一台H5GTS级联，实现端口数目及可支持通道数的扩展。在级联模式下，上级设备接收用户输入信号，将不属于本级的控制信息传递给下一级，下级设备收到信息后完成用户指定的动作。

最后，如图5所示，本实施例提供的所述装置还包括：供电单元15，至少用于为控制单元提供电力。

需要说明的是，本实施例输入接口采用集束射频接头是本发明的另一个核心部分。采用集束射频接头，可靠性高，便于安装、使用。级联输入口、输出口和连接仪表的八路输出口使用N型接头以提高通用性。

可见，通过采用上述方案，就能够根据用户的控制指令信息，从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。如此，就能够使得装置具有更多的输入通道，集成度高，并且支持大规模MIMO基站的测试，还能够根据用户的指令信息进行控制，使得操作方便，并且效率较高。

实施例二、

本发明实施例提供了一种集中测试方法，如图9所示，包括：

步骤901：射频开关阵列单元获取到指令信息，基于所述指令信息从与基站的至少一路射频通路中选取目标测试通路；

步骤902：所述射频开关阵列单元从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

所述射频开关阵列单元的功能是输入端连接5G基站设备的64路天线口，经过内部开关交换后，将指定的某一路天线口与信号源和频谱仪连接。本发明中5G移基站设备与所述射频开关阵列单元之间采用集束射频接口连接，采用集束射频接口后，5G基站设备的64路输出可简化为4路，大幅降低测试复杂度，提高测试效率及测试可靠性。

本实施例中所述选取至少一个目标测试通路，可以为从所述64路射频通路中选取一个或四个。相应的，当选取一个目标测试通路时，可以连接一个频谱测试仪以及一个信号源；当选取四个目标测试通路时，可以连接四个频谱测试仪以及四个信号源。

所述方法还包括：

通过交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的选取操作界面；

解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。

其中，所述操作信息可以为显示单元获取到的触控操作信息。

控制单元，也就是主板(MCU)，用于接收用户输入的控制信息，将控制信息转化为开关动作信号，并将信号传递给从板。支持的用户输入方式包括：触摸控制、远程控制以及级联控制。

进一步地，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；

相应的，所述方法还包括：

所述射频开关阵列单元通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

图3所示为集中测试装置的前面板示图，前面板包括可触摸交互的高清显示屏，与信号源以及频谱仪连接的仪表连接头；由于本装置可以支持64选1或者4个16选1，前面板的仪表连接头数量为8个，两两一组分别连接信号源及频谱仪。

进一步地，参见图4，所述射频开关阵列单元，至少包括：

第一开关子模块41，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；

环形器43，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。

具体来说，射频开关阵列为本发明的核心部分，用于将用户指定的通道连接至测试仪表。

第一开关子模块41支持最大64路输入。阵列中输入部分使用SP8T同轴射频开关，每八路输入信号连接至一个SP8T开关中。将每两个SP8T使用DPDT开关连接，组成四个模块，每个模块即支持通过环形器连接至仪表，也支持四个模块合一后通过环形器连接至仪表，提高了设备的通用性。设备即支持64选1(单独测试某一个通道)，也支持4个16选1(同时测试4个通道)。

环形器的作用是实现射频信号的方向性导通，收发信号的隔离。

进一步地，所述射频开关阵列单元获取到指令信息，基于所述指令信息从与基站的至少一路射频通路中选取目标测试通路，包括：

接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平；

根据所述控制电平从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。

所述射频开关阵列单元从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源，包括：

针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；

和/或，

针对所述至少一路目标测试通路进行上行行测试时，通过接收到所述信号源发送的射频上行测试信号，通过所述至少一路目标测试通路将上行输出信号发送至基站。

具体来说，比如，参见图6，在下行测试中，5G基站设备发射的射频信号经过集中测试装置开关交换后输出给频谱仪，由频谱仪完成射频指标的测试；在上行测试中信号源输出的射频信号，经过集中测试装置开关交换后，输出给5G基站设备。进一步地，通过图6提供的连接图，能够看出还可以外接一个测试PC，通过测试PC得到并显示最终的测试结果。

另外，在上述实施例提供的装置的组成结构之上，本实施例提供的集中测试装置还可以多个进行级联，也就是说，能够通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。具体如下：

参见图7，所述集中测试装置的背板中至少设置有针对至少一个射频通路的射频接口、以及两个级联接口；其中，

所述两个级联接口中的第一级联接口，用于获取到级联输入信息；

所述两个级联接口中的第二级联接口，用于输出级联输出信息；其中，图7中的第一级联接口以及第二级联接口不做限定，根据实际情况进行设置，比如，可以为左侧的为第一级联接口，右侧为第二级联接口，反之也可，本实施例不对其进行限定；

所述方法还包括：

若获取到级联输出信息，则通过从控制单元发送所述级联输出信息至射频开关阵列单元；以及若通过所述第一级联接口接收到级联输入信息，则将所述级联输入信息通过从控制单元发送至射频开关阵列单元。

也就是说，本实施例带有一路级联输入口和级联输出口，通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。

射频开关阵列为本发明的核心，功能是将用户指定的输入口与测试仪表连接，同时支持与另一台H5GTS级联，实现端口数目及可支持通道数的扩展。在级联模式下，上级设备接收用户输入信号，将不属于本级的控制信息传递给下一级，下级设备收到信息后完成用户指定的动作。

需要说明的是，本实施例输入接口采用集束射频接头是本发明的另一个核心部分。采用集束射频接头，可靠性高，便于安装、使用。级联输入口、输出口和连接仪表的八路输出口使用N型接头以提高通用性。

可见，通过采用上述方案，就能够根据用户的控制指令信息，从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。如此，就能够使得装置具有更多的输入通道，集成度高，并且支持大规模MIMO基站的测试，还能够根据用户的指令信息进行控制，使得操作方便，并且效率较高。

实施例三、

本发明实施例提供了一种集中测试系统，如图10所示，所述系统包括：集中测试装置1001以及转换罩1002；其中，

所述集中测试装置1001，用于通过转换罩与基站的至少一路射频通路建立连接；获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

所述转换罩1002，用于与所述基站的至少一路射频通路建立连接。

集中测试装置1001的功能是输入端连接5G基站设备的64路天线口，经过内部开关交换后，将指定的某一路天线口与信号源和频谱仪连接。本发明中5G移基站设备与集中测试装置1001之间采用集束射频接口连接，采用集束射频接口后，5G基站设备的64路输出可简化为4路，大幅降低测试复杂度，提高测试效率及测试可靠性。

本实施例中所述选取至少一个目标测试通路，可以为从所述64路射频通路中选取一个或四个。相应的，当选取一个目标测试通路时，可以连接一个频谱测试仪以及一个信号源；当选取四个目标测试通路时，可以连接四个频谱测试仪以及四个信号源。

参见图2以及图3，所述集中测试装置1001具备前面板以及背板；所述装置还包括：

显示单元13，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的选取操作界面；比如参见图3，在图3中可以看出显示单元的交互操作界面显示在前面板；

相应的，所述控制单元12，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。

其中，所述操作信息可以为显示单元获取到的触控操作信息。

控制单元12，也就是主板(MCU)，用于接收用户输入的控制信息，将控制信息转化为开关动作信号，并将信号传递给从板。支持的用户输入方式包括：触摸控制、远程控制以及级联控制。

进一步地，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为二的整数倍；

相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

图3所示为集中测试装置的前面板示图，前面板包括可触摸交互的高清显示屏，与信号源以及频谱仪连接的仪表连接头；由于本装置可以支持64选1或者4个16选一，前面板的仪表连接头数量为8个，两两一组分别连接信号源及频谱仪。

进一步地，参见图4，所述射频开关阵列单元，至少包括：

第一开关子模块41，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；

环形器43，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。

具体来说，射频开关阵列为本发明的核心部分，用于将用户指定的通道连接至测试仪表。

第一开关子模块41支持最大64路输入。阵列中输入部分使用SP8T同轴射频开关，每八路输入信号连接至一个SP8T开关中。将每两个SP8T使用DPDT开关连接，组成四个模块，每个模块即支持通过环形器连接至仪表，也支持四个模块合一后通过环形器连接至仪表，提高了设备的通用性。设备即支持64选一(单独测试某一个通道)，也支持四个16选一(同时测试4个通道)。

环形器的作用是实现射频信号的方向性导通，收发信号的隔离。

进一步地，如图5所示，所述装置还包括：

从控制单元14，用于接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平，并发送所述控制电平至所述射频开关阵列单元；

相应的，所述射频开关阵列单元11，具体用于根据所述从控制单元发来的控制电平从第一开关子模块的所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。

从控制单元，进行开关控制，用于接收控制单元来的开关动作信号，并将信号转换为射频开关需要的电平，控制射频开关的动作，完成用户指定的动作。

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号通过与所述环形器的N个测试连接口连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；

和/或，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行上行行测试时，通过与所述集中测试装置的前面板的N个仪表连接头连接的N个测试连接口接收到所述信号源发送的射频上行测试信号，通过所述至少一路目标测试通路将上行输出信号发送至基站。

具体来说，比如，参见图6，在下行测试中，5G基站设备发射的射频信号经过集中测试装置开关交换后输出给频谱仪，由频谱仪完成射频指标的测试；在上行测试中信号源输出的射频信号，经过集中测试装置开关交换后，输出给5G基站设备。进一步地，通过图6提供的连接图，能够看出还可以外接一个测试PC，通过测试PC得到并显示最终的测试结果。

另外，在上述实施例提供的装置的组成结构之上，本实施例提供的集中测试装置还可以多个进行级联，也就是说，能够通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。具体如下：

参见图7，所述集中测试装置的背板中至少设置有针对至少一个射频通路的射频接口、以及两个级联接口；其中，

所述两个级联接口中的第一级联接口，用于获取到级联输入信息；

所述两个级联接口中的第二级联接口，用于输出级联输出信息；其中，图7中的第一级联接口以及第二级联接口不做限定，根据实际情况进行设置，比如，可以为左侧的为第一级联接口，右侧为第二级联接口，反之也可，本实施例不对其进行限定；

相应的，

所述控制单元，还用于若获取到级联输出信息，则通过从控制单元发送所述级联输出信息至射频开关阵列单元；以及若通过所述第一级联接口接收到级联输入信息，则将所述级联输入信息通过从控制单元发送至射频开关阵列单元；

所述射频开关阵列单元，还用于将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

也就是说，本实施例带有一路级联输入口和级联输出口，通过多台设备级联，可以将输入端口扩展至128、192、254路。

参见图8，所述射频开关阵列单元，还包括：

第二开关子模42，用于当接收到所述从控制单元发来的级联输入信息时，根据所述级联输入信息，控制从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，并将选出的所述至少一路目标测试通路连接至N个测试连接口；

以及当接收到所述从控制单元发来的级联输出信息时，将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

射频开关阵列为本发明的核心，功能是将用户指定的输入口与测试仪表连接，同时支持与另一台H5GTS级联，实现端口数目及可支持通道数的扩展。在级联模式下，上级设备接收用户输入信号，将不属于本级的控制信息传递给下一级，下级设备收到信息后完成用户指定的动作。

最后，如图5所示，本实施例提供的所述装置还包括：供电单元15，至少用于为控制单元提供电力。

需要说明的是，本实施例输入接口采用集束射频接头是本发明的另一个核心部分。采用集束射频接头，可靠性高，便于安装、使用。级联输入口、输出口和连接仪表的八路输出口使用N型接头以提高通用性。

在上述基础上，参见图11所述转换罩，包括：前面板1101以及背板1102；其中，

所述转换罩的背板1102，用于直接卡合到基站的至少一路射频通路与所述至少一路射频通路建立连接；

所述转换罩的前面板1101，采用集束射频接口，通过所述集束射频接口连接线缆将至少一路射频通路与所述集中测试装置连接。

工装转换罩的功能是替换5G基站设备中的天线罩,通过工装转换罩将5G基站设备内部通道便捷可靠的转接至切换箱。图2为工装转换罩示意图。

将转换罩背板接口直接卡合到5G基站设备的64路射频收发通道接头上面。转换罩前面板板采用集束射频接口，通过集束线缆将前面板板的集束射频口与切换箱连接。

可见，通过采用上述方案，就能够根据用户的控制指令信息，从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。如此，就能够使得装置具有更多的输入通道，集成度高，并且支持大规模MIMO基站的测试，还能够根据用户的指令信息进行控制，使得操作方便，并且效率较高。

另外，单台设备即可输入64路信号，上述方案还提供了进行级联的处理方式，通过设备级联可以支持128、256天线基站的测试；

最后，本实施例通过提供转换罩将基站设备多个(如64)分离的通道，通过转换罩的背面直接连接，转换罩的正面将多个通道规范为集束接头。安装转换罩后，进行测试时就不需要多基站的多个通道频繁的进行插拔，直接集束接头实现快插拔，并且使得测试操作方便可靠。

本发明实施例所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、网络设备、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。这样，本发明实施例不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种集中测试装置，其特征在于，所述装置包括：

射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置具备前面板；所述装置还包括：

显示单元，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的内部逻辑通道的逻辑连接关系以及统段情况；

相应的，所述控制单元，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；

相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述射频开关阵列单元，至少包括：

第一开关子模块，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；

环形器，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。

5.根据权利要求1-4任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

从控制单元，用于接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平，并发送所述控制电平至所述射频开关阵列单元；

相应的，所述射频开关阵列单元，具体用于根据所述从控制单元发来的控制电平从第一开关子模块的所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号通过与所述环形器的N个测试连接口连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；

和/或，

所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行上行行测试时，通过与所述集中测试装置的前面板的N个仪表连接头连接的N个测试连接口接收到所述信号源发送的射频上行测试信号，通过所述至少一路目标测试通路将上行输出信号发送至基站。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置设置有背板，所述背板中至少设置有针对至少一个射频通路的射频接口、以及两个级联接口；其中，

所述两个级联接口中的第一级联接口，用于获取到级联输入信息；

所述两个级联接口中的第二级联接口，用于输出级联输出信息；

相应的，所述控制单元，还用于若获取到级联输出信息，则通过从控制单元发送所述级联输出信息至射频开关阵列单元；以及若通过所述第一级联接口接收到级联输入信息，则将所述级联输入信息通过从控制单元发送至射频开关阵列单元；

所述射频开关阵列单元，还用于将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述射频开关阵列单元，还包括：

第二开关子模块，用于当接收到所述从控制单元发来的级联输入信息时，根据所述级联输入信息，控制从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，并将选出的所述至少一路目标测试通路连接至N个测试连接口；

以及当接收到所述从控制单元发来的级联输出信息时，将接收到的级联输出信息通过所述第二级联接口发出。

9.一种集中测试方法，其特征在于，所述方法包括：

射频开关阵列单元获取到指令信息，基于所述指令信息从与基站的至少一路射频通路中选取目标测试通路；

所述射频开关阵列单元从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。

10.一种集中测试系统，其特征在于，所述系统包括：集中测试装置以及转换罩；其中，

所述集中测试装置，用于通过转换罩与基站的至少一路射频通路建立连接；获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；

所述转换罩，用于与所述基站的至少一路射频通路建立连接。

11.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述转换罩，包括：前面板以及背板；其中，

所述转换罩的背板，用于通过接口直接卡合到基站的至少一路射频通路与所述至少一路射频通路建立连接；

所述转换罩的前面板，设置集束射频接口，通过所述集束射频接口将至少一路射频通路与所述集中测试装置连接。