CN107918149A - 观测系统覆盖次数评价方法及系统 - Google Patents
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Abstract
公开了一种观测系统覆盖次数评价方法及系统。该方法可以包括:基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数;基于多个面元的个数与每个面元的覆盖次数,获得多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差;以及基于多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析多个面元的覆盖次数属性。本发明通过计算覆盖次数的方差,实现定量评价观测系统覆盖次数属性。
Description
技术领域
本发明涉及石油地震勘探领域,更具体地,涉及一种基于方差的观测系统覆盖次数评价方法及系统。
背景技术
在地震采集观测系统设计过程中,覆盖次数分析是必须的环节,覆盖次数的均匀性是评价观测系统好坏的重要属性之一,理论的观测系统满覆盖区域的观测系统覆盖次数是均匀一致的,但实际施工设计受地物因素的影响,很多地方是禁止放炮的,这样就需要进行避障处理,需要调整炮点的位置,炮点位置的调整直接影响观测系统覆盖次数的均匀性。传统的覆盖次数分析方法,是计算出每个面元的覆盖次数,根据每个面元覆盖次数对应的不同的颜色绘制图形,展示给设计人员,或者直接显示每个面元覆盖次数,基本上是通过人工来大致识别,重点识别最低覆盖次数是否满足要求,对于覆盖次数整体的离散程度没有科学的进行评价。因此,有必要开发一种观测系统覆盖次数评价方法及系统。
公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明提出了一种观测系统覆盖次数评价方法及系统,其能够通过计算覆盖次数的方差,实现定量评价观测系统覆盖次数属性。
根据本发明的一方面,提出了一种观测系统覆盖次数评价方法。所述方法可以包括:基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得所述多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数;基于所述多个面元的个数与所述每个面元的覆盖次数,获得所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差;以及基于所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析所述多个面元的覆盖次数属性。
根据本发明的另一方面,提出了一种观测系统覆盖次数评价系统,所述系统可以包括:用于基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得所述多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数的单元;用于基于所述多个面元的个数与所述每个面元的覆盖次数,获得所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差的单元;以及用于基于所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析所述多个面元的覆盖次数属性的单元。
本发明的方法和装置具有其它的特性和优点,这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的,或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述,这些附图和具体实施方式共同用于解释本发明的特定原理。
附图说明
通过结合附图对本发明示例性实施方式进行更详细的描述,本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显,其中,在本发明示例性实施方式中,相同的参考标号通常代表相同部件。
图1示出了根据本发明的观测系统覆盖次数评价方法的步骤的流程图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明。虽然附图中显示了本发明的优选实施方式,然而应该理解,可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反,提供这些实施方式是为了使本发明更加透彻和完整,并且能够将本发明的范围完整地传达给本领域的技术人员。
实施方式1
图1示出了根据本发明的观测系统覆盖次数评价方法的步骤的流程图。
在该实施方式中,根据本发明的观测系统覆盖次数评价方法可以包括:步骤101,基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数;步骤102,基于多个面元的个数与每个面元的覆盖次数,获得多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差;以及步骤103,基于多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析多个面元的覆盖次数属性。
该实施方式通过计算覆盖次数的方差,实现评价观测系统覆盖次数属性。通常,覆盖次数方差值越小,观测系统覆盖次数越均匀。
下面详细说明根据本发明的观测系统覆盖次数评价方法的具体步骤。
在一个示例中,基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,可以获得多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数。
在一个示例中,计算每个面元的覆盖次数可以包括:对于计算共中心点道集的覆盖次数,通过计算几何的方法,获得每个面元的共中心点道集的覆盖次数;对于计算共深度点道集的覆盖次数,选择计算目的层深度,通过计算几何的方法,获得每个面元的共深度点道集的覆盖次数;以及对于计算共反射点道集的覆盖次数,指定目的层,通过射线追踪的方法,获得每个面元的共反射点道集的覆盖次数。
具体地,基于确定的观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得多个面元的总个数,并计算每个面元的覆盖次数。如果是计算共中心点道集的覆盖次数,采用计算几何的方法得到每个面元的共中心点道集的覆盖次数;对于计算共深度点道集的覆盖次数,预先选择计算目的层深度,再用计算几何方法得到每个面元的共深度点道集的覆盖次数;对于计算共反射点道集的覆盖次数需要指定目的层,然后通过两点射线追踪的方法,计算目的层每个面元的覆盖次数。本领域技术人员可以根据需要计算的道集类型选择合适的方法计算覆盖次数。
在一个示例中,基于多个面元的个数与每个面元的覆盖次数,可以获得多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差。
在一个示例中,获得多个面元的平均覆盖次数可以为:
其中,表示面元平均覆盖次数,n表示面元个数,ai表示每个面元覆盖次数。
在一个示例中,获得多个面元的覆盖次数方差可以为:
其中,s2表示面元覆盖次数方差。
具体地,基于多个面元的个数与每个面元的覆盖次数,带入公式(1),获得多个面元的平均覆盖次数,进而根据公式(2),获得多个面元的覆盖次数方差。
在一个示例中,基于多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,可以分析多个面元的覆盖次数属性。通常,覆盖次数方差值越小,观测系统覆盖次数越均匀。
基于多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,评价覆盖次数属性的均匀性。
综上所述,本方法通过计算覆盖次数的方差,实现定量评价观测系统覆盖次数属性。
实施方式2
根据本发明的实施方式,提供了一种观测系统覆盖次数评价系统,所述系统可以包括:用于基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数的单元;用于基于多个面元的个数与每个面元的覆盖次数,获得多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差的单元;以及用于基于多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析多个面元的覆盖次数属性的单元。
该实施方式通过计算覆盖次数的方差,实现定量评价观测系统覆盖次数属性。
在一个示例中,计算每个面元的覆盖次数可以包括:对于计算共中心点道集的覆盖次数,通过计算几何的方法,获得每个面元的共中心点道集的覆盖次数;对于计算共深度点道集的覆盖次数,选择计算目的层深度,通过计算几何的方法,获得每个面元的共深度点道集的覆盖次数;以及对于计算共反射点道集的覆盖次数,指定目的层,通过射线追踪的方法,获得每个面元的共反射点道集的覆盖次数。
在一个示例中,获得多个面元的平均覆盖次数可以为:
其中,表示面元平均覆盖次数,n表示面元个数,ai表示每个面元覆盖次数。
在一个示例中,获得多个面元的覆盖次数方差可以为:
其中,s2表示面元覆盖次数方差。
综上所述,本系统通过计算覆盖次数的方差,实现定量评价观测系统覆盖次数属性。
本领域技术人员应理解,上面对本发明的实施方式的描述的目的仅为了示例性地说明本发明的实施方式的有益效果,并不意在将本发明的实施方式限制于所给出的任何示例。
以上已经描述了本发明的各实施方式,上述说明是示例性的,并非穷尽性的,并且也不限于所披露的各实施方式。在不偏离所说明的各实施方式的范围和精神的情况下,对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择,旨在最好地解释各实施方式的原理、实际应用或对市场中的技术的改进,或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施方式。
Claims (8)
1.一种观测系统覆盖次数评价方法,包括:
基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得所述多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数;
基于所述多个面元的个数与所述每个面元的覆盖次数,获得所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差;以及
基于所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析所述多个面元的覆盖次数属性。
2.根据权利要求1所述的观测系统覆盖次数评价方法,其中,计算所述每个面元的覆盖次数包括:
对于计算共中心点道集的覆盖次数,通过计算几何的方法,获得每个面元的共中心点道集的覆盖次数;
对于计算共深度点道集的覆盖次数,选择计算目的层深度,通过计算几何的方法,获得每个面元的共深度点道集的覆盖次数;以及
对于计算共反射点道集的覆盖次数,指定目的层,通过射线追踪的方法,获得每个面元的共反射点道集的覆盖次数。
3.根据权利要求1所述的观测系统覆盖次数评价方法,其中,获得所述多个面元的平均覆盖次数为:
<mrow>
<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
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<mo>=</mo>
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<munderover>
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</munderover>
<msub>
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<mi>i</mi>
</msub>
</mrow>
其中,表示面元平均覆盖次数,n表示面元个数,ai表示每个面元覆盖次数。
4.根据权利要求3所述的观测系统覆盖次数评价方法,其中,获得所述多个面元的覆盖次数方差为:
<mrow>
<msup>
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<mn>2</mn>
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<mo>=</mo>
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<mo>=</mo>
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</msub>
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<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>)</mo>
</mrow>
<mn>2</mn>
</msup>
</mrow>
其中,s2表示面元覆盖次数方差。
5.一种观测系统覆盖次数评价系统,包括:
用于基于观测系统,确定分析面元的大小,确定分析范围,获得所述多个面元的个数,并计算每个面元的覆盖次数的单元;
用于所述多个面元的个数与基于所述每个面元的覆盖次数,获得所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差的单元;以及
用于基于所述多个面元的平均覆盖次数与覆盖次数方差,分析所述多个面元的覆盖次数属性的单元。
6.根据权利要求5所述的观测系统覆盖次数评价系统,其中,计算所述每个面元的覆盖次数包括:
对于计算共中心点道集的覆盖次数,通过计算几何的方法,获得每个面元的共中心点道集的覆盖次数;
对于计算共深度点道集的覆盖次数,选择计算目的层深度,通过计算几何的方法,获得每个面元的共深度点道集的覆盖次数;以及
对于计算共反射点道集的覆盖次数,指定目的层,通过射线追踪的方法,获得每个面元的共反射点道集的覆盖次数。
7.根据权利要求5所述的观测系统覆盖次数评价系统,其中,获得所述多个面元的平均覆盖次数为:
<mrow>
<mover>
<mi>a</mi>
<mo>&OverBar;</mo>
</mover>
<mo>=</mo>
<mfrac>
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</munderover>
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<mi>i</mi>
</msub>
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其中,表示面元平均覆盖次数,n表示面元个数,ai表示每个面元覆盖次数。
8.根据权利要求7所述的观测系统覆盖次数评价系统,其中,获得所述多个面元的覆盖次数方差为:
<mrow>
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<mi>i</mi>
</msub>
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<mi>a</mi>
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其中,s2表示面元覆盖次数方差。
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Citations (4)
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US20020100327A1 (en) * | 2000-12-04 | 2002-08-01 | Weatherford International, Inc. | Method and system for determining the speed of sound in a fluid within a conduit |
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