CN104730217A - 一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

Description

一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置。

背景技术

目前，显示产品在生产过程中会出现一定的不良缺陷，且不良缺陷大多有一定的区域趋向性，表现为集中在某一区域发生聚集，针对发生的不良缺陷聚集，现有技术中对于显示产品的不良聚集基本上都是肉眼查看，肉眼观测显示产品上的不良缺陷聚集很费时费事，因为大部分显示产品是不会发生严重聚集的，因此肉眼观测无法保证精确地观测出显示产品的不良缺陷分布情况，且易造成漏检，增大了量产风险。

因此，如何保证精确的观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，从而减少量产风险，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，用以解决现有技术中存在的肉眼观测显示产品上的不良缺陷聚集很费时费事且无法保证精确地观测出显示产品的不良缺陷分布情况的问题。

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法，所述玻璃基板上包括多个显示面板，所述显示方法包括：

根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，还包括：

对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，具体包括：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，还包括：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示方法中，将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，具体包括：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

本发明实施例提供了一种采用本发明实施例提供的上述玻璃基板的缺陷分布显示方法的显示装置，包括：检测单元、分析计算单元和显示单元；

所述检测单元用于对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息；

所述分析计算单元用于根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

所述显示单元用于将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述分析计算单元，具体用于：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述分析计算单元，还用于：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

在一种可能的实施方式中，本发明实施例提供的上述显示装置中，所述显示单元，具体用于：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

本发明实施例的有益效果包括：

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

附图说明

图1为本发明实施例提供的玻璃基板的缺陷分布显示方法流程图；

图2为本发明实施例提供的确定玻璃基板上的缺陷分布结果的具体方法流程图；

图3为本发明实施例提供的玻璃基板上的缺陷聚集分布的示意图；

图4为本发明实施例提供的玻璃基板上的不同聚集倍数的缺陷分布比例示意图；

图5为本发明实施例提供的进行玻璃基板的缺陷分布显示的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明实施例提供的玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法，玻璃基板上包括多个显示面板，如图1所示，显示方法可以具体包括以下步骤：

S101、根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

S102、将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

本发明实施例提供的上述玻璃基板的缺陷分布显示方法中，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示方法中，还可以包括：对玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息，具体地，显示面板在生产过程中，会出现一定的不良缺陷，在生产后期则需要对显示面板进行检测，生成对应的缺陷分布结果，从而可以供工作人员观测显示面板上的不良缺陷分布情况，并对不良情况进行分析，从而进一步优化制作工艺，降低显示面板的生产成本，一般地，对显示面板进行检测时，主要确定显示面板上不良缺陷的坐标位置、大小尺寸，数量和类型等数据信息，并将这些数据信息进行分析整合，从而可以将这些数据信息生成对应显示区域的不良缺陷分布结果。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，如图2所示，可以具体包括：

S201、确定玻璃基板上每个显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

S202、根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个显示面板上缺陷的平均不良数；

S203、根据确定的每个显示面板上缺陷的实际不良数和每个显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个显示面板的缺陷聚集倍数。

具体地，本发明实施例提供的上述显示方法中，通过确定出的整个玻璃基板上所有显示面板的不良数以及玻璃基板上包括的显示面板的个数，可以计算出每个显示面板的平均不良数，这样以平均不良数为基准，将确定出的每个显示面板的实际不良数与平均不良数进行比值运算，即每个显示面板的实际不良数除以平均不良数，可以获得每个显示面板的聚集倍数，以聚集倍数表征每个显示面板的不良缺陷的聚集分布情况，聚集倍数越大，则说明该显示面板所在区域的不良缺陷越严重，这样，将聚集倍数的数据信息生成对应的缺陷分布结果，这样相关工作人员可以据此对生产工艺进行调整，及时解决工艺生产中存在的工艺问题，进一步优化生产工艺，降低显示面板的生产成本。

下面以一个具体的实施例说明本发明实施例提供的上述获得缺陷聚集分布结果的方法，具体方式如下：

例如一个玻璃基板上包括G个显示面板，经检测每个显示面板栅管的实际不良数为S1、S2……SG，整个玻璃基板上总的不良数为T，这样每个显示面板的平均不良数P＝T/G，而对于每个显示面板的聚集倍数r＝Sn/P，进而通过上述计算过程就可以得出每个显示面板上的缺陷的聚集倍数，r＝1、2、3……，代表对应的显示面板上的缺陷聚集倍数为1倍、2倍、3倍……，对应生成的缺陷聚集分布图如图3和图4所示，其中图3所示的缺陷聚集分布图标识了在玻璃基板上的对应区域的缺陷的聚集倍数，图4反映了玻璃基板上不同聚集倍数缺陷分布比例情况，从而相关工作人员根据如图3和图4所示的缺陷聚集分布情况进行分析，及时解决制作工艺中出现的问题，进而优化显示面板的制作工艺，提高显示面板面板的成品率，降低量产风险。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示方法中，根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，还可以包括：根据确定的每个显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数，具体地，本发明实施例提供的上述显示方法中，为了防止因为某个显示面板出现高发缺陷聚集，而导致其他显示面板出现的轻微缺陷聚集被忽视，因此还可以将确定的每个显示面板的实际不良数进行比值运算，即将每个显示面板的实际不良数与其余所有显示面板的实际不良数进行比值运算，以获得每个显示面板相对于其余所有显示面板的不良缺陷聚集倍数，其中选取最大的那个比值作为表征该显示面板聚集倍数的参数，这样可以进一步优化玻璃基板上各显示面板不良缺陷的分布情况，有利于工作人员更精确的观测出显示面板生产过程中出现的工艺生产问题，提高显示面板的成品率。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示方法中，将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，可以具体包括：将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示，具体地，本发明实施例提供的上述显示方法中，将检测获得的缺陷表征信息经过计算得到缺陷分布结果，进而将缺陷分布结果生成对应显示区域的直观分布图并进行显示，有利于工作人员精确地观测出显示面板上对应区域的缺陷分布情况，进而对显示面板的生产工艺进一步优化，及时解决生产工艺中存在的问题，提高显示面板的成品率，降低量产的风险。

基于同一发明构思，本发明实施例提供了一种采用本发明实施例提供的上述玻璃基板的缺陷分布显示方法的显示装置，如图5所示，可以包括：检测单元01、分析计算单元02和显示单元03；

检测单元01用于对玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息；

分析计算单元02用于根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

显示单元03用于将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

具体地，本发明实施例提供的上述显示装置中，通过检测单元01对玻璃基板上的各显示面板进行检测，获得相应的缺陷表征信息，再通过分析计算单元02对缺陷的表征信息进行整合计算，获得缺陷分布结果，进而显示单元03将缺陷分布结果生成对应显示区域的缺陷聚集分布图，这样有利于相关工作人员精确地观测出显示面板上相应区域的缺陷聚集分布情况，从而针对性处理生产工艺中出现的工艺问题，提高显示面板的成品率，降低生产成本。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置中，分析计算单元02，可以具体用于：

确定玻璃基板上每个显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个显示面板上缺陷的实际不良数和每个显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个显示面板的缺陷聚集倍数。

具体地，本发明实施例提供的上述显示装置中，分析计算单元02将将侧单元获得的缺陷表征信息进行整合计算，即通过确定出的整个玻璃基板上所有显示面板的不良数以及玻璃基板上包括的显示面板的个数，可以计算出每个显示面板的平均不良数，这样以平均不良数为基准，将确定出的每个显示面板的实际不良数与平均不良数进行比值运算，即每个显示面板的实际不良数除以平均不良数，可以获得每个显示面板的聚集倍数，以聚集倍数表征每个显示面板的不良缺陷的聚集分布情况，聚集倍数越大，则说明该显示面板所在区域的不良缺陷越严重，这样，将聚集倍数的数据信息生成对应的缺陷分布结果，这样相关工作人员可以据此对生产工艺进行调整，及时解决工艺生产中存在的工艺问题，进一步优化生产工艺，降低显示面板的生产成本。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置中，分析计算单元02，还可以用于：根据确定的每个显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数，具体地，本发明实施例提供的上述显示装置中，为了防止因为某个显示面板出现高发缺陷聚集，而导致其他显示面板出现的轻微缺陷聚集被忽视，因此还可以将确定的每个显示面板的实际不良数进行比值运算，即分析计算单元02将每个显示面板的实际不良数与其余所有显示面板的实际不良数进行比值运算，以获得每个显示面板相对于其余所有显示面板的不良缺陷聚集倍数，其中选取最大的那个比值作为表征该显示面板聚集倍数的参数，这样可以进一步优化玻璃基板上各显示面板不良缺陷的分布情况，有利于工作人员更精确的观测出显示面板生产过程中出现的工艺生产问题，提高显示面板的成品率。

在具体实施时，本发明实施例提供的上述显示装置中，显示单元03，可以具体用于：将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示，具体地，本发明实施例提供的上述显示装置中，将检测单元01检测获得的缺陷表征信息经过分析计算单元02计算得到缺陷分布结果，进而显示单元03将缺陷分布结果生成对应显示区域的直观分布图并进行显示，有利于工作人员精确地观测出显示面板上对应区域的缺陷分布情况，进而对显示面板的生产工艺进一步优化，及时解决生产工艺中存在的问题，提高显示面板的成品率，降低量产的风险。

本发明实施例提供了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示面板生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺中存在的生产问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种玻璃基板的缺陷分布显示方法，所述玻璃基板上包括多个显示面板，其特征在于，所述显示方法包括：

根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

对所述玻璃基板上的多个显示面板缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，具体包括：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，还包括：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，具体包括：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

6.一种采用如权利要求1-5任一项所述的玻璃基板的缺陷分布显示方法的显示装置，其特征在于，包括：检测单元、分析计算单元和显示单元；

所述检测单元用于对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息；

所述分析计算单元用于根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

所述显示单元用于将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

7.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述分析计算单元，具体用于：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述分析计算单元，还用于：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

9.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述显示单元，具体用于：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。