CN107832814A - 有源uhf射频标签防碰撞测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置，其中，包括一RFID标签读写器，及一待测试标签阵列，所述RFID标签读写器及所述待测试标签阵列设置于一电波暗室中，还包括一上位机，设置于所述电波暗室外，并与所述RFID标签读写器信号连接。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF射频标签的防碰撞能力进行有效的测试。
Description
技术领域
本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置及方法。
背景技术
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。
现有的射频标签技术中，有源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，其中标签读写器是配合有源UHF RFID工作的主要设备，然而，由于目前缺少对有源UHFRFID标签读写器的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源UHF RFID标签读写器流入终端领域，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置及方法。
为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：
一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置，其中，包括一RFID标签读写器，及一待测试标签阵列，所述RFID标签读写器及所述待测试标签阵列设置于一电波暗室中，还包括一上位机，设置于所述电波暗室外，并与所述RFID标签读写器信号连接。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器包括天线，所述天线正对所述待测试标签阵列中心，且与所述待测试标签阵列中心具有预定距离。
本发明的另一方面，所述预定距离为2米。
本发明的另一方面，所述待测试标签阵列中包括36枚待测试标签，两枚所述待测试标签中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
本发明的另一方面，所述待测试标签阵列中包括36枚待测试标签，及36枚参考标签，所述待测试标签与所述参考标签相互间隔的设置，且中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
本发明还包括，一种有源UHF射频标签防碰撞测试方法，其中，应用上述的有源UHF射频标签防碰撞测试装置，还包括以下步骤：
步骤1，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤2，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤3，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量；
步骤4，将待测试标签阵列中的待测试标签与相同数量的参考标签相互间隔的重新排列成待测试标签阵列；
步骤5，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤6，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤7，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量。
本发明的另一方面，所述步骤2中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
本发明的另一方面，所述步骤6中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
本发明获得了以下有益效果：
可对有源UHF射频标签防碰撞能力进行有效的测试。
附图说明
图1为本发明有源UHF射频标签防碰撞测试装置的结构示意图；
图2为本发明有源UHF射频标签防碰撞测试装置中待测试标签阵列的结构示意图；
图3为本发明有源UHF射频标签防碰撞测试装置中待测试标签与参考标签共同形成待测试标签阵列的结构示意图；
图4为本发明有源UHF射频标签防碰撞测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
本发明提供一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置，如图1所示，其中，包括一RFID标签读写器1，及一待测试标签阵列2，所述RFID标签读写器1及所述待测试标签阵列2设置于一电波暗室3中，还包括一上位机4，设置于所述电波暗室3外，并与所述RFID标签读写器1信号连接。
本发明的另一方面，所述RFID标签读写器1包括天线5，所述天线5正对所述待测试标签阵列2中心，且与所述待测试标签阵列2中心具有预定距离。
本发明的另一方面，所述预定距离为2米。
本发明的另一方面，如图2所示所述待测试标签阵列2中包括36枚待测试标签201，两枚所述待测试标签201中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
本发明的另一方面，如图3所示，所述待测试标签阵列2中包括36枚待测试标签201，及36枚参考标签202，所述待测试标签201与所述参考标签202相互间隔的设置，且中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
本发明还包括，一种有源UHF射频标签防碰撞测试方法，如图4所示，其中，应用上述的有源UHF射频标签防碰撞测试装置，还包括以下步骤：
步骤1，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤2，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤3，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量；
步骤4，将待测试标签阵列中的待测试标签与相同数量的参考标签相互间隔的重新排列成待测试标签阵列；
步骤5，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤6，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤7，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量。
本发明的另一方面，所述步骤2中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
本发明的另一方面，所述步骤6中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
以下以具体实施方式来说明本发明的可行性。
在步骤1之前，先对所有待测试标签进行初始化，初始化的内容见表1。
表1
步骤1中，RFID标签读写器的工作参数见表2，天线的设置参数见表3
| 工作频率 | 2.405 |
| 发射功率 | 0dBm |
| 调制方式 | O-QPSK |
表2
| 序号 | 指标 | 参数 |
| 1 | 工作频率 | 2.405GHz |
| 2 | 发射功率 | 0dBm |
| 3 | 天线极化方式 | 圆极化 |
| 4 | 天线增益 | 8dBic |
| 5 | 天线方向角 | 50° |
| 6 | 天线到标签天线距离(d) | 2米(到标签阵列中心) |
表3
测试要求记录的数据见表4。
表4
测试结果可根据具体需要制定相应判断合格与否的标准。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种有源UHF射频标签防碰撞测试装置，其特征在于，包括一RFID标签读写器，及一待测试标签阵列，所述RFID标签读写器及所述待测试标签阵列设置于一电波暗室中，还包括一上位机，设置于所述电波暗室外，并与所述RFID标签读写器信号连接。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述RFID标签读写器包括天线，所述天线正对所述待测试标签阵列中心，且与所述待测试标签阵列中心具有预定距离。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述预定距离为2米。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测试标签阵列中包括36枚待测试标签，两枚所述待测试标签中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测试标签阵列中包括36枚待测试标签，及36枚参考标签，所述待测试标签与所述参考标签相互间隔的设置，且中心的横向间距及纵向间距均为200mm。
6.一种有源UHF射频标签防碰撞测试方法，其特征在于，应用如权利要求1-4中任一所述的有源UHF射频标签防碰撞测试装置，还包括以下步骤：
步骤1，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤2，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤3，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量；
步骤4，将待测试标签阵列中的待测试标签与相同数量的参考标签相互间隔的重新排列成待测试标签阵列；
步骤5，所述上位机控制所述RFID标签读写器盘点所述待测试标签阵列；
步骤6，记录所述RFID标签读写器盘点所用时间；
步骤7，盘点结束后记录所述RFID标签读写器识别的所述待测试标签阵列中的待测试标签的数量。
7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述步骤2中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
8.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述步骤6中的所述盘点时间为所述RFID标签读写器从发送第一次指令至盘点结束所用时间。
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2017
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| 王明磊等: "《国标超高频射频识别产品符合性测试方法研究》", 《测控技术与仪器仪表》 * |
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