CN107703177B - 一种显微镜热台及显微熔点测量仪 - Google Patents
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Abstract
本发明是关于一种显微镜热台及显微熔点测量仪,涉及显微熔点测量仪及其配件技术领域。主要采用的技术方案为:一种显微镜热台包括外壳、滑动结构及调节装置。其中,滑动结构设置在外壳内;且滑动结构具有容置空间,用于容置承载样品的载样片;调节装置用于使滑动结构沿X轴方向和/或Y轴方向移动,以对样品的视野位置进行调节。一种显微熔点测量仪包括上述的显微镜热台。本发明主要方便调整显微镜热台上所加热样品的位置,使其处于显微镜的最佳视野观察位置。
Description
技术领域
本发明涉及一种显微熔点测量仪及其配件技术领域,特别是涉及一种显微镜热台及显微熔点测量仪。
背景技术
物质的熔点指的是物质由固态变为液态时的融熔温度。测量熔点是识别物质性能参数的基本方式。
显微熔点测量仪能观察物质在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化等物理变化过程,而广泛应用于医药、化工、纺织、橡胶等领域。其中,显微熔点测量仪主要包括显微镜热台、偏光显微镜及其他部件;而显微镜热台作为显微观察微小物质在受热条件下伴随的微观变化的专用加热装置。
本发明的发明人发现现有显微镜热台至少存在如下技术问题:
(1)现有显微镜热台只能通过移动热台整体来调整被观察样品的视野观察位置,由于被观察样品极其微小,即使极微量的移动,也会使被观察部位大大偏离视野,甚至丢失,必须经反复多次调整,才可勉强获取较好的被观察位置。所以现有热台使用极不方便;
(2)现有热台主要采用电阻丝作为发热元件,由于体积大,热容量也大,在同样加热功率的条件下,升温降温速度慢,且还使得热台体积笨重、厚度大,操作极不方便。
发明内容
有鉴于此,本发明提供一种显微镜热台及显微熔点测量仪,主要目的在于方便调整显微镜热台上所加热样品在显微镜下的视野位置。
为达到上述目的,本发明主要提供如下技术方案:
一方面,本发明的实施例提供一种显微镜热台,其中,所述显微镜热台包括:
外壳;
滑动结构,所述滑动结构设置在所述外壳内;并且,所述滑动结构具有容置空间,用于容置承载样品的载样片;
调节装置,所述调节装置用于使所述滑动结构沿X轴方向和/或Y轴方向移动,以对样品的视野位置进行调节。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
优选地,所述滑动结构包括:
滑动结构主体,所述滑动结构主体的一端开设有容置孔;优选地,所述滑动结构主体为片状结构;
容置环,所述容置环安装在所述容置孔上,且所述容置环用于容置承载样品的载样片。
优选地,所述调节装置包括Y轴调节装置;其中,所述Y轴调节装置包括:
移动块,所述移动块与所述滑动结构连接;
第一弹性件,所述第一弹性件的一端固定在所述外壳上,另一端与所述移动块连接;优选地,所述第一弹性件为拉簧;
第一顶杆组件,所述第一顶杆组件的一端位于所述外壳内,且与所述移动块抵接;所述第一顶杆组件的另一端位于所述外壳外;其中,旋转第一顶杆组件能使移动块及滑动结构沿Y轴方向运动;
优选地,所述第一顶杆组件与所述外壳通过螺纹连接。
优选地,所述滑动结构具有相对设置的第一端和第二端,其中,所述滑动结构的第一端用于容置载样片,所述滑动结构的第二端设置有翻边;
所述移动块具有相对设置的第一端和第二端;所述滑动结构安置在所述移动块上,且所述滑动结构的翻边卡合在所述移动块第二端的端部;所述第一顶杆组件与所述移动块的第二端抵接;所述第一弹性件与所述移动块的第一端连接。
优选地,滑动结构能在所述移动块上滑动,且滑动方向为Y轴方向。
优选地,所述第一顶杆组件包括:
顶杆;
顶杆套,所述顶杆套套装在所述顶杆上,且所述顶杆套与所述外壳螺纹连接;
优选地,所述顶杆套位于所述第一顶杆组件的第一部分上,所述第一部分包括所述第一顶杆组件位于外壳外的部分和与所述外壳螺纹连接的部分。
优选地,所述调节装置包括X轴调节装置;其中,所述X轴调节装置包括:
移动件,所述移动件与所述滑动结构连接;优选地,当所述调节装置包括Y轴调节装置时,所述移动件具有敞口设置的容置腔,其中所述移动块安置在所述容置腔中;
第二弹性件,所述第二弹性件的一端固定在所述外壳上,另一端与所述移动件连接;优选地,所述第二弹性件为拉簧;
第二顶杆组件,所述第二顶杆组件的一端位于所述外壳内,且与所述移动件抵接;所述第二顶杆组件的另一端位于所述外壳外;其中,旋转第二顶杆组件能使移动件及滑动结构沿X轴方向运动;
优选地,所述第二顶杆组件与所述外壳通过螺纹连接;
优选地,所述显微镜热台还包括设置在所述外壳中的发热元件,其中,所述发热元件包括陶瓷发热元件;
优选地,所述陶瓷发热元件为由陶瓷材料和金属材料共同烧结而成的发热体。
优选地,所述外壳包括:
外框,所述外框具有用于安置发热元件的容置孔以及用于容置所述滑动结构及调节装置的容置腔;其中,所述容置孔与所述容置腔连通;
底板,所述底板安装在所述外框的底部,用于封堵所述容置腔的敞口端及容置孔的底端;优选地,所述底板在与发热元件对应的位置处开设有通孔。
所述外壳还包括外盖,所述外盖安装在所述外框的顶部,与所述容置孔相配合;且所述外盖上设置通孔,以便于显微镜观察显微镜热台所加热的样品;和/或
当所述显微镜热台包括Y轴调节装置时,所述外壳还包括滑动压板,所述滑动压板的一端与所述外框转动连接,另一端与所述第一顶杆组件螺纹连接,且所述外框上开设有用于使第一顶杆组件穿入、以及使滑动结构滑入及滑出的开口。
另一方面,本发明的实施例提供一种显微熔点测量仪,包括显微镜本体和显微镜热台,其中,所述显微镜热台为上述任一项所述的显微镜热台,所述显微镜热台的底盘固定在所述显微镜本体上;优选地,所述显微镜热台的底盘通过紧固件以可拆卸的方式连接在显微镜本体上。
与现有技术相比,本发明的显微镜热台及显微熔点测量仪至少具有下列有益效果:
本发明的实施例提供的显微镜热台通过设置一用于容置载样片的滑动结构,以及使滑动结构沿X轴方向和/或Y轴方向移动的调节装置,从而使得显微镜热台用在显微熔点测量仪上时,通过调节装置便可以调整样品的位置,以使被显微观察样片处于最佳的视野观察位置。
进一步地,本发明的实施例提供的显微镜热台中的Y轴调节装置包括与滑动结构连接移动块,与移动块抵接的第一顶杆组件,其中,第一顶杆组件与显微镜热台的外壳螺纹连接,通过这样设置,只需要通过旋转第一顶杆组件,便可以实现控制滑动结构沿着Y轴方向移动的目的。
进一步地,本发明的实施例提供的显微镜热台中的X轴调节装置包括与滑动结构连接移动件,与移动件抵接的第二顶杆组件,其中,第二顶杆组件与显微镜热台的外壳螺纹连接,通过这样设置,只需要通过旋转第二顶杆组件,便可以实现控制滑动结构沿着X轴方向移动的目的。
进一步地,本发明的实施例的显微镜热台采用微型陶瓷发热元件作为发热体,由于体积微小,因此具有热容量较小、升降温速率快、温度均匀、耐氧化耐高温、使用寿命长以及高效节能的优点。
进一步地,所述显微镜热台由于厚度很薄(15-22mm),所以在配合显微镜使用时,能够适应较大倍数的物镜,从而能够更加方便的观察细微样品。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
图1是本发明的实施例提供的一种显微镜热台的一结构剖视意图;
图2是本发明的实施例提供的一种显微镜热台的另一结构剖视图;
图3是本发明的实施例提供的一种显微镜热台中的容置环的结构示意图;
图4是本发明的实施例提供的一种滑动结构主体的结构示意图;
图5是本发明的实施例提供的一种移动块的结构示意图;
图6是本发明的实施例提供的一种移动件的结构示意图;
图7是本发明的实施例提供的一种外框的结构示意图;
图8是本发明的实施例提供的一种组件套的结构示意图;
图9是本发明的实施例提供的一种组件套压板的结构示意图;
图10A是本发明的实施例提供的一种顶杆外套的结构示意图;
图10B是本发明的实施例提供的一种顶杆内套的结构示意图;
图10C是本发明的实施例提供的一种顶杆中套的结构示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本发明申请的具体实施方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。在下述说明中,不同的“一实施例”或“实施例”指的不一定是同一实施例。此外,一或多个实施例中的特定特征、结构、或特点可由任何合适形式组合。
实施例1
本实施例提供一种显微镜热台,具体地,如图1至图4所示,本实施例中的显微镜热台包括外壳、滑动结构20及调节装置;其中,滑动结构20设置于外壳内,且滑动结构20具有容置空间,用于容置承载样品的载样片。调节装置用于使滑动结构20沿X轴方向和/或Y轴方向移动(在此的X轴和Y轴是相互垂直的两个方向),以对样品的视野位置进行调节。
本实施例中,所述Y轴方向为所述滑动结构20的轴向方向。
本实施例提供的显微镜热台通过设置一用于容置载样片的滑动结构20,以及使滑动结构20沿X轴方向和/或Y轴方向移动的调节装置,从而使得显微镜热台用在显微熔点测量仪上时,通过调节装置便可以很方便地调整样品的位置,以使被显微观察样片处于最佳的视野观察位置。
实施例2
较佳地,本实施例提供一种显微镜热台,与上一实施例相比,本实施例进一对滑动结构设计如下:如图1至图4所示,本实施例中的滑动结构20包括滑动结构主体201和容置环202。其中,滑动结构主体201为片状结构,优选为金属片状结构。滑动结构主体201的一端开设有容置孔2011。容置环202为金属环状结构,其安装在容置孔2011上,且容置环202用于容置承载样品的载样片。
较佳地,容置孔2011为圆孔;相应地,容置环202为圆环。
较佳地,载样片为玻璃片,具体地,在容置样品时,先在容置环中放置第一玻璃片,将样品放置在第一玻璃片后,再放置第二玻璃片压在样品上,以使样品均匀散开,以方便显微观察;其中,第一玻璃片和第二玻璃片的外径与所述容置环202的内径相当。最后在容置环202上端的外盖13圆孔内放置一第三玻璃片,是为了防止样品在熔化过程中产生的高温分解劣化气体对显微镜的物镜产生不良影响。
实施例3
较佳地,本实施例提供一种显微镜热台,与上述实施例相比,如图1、图2、图4及图5所示,本实施例中的调节装置包括Y轴调节装置,具体地,Y轴调节装置包括:移动块22、第一弹性件26及第一顶杆组件21;其中,移动块22与滑动结构20连接。第一弹性件26的一端固定在外壳上,另一端与移动块22连接。第一顶杆组件21与外壳之间螺纹连接,且第一顶杆组件21的一端位于外壳内,且与移动块22抵接(接触且存在力的作用),另一端位于外壳外。本实施例通过上述设置,只需要通过旋转第一顶杆组件21,便可以实现控制滑动结构20沿着Y轴方向移动的目的。
在此需要说明的是:本实施例的上述设计方式主要是在第一顶杆组件、第一弹性件的相互作用下,通过使第一顶杆组件与外壳螺纹连接,实现旋转第一顶杆组件的方式实现对样品在Y轴方向的位置进行调整。除此之外,也可以无需设计第一弹性件、以及无需使第一顶杆组件与外壳螺纹连接,直接使第一顶杆组件的一端穿过外壳与移动块连接,采用推、拉的方式对样品在Y轴的位置进行调整,但是,该种设计不如本实施例的上述设计调整方便,精确度也不高。
较佳地,第一弹性件26为拉簧;第一弹性件26的一端通过固定块固定在壳体上。
较佳地,本实施例进一步对滑动结构与Y轴调节装置的具体配合方式设计如下:滑动结构20具有相对设置的第一端和第二端,其中,滑动结构的第一端用于容置载样片,滑动结构20的第二端设置有翻边2012。相应地,移动块22具有相对设置的第一端和第二端;滑动结构20安置在移动块22上,且滑动结构20的翻边2012卡合在移动块22第二端的端部;第一顶杆组件21与移动块22的第二端抵接;第一弹性件26与移动块22的第一端连接。优选地,滑动结构能相对移动块滑动,且滑动方向为Y轴方向。
较佳地,本实施例进一步对第一顶杆组件21设计如下:第一顶杆组件21包括顶杆211和顶杆套212。其中,顶杆套212套装在顶杆211上,且顶杆套212与外壳之间螺纹连接。优选地,顶杆套212位于第一顶杆组件21的第一部分上,第一部分包括第一顶杆组件21位于外壳外的部分和与外壳螺纹连接的部分。在此,本实施例通过这样设置一方面确保测试人员旋转顶杆组件方便,还避免位于外壳内的顶杆组件占用太大的空间。较佳地,如图1、图2、图10A、图10B及图10C所示,本实施例中的顶杆套212包括顶杆外套2121、顶杆内套2122、顶杆中套2123。其中,顶杆中套2123上设置有与外壳连接的螺纹。
实施例4
较佳地,本实施例提供一种显微镜热台,与上述实施例相比,如图1、图2、图4至图6所示,本实施例中的调节装置包括X轴调节装置,具体地,X轴调节装置包括移动件24、第二弹性件27及第二顶杆组件23。其中,移动件24与滑动结构20连接;第二弹性件27的一端固定在外壳上,另一端与移动件24连接。第二顶杆组件23与外壳螺纹连接,且第二顶杆组件23的一端位于外壳内,且与移动件24抵接,另一端位于外壳外。本实施例通过上述设置,只需要通过旋转第二顶杆组件23,便可以实现控制滑动结构20沿着X轴方向移动的目的。
较佳地,本实施例中的移动件24与滑动结构20为间接连接方式,具体实现方式如下:移动件24具有敞口设置的容置腔241,其中移动块22安置在容置腔241中;通过这样设置,在旋转第二顶杆组件23时,移动件24移动时,带动移动块22及与移动块22连接的滑动结构20同时沿X轴方向移动(在此,当然也可以使滑动结构也容置在容置腔中)。较佳地,滑动结构20设置成燕尾片结构,移动块22设置成与其适配的燕尾块状结构化,而移动件24的容置腔设置成与移动块22适配的燕尾状腔体结构。优选地,移动块、滑动结构能在移动件的容置腔内沿着Y轴方向滑动。
较佳地,本实施例中的移动件24上还具有容置第二弹性件的腔体242,其中,该腔体242与容置腔241相背设置。进一步地,该腔体242为两个优选地,第二弹性件为拉簧。
较佳地,本实施例中的移动件24上还连接有移动压条25,在此设置移动压条25的目的是用来限制移动块24的移动方向。
另外,本实施例中的第二顶杆组件的具体结构及其与显微镜热台外壳的连接方式参见上一实施例中的第一顶杆组件,在此不重复赘述。
实施例5
较佳地,本实施例提供一种显微镜热台,与上述实施例相比,如图1和图2、图8和图9所示,本实施例中的显微镜热台还包括设置在外壳中的发热元件(在工作时,滑动结构20上用于放置样品的一端安置在发热元件上)。其中,本实施例中的发热元件包括陶瓷发热元件,具体地,该陶瓷发热元件是由陶瓷材料和金属材料共同烧结而成的发热体,为圆片状结构。
与现有技术相比,本实施例的显微镜热台由于采用微型陶瓷发热元件作为发热体,与常规的电热丝加热体相比,由于体积微小,因此具有热容量较小、升/降温速率快、温度均匀、耐氧化耐高温、使用寿命长以及高效节能等优点,使得本实施例中的显微镜热台的体积较小、厚度薄。
另外,本实施例中的陶瓷发热元件上连接有温度传感器,以及导线,以实现与温度控制系统的连接,以使显微镜热台可根据软件设定的不同方式进行升降温、恒温控制,其中,本实施例中显微镜热台最高工作温度为600℃,控制精度±0.1℃。
较佳地,本实施例中的发热元件包括组件套32和组件套压板31;其中,组件套压板31安装在组件套32上。组件套32和组件套压板31之间安装陶瓷发热体。
实施例6
较佳地,本实施例提供一种显微镜热台,与上述实施例相比,如图1、图2及图7所示,本实施例中的外壳包括外框11和底板12。其中,外框11具有用于容置发热元件的容置孔111、及用于容置滑动结构20及调节装置的容置腔112。其中,容置孔111与容置腔112连通。底板12安装在外框11的底部,用于封堵容置腔112的敞口端及容置孔111的底端。
优选地,底板12在与发热元件对应的位置处开设有通孔,以让透射光线透过该通孔照射到被观测试样上。
较佳地,本实施例中的外壳还包括外盖13,外盖13安装在外框11的顶部,与容置孔111相配合;且外盖13上设置通孔,为防止试样在熔融过程中因高温而产生的分解劣化气体污染物镜,在孔上放置有第三玻片,同时又便于观察显微镜热台所加热的试样。再者,通过设置一外盖13,防止发热元件热量的散发。
较佳地,当显微镜热台包括Y轴调节装置时,外壳还包括滑动压板14,滑动压板14的一端与外框11转动连接,另一端与第一顶杆组件21螺纹连接,且外框11上设置有用于使第一顶杆组件21穿入、以及使滑动结构20滑入及滑出的开口113。通过这样设置,在取放样品时,只需转动滑动压板,使滑动结构20滑出即可。具体地,如图1和图2所示,在取放样品时,转动滑动压板,使其处于打开状态,由于第一顶杆组件与移动块脱离,那么在第一弹性件的作用下,滑动结构20沿着Y轴滑动至开口处,此时,直接将滑动结构20从移动块上滑下即可,取出滑动结构20,放上样品或者将已加热的样品取下后,再将滑动结构20放到移动块上,使其相对于移动块滑动,直至滑动结构的翻边卡合在移动块的第二端上,最后将滑动压板合在外框上即可。
较佳地,本实施例中的外壳还包括外框接板15,其中,外框接板15连接在外框11上的与滑动压板14相对的一端上。外框接板15是为了安装接插件,将显微镜热台内部的温度传感器信号引出和为发热体提供工作电源。
较佳地,本实施例中的外壳上还连接有显微镜热台固定架41,显微镜热台固定架41(较佳地,限位热台固定架41为盘状结构,即显微镜热台的底盘。)上连接有固定螺钉42(在此的固定螺钉也可以用其他紧固件替代),以将显微镜热台固定到显微镜本体上,并作居中位置调整用。
较佳地,外壳厚度为15-22mm。
实施例7
本实施例提供一种显微熔点测量仪;其中,所述显微熔点测量仪上述任一实施例所述的显微镜热台。较佳地,本实施例中的显微熔点测量仪还包括显微镜本体、高精度控制仪、控温系统测量软件、计算机、显示器、摄像头等配件。其中,显微镜热台的底盘固定在显微镜本体上。
综上,本发明实施例提供的显微镜热台及显微熔点测量仪通过设置一用于容置载样片的滑动结构,以及使滑动结构沿X轴方向和/或Y轴方向移动的调节装置,从而使得显微镜热台用在显微熔点测量仪上时,通过调节装置便可以调整样品的位置,以使被显微观察样片处于最佳的视野位置。另外,本发明实施例提供的显微镜热台及显微熔点测量仪通过采用微型陶瓷发热元件作为发热体,由于体积微小,因此具有热容量较小、升/降温速率快、温度均匀、耐氧化耐高温、使用寿命长以及高效节能的效果。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (14)
1.一种显微镜热台,其特征在于,所述显微镜热台包括:
外壳;
滑动结构,所述滑动结构设置在所述外壳内;并且,所述滑动结构具有容置空间,用于容置承载样品的载样片;
调节装置,所述调节装置用于使所述滑动结构沿X轴方向和Y轴方向移动,以对样品的视野位置进行调节;
其中,所述调节装置包括X轴调节装置;其中,所述X轴调节装置包括:
移动件,所述移动件与所述滑动结构连接;
第二弹性件,所述第二弹性件的一端固定在所述外壳上,另一端与所述移动件连接;
第二顶杆组件,所述第二顶杆组件的一端位于所述外壳内,且与所述移动件抵接;所述第二顶杆组件的另一端位于所述外壳外;其中,旋转第二顶杆组件能使移动件及滑动结构沿X轴方向运动;
所述调节装置包括Y轴调节装置;其中,所述Y轴调节装置包括:
移动块,所述移动块与所述滑动结构连接;
第一弹性件,所述第一弹性件的一端固定在所述外壳上,另一端与所述移动块连接;
第一顶杆组件,所述第一顶杆组件的一端位于所述外壳内,且与所述移动块抵接;所述第一顶杆组件的另一端位于所述外壳外;其中,旋转第一顶杆组件能使移动块及滑动结构沿Y轴方向运动。
2.根据权利要求1所述的显微镜热台,其特征在于,所述滑动结构包括:
滑动结构主体,所述滑动结构主体的一端开设有容置孔;
容置环,所述容置环安装在所述容置孔上,且所述容置环用于容置承载样品的载样片。
3.根据权利要求2所述的显微镜热台,其特征在于,所述滑动结构主体为片状结构。
4.根据权利要求1所述的显微镜热台,其特征在于,所述第一弹性件为拉簧;和/或所述第一顶杆组件与所述外壳通过螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的显微镜热台,其特征在于,
所述滑动结构具有相对设置的第一端和第二端,其中,所述滑动结构的第一端用于容置载样片,所述滑动结构的第二端设置有翻边;
所述移动块具有相对设置的第一端和第二端;所述滑动结构设置在所述移动块上,且所述滑动结构的翻边卡合在所述移动块第二端的端部;所述第一顶杆组件与所述移动块的第二端抵接;所述第一弹性件与所述移动块的第一端连接;
其中,滑动结构能在所述移动块上滑动,且滑动方向为Y轴方向。
6.根据权利要求1所述的显微镜热台,其特征在于,所述第一顶杆组件包括:
顶杆;
顶杆套,所述顶杆套套装在所述顶杆上,且所述顶杆套与所述外壳螺纹连接;
其中,所述顶杆套位于所述第一顶杆组件的第一部分上,所述第一部分包括所述第一顶杆组件位于外壳外的部分和与所述外壳螺纹连接的部分。
7.根据权利要求1-6任一项所述的显微镜热台,其特征在于,所述第二弹性件为拉簧;和/或
所述第二顶杆组件与所述外壳通过螺纹连接;和/或
所述移动件具有敞口设置的容置腔,其中所述移动块安置在所述容置腔中。
8.根据权利要求1-6任一项所述的显微镜热台,其特征在于,所述显微镜热台还包括设置在所述外壳中的发热元件,其中,所述发热元件包括陶瓷发热元件。
9.根据权利要求8所述的微镜热台,其特征在于,所述陶瓷发热元件为由陶瓷材料和金属材料共同烧结而成的发热体。
10.根据权利要求1-6、9任一项所述的显微镜热台,其特征在于,所述外壳包括:
外框,所述外框具有用于安置发热元件的容置孔以及用于容置所述滑动结构及调节装置的容置腔;其中,所述容置孔与所述容置腔连通;
底板,所述底板安装在所述外框的底部,用于封堵所述容置腔的敞口端及容置孔的底端。
11.根据权利要求10所述的显微镜热台,其特征在于,
所述外壳厚度为15-22mm;和/或
所述底板在与发热元件对应的位置处开设有通孔。
12.根据权利要求10所述的显微镜热台,其特征在于,所述外壳还包括外盖,所述外盖安装在所述外框的顶部,与所述容置孔相配合;且所述外盖上设置通孔,以便于显微镜观察显微镜热台所加热的样品;和/或
当所述显微镜热台包括Y轴调节装置,且所述Y轴调节装置包括第一顶杆组件时,所述外壳还包括滑动压板,所述滑动压板的一端与所述外框转动连接,另一端与所述第一顶杆组件螺纹连接,且所述外框上开设有用于使第一顶杆组件穿入、以及使滑动结构滑入及滑出的开口。
13.一种显微熔点测量仪,包括显微镜本体和显微镜热台,其特征在于,所述显微镜热台为权利要求1-12任一项所述的显微镜热台。
14.根据权利要求13所述的显微熔点测量仪,其特征在于,所述显微镜热台的底盘固定在所述显微镜本体上;和/或所述显微镜热台的底盘通过紧固件以可拆卸的方式连接在显微镜本体上。
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