CN107621371A - 玻璃升降器耐久性测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示了一种玻璃升降器耐久性测试设备,设备设有处理器,所述处理器输出电机驱动信号至待测试升降器的电机单元,所述处理器连接有用于存储测试记录和驱动程序的存储器,所述升降器的导轨两端固定有位置传感器,所述位置传感器输出导轨上玻璃升降机构的位置信号至处理器,所述电机单元的电极上设有电流采样信号。本发明通过设定工作模式,目标运行循环次数等来检测玻璃升降器的防夹模块类型、实际运行电流、上升和下降时间等参数,解决了传统检测技术中不易获取玻璃升降器上升或下降时电机的运行电流,以及上升和下降的时间等参数等问题。

Description

玻璃升降器耐久性测试设备
技术领域
本发明涉及汽车升降器耐久检测领域。
背景技术
在检测四门防夹型玻璃升降器时,传统的测试方法不易区分防夹模块所属的车门类型,并且不易获取玻璃升降器上升或下降时电机的运行电流以及上升和下降的时间等参数,检测效果差,数据采集不全面,难以保证检测的准确性和可靠性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是实现一种采集数据可靠全面,能够可靠有效的对玻璃升降器进行耐久性测试的设备。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:玻璃升降器耐久性测试设备,设备设有处理器,所述处理器输出电机驱动信号至待测试升降器的电机单元,所述处理器连接有用于存储测试记录和驱动程序的存储器,所述升降器的导轨两端固定有位置传感器,所述位置传感器输出导轨上玻璃升降机构的位置信号至处理器,所述电机单元的电机上设有电流采样信号。
所述处理器设有计时单元。
所述电机单元上固定有温度传感器,所述温度传感器输出感应信号至处理器。
设备设有固定升降器的支架,所述支架上设有夹持升降器的夹具。
所述支架上固定有挡块单元,所述挡块单元包括滑块、滑槽、丝杆驱动机构,所述处理器输出驱动信号至丝杆驱动机构,所述滑槽与导轨垂直且位于导轨的一端,所述滑块有丝杆驱动机构驱动沿滑槽往复运动,所述滑块朝向玻璃升降机构一侧设有压力传感器,所述压力传感器输出感应信号至处理器。
所述处理器连接有显示测试结果和参数信息的显示单元。
所述处理器连接有输入参数调节信号的按键单元。
所述处理器、按键单元、存储器和显示单元固定集成在同一个壳体内,所述壳体上设有输入、输出的接插件接口,所述显示单元和按键单元位于壳体的表面。
基于所述的玻璃升降器耐久性测试设备的控制方法:
用户设定测次数后启动设备;
处理器为电机单元供电并驱动其转动,并在接收到位置传感器信号后控制电机单元反转;
电机单元每正反转动一次计为完成一次测试,设备在完成设定次数测试后关闭设备;
测试期间,处理器记录电机单元的温度、电流、完成一次测试的时间。
挡块单元位于升降器导轨的始端,位于升降器导轨末端的位置传感器第一次接收到信号时,处理器驱动挡块单元的滑块伸出阻挡玻璃升降机构,再次接收到信号时,处理器驱动挡块单元的滑块缩回由升降器导轨始端的位置传感器感应玻璃升降机构的位置信号,以此往复循环执行;
测试期间,处理器记录压力传感器的信号。
本发明通过设定工作模式,目标运行循环次数等来检测玻璃升降器的防夹模块类型、实际运行电流、上升和下降时间等参数,解决了传统检测技术中不易获取玻璃升降器上升或下降时电机的运行电流,以及上升和下降的时间等参数等问题。
附图说明
下面对本发明说明书中附图表达的内容作简要说明:
图1为玻璃升降器耐久性测试设备原理框图;
上述图中的标记均为:1、处理器;2、电机单元;3、按键单元;4、存储器;5、显示单元;6、挡块单元。
具体实施方式
玻璃升降器耐久性测试设备将处理器1、按键单元3、存储器4和显示单元5固定集成在同一个壳体内,壳体上设有输入、输出的接插件接口,显示单元5和按键单元3位于壳体的表面。
设备还设有固定待测试升降器的支架,支架上设有夹持升降器的夹具,方便固定待测升降器,处理器1连接电源,并输出电机驱动信号至待测试升降器的电机单元2,控制器电机单元2的电机正反转动,存储器4连接处理器1,并用于存储测试记录和驱动程序。处理器1连接有显示测试结果和参数信息的显示单元5,以及处理器1连接有输入参数调节信号的按键单元3。
升降器的导轨两端固定有位置传感器,位置传感器输出导轨上玻璃升降机构的位置信号至处理器1,位置传感器可以固定在绑带上,利用绑带可以方便的将其固定在导轨上。此外,电机单元2的电机上设有电流采样信号,处理器1设有计时单元,解决了传统检测技术中不易获取玻璃升降器上升或下降时电机的运行电流,以及上升和下降的时间等参数等问题。
电机单元2上固定有温度传感器,温度传感器也可以固定在绑带上,利用绑带可以方便的将其固定在电机单元2上,用于检测电机工况的温度情况,温度传感器输出感应信号至处理器1,从而全面的监控升降器的参数信息。
为了测试升降器的防夹功能,支架上固定有挡块单元6,挡块单元6包括滑块、滑槽、丝杆驱动机构,处理器1输出驱动信号至丝杆驱动机构,滑槽与导轨垂直且位于导轨的一端,滑块有丝杆驱动机构驱动沿滑槽往复运动,滑块朝向玻璃升降机构一侧设有压力传感器,滑槽与导轨垂直的滑槽,使得每次压力传感器的受力均由滑槽支撑,保证测试参数的准确性,避免丝杆驱动机构的干扰,丝杆驱动机构包括驱动电机、沿滑槽固定的丝杆、以及固接在滑块上的螺母,驱动电机驱动丝杆转动,螺母固定在丝杆上。
基于上述的玻璃升降器耐久性测试设备的控制方法:
用户设定测次数后启动设备;
处理器1为电机单元2供电并驱动其转动,并在接收到位置传感器信号后控制电机单元2反转;
电机单元2每正反转动一次计为完成一次测试,设备在完成设定次数测试后关闭设备;
挡块单元6位于升降器导轨的始端,位于升降器导轨末端的位置传感器第一次接收到信号时,处理器1驱动挡块单元6的滑块伸出阻挡玻璃升降机构,再次接收到信号时,处理器1驱动挡块单元6的滑块缩回由升降器导轨始端的位置传感器感应玻璃升降机构的位置信号,以此往复循环执行;这样每两次玻璃升降机构的往复运动,可以测试一次防夹功能,以及一次满行程的往复运动,测试结果更加全面。
测试期间,处理器1记录电机单元2的温度、电流、完成一次测试的时间、压力传感器的信号。
上面结合附图对本发明进行了示例性描述,显然本发明具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本发明的方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本发明的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.玻璃升降器耐久性测试设备,设备设有处理器,所述处理器输出电机驱动信号至待测试升降器的电机单元,所述处理器连接有用于存储测试记录和驱动程序的存储器,其特征在于:所述升降器的导轨两端固定有位置传感器,所述位置传感器输出导轨上玻璃升降机构的位置信号至处理器,所述电机单元的电极上设有电流采样信号。
2.根据权利要求1所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述处理器设有计时单元。
3.根据权利要求2所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述电机单元上固定有温度传感器,所述温度传感器输出感应信号至处理器。
4.根据权利要求3所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:设备设有固定升降器的支架,所述支架上设有夹持升降器的夹具。
5.根据权利要求4所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述支架上固定有挡块单元,所述挡块单元包括滑块、滑槽、丝杆驱动机构,所述处理器输出驱动信号至丝杆驱动机构,所述滑槽与导轨垂直且位于导轨的一端,所述滑块有丝杆驱动机构驱动沿滑槽往复运动,所述滑块朝向玻璃升降机构一侧设有压力传感器,所述压力传感器输出感应信号至处理器。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述处理器连接有显示测试结果和参数信息的显示单元。
7.根据权利要求6所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述处理器连接有输入参数调节信号的按键单元。
8.根据权利要求7所述的玻璃升降器耐久性测试设备,其特征在于:所述处理器、按键单元、存储器和显示单元固定集成在同一个壳体内,所述壳体上设有输入、输出的接插件接口,所述显示单元和按键单元位于壳体的表面。
9.基于权利要求1-7所述的玻璃升降器耐久性测试设备的控制方法,其特征在于:
用户设定测试次数后启动设备;
处理器为电机单元供电并驱动其转动,并在接收到位置传感器信号后控制电机单元反转;
电机单元每正反转动一次计为完成一次测试,设备在完成设定次数测试后关闭设备;
测试期间,处理器记录电机单元的温度、电流、完成一次测试的时间。
10.根据权利要求9所述的控制方法,其特征在于:
挡块单元位于升降器导轨的始端,位于升降器导轨末端的位置传感器第一次接收到信号时,处理器驱动挡块单元的滑块伸出阻挡玻璃升降机构,再次接收到信号时,处理器驱动挡块单元的滑块缩回由升降器导轨始端的位置传感器感应玻璃升降机构的位置信号,以此往复循环执行;
测试期间,处理器记录压力传感器的信号。
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