CN107615382B - 记录装置和方法、光学记录介质、再现装置和再现方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的是减少因缺乏测试区域而造成阻止数据记录的可能性。对于光学记录介质的多个记录层中的每个记录层，设定测试区域，对测试区域执行试用写入以控制激光功率，并且表示所设定的测试区域的实际位置的信息被记录。通过再现记录在包括多个记录层的光学记录介质中的信息，以及记录表示所设定的测试区域的实际位置的信息，来获取表示测试区域的实际位置的信息，其中每个记录层设定有测试区域，对测试区域执行试用写入以控制激光功率。

Description

记录装置和方法、光学记录介质、再现装置和再现方法
技术领域
本技术涉及在可记录光学记录介质(诸如一次写入光学记录介质或可重写光学记录介质)上记录数据的记录装置和记录方法、光学记录介质，以及从光学记录介质再现数据的再现装置和再现方法。
引用列表
专利文献
专利文献1：国际公开第05/034110号小册子
专利文献2：日本专利申请特许公开第2004-295940号
背景技术
例如，已经知道盘型光学记录介质(在下文中，还称为“光盘”)，诸如蓝光盘(注册商标)。使用从半导体激光器发射的激光，将信息记录在光学记录介质上，或从光学记录介质再现信息。
因温度或随着时间改变而造成的激光功率的变化、在制造期间由调整误差引起的各种扭斜或偏移，以及在驱动控制中记录条件的变化大大影响激光在光盘上的信息的记录。因而，具体地，在可记录光盘(诸如一次写入盘或可重写盘)中，防止激光驱动电路或光学元件中的变化，并且执行准确发射波长控制。
一般来说，在执行数据记录之前，记录装置使用被提供在每个记录层中的测试区域(最佳功率控制区域(OPC区域))搜索最佳激光功率，并且调整记录激光功率或策略，以优化记录条件。
在用于调整记录激光功率的测试写入过程(测试写入)中，必须去除例如扰动，以优化记录激光功率，并且在最佳记录条件不清楚的状态下优化激光驱动脉冲。在一些情况下，发射具有多于需要的能量的激光，或在激光驱动脉冲的宽度(激光发射时间)不合适的状态下发射激光，以便搜索最佳条件，诸如记录激光功率。作为结果，记录层中的OPC区域可能被严重损坏。
此外，在其中多个记录层被形成在盘基板上的所谓的多层光盘中，在记录层上的数据的记录或来自记录层的数据的再现受被提供在跟前侧上的另一个记录层(该另一个记录层与该记录层相比更接近激光入射面)的记录状态的影响。
例如，通过记录改变记录层的透射率，这使得很难用适当量的激光照射当前记录层。此外，由于透射率的改变取决于记录功率，所以很难控制透射率的改变，也就是说，当改变记录功率时对其中执行记录的部分中的内侧记录层(诸如OPC区域)的影响程度。
从这些观点来看，存在以下问题：根据跟前侧记录层的记录状态很难实现期望的OPC以及很难准确地得到最佳条件。也就是说，在记录层的 OPC区域中执行与测试写入相关的激光功率调整的情况下，记录或再现受在平面方向(盘的径向方向)上被布置在相同位置(也就是说，在厚度方向(＝层方向)上彼此重叠的位置)处的其它记录层的OPC区域的影响。
相比之下，在现有技术中，例如，提出了其中不同记录层的OPC区域在记录层的径向方向上偏移的方法，如在专利文献1中公开的。
在现有的蓝光盘的两层标准中，被布置在设置于盘的内周侧的读入区中的每个记录层的OPC区域被布置成在记录层的径向方向上偏移。
发明内容
本发明解决的问题
如上所述，在多层光盘中，考虑到跟前侧记录层的透射率中的改变的影响，OPC区域(测试区域)被布置在每个记录层中的在层方向上彼此不重叠的位置处。
然而，在现有技术中，在同一光盘中测试区域的布置是固定的。同样地，当测试区域的布置是固定的时，例如，很难适当地对在每个记录层中使用的测试区域的量根据系统而变化的情况作出响应。
例如，假设第一文件系统和第二文件系统可对其应用为文件系统的光盘，在第一文件系统中，最内层(被称为“L0层”)中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于基本上彼此相等。在被布置在每层中的测试区域的数量基本上彼此相等以便对第二文件系统作出响应的情况下，被布置在L0 层中的测试区域的数量趋于小于在应用第一文件系统的情况下的测试区域的数量。相比之下，在更大数量的测试区域被布置在L0层中以便对第一文件系统作出响应的情况下，被布置在L0层中的测试区域的数量大于在应用第二文件系统的情况下测试区域的数量，并且布置在其它层中的测试区域的数量趋于相对不足。
当测试区域的数量趋于不足时，即使当用户数据记录区域为空时也不可能执行OPC，这可引起光学记录介质处于不可记录的状态。这意味着很难记录在光学记录介质中规定的用户数据的量，并且对用户来说是不利的。
于是，已经做出本技术，以便解决上面提及的问题，并且本技术的目的是减少因缺少测试区域而造成的将不能记录数据的可能性。
问题的解决方案
根据本技术的记录装置包括：记录单元，用激光照射具有多个记录层的光学记录介质的记录层，以记录信息；以及控制单元，在每个所述记录层中设定测试区域，在测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在光学记录介质上。
用该结构，可能在任何位置处布置任意数量的测试区域，同时保障其它设备(除了设定测试区域之外的设备)可辨识测试区域的位置。也就是说，对于在每个记录层中使用的测试区域的量可能彼此不同的光学记录介质，可能在每种情况下自适应地设定测试区域。
在根据本技术的记录装置中，优选地，控制单元根据应用于光学记录介质的文件系统的类型，设定测试区域。
用该结构，可能根据与在每个记录层中使用的测试区域的量根据文件系统的类型变化的情况一致的文件系统适当设定测试区域。
在根据本技术的记录介质中，优选地，控制单元根据里侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述里侧测试区域在光学记录介质的层方向上更接近与激光入射面相对的表面，并且里侧测试区域与使用候选区域重叠。
用该结构，可能在检查已经使用内侧测试区域之后使用跟前侧测试区域。
在根据本技术的记录装置中，优选地，控制单元根据跟前侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于使用候选区域，跟前侧测试区域在光学记录介质的层方向上更接近激光入射面，并且跟前侧测试区域与使用候选区域重叠。
用该结构，可能在检查跟前侧测试区域中不存在透射率的改变之后使用内侧测试区域。
在根据本技术的记录装置中，优选地，控制单元在内区和数据区中设定所述测试区域，其中，与记录用户数据的所述数据区相比，所述内区更接近内周侧。
用该结构，测试区域的数量可大于在测试区域仅被设定在内区中的情况下的测试区域的数量。还有，可能对优选地单独调整内区和数据区中的激光功率的情况(例如，在数据区中以与在内区中的速度和密度相比更高的速度和更高的密度执行记录的情况)作出响应。
在根据本技术的记录装置中，优选地，控制单元在所述数据区中设定除了指示所述所在位置的信息已经被记录在所述光学记录介质上的所述测试区域之外的新的测试区域，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。
用该结构，如果必要的话，可能将测试区域添加到其中记录用户数据的区域。
在根据本技术的记录装置中，优选地，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与跟前侧记录层的未记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述跟前侧记录层更接近所述激光入射面。
用该结构，可能将测试区域添加到其中透射率不存在改变的区域之后的区域。
在根据本技术的记录装置中，优选地，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与里侧记录层的已记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述里侧记录层更接近与所述激光入射面相对的表面。
如上所述，在倘若数据已经被记录在内侧记录层的对应的区域中则在所设定的测试区域中调整激光功率的情况下，可能防止在内侧记录层中存在未记录区域的状态下不记录数据。
还有，根据本技术的光学记录介质包括：多个记录层，其中，测试区域被设定在每个所述记录层中，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且指示所设定的测试区域的所在位置的信息被记录在所述光学记录介质上。
用该结构，可实现光介质记录，其中任意数量的测试区域可被布置在任何位置处，并且保障可由其它设备(除设定测试区域的设备之外的设备) 辨识测试区域的位置。
还有，根据本技术的再现装置包括：再现单元，用激光照射光学记录介质以再现所记录的信息，所述光学记录介质包括多个记录层，并且在所述光学记录介质中，测试区域被设定在每个所述记录层中，并且在所述光学记录介质中记录指示所设定的测试区域的所在位置的信息，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入；以及控制单元，指导所述再现单元再现所述光学记录介质的所记录的信息，并且所述控制单元获取指示所述测试区域的所述所在位置的信息。
用该结构，可能确保与测试区域的兼容性。
本发明的效果
根据本技术，可能减少因测试区域短缺而造成将不记录数据的可能性。
附图说明
图1是示意性地例示根据实施例的光学记录介质的横截面结构的图示。
图2是例示根据实施例的光学记录介质中的每个记录层的布局概要的图示。
图3是例示每个记录层的详细布局的示例的图示。
图4是例示根据实施例的驱动装置(记录/再现装置)的内部配置的框图。
图5是例示对应于应用第一文件系统的情况的OPC区域的设定的示例的图示。
图6是例示对应于应用第二文件系统的情况的OPC区域的设定的示例的图示。
图7是例示与OPC区域的设定有关的过程的流程图。
图8是例示与所设定的OPC区域的使用有关的过程的流程图。
图9是例示L0对应过程的流程图。
图10是例示L0对应过程的流程图。
图11是例示L1对应过程的流程图。
图12是例示L2对应过程的流程图。
图13是例示将OPC区域添加到用户数据区域的过程的流程图。
图14是例示对应于使用岸地/凹槽记录方法的情况的OPC区域的设定的示例的图示。
具体实施方式
在下文中，将按以下的次序描述本技术的实施例。
[1.盘结构]
[2.驱动装置的配置]
[3.OPC区域的设定示例和OPC区域的使用示例]
[4.过程]
[5.实施例的概述]
[6.修改示例]
[7.本技术]
[1.盘结构]
将描述根据本技术的实施例的光学记录介质100的概要。根据实施例的光学记录介质100是具有盘型外观的光盘，并且可被实施为一次写入盘或可重写盘。
将描述光学记录介质100的物理参数的示例。
根据该示例的光学记录介质具有大约120mm的直径和大约1.2mm的厚度作为盘大小。也就是说，从这些观点来看，光学记录介质具有与例如数字多用盘(DVD)类型的光盘或蓝光盘(注册商标)类型的光盘类似的外部外观。
还有，所谓的蓝色激光被用作用于记录和再现的激光，并且具有高 NA(例如，NA＝0.85)的光学系统被用于实现窄轨道节距(例如，轨道节距＝大约0.32μm)。
图1示意性地例示根据该示例的光学记录介质100的横截面结构。
根据该示例的光学记录介质100包括总共三层(也就是说，记录层 L0、记录层L1和记录层L2)作为记录层L，激光被发射到记录层L以执行记录。
在光学记录介质100中，记录层L0被形成在基板101上。例如，由聚碳酸酯树脂的注塑成型形成基板101。压模被设定在注塑模具中以将凹槽形状转印至基板101。记录层L0具有对应于凹槽的凹凸形状。
类似地，具有形成在其中的凹槽的记录层L1被形成在记录层L0上面，中间层102被置于两者之间。此外，类似地，具有形成在其中的凹槽的记录层L2被形成在记录层L1上面，中间层103被置于两者之间。然后，光透射层104形成在记录层L2上面。通过例如以下各项形成光透射层104：使用旋转涂布法涂覆紫外线固化树脂，并且用紫外线照射紫外线固化树脂以使紫外线固化树脂硬化。可替换地，可通过紫外线固化树脂和聚碳酸酯片的组合或粘结层和聚碳酸酯片的组合形成光透射层104。光透射层104 具有例如100μm的厚度。包括光透射层104和具有大约1.1mm厚度的基板101的光盘的总厚度为大约1.2mm。
在光学记录介质100中，激光Lb入射到光透射层104的表面上，并且在记录层L0到L2中的任一个上执行记录或再现。在下文中，由于用于记录和再现的激光被入射在光学记录介质100中的光透射层104的表面上，所以光透射层104的表面被称为“激光入射面100a”。
在下文中，在光学记录介质100中的记录层L的堆叠方向被称为“层方向”。此外，在层方向上激光入射面100a的一侧被称为“跟前侧”，并且与激光入射面100a相对的一侧被称为“内侧”。
图2例示光学记录介质100中的每个记录层L的布局(区域配置)的概要。
内区、数据区和外区被布置作为每个记录层L的自内周侧的区域。
作为与记录和再现相关的区域的配置，内区中的最里面的圆周区域 (读入区域)是仅用于再现的区域，并且从内区的其它区域到外区的区域是可记录区域。
例如，烧录区(BCA)被提供在仅用于再现的区域中。
还有，在内区中，例如，下面将描述的OPC区域、TDMA区域和保留区域被形成在可记录区域中，以便记录管理/控制信息。
在仅用于再现的区域和可记录区域中，具有摆动凹槽(蜿蜒凹槽)的记录轨道被形成为螺旋型。当由激光光斑执行寻轨时，凹槽用作寻轨指导件。此外，凹槽用作记录轨道，并且被用于记录或再现数据。
注意，在该示例中，假设数据被记录在凹槽中。
还有，用作记录轨道的凹槽具有对应于摆动信号的蜿蜒形状。因而，用于光学记录介质100的驱动装置(下面将描述的驱动装置50)从发射到凹槽的激光光斑反射的光中检测凹槽的两个边缘的位置，并且当激光光斑沿着记录轨道移动时，在盘的径向方向上提取凹槽的两个边缘的位置中的改变分量。以该方式，可能再现摆动信号。
在摆动信号中对在记录位置处的记录轨道的地址信息(例如，物理地址或其它额外的信息)进行调制。因而，当数据被记录或再现时，驱动装置可从摆动信号解调地址信息，以执行例如地址控制。
例如，图2中例示的内区是在24mm半径内的区域。
在内区中，光学记录介质100的唯一ID通过例如烧掉记录层L的记录方法被记录在BCA中。也就是说，记录标记被形成为同心地布置，从而形成条形码状记录数据。
还有，在内区中，设定具有临时缺陷管理区域(TDMA)、最佳功率控制(OPC)区域和保留区域的预定区域格式。OPC区域被用于例如当设定数据记录/再现条件(诸如记录/再现激光功率)时的测试写入。也就是说，OPC区域被用于调整记录/再现条件。
数据区域在自内区的外周侧24.0mm到58.0mm的半径内。数据区是实际记录或再现用户数据的区域。注意，图2是例示数据区的开始地址 ADdts和结束地址ADdte的概念图。
在数据区中，内备用区域(ISA)被提供在最里面的圆周部分中，并且外备用区域(OSA)被提供在最外面的圆周部分中。ISA和OSA为用于缺陷或数据重写(覆盖)的替代区域。
ISA由自数据区的开始位置的预定簇大小(1簇＝65536字节)组成。
OSA由自结束位置到数据区的内周侧的预定簇大小组成。
在数据区中，被置于ISA和OSA之间的区段是用户数据区域。用户数据区域是通常用于记录或再现用户数据的一般记录/再现区域。图2是例示用户数据区域的开始地址ADus和结束地址ADue的概念图。
这里，在根据该示例的光学记录介质100的记录系统中，可在数据区中以与在内区中的速度和密度相比更高的速度和更高的密度(线方向密度)执行记录。
外区(例如，读出区)在自数据区的外周侧的58.0mm到58.5mm的半径内。在外区中，以预定格式形成管理/控制信息。
图3例示在该示例中的每个记录层L的详细布局的示例。注意，在图3中，未例示BCA。
如图3中例示的，在该示例中的每个记录层L的布局中，预写区域 (PWA)、初始OPC区域和TDMA被提供在内区中的预定位置处，并且在内区中除预写区域、初始OPC区域和TDMA之外的区域为OPC区域的预留区域(图3中的“OPC预留”。)
注意，预写区域是用于调整(例如伺服操作)的区域。
初始OPC区域是当记录操作被执行为用于光学记录介质100作为所谓的黑盘处于未记录状态中的格式化过程时，在记录操作之前用于激光功率调整的区域。
OPC区域的预留区域(在下文中，被称为“OPC预留区域”)是当在格式化过程之后执行记录操作时可设定用于激光功率调整的OPC区域的区域，在记录操作之前执行激光功率调整。在该示例中，OPC区域可被设定在OPC预留区域中的任何位置。
用于对记录在光学记录介质100上的信息进行管理的信息(诸如用于缺陷管理的替代管理信息或用于在一次写入盘上重写数据的管理/控制信息)被记录在TDMA中。具体地，ISA或OSA的管理信息还被记录作为与TDMA中的替代过程有关的管理信息。例如，通过替代过程由光学记录介质100上新信息的记录引起的光学记录介质100的记录状态的改变被反映在TDMA中，并且在TDMA中顺序更新该改变的内容。因而，驱动装置额外地每次记录TDMA的信息(例如，每当弹出盘时，驱动装置记录最新信息)。
在该示例中，TDMA包括如在例如以下参考文献1中公开的临时缺陷列表(TDFL)或临时盘定义结构(TDDS)：
●参考文献1：日本专利申请特许公开No.2008-293571
在该示例中，一个TDMA被提供在每个记录层L的内区中。具体地，在该情况中，内区中的TDMA被提供在每个记录层L中的内区的最外面的圆周区域中。
然后，在该示例中，TDMA还被提供在每个记录层L中的数据区的最里面的圆周区域中。
在该情况下，首先使用被提供在内区中的TDMA，并且接下来使用被提供在数据区中的TDMA。也就是说，在使用被提供在内区中的TDMA 之后，使用被提供在数据区中的TDMA。
还有，在根据该示例的布局中，OPC预留区域还被提供在每个记录层 L的数据区中。具体地，OPC预留区域被提供用于每个记录层L中的OSA。
这里，内区中的预写区域、初始OPC区域和OPC预留区域的布置根据记录层L而变化，如附图中例示的。
例如，在记录层L0中，自内周侧以OPC预留区域、预写区域、OPC 预留区域、初始OPC区域、OPC预留区域和TDMA的次序布置区域。此外，在记录层L1中，自内周侧以初始OPC区域、OPC预留区域、预写区域、OPC预留区域和TDMA的次序布置区域。在记录层L2中，以OPC 预留区域、初始OPC区域、预写区域、OPC预留区域、TDMA的次序布置区域。
对于初始OPC区域，记录层L0中的初始OPC区域被布置成与记录层L2中的初始OPC区域相比更接近内周侧。还有，对于预写区域，在记录层L1中的预写区域被布置成与记录层L0中的预写区域相比更接近内周侧，并且记录层L2中的预写区域被布置成与记录层L0中的预写区域相比更接近外周侧。
[2.驱动装置的配置]
接下来，将描述对应于光学记录介质100的驱动装置(记录/再现装置) 50。
在该示例中，在没有数据被记录在可记录区域中的空白状态下，驱动装置50执行光学记录介质100的格式化过程。此外，驱动装置50对格式化的光学记录介质100的用户数据区域执行数据记录/再现过程。如果必要的话，驱动装置50针对TDMA、ISA和OSA执行数据记录/再现过程。
图4是例示驱动装置50的内部配置的框图。
光学记录介质100被放置在转盘(未例示)上，并且在记录/再现操作期间通过主轴马达(SPM)52以恒定线速度(CLV)旋转。然后，光学拾取器(光学头)51读出例如作为光学记录介质100上凹槽轨道的摆动已经嵌入的地址信息。
还有，在格式化过程或用户数据记录过程期间，光学拾取器51将管理/控制信息或用户数据记录在可记录区域中的轨道上。在再现过程期间，光学拾取器51读出所记录的数据。
光学拾取器51包括充当激光源的激光二极管、用于检测反射光的光电探测器、作为激光输出端的物镜，以及将激光通过物镜发射到盘的记录表面且将反射光引导到光电探测器的光学系统(未例示)。
在光学拾取器51中，物镜被保持为通过双轴机构在寻轨方向和聚焦方向上是可移动的。此外，整个光学拾取器51可通过螺纹机构53在光学记录介质100的径向方向上移动。
在光学拾取器51中，响应于来自激光驱动器63的驱动信息(驱动电流)，驱动激光二极管发射激光。
由光学拾取器51中的光电探测器检测来自光学记录介质100的反射光信息，该反射光信息被转换成对应于所接收的光量的电信号，并且被供应到矩阵电流54。矩阵电路54包括例如对应于来自作为光电探测器的多个光接收元件的输出电流的电流/电压转换电路和矩阵操作/放大电路，并且使用矩阵操作过程生成必要的信号。
例如，矩阵电路54生成对应于再现数据的高频信号(再现数据信号)、用于伺服控制的聚焦误差信号、和寻轨误差信号。
此外，矩阵电路54生成与凹槽摆动有关的信号(也就是说，推挽信号)作为用于检测摆动的信号。
注意，在一些情况中，矩阵电路54被一体地提供在光学拾取器51中。
从矩阵电路54输出的再现数据信号被供应到读/写器电路55。此外，聚焦误差信号和寻轨误差信号被供应到伺服电路61，并且推挽信号被供应到摆动电路58。
读/写器电路55使用用于再现数据信号的锁相环(PLL)，执行例如二进制化过程和再现时钟生成过程，以再现由光学拾取器51读出的数据，并且将所再现的数据供应到调制/解调电路56。调制/解调电路56包括在再现期间充当解码器的功能单元和在记录期间充当编码器的功能单元。在再现期间，在再现时钟的基础上解调行程长度受限码的过程被执行作为解码过程。
还有，纠错码(ECC)编码器/解码器57执行在记录期间添加纠错码的ECC编码过程，以及在再现期间执行纠错的ECC解码过程。
在再现期间，通过调制/解调电路56解调的数据被存储在内部存储器中，并且，例如，执行误差检测/纠错过程和去交织过程以获得再现数据。
在来自系统控制器60的指令的基础上读出通过用ECC编码器/解码器 57对再现数据进行解码获得的数据，并且该数据被传输到连接到驱动装置的装置(例如，音频-视频(AV)系统110)。
摆动电路58处理推挽信号，该推挽信号被输出作为与来自矩阵电路 54的凹槽摆动有关的信号。由摆动电路58将推挽信号解调成形成地址信息的数据流，并且数据流被供应到地址解码器59。地址解码器59对所供应的数据进行解码以获得地址值，并且将地址值供应到系统控制器60。
此外，地址解码器59使用从摆动电路58供应的摆动信号用PLL过程生成时钟，并且例如，在记录到每个单元期间将时钟供应作为编码时钟。
在记录期间，从AV系统110传输记录数据。记录数据被传输到ECC 编码器/解码器57中的存储器，并且被缓冲在存储器中。在该情况下，ECC 编码器/解码器57执行例如纠错码附加过程、交织过程或子代码附加过程作为对所缓冲的记录数据进行编码的过程。
此外，调制/解调电路56使用例如RLL(1-7)PP方法将ECC编码的数据调制成预定行程长度受限码，并且所调制的行程长度受限码被供应到读/写器电路55。
如上所述，从摆动信号生成的时钟被用作编码时钟，该编码时钟是在记录期间用于编码过程的参考时钟。
例如，读/写器电路55执行以下作为记录补偿过程：精细调整记录功率以便最适合记录层L的特性、激光的光斑形状和记录线性速度的过程，或调整用于由编码过程所生成的记录数据的激光驱动脉冲的过程。所处理的记录数据作为激光驱动脉冲被传输到激光驱动器63。
激光驱动器63将所供应的激光驱动脉冲传输到光学拾取器51中的激光二极管，并且驱动激光二极管以发射激光束。以该方式，对应于记录数据的标记形成在光学记录介质100上。
注意，激光驱动器63包括所谓的自动功率控制(APC)电路，并且执行控制，使得激光器的输出恒定，而不管例如温度，同时在被提供在光学拾取器51中用于监测激光功率的检测器的输出的基础上监测激光器的输出功率。在记录期间和再现期间，系统控制器60给出激光器的输出的目标值。激光驱动器63执行控制，使得在记录期间和在再现期间激光器的输出电平等于目标值。
伺服电路61由来自矩阵电路54的聚焦误差信号和寻轨误差信号生成各种伺服驱动信号，诸如聚焦信号、寻轨信号和螺纹信号，并且执行伺服操作。也就是说，伺服电路61在聚焦误差信号和寻轨误差信号的基础上，生成聚焦驱动信号和寻轨驱动信号，并且驱动在光学拾取器51中的双轴机构的聚焦线圈和寻轨线圈。以该方式，通过光学拾取器51、矩阵电路 54、伺服电路61和双轴机构形成寻轨伺服回路和聚焦伺服回路。
还有，伺服电路61关掉寻轨伺服回路，输出跳跃驱动信号，并且响应于来自系统控制器60的轨道跳跃命令，执行轨道跳跃操作。
还有，伺服电路61生成被获得作为寻轨误差信号的低频分量的螺纹误差信号，或在来自系统控制器60的访问执行控制的基础上生成螺纹驱动信号，并且驱动螺纹机构53。螺纹机构53包括通过例如由用于保持光学拾取器51的总轴、螺纹马达和变速齿轮形成的机构，并且响应于螺纹驱动信号，驱动螺纹马达，使得执行光学拾取器51的预定滑动操作。
主轴伺服电路62执行控制，使得以CLV旋转主轴马达52。
主轴伺服电路62获得通过对摆动信号执行PLL过程生成的时钟作为主轴马达52的当前旋转速度信息，并且将时钟与预定CLV参考速度信息比较，以生成主轴误差信号。
此外，当再现数据时，由在读/写器电路55中的PLL过程生成的再现时钟(用于解码过程的参考时钟)变成主轴马达52的当前旋转速度信息。因而，可将再现时钟与预定CLV参考速度信息比较，以生成主轴误差信号。
然后，主轴伺服电路62输出已经根据主轴误差信号生成的主轴驱动信号，以控制主轴马达62，使得主轴马达62以CLV旋转。此外，主轴伺服电路62响应于来自系统控制器60的主轴起动/制动控制信号，生成主轴驱动信号，以例如使主轴马达52开始、停止、加速和减速。
由作为微型计算机的系统控制器60控制伺服系统和记录/再现系统的各种操作。
系统控制器60响应于来自AV系统110的命令，执行各种过程。
例如，当AV系统110输出写入指令(写入命令)时，首先，系统控制器60将光学拾取器51移动到数据将被写入的地址。然后，ECC编码器 /解码器57和调制/解调电路56对从AV系统110传输的数据执行编码过程，如上所述。然后，如上所述，来自读/写器电路55的激光驱动脉冲被供应到激光驱动器63，并且执行记录。
还有，例如，在AV系统110供应读出命令以需要记录在光学记录介质100上的数据的传输的情况下，首先，为指定的地址执行寻求操作控制。也就是说，系统控制器60将命令输出到伺服电路61，使得光学拾取器51 访问由寻求命令指定的地址。然后，系统控制器60执行将在指定数据区段中的数据传输到AV系统110所需的操作控制。也就是说，系统控制器60执行控制，使得从光学记录介质100读出数据，指示读/写器电路55、调制/解调电路56和ECC编码器/解码器57，例如对数据进行解码且缓冲数据，并且传输所需要的数据。
此外，当记录或再现数据时，系统控制器60可使用由摆动电路58和地址解码器59检测的地址信息，执行访问过程或记录/再现操作。
图4例示被提供在系统控制器60中的高速缓冲存储器60a。例如，高速缓冲存储器60a被用于存储从光学记录介质100的TDMA读出的TDFL/ 空间位图，或更新TDFL/空间位图。
例如，当插入光学记录介质100时，系统控制器60控制每个单元，使得读出记录在TDMA中的TDFL/空间位图，并且读出信息被存储在高速缓冲存储器60a中。然后，当写入数据或因缺陷而执行替代过程时，系统控制器60更新存储在高速缓冲存储器60a中的TDFL/空间位图。例如，每当因数据的写入或重写而执行替代过程以及更新空间位图或TDFL，系统控制器60可额外地将TDFL或空间位图记录在光学记录介质100的 TDMA中。然而，在该情况下，快速消耗光学记录介质100的TDMA。由于这个原因，例如，当从驱动装置50弹出光学记录介质时，在高速缓冲存储器60a中更新TDFL/空间位图。因而，例如，当弹出光学记录介质时，在高速缓冲存储器60a中的最终(最新)TDFL/空间位图被写入到光学记录介质100的TDMA。用该结构，共同执行更新TDFL/空间位图的多个操作，并且在光学记录介质100上更新TDFL/空间位图，这使得可能减少光学记录介质100的TDMA的消耗。注意，用于更新光学记录介质100上的TDMA的该方法不限于TDFL/空间位图，并且类似地应用于在TDMA 中需要更新的各种各样的信息。
注意，图4例示连接到AV系统110的驱动装置50的配置的示例。然而，驱动装置50可被连接到例如个人计算机。此外，驱动装置50可能未被连接到其它装置。在该情况下，提供操作单元或显示单元，或数据输入 /输出接口单元的配置与图4中例示的不同。也就是说，可根据用户的操作记录或再现数据，并且可形成用于输入和输出各种各样的数据的终端单元。
[3.OPC区域的设定示例和OPC区域的使用示例]
接下来，将描述通过驱动装置50的OPC区域的设定。
在该实施例中，如图3中例示的，驱动装置50在光学记录介质100 的每个记录层L中的预定OPC预留区域中设定OPC区域。对处于空白状态的光学记录介质100执行OPC区域的设定。也就是说，当执行格式化过程时，执行设定。
在该示例中，指示图3中所例示的布局的信息(在下文中，被称为“布局信息”)被提前存储在驱动装置50中，并且在处于空白状态下光学记录介质100的插入时，驱动装置50可读出布局信息，并且检查每个记录层L 中的OPC预留区域的位置。
在该示例中，驱动装置50根据应用于光学记录介质100的文件系统的类型，设定OPC区域。
这里，假设存在以下第一文件系统和第二文件系统，作为可应用于光学记录介质100的文件系统。
●第一文件系统，其中即使在数据已经被记录在任何记录层L中的情况下，管理信息仍需要被记录在被提供在最内侧(与激光入射面相对的一侧)的记录层L0的内区中，并且用于记录层L0的内区中的OPC区域的量趋于多于在其它记录层L中的OPC区域的量。
●第二文件系统，其中管理信息被记录在已经记录数据的记录层L的内区中，并且用于每个记录层L的内区中的OPC区域的量趋于基本上彼此相等。
图5例示在应用第一文件系统的情况下OPC区域的设定的示例，并且图6例示在应用第二文件系统的情况下OPC区域的设定的示例。
注意，图5的A和图6的A例示在内区的OPC预留区域中的OPC 区域的设定的示例，并且图5的B和图6的B例示在数据区的OSA中的 OPC预留区域中的OPC区域的设定的示例。
在上面的描述中，为了便于解释，记录层L2中的初始OPC区域被称为“OPC区域#9”。
如图5的A中例示的，在应用第一文件系统的情况下，在记录层L0 的内区中设定三个OPC区域#1到#3，两个OPC区域#4和#5被设定在记录层L1的内区中，并且三个OPC区域#6到#8被设定在记录层L2的内区中。
OPC区域#1到#3、OPC区域#4和OPC区域#7和#8具有基本上相同大小。此外，OPC区域#5和#6中的每个的大小大约等于或大于OPC区域 #1到#3、OPC区域#4，以及OPC区域#7和#8中的每个的大小的一半。
注意，在该示例中，将被设定的OPC区域的大小大于用于格式化过程中的初始OPC区域的大小。
对于每个记录层L中OPC区域的分布，通过图5的A中例示的OPC 区域的上面提及的设定，分布在记录层L0中的OPC区域的数量大于分布在其它记录层L1和L2中的OPC区域的数量。也就是说，OPC区域被分布成对应于第一文件系统，在第一文件系统中，用于记录层L0的内区中的OPC区域的量多于在其它记录层L中的OPC区域的量。
对于在每个记录层L中的OPC区域的详细布置，首先，在记录层L0 中，使用被提供在预写区域PWA和初始OPC区域之间的OPC预留区域，并且以OPC区域#1、#2和#3的次序自内周侧设定OPC区域#1、#2和#3。
还有，在记录层L1中，使用被提供在初始OPC区域和预写区域之间的OPC预留区域，并且以OPC区域#4和#5的次序自内周侧设定OPC区域#4和#5。在与记录层L2中的初始OPC区域相比更接近内周侧的OPC 预留区域中，OPC区域#6被设定在最里面的圆周部分中，并且OPC区域 #7和#8以OPC区域#7和#8的次序自内周侧被设定在与初始OPC区域的内周侧相邻的区域中。
这里，在该示例中，在如上所述设定的OPC区域#1到#8之中，OPC 区域#1、#4、#5、#7和#8被定义为不管在层方向上被提供在跟前侧和内侧上的记录层L中的OPC区域的使用而使用的区域(对于记录层L1中的 OPC区域#4和#5，记录层L被提供在跟前侧和内侧上)。此外，包括OPC 区域#9的初始OPC区域被定义为不管与在层方向上被提供在跟前侧和内侧上的记录层中的OPC区域重叠的OPC区域的使用而使用的区域。
在该情况下，定义了以#4和#5的次序使用记录层L1中的OPC区域 #4和#5。此外，定义了以#8和#7的次序使用记录层L2中的OPC区域#7 和#8。注意，如果OPC区域包括作为初始OPC区域的OPC区域#9，则以#9、#8和#7的次序使用记录层L2中的OPC区域。
记录层L0中的OPC区域#2和#3被定义为当尚未使用OPC区域(该 OPC区域在层方向上被提供在跟前侧上且与OPC区域#2和#3重叠)时使用的区域。具体地，在该示例中，假设以#8和#7的次序使用与记录层L0 相比更接近跟前侧的记录层L2中的OPC区域#8和#7，OPC区域#3被定义为当尚未使用被提供在跟前侧上的OPC区域#8时使用的区域(也就是说，这与尚未使用OPC区域#8和#7两者的情况是一样的)，并且OPC区域#2被定义为当尚未使用被提供在跟前侧上的OPC区域#7时使用的区域。
也就是说，在尚未使用被提供在跟前侧上且与OPC区域重叠的OPC 区域的状态下使用被提供在内侧上的OPC区域，这防止因跟前侧记录层的透射率的改变的影响而造成的激光功率的调整的失败。
这里，应该认为，在具有多个记录层L的光学记录介质中，由于偏心，所以可发生记录层L之间的位置偏差(地址偏移)。在下文中，假设由于光学记录介质100中的偏心而发生的记录层L之间的位置偏差量被称为“位置偏差量Tr”。
考虑位置偏差，如下设定OPC区域#2、#3、#7和#8中的每个的位置 (地址)。
具体地，设定OPC区域#8的布置位置，使得OPC区域#8的内周侧端的位置以等于或大于位置偏差量Tr的距离从OPC区域#2的外周侧端的位置分离到外周侧。因而，即使当使用OPC区域#8时，也可保障透射率的改变将不会发生在OPC区域#2的跟前侧。
还有，设定OPC区域#7的布置位置，使得OPC区域#7的内周侧端的位置以等于或大于位置偏差量Tr的距离从OPC区域#1的外周侧端的位置分离到外周侧。因而，即使当使用OPC区域#7时，也可保障透射率的改变将不会发生在OPC区域#1的跟前侧。
注意，设定OPC区域#9的布置位置，使得OPC区域#9的内周侧端的位置以等于或大于位置偏差量Tr的距离从记录层L0中的初始OPC区域的外周侧端的位置分离到外周侧。因而，记录层L0中的初始OPC区域不受作为被提供在跟前侧的OPC区域#9的初始OPC区域中的透射率改变的影响。
还有，在该示例中，记录层L2中的OPC区域#6被定义为当已经使用在层方向上被提供在内侧且与OPC区域#6重叠的OPC区域时使用的区域。具体地，OPC区域#6被定义为当已经使用被提供在内侧的OPC区域 #4时使用的区域。
在该情况下，为了防止OPC区域#5受被提供在跟前侧的OPC区域#6 中的透射率改变的影响，OPC区域#5被定位成使得OPC区域#5的内周侧端的位置(OPC区域#4和#5之间的边界的位置)以等于或大于位置偏差量Tr的距离从OPC区域#6的外周侧端的位置分离到外周侧。
此外，驱动装置50在每个记录层L的数据区中的OSA的OPC预留区域中设定OPC区域，如图5的B中例示的。
在该示例中，考虑例如平面中记录特性的改变，OPC预留区域被布置在数据区的OSA(外周侧端区域)中，并且OPC区域被设定在OPC预留区域中。
此外，布置在数据区中的OPC预留区域中OPC区域的设定使得可能得到适合于在数据区中记录的记录条件。具体地，在如上所述的在数据区中以与内区中的速度或密度相比更高的速度或更高的密度执行记录的情况下，需要得到适合于在数据区中记录速度或记录密度的记录条件。因而，优选地，在数据区中设定OPC区域。
OPC区域如下被设定在OSA的OPC预留区域中。如图5的B中例示的，OPC区域#10和#11被设定在记录层L0中，OPC区域#12和#13被设定在记录层L1中，并且OPC区域#14被设定在记录层L2中。在该示例中，设定在OSA中的OPC区域#10到#14的大小基本上彼此相等。
如图的5B中例示的，OPC区域#11、#13和#14中的每个被设定在对应的记录层L中的OSA的最外面的圆周部分中。OPC区域#12被设定成与OPC区域#13相比更接近内周侧，并且OPC区域#10被设定成与OPC 区域#12相比更接近内周侧。
OPC区域#10、#12和#14被定义为不管在层方向上被提供在跟前侧和内侧的记录层L中的OPC区域的使用而使用的区域(对于记录层L1中的 OPC区域#12，记录层L被提供在跟前侧和内侧两者)。
相比之下，OPC区域#11和#13被定义为当尚未使用在层方向上被提供在跟前侧且与OPC区域#11和#13重叠的OPC区域时使用的区域。
在OSA中，为了防止OPC区域#12受被提供在跟前侧的OPC区域#14 中的透射率改变的影响，考虑由偏心引起的位置偏差，设定OPC区域#12 的布置位置，使得OPC区域#12的外周侧端的位置与OPC区域#14的内周侧端的位置相比更接近内周侧。此外，为了防止OPC区域#10受被提供在跟前侧的OPC区域#12中的透射率改变的影响，设定OPC区域#10的布置位置，使得OPC区域#10的外周侧端的位置与OPC区域#12的内周侧端的位置相比更接近内周侧。
接下来，在应用图6中例示的第二文件系统的情况下的OPC区域的设定的示例与图5中例示的设定的示例不同在于：在内区中没有设定OPC 区域#3。
在记录层L0中未设定OPC区域#3引起与图5中所例示的设定的示例中的这些相比OPC区域更均匀地分布在每个记录层L中。也就是说，这适合于第二文件系统，在第二文件系统中，在每个记录层L中使用的 OPC区域的量趋于基本上彼此相等。
此外，通过与在应用第一文件系统的情况下的类似的方法将OPC区域设定在数据区的OPC预留区域中。
在该示例中，驱动装置50在格式化过程期间在OPC预留区域中设定 OPC区域。驱动装置50在格式化过程中记录指示光学记录介质50的 TDMA中的所设定的OPC区域(例如，TDMA中的TDDS)的位置的信息。具体地，驱动装置50将指示OPC区域的开始地址和OPC区域的长度的信息记录为指示OPC区域的位置的信息。
此外，在使用所设定的OPC区域的情况下，驱动装置50还记录指示可被用于TDMA中的OPC区域(例如，TDDS)中的下一地址(在下文中，为了方便被称为“OPC-NW地址”)的信息。
还有，在该示例中，在格式化过程期间除了设定OPC区域之外，如果必要的话，驱动装置50额外地设定OPC区域。
具体地，在该示例中，在确定设定在每个记录层L的数据区和内区中的所有OPC区域不可用的情况下，在对应的记录层L的数据区中设定新的OPC区域。具体地，在数据区的用户数据区域中设定新的OPC区域。
在数据区中额外地设定OPC区域的情况下，倘若跟前侧记录层L处于未记录状态，则OPC区域被额外地设定在跟前侧上具有记录层L的记录层L0和L1中。具体地，在该示例中，在其中额外地设定OPC区域的记录层L的用户数据区域中，OPC区域被额外地设定在对应于跟前侧记录层L的未记录区域的区域中。
在不存在与跟前侧记录层L的未记录区域对应的未记录区域的情况下，没有将OPC区域额外地设定在用户数据区域中。
此外，对于在内侧上具有记录层L的记录层L1和L2，优选地额外地将OPC区域设定在对应于内侧记录层L的记录区域的区域中。具体地，在其中额外地设定OPC区域的记录层L的用户数据区域中，优选地额外地将OPC区域设定在与内侧记录层L的记录区域对应的未记录区域中。
这里，在记录层L1中，考虑跟前侧记录层L和内侧记录层L两者的记录状态/未记录状态，额外地设定OPC区域。具体地，在记录层L1的用户数据区域中，优选地额外地将OPC区域设定在与跟前侧记录层L2的未记录区域以及内侧记录层L0的记录区域对应的未记录区域中。在不存在对应的区域的情况下，额外地将OPC区域设定在与跟前侧记录层L2的未记录区域对应的未记录区域中。
在如上所述额外地设定OPC区域的情况下，驱动装置50记录指示额外地设定的OPC区域的位置的信息。在使用OPC区域的情况下，驱动装置50记录指示可被用在TDMA中的OPC区域(例如，TDDS)中的下一地址的信息。注意，在该情况下，优选地，设定记录时间(例如光学记录介质100的弹出时间)，使得减少光学记录介质100的管理/控制信息的更新频率。
注意，虽然上面已经描述指示所设定的OPC区域的位置的信息(和指示可使用的下一地址的信息)被记录在TDMA中的情况，但是该信息可被记录在光学记录介质100上，使得可通过其它驱动装置50再现和获取信息。没有特别限制详细的记录方面。
[4.过程]
将参考图7到图13中例示的流程图描述用于实现在上述实施例中的 OPC区域的设定的示例和OPC区域的使用的示例的过程。
注意，例如，驱动装置50的系统控制器60根据存储在系统控制器60 中的预定存储设备(诸如只读存储器(ROM))中的程序执行图7到图13 例示的过程。
图7例示与OPC区域的设定有关的过程。
注意，在确定处于空白状态(未格式化状态)下的光学记录介质100 已经被插入到驱动装置50中的情况下执行图7中例示的过程。
在图7中，系统控制器60检查所插入的光学记录介质100的区布局，并且检查初始OPC区域的位置。如上所述，驱动装置50存储指示光学记录介质100的区布局的布局信息，并且系统控制器60基于布局信息检查初始OPC区域的位置。
然后，在步骤S102中，系统控制器60执行初始OPC过程。也就是说，系统控制器60控制伺服电路61和主轴伺服电路62，使得光学拾取器 51访问初始OPC区域。此外，系统控制器60将作为OPC测试模式的信号从读/写器电路55供应到激光驱动器63，使得对OPC区域执行测试记录。还有，系统控制器60再现所记录的OPC区域，获得再现信息信号的评估值(例如，抖动、不对称和误差率)，并且确定最佳记录激光功率。然后，系统控制器60将激光功率设定为该最佳功率。
然后，在步骤S103中，系统控制器60确定将应用于光学记录介质 100的文件系统的类型。也就是说，在该示例中，系统控制器60确定文件系统是第一文件系统还是第二文件系统。注意，例如，AV系统110告知将被应用于光学记录介质100的文件系统的类型。
在文件系统是第一文件系统的情况下，在步骤S104中，系统控制器 60执行第一格式化过程，并且结束图7中例示的过程。在文件系统是第二文件系统的情况下，在步骤S105中，系统控制器60执行第二格式化过程，并且结束图7中例示的过程。
作为步骤S104中的第一格式化过程，执行以下过程：至少记录指示数据区的开始地址ADdts和结束地址ADdte，以及图2中例示的用户数据区域的开始地址ADus和结束地址ADue的信息，以及指示在光学记录介质100的TDMA中按照图5的A和图5的B中所描述的布置方面设定的每个OPC区域的位置的信息。
此外，作为步骤S105中的第二格式化过程，执行以下过程：至少记录指示数据区的开始地址ADdts和结束地址ADdte，以及用户数据区域的开始地址ADus和结束地址ADue的信息，以及指示在光学记录介质100 的TDMA中按照图6的A和图6的B中所描述的布置方面设定的每个 OPC区域的位置的信息。
注意，在该示例中，在格式化过程期间，初始OPC区域的位置信息 (例如，至少初始OPC区域#9的位置信息)也被记录在TDMA中。
图8例示与所设定的OPC区域的使用有关的过程。
在图8中，在步骤S201中，系统控制器60等待直到(在格式化过程期间除初始OPC过程之外的)OPC过程开始。在OPC过程开始的状态下，在步骤S202中，系统控制器60确定记录层L(当前层)将经历OPC过程。
在当前层是记录层L0时，在步骤S203中，系统控制器60执行L0 对应过程。在当前层是记录层L1时，在步骤S204中，系统控制器60执行L1对应过程。在当前层是记录层L2时，在步骤S205中，系统控制器 60执行L2对应过程。然后，系统控制器60结束图8中例示的过程。
注意，接下来，将描述L0对应过程(S203)、L1对应过程(S204) 和L2对应过程(S205)。对于L0对应过程，对应于第一文件系统已经应用于的光学记录介质100的过程被描述为示例。下面将描述对应于第二文件系统已经应用于的光学记录介质100的过程。
图9和图10例示在步骤S203中的L0对应过程。
在图9中，在步骤S301中，系统控制器60确定当前区是否是数据区。也就是说，系统控制器60确定将经历OPC过程的区是否是记录层L0的数据区。
在当前区是数据区时，系统控制器60前进到图10中例示的步骤S310。此外，下面将描述图10中例示的过程。
在当前区不是数据区时，系统控制器60前进到步骤S302，并且确定是否尚未使用OPC区域#8。
那时，系统控制器60在指示记录在光学记录介质100上的OPC区域的位置的信息的基础上，确定是否尚未使用当前OPC区域。例如，在该示例中，系统控制器60在指示记录在TDMA中的OPC区域的开始地址和OPC-NW地址的信息的基础上，确定是否尚未使用当前OPC区域(在步骤S302中的#8)。具体地，确定当前OPC区域的开始地址和OPC-NW 地址是否彼此相同，以便确定是否尚未使用当前OPC区域。
这里，例如，在从光学记录介质100的插入开始的启动过程期间，系统控制器60提前执行再现操作，以将信息高速缓冲(存储)到高速缓冲存储器60a中，该信息包括关于OPC区域的开始地址和OPC-NW地址并且已经被记录在光学记录介质100的TDMA中的信息。也就是说，系统控制器60获取关于存储在高速缓冲存储器60a中的OPC区域的开始地址和OPC-NW地址的信息，并且执行上面提及的确定。
在步骤S302中确定尚未使用OPC区域#8的情况下，系统控制器60 前进到步骤S303，并且确定OPC区域#3是否是可用的。换句话说，系统控制器60确定在OPC区域#3中是否存在空间，该空间具有等于或大于被安排用于OPC过程中的区域大小的大小。在该示例中，系统控制器60在关于当前OPC区域的开始地址、长度和OPC-NW地址的基础上，确定当前OPC区域是否是可用的。具体地，执行OPC区域的未使用区域的大小 (在信息的基础上计算OPC区域的未使用区域的大小)是否等于或大于被安排用于OPC过程中的区域大小，以便确定OPC区域是否是可用的。
在步骤S303中确定OPC区域#3是可用的情况下，系统控制器60选择OPC区域#3作为将在步骤S304中使用的OPC区域，并且前进到步骤 S315。在步骤S315中，系统控制器60在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S203中的L0对应过程。
注意，在OPC过程中，系统控制器60指导光学拾取器51访问所选择的OPC区域，并且将信号作为OPC测试模式供应到激光驱动器63，使得针对OPC区域执行测试记录。然后，系统控制器60再现所记录的OPC 区域，获得再现信息信号的评估值，并且确定最佳记录激光功率。然后，系统控制器60将激光功率设定为最佳功率。
在尚未使用在层方向上被提供在跟前侧上且与OPC区域#3重叠的 OPC区域#8的情况下，通过S302到S304→S315的流程使用记录层L0 中的OPC区域#3。
然后，在步骤S302中确定已经使用OPC区域#8的情况下，并且在步骤S303中确定OPC区域#3是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S305，并且确定是否尚未使用OPC区域#7。
当尚未使用OPC区域#7时，系统控制器60前进到步骤S306，并且确定OPC区域#2是否是可用的。当OPC区域#2是可用的时，系统控制器60前进到步骤S307，并且将OPC区域#2选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S315，并且在所选择的区域中执行 OPC过程。然后，系统控制器60结束在步骤S203中的L0对应过程。
以该方式，在尚未使用在层方向上被提供在跟前侧上且与OPC区域 #2重叠的OPC区域#7的情况下，使用记录层L0中的OPC区域#2。
在步骤S305中确定已经使用OPC区域#7的情况下，以及在步骤S306 中确定OPC区域#2是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S308，并且确定OPC区域#1是否是可用的。当OPC区域#1是可用的时，系统控制器60前进到步骤S309，并且将OPC区域#1选择作为将被使用的OPC 区域。然后，系统控制器60前进到步骤S315，并且在所选择的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器60结束在步骤S203中的L0对应过程。
相比之下，在步骤S308中确定OPC区域#1是不可用的情况下，系统控制器60前进到图10中例示的步骤S310。
在图10中例示的步骤S310中，系统控制器60确定是否尚未使用设定在数据区的OSA中的OPC区域#13和#14。当尚未使用OPC区域#13 和#14时，系统控制器60前进到步骤S311，并且确定在记录层L0中的 OPC区域#11是否是可用的。当OPC区域#11是可用的时，系统控制器 60前进到步骤S312，并且将OPC区域#11选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到图9中描述的步骤S315，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S203中的L0对应过程。
以该方式，在尚未使用在层方向上被提供在跟前侧上的记录层中且与 OPC区域#11重叠的OPC区域#13和#14情况下，使用记录层L0中的OPC 区域#11。
在步骤S310中确定已经使用OPC区域#13和#14的情况下，以及在步骤S311中确定OPC区域#11是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S313，并且确定OPC区域#10是否是可用的。当OPC区域#10是可用的时，系统控制器60前进到步骤S314，并且将OPC区域#10选择作为将被使用OPC区域。然后，系统控制器60前进到图9中例示的步骤S315，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S203中的L0对应过程。
还有，在步骤S313中确定OPC区域#10是不可用的情况下，也就是说，在确定设定在当前层的数据区(OSA)中的所有OPC区域是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S316，并执行将OPC区域添加到用户数据区域的过程。然后，系统控制器60结束在步骤S203中的L0对应过程。
注意，下面将描述将OPC区域添加到用户数据区域的过程。
这里，对应于第一文件系统已经被应用于的光学记录介质100的过程已经被描述为在步骤S203中的L0对应过程。然而，在上面提及的过程之中，可对第一文件系统已经应用于的光学记录介质100执行除图9中例示的步骤S302到步骤S304中的过程(也就是说，与OPC区域#3有关的过程)之外的过程。
当执行在步骤S203中的L0对应过程时，系统控制器60确定应用于光学记录介质100的文件系统的类型，并且在附图中未例示的确定结果的基础上，执行图9和图10中例示的过程以及在图9和图10中例示的过程之中除步骤S302到S304中的过程之外的过程中的对应的一个过程。
接下来，将参考图11描述在步骤S204中的L1对应过程。
在图11的步骤S401中，系统控制器60确定当前区是否是数据区。在当前区是数据区时，系统控制器60前进到步骤S406，将在下面描述步骤S406。
在当前区不是数据区时，系统控制器60前进到步骤S402，并且确定 OPC区域#4是否是可用的。当OPC区域#4是可用的时，在步骤S403中，系统控制器60将OPC区域#4选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S411，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S204中的L1对应过程。
还有，在步骤S402中确定OPC区域#4是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S404，并且确定OPC区域#5是否是可用的。当OPC区域#5是可用的时，系统控制器60前进到步骤S405，并且将OPC区域#5 选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S411，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S204中的L1对应过程。
在步骤S404中确定OPC区域#5是不可用的情况下，系统控制器60 前进到步骤S406。
在步骤S406中，系统控制器60确定是否尚未使用设定在数据区的 OSA中的OPC区域#14。当尚未使用OPC区域#14时，系统控制器60前进到步骤S407，并且确定记录层L1中的OPC区域#13是否是可用的。当 OPC区域#13是可用的时，系统控制器60前进到步骤S408，并且将OPC 区域#13选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S411，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S204中的 L1对应过程。
以该方式，在尚未使用在层方向上被提供在跟前侧上且与OPC区域 #13重叠的OPC区域#14的情况下，使用记录层L1中的OPC区域#13。
相比之下，在步骤S406中确定已经使用OPC区域#14的情况下，系统控制器60前进到步骤S409，并且确定OPC区域#12是否是可用的。当 OPC区域#12是可用的时，系统控制器60前进到步骤S410，并且将OPC 区域#12选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S411，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S204中的 L1对应过程。
还有，在步骤S409中确定OPC区域#12是不可用的情况下，也就是说，在确定设定在当前层的数据区(OSA)中的所有OPC区域是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S412，执行将OPC区域添加到用户数据区域的过程，并且结束步骤S204中的L1对应过程。
将参考图12描述在步骤S205中的L2对应过程。
在图12的步骤S501中，系统控制器60确定当前区是否是数据区。在当前区是数据区时，系统控制器60前进到步骤S511，将在下面描述步骤S511。
在当前区不是数据区时，系统控制器60前进到步骤S502，并且确定是否已经使用OPC区域#4。也就是说，系统控制器60确定当前OPC区域是否视为已经使用。例如，系统控制器60确定是否存在具有等于或大于被安排用于OPC过程中的区域大小的大小的空间。
当已经使用OPC区域#4时，系统控制器60前进到步骤S503，并且确定OPC区域#6是否是可用的。当OPC区域#6是可用的时，系统控制器60前进到步骤S504，并且将OPC区域#6选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S513，在所选择的区域中执行OPC 过程，并且结束在步骤S205中的L2对应过程。
以该方式，在已经使用被提供在内侧上且与OPC区域#6重叠的OPC 区域#4的情况下，使用记录层L2中的OPC区域#6。
相比之下，在步骤S502中确定尚未使用OPC区域#4的情况下，系统控制器60前进到步骤S505，并且确定OPC区域#9是否是可用的。当OPC 区域#9是可用的时，系统控制器60前进到步骤S506，并且将OPC区域 #9选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S513，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S205中的L2对应过程。
还有，在步骤S505中确定OPC区域#9是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S507，并且确定OPC区域#8是否是可用的。当OPC区域#8是可用的时，系统控制器60前进到步骤S508，并且将OPC区域#8 选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S513，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S205中的L2对应过程。
此外，在步骤S507中确定OPC区域#8是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S509，并且确定OPC区域#7是否是可用的。当OPC区域#7是可用的时，系统控制器60前进到步骤S510，并且将OPC区域#7 选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S513，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S205中的L2对应过程。
在步骤S509中确定OPC区域#7是不可用的情况下，系统控制器60 前进到步骤S511。
在步骤S511中，系统控制器60确定设定在数据区的OSA中的OPC 区域#14是否是可用的。当OPC区域#14是可用的时，系统控制器60前进到步骤S512，并且将OPC区域#14选择作为将被使用的OPC区域。然后，系统控制器60前进到步骤S513，在所选择的区域中执行OPC过程，并且结束在步骤S205中的L2对应过程。
在步骤S511中确定OPC区域#14是不可用的情况下，也就是说，在确定设定在当前层的数据区(OSA)中的所有OPC区域是不可用的情况下，系统控制器60前进到步骤S514，并且执行将OPC区域添加到用户数据区域的过程。然后，系统控制器60结束在步骤S205中的L2对应过程。
将参考图13描述将OPC区域添加到用户数据区域的过程(S316、S412 和S514)。
在图13的步骤S601中，系统控制器60确定当前层是否是记录层L1。在当前层不是记录层L1时，系统控制器60前进到步骤S602，并且确定当前层是否是记录层L0。
在当前层是记录层L0时，系统控制器60前进到步骤S603，并且确定在当前层(记录层L0)的用户数据区域中的未记录区域中是否存在与跟前侧记录层L(也就是说，记录层L1和记录层L2)的未记录区域对应的区域。
当在记录层L0的用户数据区域中的未记录区域中存在与跟前侧记录层L的未记录区域对应的区域时，系统控制器60前进到步骤S604，并且将OPC区域设定在对应的区域中。然后，系统控制器60前进到步骤S612，并且在所设定的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器60结束图13 中例示的过程。
相比之下，在步骤S603中确定对应的区域不存在的情况下，系统控制器60前进到步骤S613，并且执行OPC_NG过程。然后，系统控制器 60结束图13中例示的过程。作为OPC_NG过程，执行与添加OPC区域的不可能性一致地阻止将数据记录到至少当前层的过程。
还有，在步骤S602中确定当前层不是记录层L0(也就是说，当前层是记录层L2)的情况下，系统控制器60前进到步骤S605，并且确定在当前层(记录层L2)的用户数据区域中的未记录区域中是否存在与内侧记录层L的记录区域对应的区域。具体地，例如，系统控制器60确定是否存在与内侧记录层L1和L0两者的记录区域对应的区域。
当在记录层L2的用户数据区域中的未记录区域中存在对应于内侧记录层L的记录区域的区域时，系统控制器60前进到步骤S606，并且将 OPC区域设定在对应的区域中。然后，系统控制器60前进到步骤S612，并且在所设定的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器60结束图13 中例示的过程。
相比之下，当在记录层L2的用户数据区域中的未记录区域中不存在对应于内侧记录层L的记录区域的区域时，系统控制器60前进到步骤 S607，并且将OPC区域设定在当前层(记录层L2)的用户数据区域中的未记录区域中。然后，系统控制器60前进到步骤S612，并且在所设定的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器60结束图13中例示的过程。
注意，对于在当前层是在内侧上具有多个记录层L(诸如记录层L2) 的记录层L的情况下OPC区域的额外的设定，当存在对应于至少一个内侧记录层L的记录区域的区域时，OPC区域可被设定在该区域中。此外， OPC区域可优选地额外地被设定在内侧具有大量记录层的记录层L的区域中。
然后，在步骤S601中确定当前层是记录层L1的情况下，系统控制器 60前进到步骤S608，并且确定在当前层的用户数据区域中的未记录区域中是否存在对应于跟前侧记录层L(也就是说，记录层L2)的未记录区域的区域。
在步骤S608中确定在记录层L1的用户数据区域中的未记录区域中不存在对应于跟前侧记录层L的未记录区域的区域的情况下，系统控制器 60在步骤S613中执行OPC_NG过程，并且结束在图13中例示的过程。
相比之下，在步骤S608中确定在记录层L1的用户数据区域中的未记录区域中存在对应于跟前侧记录层L的未记录区域的区域的情况下，系统控制器60前进到步骤S609，并且确定在对应的区域中是否存在对应于内侧记录层L(记录层L0)的记录区域的区域。
在步骤S609中确定存在对应的区域(也就是说，在记录层L1的用户数据区域中的未记录区域中的对应于跟前侧记录层L2的未记录区域以及内侧记录层L0的记录区域的区域)的情况下，系统控制器60前进到步骤 S610，并且将OPC区域设定在对应的区域中。然后，系统控制器60前进到步骤S612，并且在所设定的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器 60结束图13中例示的过程。
相比之下，在步骤S609中确定不存在对应的区域的情况下，系统控制器60前进到步骤S611，并且将OPC区域设定在当前层(记录层L1) 的用户数据区域中的未记录区域中的对应于跟前侧记录层L2的未记录区域的区域中。然后，系统控制器60前进到步骤S612，并且在所设定的区域中执行OPC过程。然后，系统控制器60结束图13中例示的过程。
注意，在不存在OPC区域可被添加到的未记录区域的情况下，在当额外地设定OPC区域时在其中额外地设定OPC区域的区域(在该示例中，用户数据区域)中，不执行当前层中OPC区域的额外的设定。在该情况下，由于不可能额外地设定OPC区域，所以执行阻止将数据记录在至少当前层上的过程。
还有，如可从上面的描述理解的，即使在额外地设定OPC区域的情况下，系统控制器60执行将指示所设定的OPC区域的位置的信息(在已经使用OPC区域的情况下，包括关于OPC-NW地址的信息)记录在光学记录介质100上的过程。
[5.实施例的概述]
如上所述，根据实施例的记录装置(驱动装置50)包括用激光照射具有多个记录层的光学记录介质(光学记录介质100)的记录层以记录信息的记录单元(例如，光学拾取器51、读/写器电路55、调制/解调电路56 和ECC编码器/解码器57)；以及控制单元(系统控制器60)，在每个记录层中设定测试区域(OPC区域)，在测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且指导记录单元将指示所设定的测试区域的位置的信息记录在光学记录介质上。
因而，可能在任何位置处布置任意数量的测试区域，同时保障其它设备(除已经设定测试区域的设备之外的设备)可辨识测试区域的位置。也就是说，对于在每个记录层中使用的测试区域的量可能彼此不同的光学记录介质，可能在每种情况下自适应地设定测试区域。
因而，可能减少因缺少测试区域而不能记录数据的可能性。
还有，在根据实施例的记录装置中，控制单元根据应用于光学记录介质的文件系统的类型，设定测试区域。
因而，可能与在每个记录层中使用的测试区域的量根据文件系统的类型变化的情况一致地根据文件系统自适应地设定测试区域。
作为结果，可能减少因缺少测试区域而不能记录数据的可能性。
此外，在根据实施例的记录装置中，控制单元在内侧测试区域的使用的基础上，确定是否使用在所设定的测试区域之中的使用候选区域，使用候选区域是建议使用的测试区域候选，内侧测试区域与在光学记录介质的层方向上与激光入射面(100a)相对的一侧的用户使用区域重叠。
用该结构，可能检查已经使用内侧测试区域，并且然后使用跟前侧测试区域。
因而，可能可靠地使用内侧测试区域。作为结果，可能防止测试区域的浪费(由因由跟前侧测试区域的使用引起的透射率的改变而造成的内侧测试区域的不可用引起的测试区域的浪费)。
还有，在根据实施例的记录装置中，控制单元在跟前侧测试区域的使用的基础上，确定是否使用在所设定的测试区域之中的使用候选区域，使用候选区域是建议使用的测试区域，跟前侧测试区域与在光学记录介质的层方向上的激光入射面上的使用候选区域重叠。
用该结构，可能在检查在跟前侧测试区域中没有发生透射率改变之后使用内侧测试区域。
因而，可能适当调整激光功率。
此外，在根据实施例的记录装置中，控制单元在内区和数据区中设定测试区域，内区与其中记录用户数据的数据区相比更接近内周侧。
因而，测试区域的数量可大于在仅在内区中设定测试区域的情况下的测试区域的数量。还有，可能对优选地单独调整内区和数据区中的激光功率的情况(例如，在数据区中以与在内区中的速度和密度相比更高的速度和更高的密度执行记录的情况)作出响应。
还有，在根据实施例的记录装置中，控制单元在数据区中设定除了位置信息已经被记录在光学记录介质上的测试区域之外的新的测试区域，并且指导记录单元将指示所设定的测试区域的位置的信息记录在光学记录介质上。
因而，如果必要的话，可能将测试区域添加到其中记录用户数据的区域。
作为结果，可能另外减少因缺少测试区域而不能将数据记录在光学记录介质上的可能性。
此外，在根据实施例的记录装置中，在测试区被设定在数据区中的情况下，控制单元在对应于跟前侧记录层的未记录区域的区域中设定测试区域，跟前侧记录层与其中将设定测试区域的记录层相比更接近激光入射面。
因而，可能将测试区域添加到在透射率不存在改变的区域之后的区域。
作为结果，可能减少在所设定的测试区域中激光功率的调整失败的可能性。
还有，在根据实施例的记录装置中，在测试区域被设定在数据区中的情况中，控制单元在对应于内侧记录层的记录区域的区域中设定测试区域，内侧记录层与其中将设定测试区域的记录层相比更接近与激光入射面相对的表面。
在倘若数据已经被记录在内侧记录层的对应的区域中则在所设定的测试区域中调整激光功率的情况下，可能防止在内侧记录层中存在未记录区域的状态下不能记录数据。
因而，可能防止记录空间的浪费。
此外，根据实施例的光学记录介质(光学记录介质100)包括多个记录层。测试区域被设定在每个记录层中，在测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且指示所设定的测试区域的位置的信息被记录在光学记录介质上。
因而，可能实现光学记录介质，在该光学记录介质中，可在任何位置处布置任意数量的测试区域，并且保障可由其它设备(除已经设定测试区域的设备之外的设备)辨识测区域的位置。
还有，根据实施例的再现装置(驱动装置50)包括再现单元(例如，光学拾取器51、读/写器电路55、调制/解调电路56和ECC编码器/解码器 57)，再现单元用激光照射光学记录介质(光学记录介质100)以再现所记录的信息，光学记录介质包括多个记录层，其中测试区域被设定在每个记录层中，在测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且在光学记录介质中记录指示所设定的测试区域的位置的信息；以及控制单元(系统控制器60)，控制单元指导再现单元再现光学记录介质的所记录的信息，并且获取指示测试区域的位置的信息。
用该结构，可能确保与测试区域的兼容性。
[6.修改示例]
上面已经描述本技术的实施例。然后，本技术不限于上述实施例，并且各种修改示例可被认为在本技术的范围和精神内。
例如，在上述实施例中，假设数据被记录在光学记录介质100的凹槽中。然而，本技术可应用于岸地记录型光学记录介质，其中数据被记录在凹槽之间的岸地中。可替换地，本技术可应用于岸地/凹槽记录型光学记录介质，其中数据被记录在凹槽和岸地中。
图14例示在使用岸地/凹槽记录类型的情况下OPC区域的设定的示例。
在图14中例示的设定的示例中，凹槽侧OPC区域(末端具有“G”) 和岸地侧OPC区域(末端具有“L”)被设定每个OPC区域的区域中，每个OPC区域在图5的A中例示的设定的示例中设定具有添加到此的#。
在岸地/凹槽记录类型中，彼此相邻的凹槽和岸地可能受激光功率调整 (测试写入)的影响。因而，在OPC区域#1到#8中的每个中，凹槽侧 OPC区域和岸地侧OPC区域被布置成不会彼此相邻，如图14中例示的。在该情况下，在初始OPC区域中，类似地，凹槽侧OPC区域和岸地侧 OPC区域布置成不会彼此相邻，如图14中例示的。
注意，图14仅例示内区中OPC区域的设定的示例。然而，对于数据区中OPC区域的设定，类似地，OPC区域可被设定在凹槽侧和岸地侧，使得凹槽侧OPC区域和岸地侧OPC区域不会彼此相邻。
这里，在使用岸地/凹槽记录类型的情况下，在凹槽中使用的OPC区域的量和岸地中使用的OPC区域的量之间可存在差异。例如，在一些情况下，在凹槽中执行激光功率调整和写入策略调整，并且在岸地中仅执行激光功率调整。根据可在光学记录介质的任何位置处设定OPC区域的实施例的记录装置，OPC区域通过适合于在使用的OPC区域的量之间存在差异的情况的分布，可到凹槽和岸地。
[7.本技术]
本技术可使用以下配置。
(1)一种记录装置，包括：
记录单元，所述记录单元用激光照射具有多个记录层的光学记录介质的记录层，以记录信息；以及
控制单元，所述控制单元在每个所述记录层中设定测试区域，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。
(2)根据(1)的记录装置，
其中，所述控制单元根据应用于所述光学记录介质的文件系统的类型，设定所述测试区域。
(3)
根据(1)或(2)的记录装置，
其中，所述控制单元根据里侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述里侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近与激光入射面相对的表面，并且所述里侧测试区域与所述使用候选区域重叠。
(4)
根据(1)到(3)中任一个的记录装置，
其中，所述控制单元根据跟前侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述跟前侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近激光入射面，并且所述跟前侧测试区域与所述使用候选区域重叠。
(5)
根据(1)到(4)中任一个的记录装置，
其中，所述控制单元在内区和数据区中设定所述测试区域，其中，与记录用户数据的所述数据区相比，所述内区更接近内周侧。
(6)
根据(5)的记录装置，
其中，所述控制单元在所述数据区中设定除了指示所述所在位置的信息已经被记录在所述光学记录介质上的所述测试区域之外的新的测试区域，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。
(7)
根据(6)的记录装置，
其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与跟前侧记录层的未记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述跟前侧记录层更接近所述激光入射面。
(8)
根据(6)或(7)的记录装置，
其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与里侧记录层的已记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述里侧记录层更接近与所述激光入射面相对的表面。
参考符号列表
50 驱动装置
51 光学拾取器
55 读/写器电路
56 调制/解调电路
57 ECC编码器/解码器
60 系统控制器
100 光学记录介质
100a 激光入射面
L0、L1、L2 记录层。

Claims (11)

1.一种记录装置，包括：
记录单元，所述记录单元用激光照射具有多个记录层的光学记录介质的记录层，以记录信息；以及
控制单元，所述控制单元根据应用于所述光学记录介质的文件系统的类型，在每个所述记录层中设定测试区域，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等。
2.根据权利要求1所述的记录装置，
其中，所述控制单元根据里侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述里侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近与激光入射面相对的表面，并且所述里侧测试区域与所述使用候选区域重叠。
3.根据权利要求1所述的记录装置，
其中，所述控制单元根据跟前侧测试区域的使用情况，确定是否对使用候选区域进行使用，所述使用候选区域是在所设定的测试区域之中的建议使用的测试区域候选，其中，相比于所述使用候选区域，所述跟前侧测试区域在所述光学记录介质的层方向上更接近激光入射面，并且所述跟前侧测试区域与所述使用候选区域重叠。
4.根据权利要求1所述的记录装置，
其中，所述控制单元在内区和数据区中设定所述测试区域，其中，与记录用户数据的所述数据区相比，所述内区更接近内周侧。
5.根据权利要求1所述的记录装置，
其中，所述控制单元在数据区中设定除了指示所述所在位置的信息已经被记录在所述光学记录介质上的所述测试区域之外的新的测试区域，并且所述控制单元指导所述记录单元将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。
6.根据权利要求5所述的记录装置，
其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与跟前侧记录层的未记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述跟前侧记录层更接近所述激光入射面。
7.根据权利要求5所述的记录装置，
其中，在所述测试区域被设定在所述数据区中的情况下，所述控制单元在与里侧记录层的已记录区域对应的区域中设定所述测试区域，其中，与待设定所述测试区域的所述记录层相比，所述里侧记录层更接近与所述激光入射面相对的表面。
8.一种记录方法，包括：
根据应用于光学记录介质的文件系统的类型，在具有多个记录层的所述光学记录介质的每个记录层中设定测试区域，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等；以及
将指示所设定的测试区域的所在位置的信息记录在所述光学记录介质上。
9.一种光学记录介质，包括：
多个记录层，
其中，根据将被应用的文件系统的类型，测试区域被设定在每个所述记录层中，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等，并且
指示所设定的测试区域的所在位置的信息被记录在所述光学记录介质上。
10.一种再现装置，包括：
再现单元，所述再现单元用激光照射光学记录介质以再现所记录的信息，所述光学记录介质包括多个记录层，并且在所述光学记录介质中，根据将被应用的文件系统的类型，测试区域被设定在每个所述记录层中，并且在所述光学记录介质中记录指示所设定的测试区域的所在位置的信息，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等；以及
控制单元，所述控制单元指导所述再现单元再现所述光学记录介质的所记录的信息，并且所述控制单元获取指示所述测试区域的所述所在位置的信息。
11.一种再现方法，包括：
再现光学记录介质的所记录的信息，所述光学记录介质包括多个记录层，并且在所述光学记录介质中，根据将被应用的文件系统的类型，测试区域被设定在每个所述记录层中，并且在所述光学记录介质中记录指示所设定的测试区域的所在位置的信息，在所述测试区域中执行用于激光功率控制的测试写入，其中，所述文件系统的类型包括第一文件系统和第二文件系统，在所述第一文件系统中，最内层中使用的测试区域的量趋于多于其它层中的测试区域的量，在所述第二文件系统中，在每层中使用的测试区域的量趋于彼此相等；以及
获取指示所述测试区域的所述所在位置的信息。
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