CN107561737A - 一种aoi系统ipc参数自动调整的方法、装置及工具 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具；通过自动检索图片并通知光学检测系统进行IPC检测，自动生成检测数据报表，在给定期望数据报表的情况下，自动判断当前数据报表是否适用于当前检测；若适用，则存储当前光学检测系统IPC的检测结果，若不适用，则根据检测数据报表与期望数据报表对IPC参数进行调整，继续进行下一轮测试，直到找到合适的IPC参数。通过本发明提供的AOI系统IPC参数自动调整的方法及工具实现自动比对以及自动判定，实现AOI系统的IPC参数自动调整，不再需要现场人员手动检索图片，也不再需要现场人员人工来判断比对生成的检测数据报表是否合适，可极大提高屏幕检测效率。

Description

一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具

技术领域

本发明属于自动光学检测技术领域，更具体地，涉及一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具。

背景技术

在现有的自动光学检测(Automatic Optic Inspection，AOI)系统下，为了保证准确的检测出屏幕缺陷，在前期运行过程中，需要不断的对IPC程式进行参数调整，以调整到合适的参数。

在液晶屏实际测试中，几乎每天都会使用调整后的IPC(检测系统电脑，Inspectpersonal computer)程式对前一天的数据进行重新检测以改进参数，改善检测效果，提高产品良率。但是，在现有技术所使用的AOI检测系统下，只能通过人工方式手动去复查检测每一片屏的数据，根据人工手动复查检测的结果来调整IPC程式的参数；由于测试现场的图片量大，手动检测的效率非常低，也容易造成漏检。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具及工具，其目的在于实现AOI系统的IPC参数自动调整，提高屏幕检测效率。

为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种AOI系统IPC参数自动调整的方法，包括如下步骤：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，确定过检与漏检情况；并根据过检与漏检的情况对AOI系统IPC程式的参数进行调整；

过检是指没有缺陷却被AOI系统判定为缺陷的情况；漏检是指有缺陷却没有被AOI系统检出的情况；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将所述新的缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表进行比对，若两者缺陷数据信息内容一致，表明当前IPC程式的参数合适，则保存当前IPC程式的参数；否则，表明IPC程式的参数不合适，用新的缺陷数据报表代替步骤(1)中的缺陷数据报表，并进入步骤(1)。

在上述的方法中，通过不断比对AOI系统实际测试生成的缺陷数据报表与标准缺陷数据信息报表并调整IPC程式的参数，直至两者缺陷数据信息内容一致，该方法无需人工参与，可自动完成，可极大的提高检测效率。

优选地，上述AOI系统IPC参数自动调整的方法，其步骤(1)中，通过调整IPC参数卡控的缺陷长度、宽度、面积阈值来降低漏检率或过检率。

优选地，上述AOI系统IPC参数自动调整的方法，其步骤(1)具体包括如下子步骤：

(1.1)将生产线上测得的缺陷数据报表与预先取得的标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并存储到ID信息报表中；

(1.2)判断漏检率或过检率是否达标；若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表中液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC(检测系统电脑，Inspect personal computer)；

(1.3)由IPC采用原图对待测液晶面板进行检测；由AOI系统的CPC(控制电脑，Control personal computer)根据IPC检测的结果生成新的缺陷数据报表，进入步骤(1.1)。

为实现本发明目的，按照本发明的另一方面，提供了一种AOI系统IPC参数自动调整的装置，包括用于生成待测液晶面板的缺陷数据报表的AOI系统、处理器、用于存储各生产线上测得的缺陷数据报表和ID信息报表、以及预先取得的标准缺陷信息数据报表的存储器，以及存储在该存储器中并可在该处理器上运行的计算机程序；

上述计算机程序被处理器执行时读取缺陷数据报表、ID信息报表、以及标准缺陷信息数据报表，并实现如下处理：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，确定过检与漏检情况；并根据过检与漏检的情况对IPC程式的参数进行调整；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将新的缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表进行比对，若两者缺陷数据信息内容一致，则保存当前IPC程式的参数；否则，用新的缺陷数据报表代替步骤(1)中的缺陷数据报表，并进入步骤(1)。

上述AOI系统IPC参数自动调整的装置，优选还通过其处理器执行计算机程序实现如下处理：

(1.1)将生产线上测得的缺陷数据报表与预先取得的标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并存储；

(1.2)判断漏检率或过检率是否达标；若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC；

(1.3)由IPC采用原图对待测液晶面板进行检测；由AOI系统的CPC根据IPC检测的结果生成新的缺陷数据报表，进入步骤(1.1)。

上述实现AOI系统IPC参数自动调整的装置，优选还通过其处理器执行计算机程序通过调整IPC参数卡控的缺陷长度、宽度、面积阈值来降低漏检率或过检率。

上述实现AOI系统IPC参数自动调整的装置，优选还通过其处理器执行计算机程序对缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表中对应的缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积进行比对。

为实现本发明目的，按照本发明的另一方面，提供了一种用于实现AOI系统IPC参数自动调整的工具，该工具包括用于实现以下功能的处理器：

(a)存储各线体发送的缺陷数据报表和ID信息报表；

其中，缺陷数据报表是由CPC根据缺陷检测的结果生成的；ID信息报表由PPC根据线体流片过程生成的；

(b)从预先取得的标准数据报表里获取面板的缺陷数据信息，包括面板ID以及面板缺陷的类型、坐标、长度、宽度、面积；

(c)将线体发送的缺陷数据报表与上述标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并发送给线体上的IPC；

(d)判断过检率或漏检率是否达标，若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表所存储的液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

(1)本发明提供的AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具，通过AOI系统CPC进行过检与漏检统计，PPC实现待测液晶屏ID数据信息的收集与原始屏幕图片的获取，IPC实现屏幕缺陷信息的检测与输出，并通过部署在线体服务器的处理器来实现PPC自动检索图片、IPC自动检测图片、CPC自动生成缺陷信息数据报表；

实际应用中，只需要输入客户提供的或者预先获取的标准缺陷信息数据报表，即可实现对IPC程式参数的自动调整；通过本发明提供的工具，根据IPC程式通过现场测试生成的缺陷信息数据报表与标准缺陷信息数据报表自动计算过检率和漏检率，并根据过检率和漏检来自动更新IPC参数；相比于现有计算的人工检测而言，不再需要人工手动检测，也无需对每片待测液晶屏进行复盘，可极大提高现场工作效率。

(2)本发明提供的AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置及工具，基于AOI系统的线体服务器来实现，可实现多条线体进行同时复判处理，相比于现有技术而言，不再需要在每条线体通过人工来进行复判操作，可极大的节省人力资源。

附图说明

图1是实施例提供的sorting工具在AOI系统的示意图；

图2是实施例提供的sorting工具实现AOI系统IPC参数自动调整的方法流程示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

AOI系统设备主要包括单线体存储服务器、检测系统电脑、控制系统电脑和多线体综合服务器，所有设备通过局域网连接在一起。

当AOI系统设备刚投产的时候，通过对AOI系统设备检测的屏幕缺陷信息进行复判，生成标准缺陷信息数据报表，包括液晶屏幕面板ID以及液晶屏幕面板可能出现的所有缺陷的类型、坐标、长度、宽度和面积。

实际检测中，通过AOI系统设备对产出的液晶屏幕进行检测，确定待测液晶屏幕是否合格。AOI系统设备的检测过程如图1所示，具体如下：

首先，各线体的机械机构将待检测液晶屏幕移动到检测位置，PPC电脑将待检测液晶屏幕点亮，对液晶屏幕进行拍照取像生成图片，再将图片发送给IPC进行检测；

IPC将图片上的缺陷信息检测出来之后，生成数据结果发送给CPC；

CPC将数据结果进行筛选并生成缺陷数据报表，该缺陷数据报表包括液晶屏幕面板ID以及液晶屏幕面板存在的所有缺陷的类型、坐标、长度、宽度、面积；PPC生成ID信息报表并自动传送到线体服务器端，PPC生成图片数据汇总到线体服务器端；

实施例中，通过部署在线体服务器端的Sorting工具根据AOI系统设备测试生成的上述缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表进行IPC参数自动调整，直至过检率与漏检率达标。

其中，实现IPC参数自动调整的方法包括如下步骤：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，确定过检与漏检情况；并根据过检与漏检的情况对IPC程式的参数进行调整；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将上述新的缺陷数据报表与标准缺陷信息数据报表进行比对，具体是对缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积进行比对，若两者缺陷数据信息内容一致，表明当前IPC程式的参数合适，则保存当前IPC程式的参数；否则，表明IPC程式的参数不合适，进入步骤(2)。

其中，Sorting工具的工作过程如图2所示，具体如下：

(i)线体服务器存储各生产线上发送的缺陷数据报表和ID信息报表；其中，缺陷数据报表是由CPC根据缺陷检测的结果生成的；ID信息报表由PPC(取像电脑，Processpersonal computer)根据线体流片过程生成；

(ii)Sorting工具将CPC发送的缺陷信息数据报表与标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶屏的ID并存储记录在新的ID信息报表里面；

(iii)由PPC判断漏检率或过检率是否达标，若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则由PPC根据ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC；

(iv)由IPC采用原图进行检测并将检测结果发送到CPC，由CPC根据检测结果生成新的缺陷信息数据报表，发送到Sorting工具，并进入步骤(ii)。

实施例提供的上述AOI系统IPC参数自动调整的方法、装置以及sorting工具，该工具是一种基于处理器实现的软体工具，实现自动比对以及自动判定，进而实现AOI系统的IPC参数自动调整，可极大提高液晶屏检测效率。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种AOI系统IPC参数自动调整的方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)将AOI系统对待测液晶面板测试生成的缺陷数据报表与预先取得的标准缺陷信息数据报表进行比对，确定过检与漏检情况，并根据过检与漏检的情况对AOI系统IPC程式的参数进行调整；

(2)采用调整了IPC程式的参数的AOI系统再次对待测液晶面板进行测试，生成新的缺陷数据报表；

(3)将所述新的缺陷数据报表与所述标准缺陷信息数据报表进行比对，若两者缺陷数据信息内容一致，则保存当前IPC程式的参数；否则，用新的缺陷数据报表代替步骤(1)中的缺陷数据报表，并进入步骤(1)。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤(1)包括如下子步骤：

(1.1)将AOI系统生产线上测得的缺陷数据报表与预先取得的标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并存储到ID信息报表中；

(1.2)判断漏检率或过检率是否达标；若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表中液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC；

(1.3)由IPC采用原图对待测液晶面板进行检测；由AOI系统的CPC根据IPC检测的结果生成新的缺陷数据报表，进入步骤(1.1)。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述步骤(1)中，通过调整IPC参数卡控的缺陷长度、宽度、面积阈值来降低漏检率或过检率。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述步骤(3)中，比对的内容包括缺陷的类型、坐标、宽度、长度和面积。

5.一种AOI系统IPC参数自动调整的装置，包括用于生成待测液晶面板的缺陷数据报表的AOI系统，该AOI系统包括用于液晶面板缺陷检测的IPC、用于根据缺陷检测的结果生成缺陷数据报表的CPC；

其特征在于，该装置还包括处理器，用于存储各生产线上测得的缺陷数据报表和ID信息报表、以及预先取得的标准缺陷信息数据报表的存储器，以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序；

该计算机程序被处理器执行时读取所述缺陷数据报表、ID信息报表、以及标准缺陷信息数据报表，并实现如权利要求1～4任一项所述方法的步骤。

6.一种用于实现AOI系统IPC参数自动调整的工具，其特征在于，所述工具包括用于实现以下功能的处理器：

(a)存储各线体发送的缺陷数据报表和ID信息报表；

(b)从预先取得的标准数据报表里获取面板的缺陷数据信息，包括面板ID以及面板缺陷的类型、坐标、长度、宽度、面积；

(c)将线体发送的缺陷数据报表与上述标准数据报表的缺陷数据信息进行比对，筛选出漏检或过检的液晶面板的ID并发送给线体上的IPC；

(d)判断过检率或漏检率是否达标，若是，则将当前IPC参数作为优化的IPC参数；若否，则根据ID信息报表所存储的液晶面板的ID加载对应的原图，并将原图发送给IPC。