CN107561431B - 一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路测试方法，其中电路包括信号源依次连接及通讯有：阻抗及无源衰减模块、测试电路1、阻抗变换电路、测试电路2、预放大/衰减电路、测试电路3、可变增益放大电路、测试电路4、数据采集及处理模块；其中阻抗及无源衰减械块、阻抗变换电路、预放大/衰减电路、可变增益放大电路还设置分别与FPGA连接及通讯。采用上述方案，增加小阻值电阻，将前后级电路分离，避免了不同模块之间的相互干扰；同时增加夹持孔，方便调试。

Description

一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路测试方法

技术领域

本发明属于模块化示波器模拟通道技术领域，尤其涉及的是一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路测试方法。

背景技术

目前硬件工程师在进行示波器前端通道部分调试时，主要采用整体——局部——整体的调试方法，通过对不同通路中电阻电容不断的调整，最终获得期望的通道指标。模拟通道的简化框图如图1所示。在现有调试方案中，一般首先通过FPGA实现对整个通道电路的控制，主要包括输入阻抗、无源衰减倍数、预放大/衰减倍数、可变增益倍数等参数的控制。然后从整体上对所要调试的通道电路板的带宽、噪声、各种档位的指标进行测试，初步了解整个电路的性能。然后对不达标的档位及指标进行局部调整，信道干扰基本来自于前后端电路的输入输出阻抗匹配、放大电路的不干净电压电源以及增益放大器件自身扰动经过放大、反射对前端信号产生叠加形成的扰动等。主要表现为小档位基线粗、自激等现象，现有方法通过对阻抗变换电路、预放大电路和可变增益放大电路进行电阻电容的修正或者增加滤波电路等来尽可能减小电路电源、放大器等对信号的干扰。在基本解决了局部电路的降噪、器件修正等问题的同时，还需要测试通道电路的带宽，该过程主要是通过FPGA控制预放大/衰减和可变增益部分来实现，同时需要对电路中的电阻阻值进行一定的修正。在进行电阻修正时，同样需要重新对噪声等指标重新进行测试。以此循环往复，最终获得各项指标满足的设计方案，其过程如下图2所示。在此过程中，需要对每个部分的电路功能以及每个电阻电容的变化会引起怎样的结果有深入的了解，才可以按以上步骤正确进行，而这对新入门调试工程师是最欠缺的。现有的模拟通道调试模型反复性大，当出现问题时需要对整个电路进行测试调节，极有可能引起新的干扰出现，耗时较长，针对性较差且调试过程中当问题出现时无法准确快速查找原因及快速定位问题所在。而且由于每块电路板的介电常数、焊接工艺、器件性能等因素的影响，出现的问题及解决方法往往不同，这就要求调试工程师对每块电路板反复进行调试和测试，并且熟悉电路中的每个电阻电容对整个电路性能的影响。在整个过程中，对电路功能的了解以及改善方法等经验的累积将非常重要，而这非常不利于新入门的硬件调试工程师独立有效的开展调试工作。而且，反复对电路进行测试，不仅耗时长，对电路中器件的性能等也有较高的要求。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，目的是建立一个高效的模块化的调试方法，在将整个电路模块化的基础上，插入调试电路，实现调试过程的顺序进行，避免调试的反复，提高调试效率，减小对调试工作的经验要求，使调试工作更加方便，更有针对性和普适性，从而提供一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路及方法。

本发明的技术方案如下：

一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路，包括信号源依次连接及通讯有：阻抗及无源衰减模块、测试电路1、阻抗变换电路、测试电路2、预放大/衰减电路、测试电路3、可变增益放大电路、测试电路4、数据采集及处理模块；其中阻抗及无源衰减械块、阻抗变换电路、预放大/衰减电路、可变增益放大电路还设置分别与FPGA连接及通讯；具体测试分别包括整体测试及模块调试两方面步骤，其中，整体测试包括以下步骤：

步骤1：实现FPGA控制；

步骤2：电路处理：只测试电路模块，只焊接R0处电阻；

步骤3：输入电阻、输入电容、信号传输完整性；

步骤4：电路处理：去除测试电路1、测试电路2、测试电路3、测试电路4中R0处电阻；

步骤5：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗及无源衰减电路模块进行调试；

步骤6：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗变换电路模块进行调试；

步骤7：按现有技术中的测试电路调试流程，对预放大/衰减电路模块进行调试；

步骤8：按现有技术中的测试电路调试流程，对可变增益放大电路模块进行调试；

模块调试包括以下步骤：

步骤A01：拆除R0处电阻，R1处焊接小阻值电阻后，进入步骤A02，其中，小阻值电阻可以为0Ω-10Ω；

步骤A02：判断测试点301处低频正弦信号是否不存在噪声及幅度是否满足衰减倍数以及≤3dB的要求，低频方波信号是否平整，是则进入步骤A03，否则进入步骤A04；

步骤A03:增加输入信号频率，C2/C3处焊接小容值电容，进入步骤 A05；其中小容值电容为1pF-100pF；

步骤A04：调节R1阻值、C1处焊接电容并调节容值后，进入步骤 A02；

步骤A05：判断测试点301及测试点302处，频率升高后正弦信号是否满足衰减倍数以及≤3dB、无噪声的要求；是则进入步骤A06，否则进入步骤A07；

步骤A06：R2/R3处焊接0欧姆电阻，进入步骤A08；

步骤A07：调节C2及C3容值后，进入步骤A05；

步骤A08：判断测试点303处带宽及幅度是否满足衰减倍数以及≤ 3dB、无噪声的要求，是则进入步骤A12，否则进入步骤 A09；

步骤A09：判断FPGA是否参与控制，是则进入步骤A10，否则进入步骤A11；

步骤A10：根据档位不同，设置不同的FPGA值，进入步骤A11；

步骤A11：调节R2、R3处电阻阻值，进入步骤A08；

步骤A12:R4处焊接0欧姆电阻，进入步骤A13；

步骤A13：判断是否完成调试，是则进入步骤15，否则进入步骤 A14；

步骤A14：增加新的调试模块，进入步骤A01；

步骤A15：结束。

上述中，具体测试分别包括整体测试及模块调试两方面步骤，其中，整体测试包括以下步骤：

步骤1：实现FPGA控制；

步骤2：电路处理：只测试电路模块，只焊接R0处电阻；

步骤3：输入电阻、输入电容、信号传输完整性；

步骤4：电路处理：去除测试电路1、测试电路2、测试电路3、测试电路4中R0处电阻；

步骤5：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗及无源衰减电路模块进行调试；

步骤6：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗变换电路模块进行调试；

步骤7：按现有技术中的测试电路调试流程，对预放大/衰减电路模块进行调试；

步骤8：按现有技术中的测试电路调试流程，对可变增益放大电路模块进行调试；

模块调试包括以下步骤：

步骤A01：拆除R0处电阻，R1处焊接小阻值电阻后，进入步骤A02，其中，小阻值电阻可以为0Ω-10Ω；

步骤A02：判断测试点301处低频正弦信号是否不存在噪声及幅度是否满足衰减倍数以及≤3dB的要求，低频方波信号是否平整，是则进入步骤A03，否则进入步骤A04；

步骤A03:增加输入信号频率，C2/C3处焊接小容值电容，进入步骤 A05；其中小容值电容为1pF-100pF；

步骤A04：调节R1阻值、C1处焊接电容并调节容值后，进入步骤 A02；

步骤A05：判断测试点301及测试点302处，频率升高后正弦信号是否满足衰减倍数以及≤3dB、无噪声的要求；是则进入步骤A06，否则进入步骤A07；

步骤A06：R2/R3处焊接小阻值电阻，进入步骤A08；

步骤A07：调节C2及C3容值后，进入步骤A05；

步骤A08：判断测试点303处带宽及幅度是否满足衰减倍数以及≤ 3dB、无噪声的要求，是则进入步骤A12，否则进入步骤 A09；

步骤A09：判断FPGA是否参与控制，是则进入步骤A10，否则进入步骤A11；

步骤A10：根据档位不同，设置不同的FPGA值，进入步骤A11；

步骤A11：调节R2、R3处电阻阻值，进入步骤A08；

步骤A12:R4处焊接0欧姆电阻，进入步骤A13；

步骤A13：判断是否完成调试，是则进入步骤15，否则进入步骤 A14；

步骤A14：增加新的调试模块，进入步骤A01；

步骤A15：结束。

进一步而言，步骤A01中，具体为：拆除R0处电阻后，在R1处焊接一小阻值电阻，来自信号源的不同幅度的正弦信号，首先经过无源衰减档位进行不同程度的衰减，以缩窄幅度变化范围，保证后级电路的安全。

进一步而言，步骤A02中，经过无源衰减后的信号是否满足衰减倍数指标以及是否满足后端电路的信号输入要求即可通过对测试点301处通过示波器观察波形，通过对无源衰减档位电路进行调整，直至在测试点301 处获得满足衰减倍数和后端输入的信号。

进一步而言，步骤A03中，在信号源输出低频方波信号时，若在测试点301测得衰减后信号存在毛刺或叠加有干扰信号，通过选取合适的C1电容值对信号进行处理，直至获得平整的方波信号；当低频方波信号均满足要求后，C2、C3处焊接小容值电容，输入低频的正弦信号。

进一步而言，步骤A04中，逐步提高信号源的频率。

进一步而言，步骤A05中，监测测试点301处和测试点302处的波形幅度是否满足3dB要求，是否出现噪声，调节C1的值，降低噪声，满足幅度、噪声指标要求。

进一步而言，步骤A06中，R2、R3处焊接0欧姆电阻，对测试电路之前的电路整体进行带宽指标测试。

进一步而言，步骤A07中，调整R2、R3电阻阻值，使电路带宽达到 500MHz/1GHz指标要求，并且在频率变化时，信号的整体幅度变化较为平缓。

采用上述方案，：1)采用模块化划分，实现模拟通道可以按功能进行调节，更有针对性和调理性；2)通过增加无源调试电路，将模拟通道模块化同时，便于新入门硬件工程师快速高效的进行通道板调节；3)增加小阻值电阻，将前后级电路分离，避免了不同模块之间的相互干扰；4)增加夹持孔，方便调试。

附图说明

图1为现有技术中模拟通道简化框图。

图2为现有技术中现有通道电路调试流程图。

图3为本发明通道调试结构示意图。

图4为本发明中测试电路1电路图。

图5为本发明测试电路调试流程图。

图6为本发明整体测试流程图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例，对本发明进行详细说明。

实施例1本发明提出了一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路和方法，该方法在原有模拟通道简化框图的基础上，增加了信号测试电路模块，即在每个功能模块之后加入一个简化的测试电路，实现对经过该模块后信号的变化进行方便简洁的测试，并在不符合预期指标时及时实现对该模块电路方案的改进。在进行PCB设计中，可以在每个测试电路模块部分加入一个接地的夹持孔，方便测试的进行。在该模型中，可以实现对模拟通道的不同功能模块，逐一逐次进行调试，达到简单高效的目的。本发明提出了一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路和方法流程图，如图3 所示：

图3为本发明整体通道调试结构示意图：信号源101依次连接及通讯有：阻抗及无源衰减模块102、测试电路1 201、阻抗变换电路104、测试电路2 202、预放大/衰减电路105、测试电路3 203、可变增益放大电路 106、测试电路4 204、数据采集及处理模块107；其中阻抗及无源衰减械块102、阻抗变换电路104、预放大/衰减电路105、可变增益放大电路106 还设置分别与FPGA110连接及通讯。本电路分为整体测试及模块调试两个方面，其中以下为整体测试内容：

在进行通道板调试之前，首先需要通过FPGA110实现对整个通道电路输入阻抗1MΩ/50Ω选择、/1/10/100衰减倍数选择、预放大电路放大倍数预置、可变增益放大电路放大倍数预置共四个模块电路的控制。然后对通道板的整体性能进行测试，主要包括：输入阻抗和输入电容的测试、信号是否能够传输到通道板输出部分、是否有噪声、各个功能器件是否正常工作等。在整体性能测试之前，需对所有测试电路做如下处理，以测试电路1 201为例，除R0处电阻均不进行焊接，且R0处电阻需焊接0Ω电阻以减小对前后级电路的影响。其余测试电路做对应处理。

完成整体性能测试之后，采用整体—模块的调试思路。以阻抗及无源衰减模块102和测试电路1 201的调试过程为例(测试电路2 202、3 203、 4 204做同样处理)，其电路构成如下图4所示，具体包括三个测试点，分别为：测试点301、测试点302、测试点303；在进行模块调试之前，拆除 R0处电阻，按照现有技术中图2顺序逐个对测试电路中器件进行焊接测试，以实现逐级进行各个功能模块的调试，直至完成整个通道电路的调试。

上述中，如图4所示，以测试电路1的调试方法为例，方案中，拆除 R0处电阻后，在R1处焊接一小阻值电阻，来自信号源的不同幅度的正弦信号，首先经过无源衰减档位进行不同程度的衰减，以缩窄幅度变化范围，保证后级电路的安全。此时，经过无源衰减后的信号是否满足衰减倍数指标以及是否满足后端电路的信号输入要求即可通过对测试点301处通过示波器观察波形，通过对无源衰减档位电路进行调整，直至在测试点301处获得满足衰减倍数和后端输入的信号。在信号源输出低频方波信号时，若在测试点301测得衰减后信号存在毛刺或叠加有干扰信号，通过选取合适的C1电容值对信号进行处理，直至获得平整的方波信号。当低频方波信号均满足要求后，C2、C3处焊接小容值电容，输入低频的正选信号，逐步提高信号源的频率，监测测试点301处和测试点302处的波形幅度是否满足 3dB要求，是否出现噪声等，调节C1的值，直至降低噪声，满足幅度、噪声等指标要求。R2、R3处焊接小阻值电阻，对测试电路之前的电路整体进行带宽等指标测试，调整R2、R3电阻阻值，使电路带宽达到500MHz/1GHz 或者更高的指标要求，并且在频率变化时，信号的整体幅度变化较为平缓。 R4的作用在于测试电路带宽时，避免后续电路对前段电路产生干扰信号，在完成模块调试后，R4处焊接0Ω电阻。

方案中，测试电路2的调试步骤和测试电路1相同。在进行测试电路 3和测试电路4调试的过程中，在进行带宽测试的过程中，需要结合FPGA110 程序对放大器等器件进行控制，在不同幅度和不同频率时实现信号不同倍数的放大/衰减。

方案中，测试电路调试流程图如图5所示，测试电路的步骤包括：

步骤A01：拆除R0处电阻，R1处焊接小阻值电阻后，进入步骤A02，其中，小阻值电阻可以为0Ω-10Ω。

步骤A02：判断测试点301处低频正弦信号是否不存在噪声及幅度是否满足衰减倍数以及≤3dB的要求，低频方波信号是否平整，是则进入步骤 A03，否则进入步骤A04；

步骤A03:增加输入信号频率，C2/C3处焊接小容值电容，进入步骤A05；其中小容值电容为1pF-100pF。

步骤A04：调节R1阻值、C1处焊接电容并调节容值后，进入步骤A02；

步骤A05：判断测试点301及测试点302处，频率升高后正弦信号是否满足衰减倍数以及≤3dB、无噪声的要求；是则进入步骤A06，否则进入步骤A07；

步骤A06：R2/R3处焊接0欧姆电阻，进入步骤A08；

步骤A07：调节C2及C3容值后，进入步骤A05；

步骤A08：判断测试点303处带宽及幅度是否满足衰减倍数以及≤3dB、无噪声的要求，是则进入步骤A12，否则进入步骤A09；

步骤A09：判断FPGA是否参与控制，是则进入步骤A10，否则进入步骤A11；

步骤A10：根据档位不同，设置不同的FPGA值，进入步骤A11；

步骤A11：调节R2、R3处电阻阻值，进入步骤A08；

步骤A12:R4处焊接0欧姆电阻，进入步骤A13；

步骤A13：判断是否完成调试，是则进入步骤15，否则进入步骤A14；

步骤A14：增加新的调试模块，进入步骤A01；

步骤A15：结束。

上述步骤中，如图3所示：信号源101依次连接及通讯有：阻抗及无源衰减模块102、测试电路1 201、阻抗变换电路104、测试电路2 202、预放大/衰减电路105、测试电路3 203、可变增益放大电路106、测试电路 4 204、数据采集及处理模块107；其中阻抗及无源衰减模块102、阻抗变换电路104、预放大/衰减电路105、可变增益放大电路106还设置分别与FPGA110连接及通讯。因每个模块的功能不同，所需要调试的内容指标不尽相同，即：输入阻抗模块：是否满足1MΩ/50Ω的输入阻抗变换，低频方波是否平整；/1/10/100模块：是否能够实现三个档位的控制，在有信号时能够实现多少倍的衰减，低频方波是否平整；阻抗变换模块：阻抗变换后，信号噪声、带宽、幅度等是否发生变化，低频方波是否平整；预放大/衰减模块：是否满足预放大/衰减倍数，是否引入噪声等，低频方波是否平整；可变增益放大电路：是否满足放大倍数、是否满足带宽、是否引入噪声，低频方波是否平整等。但每个模块功能调试均需满足3dB的带宽要求。当调整测试电路无法满足指标要求时，可对所增加的功能模块内部电路进行调节，更具有针对性和目的性。

本发明方法的整体测试流程如图6所示，包括以下步骤：

步骤1：实现FPGA控制；

步骤2：电路处理：只测试电路模块，只焊接R0处电阻；

步骤3：输入电阻、输入电容、信号传输完整性等；

步骤4：电路处理：去除测试电路201、测试电路202、测试电路203、测试电路204中R0处电阻；

步骤5：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗及无源衰减电路模块进行调试；

步骤6：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗变换电路模块进行调试；

步骤7：按现有技术中的测试电路调试流程，对预放大/衰减电路模块进行调试；

步骤8：按现有技术中的测试电路调试流程，对可变增益放大电路模块进行调试；

本发明解决的技术问题是：模拟通道电路作为数字示波器采集被测对象的信息的首个通路，其整体性能对被测对象信息的传输效率以及后端对信息的处理有很大影响。现有的模拟通道调试方法主要是通过探针和转接器对通道进行先整体后局部再整体的调试顺序进行调试，然后根据性能测试结果对所测电路的电阻电容等器件进行更换以达到更好的性能，最终获得满足指标的电路。该方法虽然能够得到所需的通道电路方案，但耗时长、针对性和复用性较差，当新的通道电路出现新的干扰信号或者自激等现象时，很难准确定位问题所在。此外，技术及调试经验的累积在该方法中十分重要，不利于新入门的调试工程师独立开展工作。因此本发明为更高效更准确的进行通道电路的调试，而采用一种模块化的调试测试方法来解决不同通道电路出现的不同问题，并使调试方法更具普适性。

采用本发明的方案：1、将模拟通道进行模块化调试，实现新入门调试工程师高效的展开调试工作，使调试思路更加清晰；2、采用分测试点、分信号特征进行测试，使模拟通道的调试更加便捷，更有调理性；3、进行模块化调试时，通过电阻将前后模块分离，避免了后续电路对前段电路的干扰，使通道调试更具有针对性；4、PCB设计时可在测试点附近增加接地夹持孔，方便信号的测试，减少调试过程中的信号扰动。

本发明提出的一种高效的模块化示波器模拟通道调试模型具有以下有点：1)采用模块化划分，实现模拟通道可以按功能进行调节，更有针对性和调理性；2)通过增加无源调试电路，将模拟通道模块化同时，便于新入门硬件工程师快速高效的进行通道板调节；3)增加小阻值电阻，将前后级电路分离，避免了不同模块之间的相互干扰；4)增加夹持孔，方便调试。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种高效的模块化示波器模拟通道调试电路测试方法，其特征在于，包括信号源依次连接及通讯有：阻抗及无源衰减模块、测试电路1、阻抗变换电路、测试电路2、预放大/衰减电路、测试电路3、可变增益放大电路、测试电路4、数据采集及处理模块；其中阻抗及无源衰减械块、阻抗变换电路、预放大/衰减电路、可变增益放大电路还设置分别与FPGA连接及通讯；具体测试分别包括整体测试及模块调试两方面步骤，其中，整体测试包括以下步骤：

步骤1：实现FPGA控制；

步骤2：电路处理：只测试电路模块，测试电路模块中，电阻R1、电阻R2、电阻R4依次串联连接后与电阻RO并联；电阻R2与电阻R3左侧端通过电容C2并联连接；在电阻R1与电容C2之间还连接有电容C1；电容C3与电阻R3左侧端连接，同时设置测试点301在电阻R2与电容C2之间；设置测试点302在电容C3与电阻R3之间；设置测试点303在电阻R4与R3之间；只焊接R0处电阻；

步骤3：输入电阻和输入电容和信号传输完整性；

步骤4：电路处理：去除测试电路1和测试电路2和测试电路3和测试电路4中R0处电阻；其中测试电路1和测试电路2和测试电路3和测试电路4为相同的测试电路；

步骤5：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗及无源衰减电路模块进行调试；

步骤6：按现有技术中的测试电路调试流程，对阻抗变换电路模块进行调试；

步骤7：按现有技术中的测试电路调试流程，对预放大/衰减电路模块进行调试；

步骤8：按现有技术中的测试电路调试流程，对可变增益放大电路模块进行调试；

模块调试包括以下步骤：

步骤A01：拆除测试电路1中R0处电阻，测试电路1中R1处焊接小阻值电阻后，进入步骤A02，其中，小阻值电阻为0Ω-10Ω；

步骤A02：利用600mV、100MHz正弦信号源输入，判断测试点301处低频正弦信号是否不存在噪声及幅度是否满足衰减倍数以及所测信号幅度衰减量≤3dB的要求，即所测得信号是否只存在输入的正弦信号，幅度是否大于420mV；并且，在输入10Hz方波信号时，测试点301处测得的低频方波信号是否平整，是则进入步骤A03，否则进入步骤A04；

步骤A03:增加测试电路1中输入信号频率，C2和C3处焊接小容值电容，进入步骤A05；其中小容值电容为1pF-100pF；

步骤A04：调节R1阻值和C1处焊接电容并调节容值后，进入步骤A02；

步骤A05：判断测试点301及测试点302处，频率升高后正弦信号是否满足衰减倍数以及所测信号幅度衰减量≤3dB和无噪声的要求；是则进入步骤A06，否则进入步骤A07；

步骤A06：R2和R3处焊接小阻值欧姆电阻，进入步骤A08；

步骤A07：调节C2及C3容值后，进入步骤A05；

步骤A08：判断测试点303处带宽及幅度是否满足衰减倍数以及所测信号幅度衰减量≤3dB和无噪声的要求，是则进入步骤A12，否则进入步骤A09；

步骤A09：判断FPGA是否参与控制，是则进入步骤A10，否则进入步骤A11；

步骤A10：根据档位不同，设置不同的FPGA值，进入步骤A11；

步骤A11：调节R2和R3处电阻阻值，进入步骤A08；

步骤A12:R4处焊接小阻值电阻，进入步骤A13；

步骤A13：判断是否完成调试，是则进入步骤15，否则进入步骤A14；

步骤A14：增加新的调试模块，进入步骤A01；

步骤A15：结束。

2.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A01中，具体为：拆除R0处电阻后，在R1处焊接一小阻值电阻，来自信号源的不同幅度的正弦信号，首先经过无源衰减档位进行不同程度的衰减，以缩窄幅度变化范围，保证后级电路的安全。

3.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A02中，经过无源衰减后的信号是否满足衰减倍数指标以及是否满足后端电路的信号输入要求即可通过对测试点301处通过示波器观察波形，通过对无源衰减档位电路进行调整，直至在测试点301处获得满足衰减倍数和后端输入的信号。

4.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A03中，在信号源输出低频方波信号时，若在测试点301测得衰减后信号存在毛刺或叠加有干扰信号，通过选取合适的C1电容值对信号进行处理，直至获得平整的方波信号；当低频方波信号均满足要求后，C2和C3处焊接小容值电容，输入低频的正弦信号。

5.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A04中，逐步提高信号源的频率。

6.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A05中，监测测试点301处和测试点302处的波形幅度是否满足3dB要求，是否出现噪声，调节C1的值，降低噪声，满足幅度和噪声指标要求。

7.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A06中，R2和R3处焊接小阻值电阻，对测试电路之前的电路整体进行带宽指标测试。

8.如权利要求1所述的方法中，其特征在于，步骤A07中，调整R2和R3电阻阻值，使电路带宽达到500MHz或1GHz指标要求，并且在频率变化时，信号的整体幅度变化较为平缓。

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