CN107527141A - 开关柜质量的检测方法和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种开关柜质量的检测方法和系统。所述方法包括：根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，质量检测模型包括两级质量指标；生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；根据两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；并确定各二级质量指标的权重，然后将质量得分、权重输入质量检测模型中，得到待检测开关柜的总质量分数，本发明根据待检测开关柜的历史运行数据，对开关柜的质量进行检测评估，从而使开关柜质量的评估检测更加客观。
Description
技术领域
本发明涉及开关柜设备技术领域，特别是涉及开关柜质量的检测方法和系统。
背景技术
随着配电网自动化的建设不断深入，作为主要组成部分的中低压开关柜设备数量将会越来越多，其质量水平直接影响到供电企业的供电可靠性、经济利益以及用电客户的生产、生活等，因此建立完善的配网开关柜质量评估检测体系无论对于供电企业还是对于用电客户都具有十分重要的意义。
目前，对配网开关柜的质量评估检测大部分还停留在探索阶段，其中大部分配网开关柜质量评估检测体系过多地考虑了人为评价的因素，其得到的评估检测结果过于主观性，而忽略了客观量化数据的输入。
发明内容
基于此，提供一种开关柜质量的检测方法和系统，解决开关柜质量无法客观评估检测的问题。
一种开关柜质量的检测方法，所述方法包括：
根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；
根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；
确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
一种开关柜质量的检测系统，包括：
模型建立模块，用于根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；
得分计算模块，用于根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；
质量检测模块，用于确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法的步骤。
上述开关柜质量的检测方法和系统，通过待检测开关柜的生命周期，建立待检测开关柜的质量检测模型，该质量检测模型包括两级质量指标，分别为一级质量指标和二级质量指标，通过两级质量指标可以得到至少两个质量参数，通过计算得到各个质量参数的质量得分，然后将各个质量得分以及确定的二级质量指标的权重输入质量检测模型，就可以得到待检测开关柜的总质量得分。本发明上述方案，根据待检测开关柜的历史运行数据，对开关柜的质量进行检测评估，从而使开关柜质量的评估检测更加客观。
附图说明
图1为一实施例中开关柜质量的检测方法的示意性流程图；
图2为一实施例中开关柜质量的检测系统的示意性结构图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及取得的效果，下面结合附图及较佳实施例，对本发明实施例的技术方案，进行清楚和完整的描述。
图1为一实施例中开关柜质量的检测方法的示意性流程图，如图1所示，所述方法的步骤包括：
S101，根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标。
本发明中，开关柜的质量检测是对开关柜整体的评价，并不是指开关柜使用上的质量。在本步骤中，生命周期指的是待检测开关设备从采购到退役之间总的过程，一般来说，对一个待检测开关设备进行检测，会采集大量同类开关设备的状态信息，确保待检测开关设备的生命周期完整。生命阶段是通过采集本次检测的开关设备历史运行数据得到的表征生命周期的时间阶段。一级质量指标是反映生命阶段中最终重要的质量指标，而二级质量指标是一级质量指标更详尽的质量指标。
S102，根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分。
在本步骤中，根据一级质量指标和二级质量指标确定至少两个质量参数，而质量参数的好坏，直接影响对质量参数的评分。
S103，确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
在本步骤中，权重为各个指标所占的比例，通常，对质量影响越大，在进行评分时，所占的权重就越大。
本实施例的技术方案，通过待检测开关柜的生命周期，建立待检测开关柜的质量检测模型，该质量检测模型包括两级质量指标，分别为一级质量指标和二级质量指标，通过两级质量指标可以得到至少两个质量参数，通过计算得到各个质量参数的质量得分，然后将各个质量得分以及确定的二级质量指标的权重输入质量检测模型，就可以得到待检测开关柜的总质量得分。从而根据待检测开关柜的总质量得分，对开关柜的质量进行检测评估。
在一实施例中，生命周期的生命阶段可以包括：采购阶段、投运阶段、运行阶段以及退役阶段。在确定生命周期的生命阶段的过程中，通过分析设备历史运行数据，以及可能引起质量变化的各个时间阶段，从而确定生命周期的生命阶段，例如，一种待检测的开关柜，影响其质量变化的是采购阶段、投运阶段以及退役阶段，那么，确定生命周期的生命阶段为采购阶段、投运阶段以及退役阶段。
可选的，通过对生命周期的生命阶段的确定，从而确定的一级质量指标可以包括：采购阶段指标、投运阶段指标、运行阶段指标以及退役阶段指标，其中采购阶段指标与生命周期的采购阶段对应；所述投运阶段指标与生命周期的投运阶段对应；所述运行阶段指标与生命周期的运行阶段对应；所述退役阶段指标与生命周期的退役阶段对应。在本实施例中，一级质量指标可以表示对应生命阶段的影响开关柜质量的指标，例如，在采购阶段，可以用采购阶段指标来表示影响开关柜质量的指标。
可选的，二级质量指标可以包括：采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标。其中，采购成本指标对应一级质量指标的采购阶段指标；到货抽检合格率指标和投运检测合格率指标均对应一级质量指标的投运阶段指标；故障率指标和检修频率指标均对应一级质量指标的运行阶段指标；退役成本指标对应一级质量指标的退役阶段指标。本实施例中，将每个一级质量指标细分为若干个二级质量指标，例如，将运行阶段指标细分为故障率指标和检修频率指标。
进一步的，可以通过以下方式根据两级质量指标确定至少两个质量参数：根据采购阶段指标以及采购成本指标得到质量参数投标价格；根据投运阶段指标以及到货抽检合格率指标得到质量参数到货抽检合格率；根据投运阶段指标以及投运检测合格率指标得到质量参数投运检测合格率；根据运行阶段指标以及故障率指标得到质量指标设备故障率；根据运行阶段指标以及检修频率指标得到质量指标平均检修频率；根据退役阶段指标以及退役成本指标得到质量参数退役成本。本实施例中，质量参数为一个待检测开关柜质量的直接体现，质量参数的好坏或者高低，直接影响其对应的两级指标；例如，一个待检测开关柜A的平均检修频率为0.32％，而另一个待检测开关柜B的平均检修频率为0.36％，那么，就运行阶段指标和检修频率指标来说，开关柜A的质量是优于开关柜B的。
具体的，可以通过以下方式根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分：根据历史运行数据计算所述投标价格的质量得分的数学表达式为：
其中，CG表示投标价格的质量得分；Pi表示投标报价；A＝(D1+D2)/2，N表示投标单位总数，D2表示最低投标价格；M表示扣分步长，扣分步骤可以根据需要自行设置。
根据历史运行数据计算所述到货抽检合格率的质量得分的数学表达式为：
其中，CJ表示到货抽检合格率的质量得分；acj表示到货抽检合格率。
根据历史数据计算所述投运检测合格率的质量得分的数学表达式为：
其中，TY表示投运检测合格率的质量得分；aty表示投运检测合格率。
根据历史运行数据计算所述设备故障率的质量得分的数学表达式为：
GZ表示设备故障率的质量得分；agz表示设备故障率。
根据历史运行数据计算所述平均检修频率的质量得分的数学表达式为：
其中，JX表示平均检修频率的质量得分；ajx表示平均检修频率。
根据历史运行数据计算所述退役成本的质量得分的数学表达式为：
其中，TF表示退役成本的质量得分；Atf表示退役成本。
在本实施例根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分中，具体给出了每个质量参数得分的计算公式，每个质量参数的区间，均是根据分析待检测开关柜的历史运行数据以及开关柜的具体运行场景得到的，例如，在配电的使用环境下，通过分析待检测开关柜的历史运行数据，得到在平均检修频率在0.38％以下时，完全可以满足配电生产需要，在平均检修频率在0.38％-0.5％之间时，可以很好的满足配电生产需要，在平均检修频率在0.5％-1％之间时，基本可以满足配电的生产需求，而平均检修频率在大于1％，无法满足配电的生产需求。
可选的，可以采用以下方式确定各二级质量指标的权重：将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的步骤，包括：确定采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标对应的权重依次为a1、a2、a3、a4、a5以及a6；将所述质量得分CG、CJ、TY、GZ、JX以及TF，权重a1、a2、a3、a4、a5以及a6输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的数学表达式为：Q＝a1CG+a2CJ+a3TY+a4GZ+a5JX+a6TF，其中，Q表示待检测开关柜的总质量分数。
在本实施例中，可以通过对开关柜使用的历史数据分析，得到在开关柜每个生命阶段的成本构成，从而体现各个生命阶段对开关柜质量的影响程度。例如，通过分析开关柜使用的历史数据，得到采购阶段对开关柜质量的影响远大于退役阶段的影响，因此，通过分析得到具体的影响值，采购阶段的权重占50％，而退役阶段只占10％，然后再根据各个生命阶段包含的质量参数进行具体划分。
以下以一具体实施例，对本发明的开关柜质量的检测方法进行具体说明。
待检测开关柜为配电开关柜，根据开关柜的采购成本指标得到投标价格Pi分别为50、54、58，待检测开关柜的投标报价为54，进一步设置扣分步长M为8，得到待检测开关柜的投标价格的质量得分为70.4。待检测开关柜的到货抽检合格率为92％，得到到货抽检合格率的质量得分为80。待检测开关柜的投运检测合格率为91％，得到投运检测合格率的质量得分为80。待检测开关柜的设备故障率为0.16％，得到设备故障率的质量得分为100。待检测开关柜的平均检修频率为0.42％，的到平均检修频率的质量得分为80。退役成本小于0，得到退役成本的质量得分为100。根据待检测开关柜的历史运行数据，得到待检测开关柜一级质量指标采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标对应的权重依次0.5、0.1、0.1、0.1、0.1以及0.1。将上述参数代入待检测开关柜的质量检测模型，得到待检测开关柜的总质量分数Q为79.2。
在本发明中，质量好的开关柜的总质量得分不一定比质量一般的开关柜的质量得分高，在上述具体的实施例中，得到的待检测开关柜的总质量得分是从客观上反映待检测开关柜在配电具体场景中的使用价值。
上述实施例实际给出具体通过几个一级质量指标和几个二级质量指标得到质量总得分的方法，但是，本发明的方法可以采用更多的一级质量指标和二级质量指标或者更少的一级质量指标和二级质量指标实现。不限于上述实施例的描述。
基于与上述实施例中的开关柜质量的检测方法，本发明还提供开关柜质量的检测系统，该系统可用于执行上述开关柜质量的检测方法。为了便于说明，开关柜质量的检测系统实施例的结构示意图中，仅仅示出了与本发明实施例相关的部分，本领域技术人员可以理解，图示结构并不构成对系统的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
图2为一实施例中开关柜质量的检测系统的示意性结构图，如图2所示，开关柜质量的检测系统包括：
模型建立模块201，用于根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；
得分计算模块202，用于根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；
质量检测模块203，用于确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
在一实施例中，生命周期的生命阶段可以包括：采购阶段、投运阶段、运行阶段以及退役阶段。在确定生命周期的生命阶段的过程中，通过分析设备历史运行数据，以及可能引起质量变化的各个时间阶段，从而确定生命周期的生命阶段，例如，一种待检测的开关柜，影响其质量变化的是采购阶段、投运阶段以及退役阶段，那么，确定生命周期的生命阶段为采购阶段、投运阶段以及退役阶段。
可选的，通过对生命周期的生命阶段的确定，模型建立模块201还用于确定的一级质量指标可以包括：采购阶段指标、投运阶段指标、运行阶段指标以及退役阶段指标，其中采购阶段指标与生命周期的采购阶段对应；所述投运阶段指标与生命周期的投运阶段对应；所述运行阶段指标与生命周期的运行阶段对应；所述退役阶段指标与生命周期的退役阶段对应。在本实施例中，一级质量指标可以表示对应生命阶段的影响开关柜质量的指标，例如，在采购阶段，可以用采购阶段指标来表示影响开关柜质量的指标。
可选的，模型建立模块201还用于确定的二级质量指标可以包括：采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标。其中，采购成本指标对应一级质量指标的采购阶段指标；到货抽检合格率指标和投运检测合格率指标均对应一级质量指标的投运阶段指标；故障率指标和检修频率指标均对应一级质量指标的运行阶段指标；退役成本指标对应一级质量指标的退役阶段指标。本实施例中，将每个一级质量指标细分为若干个二级质量指标，例如，将运行阶段指标细分为故障率指标和检修频率指标。
进一步的，得分计算模块202还用于根据采购阶段指标以及采购成本指标得到质量参数投标价格；根据投运阶段指标以及到货抽检合格率指标得到质量参数到货抽检合格率；根据投运阶段指标以及投运检测合格率指标得到质量参数投运检测合格率；根据运行阶段指标以及故障率指标得到质量指标设备故障率；根据运行阶段指标以及检修频率指标得到质量指标平均检修频率；根据退役阶段指标以及退役成本指标得到质量参数退役成本。本实施例中，质量参数为一个待检测开关柜质量的直接体现，质量参数的好坏或者高低，直接影响其对应的两级指标；例如，一个待检测开关柜A的平均检修频率为0.32％，而另一个待检测开关柜B的平均检修频率为0.36％，那么，就运行阶段指标和检修频率指标来说，开关柜A的质量是优于开关柜B的。
具体的，得分计算模块202用于根据历史运行数据计算所述投标价格的质量得分的数学表达式为：
其中，CG表示投标价格的质量得分；Pi表示投标报价；A＝(D1+D2)/2，N表示投标单位总数，D2表示最低投标价格；M表示扣分步长，扣分步骤可以根据需要自行设置。
根据历史运行数据计算所述到货抽检合格率的质量得分的数学表达式为：
其中，CJ表示到货抽检合格率的质量得分；acj表示到货抽检合格率。
根据历史数据计算所述投运检测合格率的质量得分的数学表达式为：
其中，TY表示投运检测合格率的质量得分；aty表示投运检测合格率。
根据历史运行数据计算所述设备故障率的质量得分的数学表达式为：
GZ表示设备故障率的质量得分；agz表示设备故障率。
根据历史运行数据计算所述平均检修频率的质量得分的数学表达式为：
其中，JX表示平均检修频率的质量得分；ajx表示平均检修频率。
根据历史运行数据计算所述退役成本的质量得分的数学表达式为：
其中，TF表示退役成本的质量得分；Atf表示退役成本。
在本实施例的得分计算模块202，具体给出了每个质量参数得分的计算公式，每个计算公式的区间，均是根据分析待检测开关柜的历史运行数据以及开关柜的具体运行场景得到的，例如，在配电的使用环境下，通过分析待检测开关柜的历史运行数据，得到在平均检修频率在0.38％以下时，完全可以满足配电生产需要，在平均检修频率在0.38％-0.5％之间时，可以很好的满足配电生产需要，在平均检修频率在0.5％-1％之间时，基本可以满足配电的生产需求，而平均检修频率在大于1％，无法满足配电的生产需求。
可选的，质量检测模块203还用于将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的步骤，包括：确定采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标对应的权重依次为a1、a2、a3、a4、a5以及a6；将所述质量得分CG、CJ、TY、GZ、JX以及TF，权重a1、a2、a3、a4、a5以及a6输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的数学表达式为：Q＝a1CG+a2CJ+a3TY+a4GZ+a5JX+a6TF，其中，Q表示待检测开关柜的总质量分数。
在本实施例中，质量检测模块203可以通过对开关柜使用的历史数据分析，得到在开关柜每个生命阶段的成本构成，从而体现各个生命阶段对开关柜质量的影响程度。例如，质量检测模块203通过分析开关柜使用的历史数据，得到采购阶段对开关柜质量的影响远大于退役阶段的影响，因此，质量检测模块203通过分析得到具体的影响值，采购阶段的权重占50％，而退役阶段只占10％，然后再根据各个生命阶段包含的质量参数进行具体划分。
本领域普通技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，作为独立的产品销售或使用。所述程序在执行时，可执行如上述各方法的实施例的全部或部分步骤。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccess Memory，RAM)等。
在一实施例中，所述存储介质还可设置于计算机设备中，所述计算机设备还包括处理器。所述处理器执行所述存储介质中的程序时可执行如上述各方法的实施例的全部或部分步骤。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述方法包括：
根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；
根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；
确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
2.根据权利要求1所述开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述生命周期的生命阶段包括：采购阶段、投运阶段、运行阶段以及退役阶段。
3.根据权利要求2所述的开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述一级质量指标包括：采购阶段指标、投运阶段指标、运行阶段指标以及退役阶段指标；其中，所述采购阶段指标与生命周期的采购阶段对应；所述投运阶段指标与生命周期的投运阶段对应；所述运行阶段指标与生命周期的运行阶段对应；所述退役阶段指标与生命周期的退役阶段对应。
4.根据权利要求3所述的开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述二级质量指标包括：采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标；其中，所述采购成本指标对应一级质量指标的采购阶段指标；所述到货抽检合格率指标和所述投运检测合格率指标均对应一级质量指标的投运阶段指标；所述故障率指标和所述检修频率指标均对应一级质量指标的运行阶段指标；所述退役成本指标对应一级质量指标的退役阶段指标。
5.根据权利要求4所述的开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数的步骤，包括：
根据采购阶段指标以及采购成本指标得到质量参数投标价格；根据投运阶段指标以及到货抽检合格率指标得到质量参数到货抽检合格率；根据投运阶段指标以及投运检测合格率指标得到质量参数投运检测合格率；根据运行阶段指标以及故障率指标得到质量指标设备故障率；根据运行阶段指标以及检修频率指标得到质量指标平均检修频率；根据退役阶段指标以及退役成本指标得到质量参数退役成本。
6.根据权利要求4所述的开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分的步骤，包括：
根据历史运行数据计算所述投标价格的质量得分的数学表达式为：
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<mi>A</mi>
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其中，CG表示投标价格的质量得分；Pi表示投标报价；A＝(D1+D2)/2，N表示投标单位总数，D2表示最低投标价格；M表示扣分步长；
根据历史运行数据计算所述到货抽检合格率的质量得分的数学表达式为：
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<mi>C</mi>
<mi>J</mi>
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<mn>60</mn>
<mi>%</mi>
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</mtd>
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</mtable>
</mfenced>
</mrow>
其中，CJ表示到货抽检合格率的质量得分；acj表示到货抽检合格率；
根据历史数据计算所述投运检测合格率的质量得分的数学表达式为：
<mrow>
<mi>T</mi>
<mi>Y</mi>
<mo>=</mo>
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</msub>
<mo><</mo>
<mn>60</mn>
<mi>%</mi>
</mrow>
</mtd>
</mtr>
</mtable>
</mfenced>
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其中，TY表示投运检测合格率的质量得分；aty表示投运检测合格率；
根据历史运行数据计算所述设备故障率的质量得分的数学表达式为：
<mrow>
<mi>G</mi>
<mi>Z</mi>
<mo>=</mo>
<mfenced open = "{" close = "">
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<mi>g</mi>
<mi>z</mi>
</mrow>
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</mrow>
</mtd>
</mtr>
</mtable>
</mfenced>
</mrow>
GZ表示设备故障率的质量得分；agz表示设备故障率；
根据历史运行数据计算所述平均检修频率的质量得分的数学表达式为：
<mrow>
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<mi>X</mi>
<mo>=</mo>
<mfenced open = "{" close = "">
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其中，JX表示平均检修频率的质量得分；ajx表示平均检修频率；
根据历史运行数据计算所述退役成本的质量得分的数学表达式为：
<mrow>
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<mo>=</mo>
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其中，TF表示退役成本的质量得分；Atf表示退役成本。
7.根据权利要求6所述的开关柜质量的检测方法，其特征在于，所述确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的步骤，包括：
确定采购成本指标、到货抽检合格率指标、投运检测合格率指标、故障率指标、检修频率指标以及退役成本指标对应的权重依次为a1、a2、a3、a4、a5以及a6；
将所述质量得分CG、CJ、TY、GZ、JX以及TF，权重a1、a2、a3、a4、a5以及a6输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数的数学表达式为：
Q＝a1CG+a2CJ+a3TY+a4GZ+a5JX+a6TF
其中，Q表示待检测开关柜的总质量分数。
8.一种开关柜质量的检测系统，其特征在于，包括：
模型建立模块，用于根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；
得分计算模块，用于根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；
质量检测模块，用于确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7任一所述方法的步骤。
10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-7任一所述方法的步骤。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN201710662660.XA CN107527141A (zh) | 2017-08-04 | 2017-08-04 | 开关柜质量的检测方法和系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710662660.XA CN107527141A (zh) | 2017-08-04 | 2017-08-04 | 开关柜质量的检测方法和系统 |
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|---|---|
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110426578A (zh) * | 2019-07-30 | 2019-11-08 | 西安西拓电气股份有限公司 | 开关柜状态评估方法及服务器 |
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| US20120102450A1 (en) * | 2010-10-22 | 2012-04-26 | Infosys Technologies Limited | Method and system for determining performance parameters of software project based on software-engineering tools usage |
| CN105488734A (zh) * | 2015-11-27 | 2016-04-13 | 广州供电局有限公司 | 基于全生命周期的电能计量装置质量评估方法及系统 |
| CN106503884A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-03-15 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种对开关柜进行健康状态评估的方法 |
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2017
- 2017-08-04 CN CN201710662660.XA patent/CN107527141A/zh active Pending
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