CN107515350A - 一种基于电容值监测的lcm测试控制系统 - Google Patents

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肖宪书
马小飞
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Bengbu Gaohua Resolution Technology Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

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Abstract

本发明公开了一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，涉及LCM测试控制技术领域。本发明中：端子电容监测通过通过传感监测传输模块与通电自检测单元相联；LCM测试控制系统包括产品控制驱动单元和端子供电控制单元；通电自检测单元通过数据信号分析及信号驱动传输控制模块与产品控制驱动单元相联；端子供电单元通过信号传输及电气控制模块与产品控制驱动单元相联。本发明通过LCM测试控制系统进行分析处理，从而对产品测试进行高效低损化测试操作；本发明系统驱动产品测试系统自动检测产品的连接状态，测试产品连接自动上电，拿取产品自动下电，避免因带电插拔或连接偏位导致的产品损坏。

Description

一种基于电容值监测的LCM测试控制系统
技术领域
本发明属于LCM测试控制技术领域，特别是涉及一种基于电容值监测的LCM测试控制系统。
背景技术
随着显示屏应用的范围越来越广，公司订单量明显增大，同时高端产品的成本越来越高，对测试的良效率提出了新的需求：1、提高效率；2、避免测试对产品的损坏。
而传统的测试方式需手动上电、去电，每片产品需多耗时1-2S，降低测试效率；而且在未确定是否连接OK的情况下上电，导致产品损坏；另外人工操作疏忽带电插拔产品，极易损坏产品。传统的测试方法很难避免测试时偏位及带电插拔导致的产品损坏，同时需要频繁开关，导致效率低下。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，通过端子电容监测单元，对产品测试过程中的通断电进行监测，通过LCM测试控制系统进行分析处理，从而对产品测试进行高效低损化测试操作。
为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：
本发明为一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，包括LCM测试控制系统，LCM测试控制系统包括端子电容监测单元和通电自检测单元；端子电容监测通过通过传感监测传输模块与通电自检测单元相联；LCM测试控制系统包括产品控制驱动单元和端子供电控制单元；通电自检测单元通过数据信号分析及信号驱动传输控制模块与产品控制驱动单元相联；端子供电单元通过信号传输及电气控制模块与产品控制驱动单元相联。
其中，产品驱动控制单元包括产品上料控制模块和产品下料控制模块；产品上料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置上料操作；产品下料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置下料操作。
其中，通电自检测单元通过第一电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元；通电自检测单元通过第二电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元。
其中，端子电容监测单元通过接触端子电容值，驱动触发监测信号给通电自检测单元。
本发明具有以下有益效果：
1、本发明通过端子电容监测单元，对产品测试过程中的通断电进行监测，通过LCM测试控制系统进行分析处理，从而对产品测试进行高效低损化测试操作；
2、本发明通过LCM测试控制系统，驱动产品测试系统自动检测产品的连接状态，测试产品连接自动上电，拿取产品自动下电，节约测试时间，同时避免因带电插拔或连接偏位导致的产品损坏。
当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的LCM测试控制系统结构示意图；
图2为LCM测试驱动控制结构示意图；
图3为LCM测试控制流程结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
请参阅附图1-3所示，本发明为一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，包括LCM测试控制系统，LCM测试控制系统包括端子电容监测单元和通电自检测单元；端子电容监测通过通过传感监测传输模块与通电自检测单元相联；LCM测试控制系统包括产品控制驱动单元和端子供电控制单元；通电自检测单元通过数据信号分析及信号驱动传输控制模块与产品控制驱动单元相联；端子供电单元通过信号传输及电气控制模块与产品控制驱动单元相联。
进一步的，产品驱动控制单元包括产品上料控制模块和产品下料控制模块；产品上料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置上料操作；产品下料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置下料操作。
进一步的，通电自检测单元通过第一电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元；通电自检测单元通过第二电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元。
进一步的，端子电容监测单元通过接触端子电容值，驱动触发监测信号给通电自检测单元。
更进一步对本发明进行阐释和说明：
本发明在传统的电测架基础上设置端子电容监测单元，LCM测试控制系统以端子电容值的变化来控制产品测试电压的通断。参数调试：设置未连接产品时连接端子的电容值范围为A，连接产品后连接端子电容范围为B，端子电容监测单元检测连接端子的电容值，电容值在A的范围内则自动关闭产品测试系统，电容值在B的范围内则打开产品测试系统。
LCM测试控制系统监测产品测试系统是否连接待测试系统，若无产品上料连接，则产品测试系统不通电；若有产品连接，则产品测试系统通电。当产品测试完成后，产品测试数据传输给LCM测试控制系统内进行数据保持和分析，然后产品测试系统先断电，后将测试结束的产品按照良品和非良品进行分类处理。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (4)

1.一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，包括LCM测试控制系统，其特征在于：
所述LCM测试控制系统包括端子电容监测单元和通电自检测单元；
所述端子电容监测通过通过传感监测传输模块与通电自检测单元相联；
所述LCM测试控制系统包括产品控制驱动单元和端子供电控制单元；
所述通电自检测单元通过数据信号分析及信号驱动传输控制模块与产品控制驱动单元相联；
所述端子供电单元通过信号传输及电气控制模块与产品控制驱动单元相联。
2.根据权利要求1所述的一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，其特征在于：
所述产品驱动控制单元包括产品上料控制模块和产品下料控制模块；
所述产品上料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置上料操作；
所述产品下料控制模块驱动联接夹持动作装置进行位置下料操作。
3.根据权利要求1所述的一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，其特征在于：
所述通电自检测单元通过第一电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元；
所述通电自检测单元通过第二电容值驱动模块驱动联接产品驱动控制单元。
4.根据权利要求1所述的一种基于电容值监测的LCM测试控制系统，其特征在于：
所述端子电容监测单元通过接触端子电容值，驱动触发监测信号给通电自检测单元。
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