CN107421619A - 高精度的电子天平校准方法 - Google Patents

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CN107421619A CN201710644648.6A CN201710644648A CN107421619A CN 107421619 A CN107421619 A CN 107421619A CN 201710644648 A CN201710644648 A CN 201710644648A CN 107421619 A CN107421619 A CN 107421619A
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张明
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01GWEIGHING
    • G01G23/00Auxiliary devices for weighing apparatus
    • G01G23/01Testing or calibrating of weighing apparatus

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Abstract

本发明公开了一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:1)电子天平的放置:在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止。本发明在对电子天平表面仔细的处理,以及通过去离子水进行对比,从而可以精确的判断电子天平有没有出现错误,能够很好的将电子天平重新调校到正确的数值;在经过五分钟之后读取数值,电子天平的数值处于稳定状态,不会产生波动,因此所读取的数值为正确的数值,从而在做校准的时候,能够较为准确的校准电子天平,保证电子天平的准确性。

Description

高精度的电子天平校准方法
技术领域
本发明属于精密电子器械技术领域,尤其是涉及一种高精度的电子天平校准方法。
背景技术
电子天平是化学实验室当中较为常用的实验仪器,因为其有很高的精确度,所以在测量的药品的质量的时候能够精确到万分之一;因此能够有效的提高实验过程中实验的成功率;但是电子天平在长时间使用过后会产生偏差,在产生偏差之后容易导致在实验过程中出现药品的量发生错误,同时在对电子天平的数值读取的时候,电子天平在前期的读读数会发生波动,因此所读取的数值不准确,会影响对电子天平的校准。
发明内容
本发明为了克服现有技术的不足,提供一种读取准确数值的高精度的电子天平校准方法。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;
2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;
3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;然后将烧杯取出;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中;
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;然后关闭玻璃门,等五分钟之后读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;
5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
本发明在对电子天平表面仔细的处理,以及通过去离子水进行对比,从而可以精确的判断电子天平有没有出现错误,能够很好的将电子天平重新调校到正确的数值;在经过五分钟之后读取数值,电子天平的数值处于稳定状态,不会产生波动,因此所读取的数值为正确的数值,从而在做校准的时候,能够较为准确的校准电子天平,保证电子天平的准确性。
进一步的,在对电子天平进行校准的时,关闭门窗并测量室内的空气湿度;测量空气的湿度能够有效地确定湿度对电子天平进行校正的时候的影响;同时关闭门窗可以避免风以及外部的灰尘进入到室内,导致灰尘落入到电子天平当中或者是去离子水当中,对校正的结果造成影响。
进一步的,在将烧杯放入到称盘之后,需要对水准泡进行重新查看;在放置完成之后,需要对水准泡进行重新查看;轻拿轻放可以有效的避免在进行测量的时候,对电子天平造成震动,导致电子天平处于非水平位置;同时对水准泡进行查看,能够有效的保证在测量的时候电子天平处于水平位置上。
综上所述,本发明经过五分钟之后读取数值,电子天平的数值处于稳定状态,不会产生波动,因此所读取的数值为正确的数值,从而在做校准的时候,能够较为准确的校准电子天平,保证电子天平的准确性。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好的理解本发明方案,下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。
一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:测量室内的空气湿度;同时需要关闭门窗,然后选择木质桌面,然后使用激光装置对桌面进行水平照射,观察桌面当中的凸起和凹槽;然后使用磨砂纸对桌面进行打磨,打磨至桌面光滑平整为止;然后在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;将烧杯使用去离子水洗净,在洗净之后将烧杯放置到烘箱当中烘干;然后将烧杯取出;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中。
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;在放置的时候要轻拿轻放,并且确保手臂等不要跟电子天平发生直接的碰撞;然后关闭玻璃门;在关闭玻璃门之后,需要对水准泡进行重新查看,保证水准泡处于水平位置上;然后再等五分钟之后读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。

Claims (3)

1.一种高精度的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;
2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;
3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中;
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;然后关闭玻璃门,等五分钟之后读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;
5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
2.根据权利要求1所述的一种高精度的电子天平校准方法,其特征在于:在对电子天平进行校准的时,关闭门窗并测量室内的空气湿度。
3.根据权利要求1所述的一种高精度的电子天平校准方法,其特征在于:在将烧杯放入到称盘之后,需要对水准泡进行重新查看。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109668617A (zh) * 2019-02-16 2019-04-23 开阳质量计量检验检测中心有限责任公司 一种高效天平检定的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625170A (en) * 1994-01-18 1997-04-29 Nanometrics Incorporated Precision weighing to monitor the thickness and uniformity of deposited or etched thin film
CN101709992A (zh) * 2009-11-26 2010-05-19 卢能晓 电子天平校验方法以及利用该方法的电子天平校验仪
CN102313592A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 Seb公司 重量传感器的校准方法、用于使用该方法的重量传感器以及电子称重设备
CN102706430A (zh) * 2012-01-09 2012-10-03 台衡精密测控(昆山)股份有限公司 一种传感器线性特性的检测装置
CN105527009A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 徐工集团工程机械股份有限公司 一种具有自校准功能的称重系统及其方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625170A (en) * 1994-01-18 1997-04-29 Nanometrics Incorporated Precision weighing to monitor the thickness and uniformity of deposited or etched thin film
CN101709992A (zh) * 2009-11-26 2010-05-19 卢能晓 电子天平校验方法以及利用该方法的电子天平校验仪
CN102313592A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 Seb公司 重量传感器的校准方法、用于使用该方法的重量传感器以及电子称重设备
CN102706430A (zh) * 2012-01-09 2012-10-03 台衡精密测控(昆山)股份有限公司 一种传感器线性特性的检测装置
CN105527009A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 徐工集团工程机械股份有限公司 一种具有自校准功能的称重系统及其方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
吴灿林: "电子天平的工作原理及常见故障分析", 《企业技术开发》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109668617A (zh) * 2019-02-16 2019-04-23 开阳质量计量检验检测中心有限责任公司 一种高效天平检定的方法

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