CN107462315A - 精确的电子天平校准方法 - Google Patents

精确的电子天平校准方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107462315A
CN107462315A CN201710644239.6A CN201710644239A CN107462315A CN 107462315 A CN107462315 A CN 107462315A CN 201710644239 A CN201710644239 A CN 201710644239A CN 107462315 A CN107462315 A CN 107462315A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electronic balance
desktop
beaker
deionized water
calibration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201710644239.6A
Other languages
English (en)
Inventor
张明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ange Yuan Instruments & Meters Inspection Co Ltd
Original Assignee
Ange Yuan Instruments & Meters Inspection Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ange Yuan Instruments & Meters Inspection Co Ltd filed Critical Ange Yuan Instruments & Meters Inspection Co Ltd
Priority to CN201710644239.6A priority Critical patent/CN107462315A/zh
Publication of CN107462315A publication Critical patent/CN107462315A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01GWEIGHING
    • G01G23/00Auxiliary devices for weighing apparatus
    • G01G23/01Testing or calibrating of weighing apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

本发明公开了一种精确的电子天平校准方法,包括以下步骤:1)电子天平的放置:选择木质桌面,然后使用激光装置对桌面进行水平照射,观察桌面当中的凸起和凹槽;然后使用磨砂纸对桌面进行打磨,打磨至桌面光滑平整为止;然后在桌面上放置一水平仪。本发明实现了对电子天平进行校准时,通过水的密度和体积的计算来对电子天平进行校准,减少了校准出现的误差;通过对电子天平进行细致的处理,从而确保了电子天平上没有出现任何的杂质影响电子天平的校准;同时通过对装去离子水的烧杯进行清洗和烘干,能够去除烧杯上的杂质对烧杯称取质量的影响,同时通过烘干可以避免清洗的时候,烧杯当中残留的水影响称量出的水的质量,从而提高校准的精确度,减小了校准过程中出现误差。

Description

精确的电子天平校准方法
技术领域
本发明属于精密电子器械技术领域,尤其是涉及一种精确的电子天平校准方法。
背景技术
电子天平是化学实验室当中较为常用的实验仪器,因为其有很高的精确度,所以在测量的药品的质量的时候能够精确到万分之一;但是在校准的时候经常会因为校准物质出现误差,导致校准的时候出现很大的偏差,出现校准不准确的现象。
发明内容
本发明为了克服现有技术的不足,提供一种完全无偏差的精确的电子天平校准方法。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种精确的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:选择木质桌面,然后使用激光装置对桌面进行水平照射,观察桌面当中的凸起和凹槽;然后使用磨砂纸对桌面进行打磨,打磨至桌面光滑平整为止;然后在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;
2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;
3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;将烧杯使用去离子水洗净,在洗净之后将烧杯放置到烘箱当中烘干;然后将烧杯取出;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中;
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;然后关闭左侧玻璃门,读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;
5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
本发明实现了对电子天平进行校准时,通过水的密度和体积的计算来对电子天平进行校准,减少了校准出现的误差;通过对电子天平进行细致的处理,从而确保了电子天平上没有出现任何的杂质影响电子天平的校准;同时通过对装去离子水的烧杯进行清洗和烘干,能够去除烧杯上的杂质对烧杯称取质量的影响,同时通过烘干可以避免清洗的时候,烧杯当中残留的水影响称量出的水的质量,从而提高校准的精确度,减小了校准过程中出现误差。
进一步的,在对电子天平进行校准的时,关闭门窗并测量室内的空气湿度;测量空气的湿度能够有效地确定湿度对电子天平进行校正的时候的影响;同时关闭门窗可以避免风以及外部的灰尘进入到室内,导致灰尘落入到电子天平当中或者是去离子水当中,对校正的结果造成影响。
进一步的,在将烧杯放入到称盘之后,需要对水准泡进行重新查看;在放置完成之后,需要对水准泡进行重新查看;轻拿轻放可以有效的避免在进行测量的时候,对电子天平造成震动,导致电子天平处于非水平位置;同时对水准泡进行查看,能够有效的保证在测量的时候电子天平处于水平位置上。
综上所述,本发明通过对电子天平进行细致的处理,从而确保了电子天平上没有出现任何的杂质影响电子天平的校准;同时通过对装去离子水的烧杯进行清洗和烘干,能够去除烧杯上的杂质对烧杯称取质量的影响,同时通过烘干可以避免清洗的时候,烧杯当中残留的水影响称量出的水的质量,从而提高校准的精确度,减小了校准过程中出现误差。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好的理解本发明方案,下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。
一种精确的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:测量室内的空气湿度;同时需要关闭门窗,然后选择木质桌面,然后使用激光装置对桌面进行水平照射,观察桌面当中的凸起和凹槽;然后使用磨砂纸对桌面进行打磨,打磨至桌面光滑平整为止;然后在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;将烧杯使用去离子水洗净,在洗净之后将烧杯放置到烘箱当中烘干;然后将烧杯取出;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中。
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;在放置的时候要轻拿轻放,并且确保手臂等不要跟电子天平发生直接的碰撞;然后关闭左侧玻璃门;在关闭左侧玻璃门之后,需要对水准泡进行重新查看,保证水准泡处于水平位置上;然后再等五分钟之后读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。

Claims (3)

1.一种精确的电子天平校准方法,包括以下步骤:
1)电子天平的放置:选择木质桌面,然后使用激光装置对桌面进行水平照射,观察桌面当中的凸起和凹槽;然后使用磨砂纸对桌面进行打磨,打磨至桌面光滑平整为止;然后在桌面上放置一水平仪,根据水平仪对桌面进行调整,桌面调整至水平为止;将电子天平放置到水平的桌面上;然后调节电子天平的四个支撑脚,使得电子天平上的水准泡处于正中间为止;
2)电子天平的预热:使用润湿的滤纸对电子天平内部的称盘进行擦拭;在擦拭的过程中要保证粘附在电子天平上的固态药品被完全擦拭走;在擦拭完成之后,使用滤纸吸走称盘上的水;然后使用擦镜纸进行二次擦拭;在擦拭完成之后,将电子天平打开进行预热,预热的时间为30分钟;
3)标准物的配置:选择10mL的量筒,然后使用去离子水进行洗涤,在洗涤完成之后,将量筒当中的去离子水倒掉,然后量取5mL的去离子水待用;重新选用一个已知重量的10mL烧杯;将烧杯使用去离子水洗净,在洗净之后将烧杯放置到烘箱当中烘干;然后将烧杯取出;将量筒当中的去离子水倒入到所述烧杯当中;
4)电子天平的校准:将电子天平重新归零;然后打开电子天平左侧玻璃门,然后将步骤3)中带有去离子水的烧杯放置到称盘的中间;然后关闭左侧玻璃门,读取电子天平上显示的数值,并做记录;将称盘上的烧杯重新取出;
5)计算电子天平:通过去离子水的密度和体积计算去离子水的重量,然后将计算出的重量和记录的数值进行对比;对电子天平进行调整。
2.根据权利要求1所述的一种精确的电子天平校准方法,其特征在于:在对电子天平进行校准的时,关闭门窗并测量室内的空气湿度。
3.根据权利要求1所述的一种精确的电子天平校准方法,其特征在于:在将烧杯放入到称盘之后,需要对水准泡进行重新查看。
CN201710644239.6A 2017-07-31 2017-07-31 精确的电子天平校准方法 Withdrawn CN107462315A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710644239.6A CN107462315A (zh) 2017-07-31 2017-07-31 精确的电子天平校准方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710644239.6A CN107462315A (zh) 2017-07-31 2017-07-31 精确的电子天平校准方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107462315A true CN107462315A (zh) 2017-12-12

Family

ID=60547094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710644239.6A Withdrawn CN107462315A (zh) 2017-07-31 2017-07-31 精确的电子天平校准方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107462315A (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625170A (en) * 1994-01-18 1997-04-29 Nanometrics Incorporated Precision weighing to monitor the thickness and uniformity of deposited or etched thin film
CN101709992A (zh) * 2009-11-26 2010-05-19 卢能晓 电子天平校验方法以及利用该方法的电子天平校验仪
CN102313592A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 Seb公司 重量传感器的校准方法、用于使用该方法的重量传感器以及电子称重设备
CN102706430A (zh) * 2012-01-09 2012-10-03 台衡精密测控(昆山)股份有限公司 一种传感器线性特性的检测装置
CN105527009A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 徐工集团工程机械股份有限公司 一种具有自校准功能的称重系统及其方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625170A (en) * 1994-01-18 1997-04-29 Nanometrics Incorporated Precision weighing to monitor the thickness and uniformity of deposited or etched thin film
CN101709992A (zh) * 2009-11-26 2010-05-19 卢能晓 电子天平校验方法以及利用该方法的电子天平校验仪
CN102313592A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 Seb公司 重量传感器的校准方法、用于使用该方法的重量传感器以及电子称重设备
CN102706430A (zh) * 2012-01-09 2012-10-03 台衡精密测控(昆山)股份有限公司 一种传感器线性特性的检测装置
CN105527009A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 徐工集团工程机械股份有限公司 一种具有自校准功能的称重系统及其方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
吴灿林: "电子天平的工作原理及常见故障分析", 《企业技术开发》 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105884185B (zh) 一种摄像头镜片的生产工艺
CN104359717B (zh) 一种污染源湿度饱和烟气中低浓度颗粒物采样测试装置及方法
CN107290038A (zh) 操作简单的电子天平校准方法
JPH0755681A (ja) 物体の密度を自動的に測定するための装置及び方法
CN106644865B (zh) 一种粉尘浓度标定系统
CN107462315A (zh) 精确的电子天平校准方法
CN107421619A (zh) 高精度的电子天平校准方法
CN107051979A (zh) 一种紫外光清洗基板的方法及系统
CN107462316A (zh) 简单的电子天平校准方法
JP3575601B2 (ja) 電子光学部品用ガラスの製造方法
CN108303427A (zh) 基于图像处理的家居破损程度检测系统
JPH10212134A (ja) 電子光学部品用ガラスおよびその製造方法
CN107478704A (zh) Ph计的校准方法
CN210293969U (zh) 悬移质含沙量自动测验系统
CN213022239U (zh) 一种镜头检查机
CN104089912A (zh) 一种木素溶解量的测定方法
CN107817042A (zh) 一种校准电子体重秤的方法
CN109132543A (zh) 一种片材的制造装置和片材制造方法
CN110595937A (zh) 一种可以同时测量共吸附剂和染料质量的方法
CN218735890U (zh) 一种适用于机器视觉技术检验种子活力的发芽装置
CN209927253U (zh) 一种染膏色素样品称量用的可调节分析天平
CN219898234U (zh) 一种食品添加剂检测台
CN103697975A (zh) 一种砝码交换称量装置及其测量方法
CN210545253U (zh) 一种化学试剂检测用工作台
CN205659690U (zh) 一种沥青薄膜加热试验用盛样皿

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20171212

WW01 Invention patent application withdrawn after publication