CN107393947B - 显示基板的制造方法 - Google Patents

显示基板的制造方法 Download PDF

Info

Publication number
CN107393947B
CN107393947B CN201710652934.7A CN201710652934A CN107393947B CN 107393947 B CN107393947 B CN 107393947B CN 201710652934 A CN201710652934 A CN 201710652934A CN 107393947 B CN107393947 B CN 107393947B
Authority
CN
China
Prior art keywords
substrate
forming
pattern
photoresist
base plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201710652934.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107393947A (zh
Inventor
张锋
吕志军
刘文渠
董立文
张世政
党宁
刘志勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201710652934.7A priority Critical patent/CN107393947B/zh
Publication of CN107393947A publication Critical patent/CN107393947A/zh
Priority to US15/966,579 priority patent/US10325929B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN107393947B publication Critical patent/CN107393947B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1339Gaskets; Spacers; Sealing of cells
    • G02F1/13394Gaskets; Spacers; Sealing of cells spacers regularly patterned on the cell subtrate, e.g. walls, pillars
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/50Multistep manufacturing processes of assemblies consisting of devices, each device being of a type provided for in group H01L27/00 or H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/842Containers
    • H10K50/8428Vertical spacers, e.g. arranged between the sealing arrangement and the OLED
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/1201Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • H10K59/1213Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/123Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80Constructional details
    • H10K59/87Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K59/871Self-supporting sealing arrangements
    • H10K59/8723Vertical spacers, e.g. arranged between the sealing arrangement and the OLED
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1339Gaskets; Spacers; Sealing of cells
    • G02F1/13396Spacers having different sizes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1339Gaskets; Spacers; Sealing of cells
    • G02F1/13398Spacer materials; Spacer properties
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

本发明公开了一种显示基板的制造方法,属于显示技术领域。所述方法包括:提供衬底基板;在所述衬底基板上形成薄膜晶体管TFT;在形成有所述TFT的衬底基板上形成光刻胶图案,所述光刻胶图案包括用于形成隔垫物图案的镂空区域;在所述镂空区域内形成隔垫物材料;剥离所述光刻胶图案,以使所述镂空区域内的隔垫物材料形成所述隔垫物图案。本发明解决了相关技术中制造显示基板时可能导致显示装置上的像素亮度不均,影响显示装置的图像显示稳定性的问题。本发明用于显示基板的制造。

Description

显示基板的制造方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示基板的制造方法。
背景技术
有机发光二极管(英文:Organic Light-Emitting Diode;简称:OLED)显示装置是一种具有自主发光功能的显示装置。OLED显示装置中包括以矩阵形式排列的多个像素,OLED显示装置按照其像素的驱动方式可以分为有源矩阵有机发光二极管(英文:ActiveMatrix/Organic Light Emitting Diode;简称:AMOLED)显示装置和无源矩阵有机发光二极管(英文:Passive matrix Organic Light-Emitting Diode;简称:PMOLED)显示装置,其中,AMOLED显示装置以其厚度薄、重量轻、主动发光、响应速度快,视角广,色彩丰富以及高亮度、低功耗、耐高低温等优点广泛应用于显示行业。
AMOLED显示装置通常可以包括显示基板,显示基板包括衬底基板以及设置在衬底基板上的多个薄膜晶体管(英文:Thin Film Transistor;简称:TFT),显示基板还包括在设置有多个TFT的衬底基板上依次设置的平坦层、像素限定层和隔垫物图案。
相关技术中,制备显示基板中的隔垫物图案的方法一般包括:在设置有像素限定层的衬底基板上涂覆隔垫物材料以设置隔垫物层,通过紫外光采用掩模板对涂覆有隔垫物层的衬底基板进行曝光,设置隔垫物图案。
但是,相关技术中在制备隔垫物图案时,由于隔垫物材料一般为有机树脂材料,且隔垫物层的厚度较大,而隔垫物图案的面积较小,所需曝光的面积较大,因此对隔垫物层进行曝光处理时所需的紫外光的曝光能量较大,并且紫外光照射到TFT中的有源层时,会使TFT特性漂移(也即是多个TFT的阈值电压的大小可能不同),影响TFT的阈值电压。在显示图像时,若在多个TFT上加载相同的电压,由于多个TFT的阈值电压不同,经过该多个TFT对应的像素的电流也不同,导致显示装置上的像素亮度不均,影响显示装置的图像显示稳定性。
发明内容
为了解决相关技术中制造显示基板时可能导致显示装置上的像素亮度不均,影响显示装置的图像显示稳定性的问题,本发明实施例提供了一种显示基板的制造方法。所述技术方案如下:
提供了一种显示基板的制造方法,所述方法包括:
提供衬底基板;
在所述衬底基板上形成薄膜晶体管TFT;
在形成有所述TFT的衬底基板上形成光刻胶图案,所述光刻胶图案包括用于形成隔垫物图案的镂空区域;
在所述镂空区域内形成隔垫物材料;
剥离所述光刻胶图案,以使所述镂空区域内的隔垫物材料形成所述隔垫物图案。
可选的,所述在形成有所述TFT的衬底基板上形成光刻胶图案,包括:
在形成有所述TFT的衬底基板上涂覆光刻胶;
通过紫外光采用掩模板,对涂覆有所述光刻胶的衬底基板进行曝光;
对曝光后的衬底基板进行显影、刻蚀得到所述光刻胶图案。
可选的,在所述剥离所述光刻胶图案,以形成所述隔垫物图案之前,所述方法还包括:
采用预设的温度对所述隔垫物材料进行烘烤。
可选的,所述预设的温度的范围为200℃~300℃。
可选的,所述在所述镂空区域内形成隔垫物材料,包括:
在所述光刻胶图案上涂覆隔垫物材料。
可选的,所述在形成有所述TFT的衬底基板上形成光刻胶图案,包括:
在形成有所述TFT的衬底基板上形成平坦层;
在形成有所述平坦层的衬底基板上形成像素限定层;
在形成有所述像素限定层的衬底基板上形成所述光刻胶图案。
可选的,所述在所述衬底基板上形成TFT,包括:
在所述衬底基板上形成有源层;
在形成有所述有源层的衬底基板上依次形成栅绝缘层、栅极和源漏极图案,所述源漏极图案包括源极和漏极。
可选的,所述有源层为多晶硅P-Si层。
可选的,所述镂空区域包括呈圆台状或棱台状的镂空孔。
可选的,所述隔垫物图案的厚度为1微米~2微米。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
本发明实施例提供的显示基板的制造方法,在形成隔垫物图案时,首先在形成有TFT的衬底基板上形成包括用于形成隔垫物图案的镂空区域的光刻胶图案,再在形成有光刻胶图案的衬底基板上形成隔垫物材料,剥离该光刻胶图案以形成隔垫物图案,由于在形成光刻胶图案时,光刻胶的感光性好,因此所需的紫外光的曝光能量较小,可减少照射到TFT中的有源层上的紫外光,从而保证了显示基板的稳定性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种显示基板的制造方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的另一种显示基板的制造方法的流程图;
图3是本发明实施例提供的一种显示基板的结构示意图;
图4-1是本发明实施例提供的一种掩膜板的结构示意图;
图4-2是本发明实施例提供的另一种掩膜板的结构示意图;
图5是本发明实施例提供的一种形成隔垫物图案的工艺流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
目前,制造显示基板时可能导致显示装置上的像素亮度不均,影响显示装置的图像显示稳定性,为了解决这一问题,本发明实施例提供了一种显示基板的制造方法,如图1所示,该方法可以包括:
步骤101、提供衬底基板。
步骤102、在衬底基板上形成TFT。
步骤103、在形成有TFT的衬底基板上形成光刻胶图案,该光刻胶图案包括用于形成隔垫物图案的镂空区域。
步骤104、在镂空区域内形成隔垫物材料。
步骤105、剥离光刻胶图案,以使镂空区域内的隔垫物材料形成隔垫物图案。
综上所述,本发明实施例提供的显示基板的制造方法,在形成隔垫物图案时,首先在形成有TFT的衬底基板上形成包括用于形成隔垫物图案的镂空区域的光刻胶图案,再在形成有光刻胶图案的衬底基板上形成隔垫物材料,剥离该光刻胶图案以形成隔垫物图案,由于在形成光刻胶图案时,光刻胶的感光性好,因此所需的紫外光的曝光能量较小,可减少照射到TFT中的有源层上的紫外光,从而保证了显示基板的稳定性。
本发明实施例提供了另一种显示基板的制造方法,如图2所示,该方法可以包括:
步骤201、提供衬底基板。
可选的,该衬底基板可以由玻璃、硅片、石英以及塑料等透明材料制成,优选的,衬底基板由玻璃制成。
步骤202、在衬底基板上形成TFT。
可选的,在衬底基板上形成TFT可以包括:在衬底基板上形成有源层;在形成有有源层的衬底基板上依次形成栅绝缘层、栅极和源漏极图案,该源漏极图案包括源极和漏极。
其中,栅绝缘层可以由氮化硅制成,栅极和源漏极图案可以由铝或钼制成,有源层可以为多晶硅(英文:Polycrystal Silicon;简称:P-Si)层。
具体的,可以在衬底基板上沉积、涂敷或溅射P-Si,再通过一次构图工艺形成有源层;进一步的,在有源层上通过沉积、涂敷、溅射等多种方式中的一种形成栅绝缘层膜层,再对该栅绝缘层膜层通过一次构图工艺形成栅绝缘层;再进一步的,在栅绝缘层上通过沉积、涂敷、溅射等多种方式中的一种形成栅极层,再对该栅极层通过一次构图工艺形成栅极;再进一步的,在栅极上通过沉积、涂敷、溅射等多种方式中的一种形成源漏极层,再对该源漏极层通过一次构图工艺形成源漏极图案。一次构图工艺可以包括:光刻胶涂覆、曝光、显影、刻蚀和光刻胶剥离。
示例的,如图3所示,显示基板包括衬底基板301,衬底基板301上设置有TFT302。
步骤203、在形成有TFT的衬底基板上形成平坦层。
进一步的,如图3所示,设置有TFT302的衬底基板301上设置有平坦层303。可选的,平坦层可以由氮化硅制成。
步骤204、在形成有平坦层的衬底基板上形成像素限定层。
该像素限定层可以用于限定有机发光元件的发光区域的开口。
再进一步的,如图3所示,设置有平坦层303的衬底基板301上设置有像素限定层304。
步骤205、在形成有像素限定层的衬底基板上形成光刻胶图案,该光刻胶图案包括用于形成隔垫物图案的镂空区域。
可选的,在形成有像素限定层的衬底基板上形成光刻胶图案可以包括:在形成有TFT的衬底基板上涂覆光刻胶;通过紫外光采用掩模板,对涂覆有光刻胶的衬底基板进行曝光;对曝光后的衬底基板进行显影、刻蚀得到光刻胶图案。
当该光刻胶为正性光刻胶时,通过紫外光采用掩膜板的透光区域,对涂覆有光刻胶的衬底基板进行曝光,该掩膜板的结构图可以如图4-1所示;当该光刻胶为负性光刻胶时,通过紫外光采用掩膜板的不透光区域,对涂覆有光刻胶的衬底基板进行曝光,该掩膜板的结构图可以如图4-2所示。在图4-1和图4-2中,区域M为掩膜板的透光区域,区域N为掩膜板的不透光区域。
可选的,该镂空区域可以包括呈圆台状或棱台状的镂空孔。其中,形成的光刻胶图案的厚度可以为1微米~2微米。
步骤206、在镂空区域内形成隔垫物材料。
可选的,可以在光刻胶图案上涂覆隔垫物材料,也可以采用沉积或溅射等方式在光刻胶图案的镂空区域内填充隔垫物材料,本发明实施例对在镂空区域内形成隔垫物材料的方式不做限定。
其中,隔垫物材料可以为溶有树脂材料的有机溶液。
步骤207、采用预设的温度对隔垫物材料进行烘烤。
可选的,预设的温度的范围为200℃~300℃,优选为230℃。
由于隔垫物材料为溶有树脂材料的有机溶液,在光刻胶图案上涂覆该隔垫物材料后,对隔垫物材料进行烘烤,可以蒸发有机溶液,留下固态的树脂材料,从而保证形成的隔垫物图案对显示基板起到良好的支撑作用。
步骤208、剥离光刻胶图案,以使镂空区域内的隔垫物材料形成隔垫物图案。
可选的,隔垫物图案的厚度可以为1微米~2微米。
再进一步的,如图3所示,设置有像素限定层304的衬底基板301上设置有隔垫物图案305。
本发明实施例以采用正性光刻胶为例进行说明,图5是在形成有TFT302、平坦层303和像素限定层304的衬底基板301上形成隔垫物图案的工艺流程图,如图5所示,该工艺流程包括:
S1、在形成有TFT302、平坦层303和像素限定层304的衬底基板301上形成光刻胶层A。
可选的,可以采用涂覆光刻胶的方式形成光刻胶层A。
S2、在光刻胶层A上设置掩膜板B,通过紫外光采用掩膜板B的透光区域对光刻胶层进行曝光。
S3、对曝光后的光刻胶层A进行显影、刻蚀得到光刻胶图案A’。
S4、在光刻胶图案A’上形成隔垫物材料C。
可选的,如图5所示,在光刻胶图案的镂空区域内形成隔垫物材料C;另外,也可以采用涂覆的方式在光刻胶图案上形成整层隔垫物材料。
S5、在对隔垫物材料C进行烘烤后,剥离光刻胶图案A’,得到隔垫物图案305。
相关技术中,在制备隔垫物图案时,采用紫外光对隔垫物材料进行曝光的曝光面积大于涂覆的隔垫物层的面积的95%,单位面积的曝光能量大于100兆焦耳(英文:megajoule;简称:mJ);本发明实施例中,采用光刻胶图案来制备隔垫物图案,如图5所示,在采用紫外光对光刻胶层进行曝光时,曝光面积远小于涂覆的光刻胶层的面积,一般曝光面积小于涂覆的光刻胶层的面积的5%,单位面积的曝光能量约为30mJ,可极大地减少照射到TFT中的有源层上的紫外光,从而有效保证了显示基板的稳定性。
需要说明的是,本发明实施例提供的显示基板的制造方法步骤的先后顺序可以进行适当调整,步骤也可以根据情况进行相应增减,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化的方法,都应涵盖在本发明的保护范围之内,因此不再赘述。
综上所述,本发明实施例提供的显示基板的制造方法,在形成隔垫物图案时,首先在形成有TFT的衬底基板上形成包括用于形成隔垫物图案的镂空区域的光刻胶图案,再在形成有光刻胶图案的衬底基板上形成隔垫物材料,剥离该光刻胶图案以形成隔垫物图案,由于在形成光刻胶图案时,光刻胶的感光性好,因此所需的紫外光的曝光能量较小,可减少照射到TFT中的有源层上的紫外光,从而保证了显示基板的稳定性。
以上所述仅为本发明的可选实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种显示基板的制造方法,其特征在于,所述方法包括:
提供衬底基板;
在所述衬底基板上形成薄膜晶体管TFT;
在形成有所述TFT的衬底基板上涂覆光刻胶;
通过紫外光采用掩模板,对涂覆有所述光刻胶的衬底基板进行曝光,其中,曝光面积小于涂覆的所述光刻胶的面积的5%,单位面积的曝光能量小于或等于100兆焦耳;
对曝光后的衬底基板进行显影、刻蚀得到光刻胶图案,所述光刻胶图案包括用于形成隔垫物图案的镂空区域,所述镂空区域包括呈圆台状或棱台状的镂空孔,所述镂空孔中靠近所述衬底基板的开口大于远离所述衬底基板的开口;
在所述镂空区域内涂覆隔垫物材料,所述隔垫物材料包括溶有树脂材料的有机溶液;
采用预设的温度对所述隔垫物材料进行烘烤,所述预设的温度的范围为200℃~300℃;
剥离所述光刻胶图案,以使所述镂空区域内的隔垫物材料形成所述隔垫物图案,所述隔垫物图案的厚度为1微米~2微米。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在形成有所述TFT的衬底基板上涂覆光刻胶,包括:
在形成有所述TFT的衬底基板上形成平坦层;
在形成有所述平坦层的衬底基板上形成像素限定层;
在形成有所述像素限定层的衬底基板上涂覆所述光刻胶。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述衬底基板上形成TFT,包括:
在所述衬底基板上形成有源层;
在形成有所述有源层的衬底基板上依次形成栅绝缘层、栅极和源漏极图案,所述源漏极图案包括源极和漏极。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述有源层为多晶硅P-Si层。
CN201710652934.7A 2017-08-02 2017-08-02 显示基板的制造方法 Active CN107393947B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710652934.7A CN107393947B (zh) 2017-08-02 2017-08-02 显示基板的制造方法
US15/966,579 US10325929B2 (en) 2017-08-02 2018-04-30 Method for fabricating a display substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710652934.7A CN107393947B (zh) 2017-08-02 2017-08-02 显示基板的制造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107393947A CN107393947A (zh) 2017-11-24
CN107393947B true CN107393947B (zh) 2020-04-24

Family

ID=60343080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710652934.7A Active CN107393947B (zh) 2017-08-02 2017-08-02 显示基板的制造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10325929B2 (zh)
CN (1) CN107393947B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6815239B1 (en) * 1999-03-05 2004-11-09 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Photolithographic methods for making liquid-crystal-on-silicon displays with alignment posts and optical interference layers
CN103280539A (zh) * 2012-04-03 2013-09-04 友达光电股份有限公司 有机发光二极管结构、制作其的方法及显示面板
CN104617234A (zh) * 2015-02-13 2015-05-13 京东方科技集团股份有限公司 隔垫物、有机电致发光显示面板、制作方法及显示装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106601778B (zh) * 2016-12-29 2019-12-24 深圳市华星光电技术有限公司 Oled背板及其制作方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6815239B1 (en) * 1999-03-05 2004-11-09 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Photolithographic methods for making liquid-crystal-on-silicon displays with alignment posts and optical interference layers
CN103280539A (zh) * 2012-04-03 2013-09-04 友达光电股份有限公司 有机发光二极管结构、制作其的方法及显示面板
CN104617234A (zh) * 2015-02-13 2015-05-13 京东方科技集团股份有限公司 隔垫物、有机电致发光显示面板、制作方法及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20190043893A1 (en) 2019-02-07
US10325929B2 (en) 2019-06-18
CN107393947A (zh) 2017-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107424957B (zh) 柔性tft基板的制作方法
CN106653768B (zh) Tft背板及其制作方法
US20160370621A1 (en) Array substrate, manufacturing method thereof and liquid crystal display
WO2018120365A1 (zh) Oled背板及其制作方法
CN104538357A (zh) 制作阵列基板的方法和阵列基板
US9385171B2 (en) Active matrix organic light-emitting diode array substrate, manufacturing method thereof and display device including the same
US11114477B2 (en) Array substrate and manufacturing method thereof
US9142653B2 (en) Method for manufacturing thin-film transistor array substrate
US9735186B2 (en) Manufacturing method and structure thereof of TFT backplane
WO2015143745A1 (zh) 一种阵列基板的制造方法
WO2015161523A1 (zh) 薄膜晶体管及有机发光二极管显示器制备方法
US20170352711A1 (en) Manufacturing method of tft backplane and tft backplane
US9312276B2 (en) Method for manufacturing array substrate
KR101689886B1 (ko) 산화물 반도체를 이용한 박막트랜지스터 기판의 제조방법
US9627447B2 (en) Active matrix organic light emitting diode panel and method for manufacturing the same
CN105097673A (zh) Tft基板结构的制作方法
CN107393947B (zh) 显示基板的制造方法
US9842735B2 (en) Method of manufacturing low temperature polycrystalline silicon thin film and thin film transistor, thin film transistor, display panel and display device
US20190027548A1 (en) Method for manufacturing array substrate of amoled device
KR101257928B1 (ko) 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
TW583890B (en) Manufacturing method of active type organic electroluminescent display
US20160027904A1 (en) Method for manufacturing coplanar oxide semiconductor tft substrate
US9954037B2 (en) Display device, method of manufacturing the same, display method, and wearable device
US9691836B2 (en) Pixel unit, array substrate, display device and method for manufacturing the same including MoW/Cu/MoW conductive line
KR102230529B1 (ko) 유기전계발광표시소자 및 이의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant