CN107389714A - 一种x射线准直块 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种X射线准直块，包括：与水平面成一定夹角的反射镜和至少一个竖直布置的准直孔，每个准直孔底部均具有滤光片安装孔。本发明的X射线准直块，设置有反射镜，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过反射镜折射光线成像以使摄像头观察到样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，使X射线通过准直孔即可使X射线照射样品，不影响X射线检测的功能。

Description

一种X射线准直块
技术领域
本发明涉及一种X射线准直块，属于元素分析设备技术领域。
背景技术
任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量最低的能级状态称为基态能级，其余能级称为激发态能级，能量最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差△E时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迁到相应的激发态，形成原子吸收光谱。电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，经过一较短时间后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程形成原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。X-射线荧光光谱分析仪的分析原理是：光源发射出原级X-射线，该射线照射样品，待测元素的原子吸收相应的能量形成激发态，外层电子向低能级电子层跃迁，同时发射出次级X-射线，即X-射线荧光，以释放能量，通过探测器检测X-射线荧光的强度，进而求得待测元素的含量。
现有技术中X射线荧光光谱分析仪，X射线源通常设置在底端，正对样品，此时，用于拍摄样品的摄像头就必须倾斜设置，倾斜设置的摄像头拍摄的样品图像必然会出现失真，如梯形失真等，导致无法正确识别出样品待检测部位的中心，也就无法给样品调整到正确位置提供正确的图像指示。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：为解决X射线荧光光谱分析仪中摄像头拍摄样品图像失真的技术问题，提供一种摄像头拍摄样品图像精确且不影响原有功能的X射线准直块。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
本发明提供一种X射线准直块，包括：
与水平面成一定夹角的反射镜和至少一个竖直布置的准直孔，每个准直孔底部均具有滤光片安装孔。
优选地，本发明的X射线准直块，准直孔的孔径为0.1mm-5mm之间的任意值。
优选地，本发明的X射线准直块，准直孔为成一列排布的若干个。
优选地，本发明的X射线准直块，准直孔为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。
优选地，本发明的X射线准直块，相邻两个准直孔之间的距离为6-12mm。
优选地，本发明的X射线准直块，除与其中一个5mm的准直孔对应的滤光片安装孔外，与其它准直孔对应的滤光片安装孔内均设置有滤光片。
本发明的有益效果是：
本发明的X射线准直块，设置有反射镜，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过反射镜折射光线成像以使摄像头观察到样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，使X射线通过准直孔即可使X射线照射样品，不影响X射线检测的功能。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是具有本发明实施例的X射线准直块的检测仓和样品台的立体视图；
图2是具有本发明实施例的X射线准直块的检测仓的立体视图；
图3是具有本发明实施例的X射线准直块的检测仓和样品台的侧视图；
图4是具有本发明实施例的X射线准直块的X射线准直块的立体视图；
图5是本发明实施例的X射线准直块的立体视图。
图中的附图标记为：
40-检测仓；401-观察窗；41-样品台；411-检测孔；42-X射线源；43-摄像头；44-探测器；45-准直部件；451-准直块；452-直线电机；453-前挡块；454-后挡块；4511-反射镜；4512-准直孔；4513-滤光片安装孔。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例
本实施例提供一种X射线准直块，如图5所示，包括：
与水平面成一定夹角的反射镜4511和至少一个竖直布置的准直孔4512，每个准直孔4512底部均具有滤光片安装孔4513。准直孔4512的孔径为0.1mm-5mm之间的任意值。准直孔4512为成一列排布的若干个。准直孔4512为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。相邻两个准直孔4512之间的距离为6-12mm。除与其中一个5mm的准直孔4512对应的滤光片安装孔4513外，与其它准直孔4512对应的滤光片安装孔4513内均设置有滤光片。
上述X射线准直块，设置有反射镜，在需要通过摄像头观察样品位置时，通过反射镜折射光线成像以使摄像头观察到样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，使X射线通过准直孔即可使X射线照射样品，不影响X射线检测的功能。
上述X射线准直块构成的X射线准直块，如图4所示，包括：
包括直线电机452，设置在检测仓40底部上的导轨453，设置导轨453上的X射线准直块451，X射线准直块451能够在直线电机452的驱动下，到达如下位置：1、摄像头43经X射线准直块451上的反射镜4511透过检测孔411拍到位于样品台41上样品的观察位置；2、任一准直孔4512位于X射线源42与检测孔411之间的检测位置，X射线源42发出的X射线能够通过准直孔4512照射到位于样品台41上样品。检测仓40底部上导轨453一侧还设置有前挡块453与后挡块454，用于限制准直块451的运动行程。
作为变形直线电机452也可以是电机加上滚珠丝杆传动副。
本实施例的X射线准直块设置在检测仓40内，如图1和2所示，检测仓40上为样品台41，样品台41中间设置有检测孔411，检测孔411可设置在一个能够拆卸的样品放置板上，以方便放置板的更换；
检测仓40一侧安装有观察窗401；
X射线源42，设置在检测仓40底部，X射线源42的X射线发射管沿竖直方向布置；
探测器44，设置在检测仓40另一侧，用于探测样品发出的二次X射线；
摄像头43，镜头对准观察窗401，当摄像头43位于观察位置时，能够通过反射镜4511观察到位于样品台41上样品；优选为水平设置，此时，反射镜4511应与水平面成45°夹角设置，但摄像头43可以以一定角度设置，此时，反射镜4511也需根据入射角等于反射角的原理调整角度保证能拍到样品台41。
X射线荧光光谱分析仪中X射线源42设置在检测仓40底部，X射线源42发射的X射线以垂直角度照射到样品上，提高了检测精度。同时，通过设置具有反射镜4511的准直部件45，在需要通过摄像头43观察样品位置时，通过直线电机452使X射线准直块451处于观察位置，此时可通过摄像头43观察样品，且拍摄的图像不产生变形失真，产品成像和位置的调整更为精确，样品位置调整结束后，再通过直线电机452使X射线准直块451处于检测位置，此时通过X射线源42发生X射线就可以进行X射线检测，不影响X射线检测的功能。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (6)

1.一种X射线准直块，其特征在于，包括：
与水平面成一定夹角的反射镜(4511)和至少一个竖直布置的准直孔(4512)，每个准直孔(4512)底部均具有滤光片安装孔(4513)。
2.根据权利要求1所述的X射线准直块，其特征在于，准直孔(4512)的孔径为0.1mm-5mm之间的任意值。
3.根据权利要求2所述的X射线准直块，其特征在于，准直孔(4512)为成一列排布的若干个。
4.根据权利要求3所述的X射线准直块，其特征在于，准直孔(4512)为7个，孔径分别为0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、5mm、5mm。
5.根据权利要求3或4所述的X射线准直块，其特征在于，相邻两个准直孔(4512)之间的距离为6-12mm。
6.根据权利要求4所述的X射线准直块，其特征在于，除与其中一个5mm的准直孔(4512)对应的滤光片安装孔(4513)外，与其它准直孔(4512)对应的滤光片安装孔(4513)内均设置有滤光片。
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