CN107389236B - 基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，通过非接触式测量，无需在结构物上直接安装传感器或其他测量装置，可以降低机械振动、供电线缆对推力测量的干扰，解决目前常用微推力和微冲量测量装置存在的零点漂移、平衡位置不稳定、标定困难以及精度低等问题。
Description
技术领域
本发明涉及微推力测量技术领域，具体的涉及一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统。
背景技术
目前，国内对电推进推力器的微推力和微冲量的高精度测量，比较常见的是基于单摆、倒立摆、扭摆等摆动原理的推力测量系统。其中，基于倒立摆原理的电磁天平用于测量冲量时，存在严重的零点漂移，电磁天平平衡位置的不稳定也导致了测量精度较差，因此，一般只能用作定性或半定量分析。
相对而言，采用基于扭摆原理的测量装置用于测量推力或冲量具有较高的精确度和敏感性，扭摆的历史可追溯到1798年卡文迪许为了测量重力加速度常数而发明的扭秤。随着对扭摆测量装置的不断改进，其测量范围变得更加广泛，C.Phipps等人设计了一种采用静态标定的扭摆，来测量激光烧蚀微推力器产生的纳牛秒量级的冲量。目前微推力器能够输出的元冲量从亚uN·s到数百μN·s之间。微推力器产生的冲量一般比较小，其量级为uN·s到mN·s之间。尽管毫牛秒或牛秒量级的微冲量比较容易测量，然而，随着微冲量的降低，纳牛秒和微牛秒微冲量的准确测量则变得十分困难。
脉冲等离子体推力器产生的冲量一般为微牛秒量级。基于激光烧蚀固体工质产生推力的激光微推力器(μLPT)则可以产生nN·s量级的微推力。中国TEPO工程采用的脉冲等离子推力器产生的元冲量为58.4μN·s。NASA和ESA的LISA工程中采用的是微牛量级的推力器。另外，NASA ST7任务采用的是2-20μN的推力器，精度在0.1μN以内。实验研究中，由于测量仪器本身和环境存在着噪声，往往将被测信号淹没，精确测量这样微小的推力比较困难。微推力器工作时，测量台架受力产生振动，也会影响测量精度。另外，抽真空过程也会对真空舱及内部测量系统产生不利影响。因此，对微小推力和冲量的精确测量仍然是实验研究中需要解决的难题。
尽管扭摆测量装置具有上述优点，但是该测量装置只能用于对推力器产生的平均推力和冲量进行测量，难以解决推力器瞬时推力的问题。
现有用于测量瞬时推力的装置应用较为广泛的主要是压电式传感器，包括压电晶体、压电陶瓷以及PVDF(聚偏二氟乙烯)压电传感器，其优点在于能够将待测推力转换为电压，可以精确测量变化的推力，并且具有响应快、灵敏度高以及结构简单等诸多优点。但是压电式传感器的工作环境要求苛刻，易受到电推力器工作过程中电磁场的影响，导致测量结果不准确或测量无法正常进行。
动态光弹性是实验固体力学中一种基本的模型试验方法，利用光学灵敏材料受力后能产生暂时双折射现象的特性制成光弹性元件。
光弹性法是一种有效的分析并解决复杂二维和三维空间结构应力的实验方法，主要依据直观的涉条纹图来确定被测物的应力场信息。该方法是一种非接触式、非破坏性的测量方法，已应用于工程、材料和医学等领域。
当施加连续载荷时，元件各点的应力发生变化，相应条纹也会发生不同程度的变形。此时，将高速摄影记录的元件条纹变化过程转化为应力变化过程，从所得应力变化过程得到推力的变化规律。现有光弹性测量方法需要依靠人工方法对干涉条纹进行处理，操作繁琐、耗时，且准确性受到人工处理的影响严重。因而无法得到较准确的测量结果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，该发明解决了现有推力测量方法无法准确测量推力器瞬态推力值；压电式传感器在测量过程中易受到推力器电磁干扰的技术问题。
本发明的一方面提供了一种微推力瞬态测量光路，包括：激光光源、包含光弹性元件用于产生微推力的测力装置和拆分光路，激光光源与光弹性元件光连接，光弹性元件与拆分光连接；
拆分光路包括分束光路、第一光路、第二光路、第三光路和第四光路，分束光路包括依序光连接的第一分束镜BS11、第二分束镜BS21、第三分束镜BS31和第四分束镜BS41，第一分束镜BS11分束后分别与第二分束镜BS21和第一光路光连接；
第二分束镜BS21分束后分别与第三分束镜BS31和第二光路光连接；
第三分束镜BS31分束后分别与第四分束镜BS31和第三光路光连接；
第四分束镜BS41分束后分别与第四光路光连接；
第一光路包括与第一分束镜BS11相连接的分束镜BS12、方位角为0°的偏振片P1、方位角为45°的偏振片P2和透镜L、光电探测器D1和光电探测器D2，分束镜BS12分束后分别与偏振片P1、偏振片P2光连接，偏振片P1与光电探测器D1经过透镜L光连接，偏振片P2与光电探测器D2经过透镜L光连接；
第二光路包括分束镜BS22、方位角为90°的偏振片P3、方位角为135°的偏振片P4、透镜L、光电探测器D3和光电探测器D4，分束镜BS22分束后分别与偏振片P3、偏振片P4光连接，偏振片P3与光电探测器D3经过透镜L光连接，偏振片P4与光电探测器D4经过透镜L光连接；
第三光路包括分束镜BS32、方位角为0°的偏振片P5、方位角为45°的偏振片P6、透镜L、光电探测器D5和光电探测器D6，分束镜BS32分束后分别与偏振片P5、偏振片P6光连接，偏振片P5与光电探测器D5经过透镜L光连接，偏振片P6与光电探测器D6经过透镜L光连接；
第四光路包括方位角为90°的偏振片P7、方位角为135°的偏振片P8、透镜L、光电探测器D7和光电探测器D8，第四分束镜BS41分束后分别与偏振片P7、偏振片P8光连接，偏振片P7与光电探测器D7经过透镜L光连接，偏振片P8与光电探测器D8经过透镜L光连接。
进一步地，测力装置包括用于传递推力的刚性板、正对刚性板一侧的中心设置的推力器、设置于推力器另一面的光弹性元件，激光光源正对光弹性元件设置。
进一步地，还包括偏振态发生器，偏振态发生器光连接于激光器和测力装置之间。
本发明的另一方面还提供了一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，包括如上述的微推力瞬态测量光路。
进一步地，还包括用于控制测力装置的控制模块，控制模块包括用于将激光透射光弹性元件的信号发送给计时器的光电触发器、计时器、电磁波发射器、用于接收电磁波的电磁触发器。
进一步地，还包括用于记录并将数据处理换算为力学信息的数据处理模块。
本发明的技术效果：
发明是提供的微推力瞬态测量光路，通过非接触式测量，无需在结构物上直接安装传感器或其他测量装置，可以降低机械振动、供电线缆对推力测量的干扰，解决目前常用微推力和微冲量测量装置存在的零点漂移、平衡位置不稳定、标定困难以及精度低等问题。
本发明提供的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，采用能全面描述光束的偏振态和光强度的斯托克斯参数，利用分振幅法将经过样品反射的入射光经过分束分成四道光束，通过多信号通道同时探测各通道光强值，可快速地测量出描述待测光偏振态的全部斯托克斯参数。通过对斯托克斯参数的测量，确定光弹性元件的折射率变化。再通过对入射光斯托克斯参数前后变化的计算，得到元件的应力变化情况，再对应力换算出推力的变化。这种方法具有测量速度快、结构紧凑、安装简单、操作方便且无需进行图像摄影与处理等优点。通过对光传播的测量可在线实时反应元件的物理化学性质及其变化，体现推力器的微推力变化。
本发明提供的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，所得结果具有直观性和瞬时性。光在传播过程中的损失和噪声，可以忽略不计，因而采用该系统测量得到的结果可靠性高。为解决传统推力测量方法难以测量瞬态推力的问题提供了方法。
本发明提供的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，以测量斯托克斯参数代替应力条纹图的采集处理，简单的测量替代复杂的应力图像处理，所得结果即能测量推力器瞬态推力又能记录推力器推力的整个变化过程。
本发明提供的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，将斯托克斯参数测量方法结合动态光弹性应力法应用于推力器瞬态推力的测量领域，具有结构简单、易于操作以及可靠性高等优点，最重要的是为解决传统电推进推力测量方法难以测量瞬态微推力的问题提供了基本测量思路，能够实现高精度准确的测量瞬时推力和冲量。
具体请参考根据本发明的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统提出的各种实施例的如下描述，将使得本发明的上述和其他方面显而易见。
附图说明
图1是本发明提供的微推力瞬态测量光路示意图；
图2是本发明提供的控制模块示意图；
图3是本发明实施例中解算所用定标器示意图；
图4是本发明提供的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统示意图；
图例说明：
P、P0、P1、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8是偏振片；
W为1/4玻片；
slide为载玻片；
BS11、BS12、BS21、BS22、BS31、BS32、BS41、BS42为偏振无关分束镜；
L为凸透镜
D1、D2、D3、D4、D5、D6、D7、D8为光电探测器；
P和W组成；
1、推力器；2、刚性板；3、光弹性元件；4、电磁波发射器；5、电磁触发器；6、光电触发器；7、计时器；100、控制模块；300、数据处理模块。
具体实施方式
构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。
参见图1，本发明提供的微推力瞬态测量光路，包括：激光光源、包含光弹性元件3的测力装置和拆分光路。
测力装置包括刚性板2、正对所述刚性板2一侧的中心设置的推力器1、设置于所述推力器1另一面的光弹性元件3。激光光源正对光弹性元件3设置，光弹性元件3可以为非晶体的透明材料，如玻璃、赛璐璐、酚醛树脂、环氧树脂、聚碳酸酷塑料等，优选为环氧树脂。本发明以实现测力为目的，可以根据测力的需要更换不同类型的待测量的推力器1。比如脉冲式等离子体推力器1。
刚性板2的作用是联接推力器1与光弹性元件3，将推力器1产生的推力通过造成刚性板2的形状改变，从而将推力传递到光弹性元件3表面，使光弹性元件3处于应力状态。
优选的，还包括偏振态发生器，所述偏振态发生器光连接于所述激光器和所述测力装置之间。进入光弹性元件3前经过偏振态发生器。此处的偏振态发生器包括依序光连接的偏振片和λ/4玻片组成。偏振态发生器能将激光器产生的自然光，过滤后仅保留偏振光，以保证偏振光进入光弹性元件，从而使得光学应力条纹图更容易区分和处理。
拆分光路包括分束光路、第一光路、第二光路、第三光路和第四光路。分束光路包括依序光连接的第一分束镜BS11、第二分束镜BS21、第三分束镜BS31和四分束镜BS41。激光经过光弹性元件3后经过依序光连接的第一分束镜BS11、第二分束镜BS21、第三分束BS31镜和第四分束镜BS41。激光被第一分束镜分束后一路光进入分束镜BS12，另一路进入第二分束镜。进入第二分束镜的光经过分束后一路进入第三分束镜，另一路进入分束镜BS22。进入第三分束镜的光分束为两路，一路进入第四分束镜，另一路进入分束镜BS32。进入第四分束镜的光被分束为两束后，进入第四光路。
第一分束镜与第一光路光连接，第一光路包括分束镜BS12、偏振片P1、偏振片P2和透镜L、光电探测器D1和光电探测器D2。此处的偏振片P1的方位角为0°。偏振片P2的方位角为45°。分束镜BS12分束后的光分别进入偏振片P1和偏振片P2后，经过透镜L聚焦后分别进入光电探测器D1和光电探测器D2。光电探测器D1和光电探测器D2能将光强信号线性转化为电信号，传递给数据采集与处理系统。
第二分束镜与第二光路光连接，第二光路包括分束镜BS22、偏振片P3、偏振片P4和透镜L、光电探测器D3和光电探测器D4。此处的偏振片P3的方位角为90°。偏振片P4的方位角为135°。分束镜BS22分束后的光分别进入偏振片P3和偏振片P4后，经过透镜L聚焦后分别进入光电探测器D3和光电探测器D4。光电探测器D3和光电探测器D4能将光强信号线性转化为电信号，传递给数据采集与处理系统。
第三分束镜与第三光路光连接，第三光路包括分束镜BS32、偏振片P5、偏振片P6和透镜L、光电探测器D5和光电探测器D6。此处的偏振片P5的方位角为0°。偏振片P6的方位角为45°。分束镜BS32分束后的光分别进入偏振片P5和偏振片P6后，经过透镜L聚焦后分别进入光电探测器D5和光电探测器D6。光电探测器D5和光电探测器D6能将光强信号线性转化为电信号，传递给数据采集与处理系统。
第四分束镜与第四光路光连接，第四光路包括偏振片P7、偏振片P8和透镜L、光电探测器D7和光电探测器D8。此处的偏振片P7的方位角为90°，偏振片P8的方位角为135°。第四分束镜BS41分束后的光分别进入偏振片P5和偏振片P8后，经过透镜L聚焦后分别进入光电探测器D7和光电探测器D8。光电探测器D7和光电探测器D8能将光强信号线性转化为电信号，传递给数据采集与处理系统。
对光进行分束处理，使得测量过程无需转动部件或调制器，从而实时测得全部斯托克斯参数，大大提高测量速度。所用刚性板2只需能达到推力传播的作用，并且在冲击作用下不发生形变或近似不发生形变。该光路针对脉冲式等离子体推力器1脉冲工作过程难复现的特征，斯托克斯参数符合彼此相差45°，一个组合里有四组斯托克斯参数，进行八组组合求取平均值获得更准确的推力。
采用上述拆分光路使光弹性元件3在应力条件下可以产生双折射现象，使得光穿过光弹性元3件时光强发生变化后携带相关斯托克斯参数信息，光电探测器将所得数据传送至数据采集与处理系统中便于后续处理。采用上述光路对光进行分束处理，使得测量过程无需转动部件或调制器即可实时测得测力装置传输的全部斯托克斯参数，大大提高了测量速度。同时系统结构坚固，稳定性好。
通过把待测光束分解成4束，用4个光电探测器同时完成对某一瞬时的光束偏振态的斯托克斯参量测量。它是一种既无机械转动又无调制系统的测量光偏振态方法，具有测量速度快、精度高和稳定性好等优点，从而为应力的快速实时测量提供可能。从而最终利用计算机对斯托克斯参量前后变化进行定量分析，实现对脉冲等离子体推力器工作推力测量。以光学弹性元件为核心构建光路系统，通过测定其受力时的斯托克斯参量的变化，显示其受力的大小和分布规律。这种测量方式是非接触式测量，也是非破坏性的测量方法，不需要在结构物上直接安装传感器或其他测量装置，可以降低机械振动、供电线缆对推力测量的干扰，解决目前常用微推力和微冲量测量装置存在的零点漂移、平衡位置不稳定、标定困难以及精度低等问题。
参见图4，本发明的另一方面还提供了一种包括上述微推力瞬态测量光路的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，包括上述微推力瞬态测量光路。
参见图2，优选的，还包括用于控制测力装置的控制模块100，控制模块100包括用于将激光透射光弹性元件3的信号发送给计时器7的光电触发器6、计时器7、电磁波发射器4、用于接收电磁波的电磁触发器5。光电触发器6相对激光光源设置于光弹性元件3侧壁上，并与计时器7相连接。电磁波发射器4正对电磁触发器5设置于推力器1的前方。推力器1运行时会阻断电磁波发射器4产生的电磁波，使得电磁触发器5无法接收到电磁信号。所产生的信号作触发激光光源和光电探测器，从而在推力器1作用时准确记录下所得结果。通过该控制模块100，精密控制激光光源触发与关闭的时刻，以及光电探测器开启与关闭时刻，从而达到节约能源的目的。
优选的，还包括用于记录并将数据处理换算为力学信息的数据处理模块300。
数据采集器可以按现有的处理斯托克斯参数的方法进行，从而得到所需的微推力值。例如如下所列：
参见图3，还包括根据光束经过光学器件的传输理论，探测器探测得到的光强信号i和入射光S的斯托克斯参量S的关系为i＝AS。A为系统矩阵，S为入射光的斯托克斯参量，只要可以得到系统矩阵A，且其行列式值不为零，逆矩阵A-1存在，便可求得S为：S＝A-1i。此时根据探测器测到的光强矩阵i便可求得入射光的偏振态。
系统矩阵A的矩阵元十分复杂，要把它们一一计算出来是十分困难的，该领域常常采用定标的方法，即用已知斯托克斯参数的偏振光来直接测量，得到系统矩阵A。
本发明选用斯托克斯参数测量领域常用的一个如图3的定标器，由图3的定标器产生：激光光源产生非偏振光S0，对应光强为I。在激光光源前放置一个起偏器P(传输矩阵为M(θp))，再放置一个1/4波片L(传输矩阵为M(θc))和一个玻片D0。所得光偏振态为S，根据光束经过光学器件传输理论有：S＝M(θp)M(θc)S0。写成具体的矩阵形式，有：
本发明取起偏器与x轴的夹角为θp＝45°，上式可简化为：由此可知道入射到微推力瞬态测量光路的偏振光状态由1/4波片与x轴的夹角来决定，本发明取以下四个特殊角度30°、45°、60°和90°，获得四组线性无关的偏振态，写成矩阵形式为：
在以上4个入射偏振态下，分振幅测量系统同时也测得4组不同的光强值，因此可列出以下矩阵：
因此，系统A可求出X是已知斯托克斯参数的状态矩阵。
本发明针对一般定标装置进行改良，添加一个载玻片，其能以很小的入射角将入射光中的一部分能量反射到一个参考光电探测器D0上，获得参考光信号i0。将以上求得的系统矩阵进行归一化处理，即进行这样子的设计是为了减小激光光源输出光强不稳定以及光学元件缺陷造成的光强变化，从而达到减小系统定标误差的目的。
根据平面应力-光学定律，当一列平面偏振光垂直入射一厚度为d，受二向应力作用的光弹性样品时，由于双折射效应，沿两主应力方向的偏振分量通过样品后产生的光程差R与样本的厚度d以及主应力差Δσ＝σ1-σ2的关系为：将光程差换算为相应的相位延迟量δ，则有其中C为光弹性元件的应力光学常数，λ为入射平面偏振光的波长。
因此只要可以测出光的斯托克斯参数即可计算得到光弹性元件的应力值，进一步根据材料力学原理F＝σS换算出推力器1的推力，其中σ为测量出来的光弹性元件所受的应力，S为光弹性元件的横截面积。
待测光经过7个偏振无关分束镜BS后被分为8束，它们分别通过方位角为0°、45°、90°、135°、0°、45°、90°和135°的8个偏振片P1～P8，再通过透镜L会聚到光电探测器D1～D8，探测器将光强信号线性转化为电信号，经数据采集卡采集，输入计算机进行处理。
常规测量，只需一组四个方向不同偏振片即可满足测量要求，但这种同一时刻只能得到一组数据，因此本领域往往为了准确性往往多次取平均值。但对于瞬时测量再次重现比较困难，尤其是对于脉冲式等离子体推力器1来说每次脉冲的推力都可能会发生变化。本发明特意安排八个偏振片，对应可得到八个斯托克斯参数测量，进行数据计算时可从八个斯托克斯参数中进行固定组合得到8组组合：P1P2P3P4、P2P3P4P5、P3P4P5P6、P4P5P6P7、P5P6P7P8、P6P7P8P1、P7P8P1P2、P8P1P2P3。这样进行分组后，每一组合里能得到四个不同斯托克斯参数且角度差依次为45°。针对每一个组合的斯托克斯参数可以根据平面应力与光学定律换算得到一个光弹性元件应力，将八组得到的应力取平均进行应力-推力换算，输出推力即为此瞬时推力器1的推力。
本系统主要功能为对斯托克斯参数进行定标，为增加测量结果的可靠性采用的独特数据采集方法与对应的数据处理方案。
本领域技术人员将清楚本发明的范围不限制于以上讨论的示例，有可能对其进行若干改变和修改，而不脱离所附权利要求书限定的本发明的范围。尽管己经在附图和说明书中详细图示和描述了本发明，但这样的说明和描述仅是说明或示意性的，而非限制性的。本发明并不限于所公开的实施例。
通过对附图，说明书和权利要求书的研究，在实施本发明时本领域技术人员可以理解和实现所公开的实施例的变形。在权利要求书中，术语“包括”不排除其他步骤或元素，而不定冠词“一个”或“一种”不排除多个。在彼此不同的从属权利要求中引用的某些措施的事实不意味着这些措施的组合不能被有利地使用。权利要求书中的任何参考标记不构成对本发明的范围的限制。
Claims (6)
1.一种微推力瞬态测量光路，其特征在于，包括：激光光源、包含光弹性元件用于产生所述微推力的测力装置和拆分光路，所述激光光源与所述光弹性元件光连接，所述光弹性元件与所述拆分光路光连接；
所述拆分光路包括分束光路、第一光路、第二光路、第三光路和第四光路，所述分束光路包括依序光连接的第一分束镜BS11、第二分束镜BS21、第三分束镜BS31和第四分束镜BS41，所述第一分束镜BS11分束后分别与所述第二分束镜BS21和所述第一光路光连接；
所述第二分束镜BS21分束后分别与所述第三分束镜BS31和所述第二光路光连接；
所述第三分束镜BS31分束后分别与所述第四分束镜BS31和所述第三光路光连接；
所述第四分束镜BS41分束后分别与所述第四光路光连接；
所述第一光路包括与所述第一分束镜BS11相连接的分束镜BS12、方位角为0°的偏振片P1、方位角为45°的偏振片P2和透镜L、光电探测器D1和光电探测器D2，所述分束镜BS12分束后分别与偏振片P1、偏振片P2光连接，所述偏振片P1与所述光电探测器D1经过所述透镜L光连接，所述偏振片P2与所述光电探测器D2经过所述透镜L光连接；
所述第二光路包括分束镜BS22、方位角为90°的偏振片P3、方位角为135°的偏振片P4、透镜L、光电探测器D3和光电探测器D4，所述分束镜BS22分束后分别与偏振片P3、偏振片P4光连接，所述偏振片P3与所述光电探测器D3经过所述透镜L光连接，所述偏振片P4与所述光电探测器D4经过所述透镜L光连接；
所述第三光路包括分束镜BS32、方位角为0°的偏振片P5、方位角为45°的偏振片P6、透镜L、光电探测器D5和光电探测器D6，所述分束镜BS32分束后分别与偏振片P5、偏振片P6光连接，所述偏振片P5与所述光电探测器D5经过所述透镜L光连接，所述偏振片P6与所述光电探测器D6经过所述透镜L光连接；
所述第四光路包括方位角为90°的偏振片P7、方位角为135°的偏振片P8、透镜L、光电探测器D7和光电探测器D8，所述第四分束镜BS41分束后分别与偏振片P7、偏振片P8光连接，所述偏振片P7与所述光电探测器D7经过所述透镜L光连接，所述偏振片P8与所述光电探测器D8经过所述透镜L光连接。
2.根据权利要求1所述的微推力瞬态测量光路，其特征在于，所述测力装置包括用于传递推力的刚性板、正对所述刚性板一侧的中心设置的推力器、设置于所述推力器另一面的光弹性元件，所述激光光源正对光弹性元件设置。
3.根据权利要求2所述的微推力瞬态测量光路，其特征在于，还包括偏振态发生器，所述偏振态发生器光连接于所述激光光源和所述测力装置之间。
4.一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，其特征在于，包括如权利要求1～3中任一项所述的微推力瞬态测量光路。
5.根据权利要求4所述的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，其特征在于，还包括用于控制测力装置的控制模块，所述控制模块包括用于将激光透射光弹性元件的信号发送给计时器的光电触发器、计时器、电磁波发射器、用于接收电磁波的电磁触发器。
6.根据权利要求4所述的基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统，其特征在于，还包括用于记录并将数据处理换算为力学信息的数据处理模块。
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