CN107144743A - 半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，直线电机驱动器中设有三相逆变电路，三相逆变电路产生的三相电流分别是三相电流中的分别先流经电流变送器U1、U2，再分别连接到驱动器的端子P1的端口1、端口2，而则直接连到端子P1的端口3；PE为驱动器的接地信号，连接到端子P1的端口4；三相电流 分别从端子P1的端口8、端口7、端口6流出，再分别流过电缆L₁、L₂、L₃，最终分别连接到电机的U相、V相、W相；而信号PE则在端口5通过电缆L₄与电机的外壳相连；电机内部的U相绕组、V相绕组、W相绕组为星形接法；本发明检测方法能够检测出直线电机驱动器缺相的问题，避免烧坏电机。

Description

半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法

技术领域

本发明涉及直线电机驱动技术领域，具体的说是涉及一种半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法。

背景技术

如图1所示，在实际中使用直线电机驱动器驱动电机过程中，存在以下情况导致直线电机驱动器缺相：

1.在连接直线电机驱动器和电机的电缆时，将电缆L₄错误地连接到P1的端口8或者端口7或者端口6，L₁、L₂、L₃三条电缆中的一条错误地连接到端口5，即使另外两条电缆正确地连接，仍会导致直线电机驱动器缺相；

2.L₁、L₂、L₃三条电缆中有一条或以上的电缆有断线问题；

3.电机内部的三相绕组中有一相或以上的绕组有断线问题；

而现有的产品不能对上述情况导致的直线电机驱动器缺相问题做出判断，更不能避免因为直线电机驱动器缺相引起烧坏电机的问题。

发明内容

针对现有技术中的不足，本发明要解决的技术问题在于提供了一种半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法。

为解决上述技术问题，本发明通过以下方案来实现：半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，该缺相检测方法应用于直线电机驱动器中，直线电机驱动器中设有三相逆变电路，三相逆变电路产生的三相电流分别是三相电流中的分别先流经电流变送器U1、U2，再分别连接到驱动器的端子P1的端口1、端口2，而则直接连到端子P1的端口3；PE为驱动器的接地信号，连接到端子P1的端口4；三相电流分别从端子P1的端口8、端口7、端口6流出，再分别流过电缆L₁、L₂、L₃，最终分别连接到电机的U相、V相、W相；而信号PE则在端口5通过电缆L₄与电机的外壳相连；电机内部的U相绕组、V相绕组、W相绕组为星形接法；

在直线电机驱动器正常驱动电机运行的整个过程中，需要实时地检测、调整驱动电机的三相电流，确保三相电流对称，即流经电机的三相电流是正弦波，且频率相同、相位互差120度，在任一瞬间，三相电流的瞬时值符合方程式i_U(t)+i_v(t)+i_w(t)＝0 (1.1)；

在满足式(1.1)情况下，选取不同的时刻对三相电流的进行检测，当直线电机驱动器缺相，由电流变送器U1、U2和AD转换模块则得到以下四种结果：

1)、仅缺少U相的情况下，i_u(t)＝0，|i_v(t)|比正常值增大；

2)、仅缺少V相的情况下，i_v(t)＝0，|i_u(t)|比正常值增大；

3)、仅缺少W相的情况下，i_u(t)＝-i_v(t)；

4)、缺少两相或三相，i_u(t)＝i_v(t)＝i_w(t)＝0；

根据由电流变送器U1、U2和AD转换模块得到U相电流和V相电流的检测结果，来判断直线电机驱动器是否缺相。

进一步的，在直线电机驱动器正式驱动电机前，让直线电机驱动器通过3ms的短暂时间来驱动电机，在3ms时间内，直线电机驱动器中的三相逆变电路产生的三相电流，由电流变送器U1、电流变送器U2和AD转换器模块得到U相电流和V相电流的检测结果；

假如存在U相电流等于V相电流且电流不为0，则说明直线电机驱动器没有缺相，可以继续正常使用直线电机驱动器驱动电机运行；

否则，直线电机驱动器缺相，缺相后需要修正，修正后再使用直线电机驱动器。

相对于现有技术，本发明的有益效果是：本发明三相逆变电路能够检测出直线电机驱动器缺相的问题，避免因为直线电机驱动器缺相引起烧坏电机。

附图说明

图1为本发明直线电机驱动器中的电流检测电路与电机的连接示意图；

图2为本发明电机内部的U相绕组、V相绕组、W相绕组为星形接法示意图；

图3为本发明的三相对称电流的波形图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的优选实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

请参照附图1，半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，该缺相检测方法应用于直线电机驱动器中，其特征在于：直线电机驱动器中设有三相逆变电路，三相逆变电路产生的三相电流分别是三相电流中的分别先流经电流变送器U1、U2，再分别连接到驱动器的端子P1的端口1、端口2，而则直接连到端子P1的端口3；PE为驱动器的接地信号，连接到端子P1的端口4；三相电流分别从端子P1的端口8、端口7、端口6流出，再分别流过电缆L₁、L₂、L₃，最终分别连接到电机的U相、V相、W相；而信号PE则在端口5通过电缆L₄与电机的外壳相连；电机内部的U相绕组、V相绕组、W相绕组为星形接法(图2所示)；

在直线电机驱动器正常驱动电机运行的整个过程中，需要实时地检测、调整驱动电机的三相电流，确保三相电流对称，即流经电机的三相电流是正弦波，且频率相同、相位互差120度，在任一瞬间，三相电流的瞬时值符合方程式i_U(t)+i_v(t)+i_w(t)＝0 (1.1)；

在满足式(1.1)情况下，当直线电机驱动器没有缺相，三相电流的波形如图3所示。在图3中可见，在t_B时刻、t_C时刻，U相电流的波形曲线和V相电流的波形曲线分别交于B点和C点。所以，可以由电流变送器U1、U2和AD转换模块得到:在B点和C点，i_u＝i_v≠0。

在满足式(1.1)情况下，选取不同的时刻对三相电流的进行检测，当直线电机驱动器缺相，由电流变送器U1、U2和AD转换模块则得到以下四种结果：

1)、仅缺少U相的情况下，i_u(t)＝0，|i_v(t)|比正常值增大；

2)、仅缺少V相的情况下，i_v(t)＝0，|i_u(t)|比正常值增大；

3)、仅缺少W相的情况下，i_u(t)＝-i_v(t)；

4)、缺少两相或三相，i_u(t)＝i_v(t)＝i_w(t)＝0；

根据由电流变送器U1、U2和AD转换模块得到U相电流和V相电流的检测结果，来判断直线电机驱动器是否缺相。

2.根据权利要求1所述的半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，其特征在于：在直线电机驱动器正式驱动电机前，让直线电机驱动器通过3ms的短暂时间来驱动电机，在3ms时间内，直线电机驱动器中的三相逆变电路产生的三相电流，由电流变送器U1、电流变送器U2和AD转换器模块得到U相电流和V相电流的检测结果；

假如存在U相电流等于V相电流且电流不为0，则说明直线电机驱动器没有缺相，可以继续正常使用直线电机驱动器驱动电机运行；

否则，直线电机驱动器缺相，缺相后需要修正，修正后再使用直线电机驱动器。

以上所述仅为本发明的优选实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (2)

1.半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，该缺相检测方法应用于直线电机驱动器中，其特征在于：直线电机驱动器中设有三相逆变电路，三相逆变电路产生的三相电流分别是三相电流中的分别先流经电流变送器U1、U2，再分别连接到驱动器的端子P1的端口1、端口2，而则直接连到端子P1的端口3；PE为驱动器的接地信号，连接到端子P1的端口4；三相电流分别从端子P1的端口8、端口7、端口6流出，再分别流过电缆L₁、L₂、L₃，最终分别连接到电机的U相、V相、W相；而信号PE则在端口5通过电缆L₄与电机的外壳相连；电机内部的U相绕组、V相绕组、W相绕组为星形接法；

在直线电机驱动器正常驱动电机运行的整个过程中，需要实时地检测、调整驱动电机的三相电流，确保三相电流对称，即流经电机的三相电流是正弦波，且频率相同、相位互差120度，在任一瞬间，三相电流的瞬时值符合方程式i_U(t)+i_v(t)+i_w(t)＝0 (1.1)；

在满足式(1.1)情况下，选取不同的时刻对三相电流的进行检测，当直线电机驱动器缺相，由电流变送器U1、U2和AD转换模块则得到以下四种结果：

1)、仅缺少U相的情况下，i_u(t)＝0，|i_v(t)|比正常值增大；

2)、仅缺少V相的情况下，i_v(t)＝0，|i_u(t)|比正常值增大；

3)、仅缺少W相的情况下，i_u(t)＝-i_v(t)；

4)、缺少两相或三相，i_u(t)＝i_v(t)＝i_w(t)＝0；

根据由电流变送器U1、U2和AD转换模块得到U相电流和V相电流的检测结果，来判断直线电机驱动器是否缺相。

2.根据权利要求1所述的半导体封装设备直线电机驱动器缺相检测方法，其特征在于：在直线电机驱动器正式驱动电机前，让直线电机驱动器通过3ms的短暂时间来驱动电机，在3ms时间内，直线电机驱动器中的三相逆变电路产生的三相电流，由电流变送器U1、电流变送器U2和AD转换器模块得到U相电流和V相电流的检测结果；

假如存在U相电流等于V相电流且电流不为0，则说明直线电机驱动器没有缺相，可以继续正常使用直线电机驱动器驱动电机运行；

否则，直线电机驱动器缺相，缺相后需要修正，修正后再使用直线电机驱动器。