CN107102210A - 一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，该方法包括：设置待检测通道的配置信息，该配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及预配置信息，按照该预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置，按照各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值，当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照开启顺序的信息开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。本发明可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，以及降低检测成本。

Description

一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置

技术领域

本发明属于电子电路技术领域，尤其涉及一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置。

背景技术

随着手机、平板、笔记本、可穿戴设备、电视和交互式工作台等触控面板的种类、尺寸和应用的多样化，导致单一的电容检测方法难以满足这些多样化的需求，为了应对这些多样化的需求，如果针对每一种需求都提出一种针对性的设计，不利于降低设计和生产上的成本，同时全新的设计也会带来设计上的风险。

现有技术中，在触控芯片中通常采用的电容检测方式为：开启待检测电容的通道，由于固定电容和手指对地电容(即通道通过手指以大地为基础的对地电容)产生电压，对电容进行充放电，最大化积累有效手指电容的电荷，形成电容电压，通过处理该电容电压得到电容检测值。

但是，电容式触控屏幕的尺寸不同、应用场景不同，其所对应的横向和纵向的通道数、位置、充放电荷及检测电容时间均会有所不同，对应的待检测通道数量和配置情况也均会有不同，因此上述现有技术无法满足由于屏幕尺寸、应用场景的差异而产生的通道数量、配置情况、检测方式的多样化需求，适应性差，造成电容检测效率低。

发明内容

本发明提供一种基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，用以通过预先设置待检测通道的预配置信息和待检测通道的开启顺序的信息，并按照该预配置信息和该开启顺序的信息配置待检测通道，进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，降低检测成本。

本发明提供的一种基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，包括：设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

本发明提供的一种基于电容式触控芯片的电容检测装置，用于检测待检测通道的电容值，包括：设置模块，用于设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；配置模块，用于按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；开启模块，用于按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道；检测模块，用于在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；所述开启模块，还用于当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道；所述检测模块，还用于对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测。

从上述本发明实施例可知，本发明提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置，预先设置对芯片电容进行检测的各待检测通道的开启顺序的信息和预配置信息，并按照该预配置信息配置待检测通道，并按照该开启顺序的信息开启各待检测通道，且在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，降低检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的电路结构示意图；

图2是本发明第一实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图；

图3是本发明第二实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图；

图4是本发明实施例中链表式的待检测通道的配置表的格式示意图；

图5是本发明实施例中阵列式的待检测通道的配置表的格式示意图；

图6是本发明第三实施例以及第四实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的电路结构示意图，包括：通道选择器11、电容积分电路12、可编程增益放大器13、模数转换电路14、微控制单元15、数据存储器16、通道信息配置控制器17和寄存器配置信息单元18。

其中，通道选择器(MUX，multiplexer)11，用于选择指定的电容待检测通道。

电容积分电路(Integrator)12，用于积累其对应待检测通道因用户手指触摸产生的电压。

可编程增益放大器(PGA，Programmable Gain Amplifier)13，用于放大电容积分电路积累的微弱电压值。

模数转换电路(ADC，Analog to Digital Converter)14，用于将模拟电压转换成数字信号。

微控制单元(MCU，Micro Control Unit)15，用于定义首个待检测通道，还用于发起电容检测的过程，开启通道信息配置控制器17，以及，用于处理ADC转换后的数字信号数据。

进一步地，开启通道信息配置控制器17后，MCU可进入睡眠状态。当本次电容检测过程结束后，MCU可通过中断方式被唤醒，让MCU进入睡眠状态可降低系统的整体功耗。

数据存储控制单元(Data Memory)16，用于存储包括待检测通道的配置信息在内的数据。

通道信息配置控制器17，用于从数据存储器16中读取待检测通道的配置信息，并将该待检测通道的配置信息中的内容写入寄存器配置信息单元18，并在寄存器配置信息单元18中根据该配置信息中的预配置信息完成对待检测通道的预配置后，开启待检测通道。对待检测通道的预配置，是指在开启待检测通道并完成所开启的待检测通道的电容值的检测之前，对待检测通道进行的检测相关电路、电子元件必要的预先配置，例如为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路，以能够完成开启待检通道的电容值的检测。

具体地，通道信息配置控制器17在待检测通道的配置信息中找到首个待检测通道，该首个待检测通道即发起检测的起始通道，并读取该起始通道对应的预配置信息，以及读取下一个待检测通道的描述值，该描述值用于标识待检测通道的检测状态，例如，该描述值可以用1标识一个待检测通道已完成检测，用0标识一个待检测通道未完成检测。由于待检测通道的开启和检测具有连续性，当其中一个待检测通道的该描述值为1时，则表示本轮的所有待检测通道均已检测完毕。如果读取到的该描述值表示本轮检测已结束，没有下一个待检测通道了，则在完成当前待检测通道的电容检测后停止电容检测过程，直到MCU14启动下一轮待检测通道对电容值的检测。

寄存器配置信息单元18，用于按照通道信息配置控制器17写入的该待检测通道的配置信息中的各待检测通道的预配置信息，在执行电容值的检测前，为各待检测通道分别预先配置对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

下面详细描述本发明实施例中的基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，请参阅图2，图2为本发明第一实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图，该方法包括以下步骤：

201、设置待检测通道的配置信息，该待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

当手指接触到电容触控芯片时，会产生电压，引起接触点的电容值变化。检测电容触控芯片的电容值时，需要按照一定的顺序逐个开启各待检测通道，检测并记录在当前开启的待检测通道中手指接触产生的电容值。

本实施例中，可根据检测需求，设置待检测通道的配置信息，该配置信息中包含对电容值实行检测的各待检测通道的开启顺序的信息和预配置信息。

该预配置信息，是指在开启待检测通道并完成所开启的待检测通道的电容值的检测之前，对待检测通道进行预先配置的信息，包括对待检测通道的相关电路、电子元件必要的预先配置的信息，例如为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路的相关信息。即按照该预配置信息对该待检测通道进行预配置后，能够完成电容值的检测。

进一步地，在该待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息，表示各待检测通道的开启顺序。按照此开启顺序的信息逐个开启待检测通道，每次开启一个待检测通道，完成当前开启的待检测通道的电容值检测后，再继续按照此开启顺序的信息开启下一个待检测通道进行电容值的检测。

在设置开启顺序时，需要设置开启的待检测通道数量，在设置好待检测通道数量的基础上设置各待检测通道的开启顺序。具体地，在设置待测试电容式触控芯片的各待检测通道的数量时，可以设置为小于中该电容式触控芯片可支持的待检测通道的最大数量。例如电容式触控芯片中支持最大7×7个待检测通道时，可以通过设置该待检测通道的配置信息的方式，灵活的设置6×6、7×5或者5×5个待检测通道对该电容式触控芯片的电容值的检测，而不需要开启所有的7×7个待检测通道，可以节约检测的配置时间和实际的检测时间，且能够节省检测成本。

202、按照各检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

按照该待检测通道的配置信息中各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测预配置，即对各待检测通道进行一些必要的检测前的配置，以使得各待检测通道能够完成电容值的检测。

203、按照各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

在该待检测通道的开启顺序的信息中设置了检测电容值的起始通道，该起始通道即为首个待检测通道。在进行检测时，按照各待检测通道的开启顺序，开启该首个待检测通道，当用户的手指触摸到开启的该通道时，在该通道内的电容值发生变化，检测并记录此时的电容值。

204、当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照该开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

完成当前开启的待检测通道的电容值检测后，按照各待检测通道的该开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，即，在该下一个待检测通道中再次执行同步骤203中的电容检测过程，以此类推，按照该开启顺序的信息，顺序逐个打开每个待检测通道进行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

本发明实施例中，预先设置对芯片电容进行检测的待检测通道的配置信息，并在对检测电容值时，按照该配置信息中各待检测通道的开启顺序的信息开启待检测通道，并在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，降低检测成本。

请参阅图3，图3为本发明第二实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的实现流程示意图，包括以下步骤：

301、设置待检测通道的配置信息，该待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

设置该待检测通道的配置信息具体可以为：设置形式为链表式的待检测通道的配置表。在该链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息。链表是一种物理存储单元上非连续、非顺序的存储结构，数据元素的逻辑顺序是通过链表中的指针链接次序实现的。

该链表式的待检测通道的配置表的具体的格式示意图，请参阅图4，在该链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值，此时，各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。具体地，通过每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值，每个待检测通道的索引值与上一个待检测通道的指针形成指向关系，指针和索引值之间的指向关系构成各待检测通道的开启前后顺序。特殊地，在该待检测通道的配置信息的首个开启的待检测通道中的索引值表明该首个开启的待检测通道为检测电容值的起始通道，该起始通道的索引值不存在对应的指针；在本轮检测的最后一个待检测通道中的指针指向结束，表明该最后一个待检测通道为本轮检测电容值的结束通道。

图4中，以NXT_1～NXT_N表示指针，N表示待检测通道数量，通道0Index～通道N Index表示索引值，Config Info 0～Config Info N表示每个待检测通道各自对应的预配置信息。由于通过指针的形式指向下一次需要开启的待检测通道，只需要确保指针指向的位置Index正确即可，而不需要将各待检测通道的配置信息连续存储，所以该配置信息可以灵活的分散存放在Data Memory中，可以灵活、方便、高效的完成对待检测通道设置的扩展，并且不限制DataMemory的存储地址。

或者，设置该待检测通道的配置信息具体还可以为：设置形式为阵列式的该待检测通道的配置表，该阵列式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息，该待检测通道的配置表的具体地的格式请参阅图5，该待检测通道的配置表中以N表示待检测通道数量，Config Info 0～Config Info N表示每个待检测通道各自对应的预配置信息，并且示出了首个开启的待检测通道，以及最后一个待检测通道。该各待检测通道的开启顺序的信息为该阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序，即按照该阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的由上至下的排列顺序，先后开启对应的待检测通道。

由于当需要增减待检测通道的设置时，只需要按照表中既定的格式在该待检测通道的配置表的末尾根据待检测通道的数量进行增加或删减即可，方便改变待检测通道的通道数量的配置，增加设置待检测通道的灵活性。并且该阵列式的待检测通道的配置表可通过复用数据Memory实现，因此该待检测通道的数量的增减对该阵列式的待检测通道的配置表整体结构无影响。

进一步地，在该待检测通道的配置信息中按照一定的格式体现各待检测通道的开启顺序，按照此开启顺序逐个开启待检测通道，每次开启一个待检测通道，完成当前开启的待检测通道的电容值检测后，再按照此开启顺序开启下一个待检测通道进行检测。

302、按照各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路；

按照该预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的Integrator、PGA以及ADC，其中，Integrator用于当待检测芯片中开启的待检测通道中有手指触摸时，收集手指触摸引起的电压，PGA用于放大该电压的值，ADC用于将电压模拟信号转化为数字信号，并将该数字信号输出到MCU中进行处理，得到当前待检测通道检测到的电容值。

303、按照各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

在该待检测通道的配置信息中设置了要开启的首个待检测通道，在进行电容值的检测时，按照设置的各待检测通道的开启顺序，开启首个待检测通道，并在该待检测通道中，当用户的手指触摸到该待检测通道时，电容值发生变化，通过步骤303中为该首个待检测通道配置的Integrator、PGA以及ADC，检测到并记录该电容值。

开启首个待检测通道的具体方式为：通过外加电压的方式，对该首个待检测通道进行加压充电以开启该首个待检测通道。

304、当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照该开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

完成当前开启的待检测通道的电容值检测后，按照该待检测通道的配置信息中各待检测通道的该开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测，即，在该下一个待检测通道中再次执行同步骤304中的电容检测过程，以此类推，按照该开启顺序的信息，顺序逐个打开每个待检测通道进行检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

本发明实施例中，预先设置对芯片电容进行检测的待检测通道的预配置信息及各待检测通道的开启顺序的信息，并在对电容进行检测时，按照该开启顺序的信息开启待检测通道，并在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，从而降低检测成本。

参阅图6，图6是本发明第三实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测装置的结构示意图，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。图6示例的基于电容式触控芯片的电容检测装置用于检测待检测通道的电容值，该装置可以是前述图4和图5所示实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法的执行主体。该装置包括：设置模块401、配置模块402、开启模块403以及检测模块404。

以上各功能模块详细说明如下：

其中，设置模块401，用于设置待检测通道的配置信息，该待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

配置模块402，用于按照该各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

开启模块403，用于按照该各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道；

检测模块404，用于在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

开启模块403，还用于当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照该开启顺序的信息，开启下一个待检测通道；

检测模块404，还用于对该下一个待检测通道继续执行电容值的检测。

本实施例未尽之细节，请参阅前述图2至图3所示实施例的描述，此处不再赘述。

需要说明的是，以上图6示例的基于电容式触控芯片的电容检测装置的实施方式中，各功能模块的划分仅是举例说明，实际应用中可以根据需要，例如相应硬件的配置要求或者软件的实现的便利考虑，而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将基于电容式触控芯片的电容检测装置的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。而且，实际应用中，本实施例中的相应的功能模块可以是由相应的硬件实现，也可以由相应的硬件执行相应的软件完成。本说明书提供的各个实施例都可应用上述描述原则，以下不再赘述。

本发明实施例中，预先设置对芯片电容进行检测的待检测通道的配置信息，并在对电容进行检测时，按照该配置信息中各待检测通道的开启顺序的信息开启待检测通道，并在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，从而降低检测成本。

仍请参阅图6，本发明第四实施例提供的基于电容式触控芯片的电容检测装置的结构与上述第三实施例中的电容检测装置结构的不同之处在于：

进一步地，设置模块401，还用于设置形式为链表式的该待检测通道的配置表，该链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息，其中，该链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值，各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。

进一步地，设置模块401，还用于设置形式为阵列式的该待检测通道的配置表，该阵列式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息，其中，各待检测通道的开启顺序的信息为该阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序。

配置模块402，具体用于按照该预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

开启模块403，还用于通过外加电压的方式，对首个待检测通道进行加压充电以开启该首个待检测通道。

本实施例未尽之细节，请参阅前述各实施例的描述，此处不再赘述。

本发明实施例中，预先设置对芯片电容进行检测的待检测通道的配置信息，并在检测电容值时，按照该配置信息中的开启顺序的信息开启待检测通道，并在当前开启的待检测通道中进行电容值的检测，可提高待检测通道设置的灵活性，提高检测效率，且可以根据检测需要设置待检测通道，从而降低检测成本。

在本申请所提供的多个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信链接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信链接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本发明所提供的基于电容式触控芯片的电容检测方法及装置的描述，对于本领域的技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种基于电容式触控芯片的电容检测方法，用于检测待检测通道的电容值，其特征在于，所述方法包括：

设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道，并在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道，并对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测，直至完成所有待检测通道的电容值的检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息包括：

设置形式为链表式的待检测通道的配置表，所述链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值；

所述各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息包括：

设置形式为阵列式的待检测通道的配置表，所述阵列式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息以及各待检测通道的预配置信息；

其中，所述各待检测通道的开启顺序的信息为所述阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置包括：

按照所述预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开启首个待检测通道包括：

通过外加电压的方式，对所述首个待检测通道进行加压充电以开启所述首个待检测通道。

6.一种基于电容式触控芯片的电容检测装置，用于检测待检测通道的电容值，其特征在于，所述装置包括：

设置模块，用于设置所述待检测通道的配置信息，所述待检测通道的配置信息中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

配置模块，用于按照所述各待检测通道的预配置信息，为各待检测通道进行检测前的预配置；

开启模块，用于按照所述各待检测通道的开启顺序的信息，开启首个待检测通道；

检测模块，用于在当前开启的待检测通道中，检测因用户触摸而产生的电容值；

所述开启模块，还用于当完成当前开启的待检测通道的电容值检测时，按照所述开启顺序的信息，开启下一个待检测通道；

所述检测模块，还用于对所述下一个待检测通道继续执行电容值的检测。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置模块，还用于设置形式为链表式的待检测通道的配置表，所述链表式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述链表式的待检测通道的配置表中包括：各待检测通道的指针和索引值；

所述各待检测通道的开启顺序的信息为每个待检测通道的指针指向另一个待检测通道的索引值的指向关系形成的顺序。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设置模块，还用于设置形式为阵列式的待检测通道的配置表，所述阵列式的待检测通道的配置表中包含各待检测通道的开启顺序的信息和各待检测通道的预配置信息；

其中，所述各待检测通道的开启顺序的信息为所述阵列式的待检测通道的配置表中各待检测通道的排列顺序。

9.根据权利要求6至8任一项所述的装置，其特征在于，所述配置模块，具体用于按照所述预配置信息，为各待检测通道配置检测电容值时所对应的电容积分电路、可编程增益放大器以及模数转换电路。

10.根据权利要求9所述的电路，其特征在于，所述开启模块，还用于通过外加电压的方式，对所述首个待检测通道进行加压充电以开启所述首个待检测通道。