CN107003421A - 用于光子探测器的基线偏移确定 - Google Patents

用于光子探测器的基线偏移确定 Download PDF

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Abstract

本发明涉及确定由X射线检查设备(101)的光子探测器(102)所生成的电信号的基线偏移。为此目的，所述光子探测器包括处理单元(103)，所述处理单元被配置为确定光子探测器所生成的电信号的第一脉冲高度阈值的第一越过频率。所述第一脉冲高度阈值定位于所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处。

Description

用于光子探测器的基线偏移确定
技术领域
本发明涉及对光子探测器的基线偏移的确定。具体而言，本发明涉及处理单元、光子探测器、X射线检查设备、方法、程序单元以及计算机可读介质。
背景技术
在高X射线通量时，由于光子计数探测器的并且由读出ASIC探查到的模拟信号的基线中的不可控并且不可预测的变化会严重劣化光子计数探测器的性能。在基线中的这些变化可以例如由在强X射线辐照下传感器材料的电阻率的变化、由于半导体中的空间电荷或其他效应造成的电场的变化而引起，并且也可以取决于辐照历史。
发明内容
可能存在对于提供对由光子探测器所生成的信号的基线偏移的更为精确的确定的需求。
在独立权利要求中陈述了本发明的各方面。在从属权利要求、说明书和附图中阐述了优点和进一步的实施例。
本发明的第一方面涉及一种处理单元，其用于处理由X射线检查设备的光子探测器所生成的电信号。所述处理单元被配置为通过确定所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化来确定所述电信号的基线偏移。所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度。
换言之，本发明的要点可以被视为在于连续监测基线偏移或漂移，使得所述基线偏移能够由基线恢复器实时地校正或者能够被包括在探测器输出中，作为借助于随后的处理来校正探测器的信号的手段。所述基线偏移能够通过测量脉冲高度阈值、即第一脉冲高度阈值的越过频率的变化而被非常敏感地探测。通过设置噪声峰的第一边缘处的第一脉冲高度阈值，基线偏移将导致超过第一脉冲高度阈值的第一比率快速地减小或增加。因此，能够根据所述第一比率的变化来获得所述基线偏移的当前水平的非常精确的量度。
本发明基于以下知识：存在关于光子探测器、特别是关于半导体的若干问题，其可能影响光子探测器的信号质量。这样的效应的集合可以被归纳到术语“极化”之下。在极化的简化图中，在利用X射线对半导体探测器的强辐照下所生成的电子-空穴对的数量变得如此之大，使得即使在强电场的影响下，传感器的收集效率可能不足以快速地将电荷从传感器传输出去。在这种情况下，可能在特定传感器部分中形成以下区域，在所述区域中，局部电荷密度影响局部电场，并且因此，传感器的电荷收集效率受到损害。不是由辐照引起的其他影响，例如，暗电流对光电流，可能对传感器中的DC电流具有影响。
此外，当通过读出ASIC(处理单元)接收到的模拟信号的DC分量经受动态变化时，所有脉冲的脉冲高度测量结果可能经受这样的误差。当它们不被校正时，该效应可能显著地影响X射线检查设备的图像质量。此外，即使在恒定照射的条件下，该效应可能导致在特定的一侧或两侧能量窗口中的光子的测量数量的时间依赖性。
在本发明的上下文中，所述处理单元可以指代光子探测器的读出单元或读出ASIC(专用集成电路)。所述光子探测器可以是X射线探测器。此外，所述光子探测器可以被实现为光子计数探测器。因此，所述光子探测器可以被配置为对引起超过特定脉冲高度阈值的脉冲的入射事件进行计数。可以理解，所述事件可能涉及在光子探测器上的入射光子。所述光子探测器可以被配置为响应于这样的事件而生成电信号。因此，所述电信号可以被理解为针对所述入射事件的电响应信号。
该电信号可能经受基线偏移或基线漂移。如上文所描述的，所述基线可以指代光子探测器的电信号的DC分量。如上文所描述的，所述基线可以随时间偏移。所述基线偏移可以通过确定基线或者通过确定所述基线的变化来确定。因此，可以理解的是，对基线偏移的确定可以包括在不同时间点处对基线的确定。为了正确地识别在时间t处发生的信号脉冲的高度，所述处理单元可以被配置为确定在相同时间t的基线，即，所述基线可以被确定为时间的函数b(t)。换言之，在例如相对于基线b＝0来校准能量阈值的情况下，在时间t处的量达b(t)＝b0的基线偏移将导致对脉冲高度误识别完全相同的量b0。因此，通过确定值b0，即使在错误的测量之后能够校正所测量的脉冲高度。
可以理解的是，确定所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化可以涉及确定所述电信号与第一脉冲高度阈值的越过的数量，和/或可以涉及将所确定的数量与针对脉冲数量的参考值进行比较。越过第一脉冲高度阈值可以由脉冲或者由电信号的噪声分量引起。在本发明的上下文中，超过脉冲高度阈值的比率还能够被表达为脉冲高度阈值的越过频率。
所述脉冲高度谱可以指代所述电信号超过或越过脉冲高度阈值的比率或频率，作为脉冲高度阈值的函数。例如，所述脉冲高度谱可以是积分脉冲高度谱。噪声峰可以被定位在所述脉冲高度谱的较低脉冲高度端处，并且可以具有高斯形状。所述第一边缘可以指代所述噪声峰的上升边缘或下降边缘。例如，所述第一边缘是所述噪声峰的上升的左侧边缘，即，与所述噪声峰的下降的右侧边缘相比被定位在较小脉冲高度处的噪声的边缘。
所述噪声峰可以至少部分地由探测器的电子电路和/或处理单元引起。此外，所述噪声峰可以是定位于脉冲高度谱中的最低脉冲高度阈值附近的峰值。换言之，可能不存在被定位在比所述噪声峰更低的脉冲高度阈值周围的峰值。
此外，所述处理单元可以被配置为确定在对光子探测器的操作期间的基线漂移。因此，所述基线偏移确定可以在对所述光子探测器的帧读出期间执行。例如，所述处理单元可以被配置为针对所述光子探测器的每个帧、每第五个帧、或者每第十个帧来确定所述基线偏移。在该方面，可以在两种情况之间进行区分：低通量处的光子探测器的辐照，其中堆积效应可能不那么重要；以及高通量处的光子探测器的辐照，其中堆积效应可能更为显著。堆积效应可能涉及光子探测器的以下的情况，其中，同时或者在短的时间量内发生若干事件，使得它们是不可区分的。在低通量的情况下，探测器可以大部分时间空闲的，并且基线偏移可以在各脉冲之间的时间段期间确定的。例如，可以通过在对一个脉冲的处理的完成处触发在本发明的上下文中所描述的基线偏移确定以确定所述基线偏移。在这种情况下，在一个帧之内的一些脉冲可以与其他脉冲被不同地校正，使得所述脉冲的高度可以在信息丢失之前立即被校正，例如，通过使计数器递增。所述基线偏移可以替代地在每个帧的开始或结束处确定。此外，在低通量的情况下，左侧边缘越过频率能够指示每帧水平的在帧上的基线偏移。
在高通量的情况下，由基线主导的光子探测器的模拟信号的时刻可能变得稀少。因此，在这种情况下，可以提供控制单元，所述控制单元被配置为在特定时间段期间关闭X射线检查设备的X射线源，在所述特定时间段期间，可以执行对所述基线的评估或确定。例如，可以通过在X射线源中所提供的快门或网格切换选项来关闭所述X射线源。对所述X射线源的该切换优选地，但不是必要地，与X射线探测器或系统的帧读出相同步。
根据另一示范性实施例，所述第一边缘是所述噪声峰的上升边缘。因此，所述第一边缘可以被关联到与所述噪声峰的下降边缘相比的较低脉冲高度阈值。
通过选择位于所述噪声峰的上升边缘处的脉冲高度阈值，第一确定的脉冲高度阈值的越过的比率的所确定的变化受X射线信号分量的影响较少。
根据本发明的另一示范性实施例，所述处理单元还被配置为通过确定超过所述电信号的第二脉冲高度阈值的第二比率的变化来确定所述电信号的所述基线偏移。所述第二脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第二边缘处的脉冲高度。此外，所述第二边缘是所述噪声峰的下降边缘。因此，所述第二边缘可以被关联到与所述噪声峰的上升边缘相比的更大的脉冲高度阈值。
此外，关于所述第一比率和所述第一脉冲高度阈值所描述的特征和优点也可以适用于所述第二比率和所述第二脉冲高度阈值。通过测量超过两个脉冲高度阈值的两个比率，可以更为精确地确定所述基线偏移。此外，两个阈值的使用能够增加所述基线偏移确定的动态范围，即，能够增加所述偏移的可容许的幅度的允许的范围。
根据本发明的另一示范性实施例，所述处理单元被配置为确定针对所述第一比率的第一参考值。此外，所述处理单元被配置为通过从所述第一参考值减去所述电信号超过第一脉冲高度阈值的当前测量的比率来确定所述第一比率的变化。
这里，超过所述第一脉冲高度阈值的当前测量的比率可以指代在所述光子探测器的读出帧期间超过所述第一脉冲高度阈值的比率。所述处理单元可以被配置为确定在第一时段处的第一参考值，并且可以被配置为确定在第二时段处的变化，所述第二时段可以是在所述光子探测器的所述读出帧期间。
根据本发明的另一示范性实施例，所述处理单元被配置为执行对所述电信号的阈值扫描，以用于确定所述电信号的脉冲高度谱。此外，所述处理单元被配置为将第一参考点设置在所确定的脉冲高度谱的噪声峰的边缘的拐点处。
此外，所述处理单元还可以被配置为执行对所述电信号的阈值扫描，以用于确定所述电信号的脉冲高度谱，并且可以被配置为设置所述噪声峰的边缘的另一位置处的参考点。所述阈值扫描可以指代确定超过或越过特定脉冲高度阈值的脉冲的数量，由此扫描不同的脉冲高度阈值。所述阈值扫描可以产生积分脉冲高度谱。通过将第一参考点设置在拐点处，对所述基线偏移的线性近似可以产生针对所述基线偏移的精确值。
根据本发明的另一示范性实施例，所述处理单元被配置为从所述电信号减去所述基线偏移。
换言之，所述处理单元可以包括额外的硬件方案，其可以根据所述基线的最新的样本来主动地补偿所述基线。例如，所述处理单元可以包括基线恢复电路。例如，所述基线偏移的所述确定可以在所述探测器的帧读出之前执行，使得所述探测器的所述电信号能够被在线地校正。例如，所述阈值可以借助于数模转换器单元(DAC)来设置，以对应于与预定能量值有关的脉冲高度值。所述DAC可以将用户定义的数字能量值(例如，整数多个keV)转换为与对应于能量的脉冲高度相对应的模拟电压水平。基于对所述基线偏移的所述确定，所述处理单元的所有阈值的DAC可以被偏移所确定的基线偏移的量。
根据本发明的另外的示范性实施例，所述处理单元被配置为将所确定的针对不同时间点的基线偏移存储在存储设备单元中。
所述存储设备单元例如可以是存储器单元。以这种方式，处理所述处理单元的输出的软件单元能够利用所存储的基线偏移来校正所述处理单元的输出。
根据本发明的另外的示范性实施例，所述处理单元被配置为基于所述基线偏移与所述第一比率的变化之间的函数关系来确定所述基线偏移。
此外，如果所述处理单元被配置为如上文所述地确定第二比率，则所述处理单元还被配置为基于所述基线偏移与所述第二比率的变化之间的函数关系来确定所述基线偏移。
该函数关系例如可以是在所述基线偏移与所述第一比率的变化之间的线性关系：
b(t)＝b0+c[H-H(p-)]，
其中，b(t)表示当前确定的基线，b0表示所述基线的初始值，c表示在所述基线与所述越过频率的变化之间的比例的常量，H表示超过所述第一脉冲阈值(第一越过频率)的第一比率的参考值，并且H(p-)表示超过所述第一脉冲高度阈值p-(第一越过频率)的当前确定的第一比率。换言之，[H-H(p-)]表示所述第一比率的变化(第一越过频率)。然而，所述函数关系还可以包括更高阶的项或者更复杂的函数。
本发明的第二方面涉及一种用于X射线检查设备的光子探测器，所述X射线检查设备包括在本发明的上下文中所描述的处理单元。如上文所描述的，所述光子探测器可以是X射线探测器，有利地，光子计数探测器。
本发明的第三方面涉及包括在本发明的上下文中所描述的光子探测器的X射线检查设备。
所述X射线检查设备例如可以是CT扫描器。此外，所述X射线检查设备可以是用于执行谱CT扫描或谱乳房射线摄影扫描的设备。然而，所述X射线检查设备还可以指代其他种类的X射线检查设备。
根据本发明的另外的示范性实施例，所述X射线检查设备还包括X射线源以及用于在所述处理单元确定所述基线偏移时关闭所述X射线源的控制单元。
所述控制单元例如可以是所述X射线源的快门或网格切换设备。以这种方式，确保了所述第一比率的变化指示在时间上的那一刻不受X射线事件的影响的真实基线漂移。例如，可以在测量过程中引入时段，在所述时段中，X射线源被关闭，使得在所述时段期间确定所述基线偏移。例如，针对大约400μs的典型CT帧时间，10μs的时段(在其中X射线源被关闭)可以足以利用足够高的统计结果在每帧的基础上确定基线偏移。换言之，所述X射线源可以被关闭帧时间的小的部分。例如，该部分可以小于帧时间的10％、5％、或2.5％。
本发明的第四方面涉及一种用于确定X射线检查设备的光子探测器的电信号中的基线偏移的方法。所述方法包括以下步骤：确定由所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化，其中，所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度。此外，所述方法包括以下步骤，基于所确定的第一比率的变化来确定所述电信号的基线偏移。
根据另一示范性实施例，所述方法包括以下步骤：确定由所述电信号超过第二脉冲高度阈值的第二比率的变化，其中，所述第二脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的所述噪声峰的第二边缘处的脉冲高度。此外，所述方法包括以下步骤，基于所确定的第二比率的变化来确定所述电信号的基线偏移。
在本发明的上下文中所描述的方法可以由在本发明的上下文中所描述的处理单元来执行。此外，关于所述处理单元所概括的特征和优点也可以指代在本文中所描述的方法。此外，所述方法还可以包括相对于所述处理单元所描述的步骤。
本发明的第五方面涉及一种程序单元，所述程序单元在由处理单元执行时令所述处理单元执行在本文中所描述的方法。
所述程序单元例如可以是程序代码，所述程序代码被加载在处理单元中，使得所述处理单元被配置为执行在本发明的上下文中所描述的方法。此外，所述程序单元还可以指代使得程序单元能够执行在本发明的上下文中所描述的方法的更新。
本发明的第六方面涉及一种计算机可读介质，在所述计算机可读介质上存储有程序单元，所述程序单元在由处理单元执行时令所述处理单元执行在本发明的上下文中所描述的方法。
例如，所述计算机可读介质可以是存储器单元，所述存储器单元被配置为对所述处理单元进行扩展，使得所述处理单元被配置为执行在本文中所描述的方法。
参照本文下文中所描述的实施例，本发明的这些和其他方面将显而易见并得以阐述。
附图说明
图1示出了包括光子探测器和根据本发明的示范性实施例的处理单元的检查设备。
图2示出了根据本发明的示范性实施例的脉冲高度谱。
图3示出了根据本发明的示范性实施例的脉冲高度谱的噪声峰。
图4示出了根据本发明的示范性实施例的方法的流程图。
图5示出了根据本发明的示范性实施例的方法的流程图。
附图是示意性的，并且可能不是真实按照比例的。在下文的描述中，如果关于不同的附图使用相同的参考标记，则它们指代相同或相似的元件。相同或相似的元件还可以被提供以不同的参考标记。
附图标记列表
100 X射线检查设备
101 机架
102 光子探测器
103 处理单元
104 X射线源
105 X射线
106 样本
107 计算机系统
108 存储设备单元
109 计算机系统的处理单元
110 控制单元
200 脉冲高度谱
201 x轴
202 y轴
203 噪声峰
204 X射线信号
205 组合曲线
300 脉冲高度谱
301 x轴
302 y轴
303 噪声峰
304 下降边缘
305 上升边缘
306 第一脉冲高度阈值p-
307 第二脉冲高度阈值p+
308 针对第一比率的参考值H
309 第一比率的正变化
310 第一比率的负变化
311 更大的第一比率H(p-)
312 更小的第一比率H(p-)
313 基线偏移的正变化
314 基线偏移的负变化
具体实施方式
在图1中，示出了根据本发明的示范性实施例的X射线检查设备100。X射线检查设备100包括机架101，机架101包括X射线源104和光子探测器102。X射线源104和光子探测器102能够被旋转到机架101的不同角度位置处，使得被探物106能够从不同的角度被检查。X射线源104被配置为发射X射线105，X射线105至少部分地穿过所述被探物106并且被光子探测器102探测。光子探测器102包括处理单元102，处理单元102用于处理由X射线检查设备100的光子探测器102所生成的电信号。处理单元103被配置为通过确定所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化来确定电信号的基线偏移。此外，所述第一脉冲高度阈值是在电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度。
处理单元103因此能够主动地补偿所述电信号的所述基线偏移，或者能够将针对不同时间点的基线偏移存储在被连接到所述X射线检查设备的计算机系统107的存储设备单元108上。以这种方式，计算机系统107的处理单元109能够访问被存储在存储设备单元108中的针对不同时间点的所述基线偏移的值，使得探测器读出能够通过由处理单元109执行的计算机系统107的软件来进行校正。
此外，所述X射线源包括控制单元110，例如网格切换设备或快门，其用于开启和关闭X射线源104。以这种方式，所述X射线源能够被关闭以探测器102的读出帧的短的部分，使得能够在该时间期间确定所述基线偏移。
尽管具有机架的X射线检查设备是已知的，但是所述X射线检查设备也能够具有另一结构。
在图2中，示出了根据本发明的示范性实施例的脉冲高度谱200。脉冲高度谱200是在本发明的上下文中所描述的X射线检查设备的光子计数探测器的典型脉冲高度谱。x轴201表示脉冲高度阈值，并且y轴202表示超过或越过所述脉冲高度阈值的比率。换言之，y轴202表示针对不同脉冲高度阈值的越过频率。
在该示范性实施例中，脉冲高度谱200是积分脉冲高度谱。因此，针对每个脉冲高度阈值，示出了超过或越过具体脉冲高度阈值的事件或脉冲的总数量。由于电信号包括不会消失的噪声分量，因此脉冲高度谱200包括高斯噪声峰203。由X射线源的X射线所诱发的探测器的信号由曲线204来指示。由曲线205示出了包括噪声峰203和X射线信号204的完整信号。能够假设：当X射线信号204被加到噪声峰203上时，所述噪声峰的形状变化。
在所述电信号中的更大的噪声分量将增加噪声峰的半高全宽。
在图3中，示出了根据本发明的示范性实施例的在X射线源被关闭时的光子探测器的电信号的脉冲高度阈值300。x轴301表示测量到的脉冲高度阈值，并且y轴302表示超过或越过所述脉冲高度阈值的比率。噪声峰303例如是在阈值扫描期间确定的，所述阈值扫描是在所述X射线源被关闭时执行的。
由于X射线源被关闭，因而脉冲高度谱300仅包括高斯噪声峰303。所述噪声峰包括第一上升边缘305以及第二下降边缘304。在x轴301处的位置306表示第一脉冲高度阈值p-，并且在x轴301处的位置307表示第二脉冲高度阈值p+。所述第一脉冲高度阈值p-306位于噪声峰303的第一边缘305的拐点处，并且所述第二脉冲高度阈值p+307位于噪声峰303的第二边缘的拐点处。
在y轴302处的位置308指示针对超过第一脉冲高度阈值H(p-)306的第一比率(第一越过频率)的第一参考值H。尽管未明确示出，但是能够确定针对超过第二脉冲高度阈值H(p+)307的第二比率(第二越过频率)的相似的参考值，所述第二脉冲高度阈值H(p+)的所述参考值能够与第一脉冲高度阈值H(p-)的参考值具有相同的值。
如果在光子探测器的操作期间，所述光子探测器的所述基线偏移变化，则能够确定由所述信号超过第一脉冲高度域阈值H(p-)306的不同比率。例如，能够测量与第一比率的正变化309有关的超过第一脉冲高度阈值306的更大的比率311。然而，也能够测量超过第一脉冲高度阈值306的更低的比率312，其表示第一比率的负变化310。
因为在边缘305和304处的噪声峰303的陡峭梯度，超过第一和第二脉冲高度阈值306、307的比率强烈地取决于所述电信号的基线偏移。换言之，当所述基线随时间偏移时，能够通过测量第一比率或第二比率的变化来非常灵敏地测量所述偏移。
当一个或两个阈值被放置在脉冲高度谱300中的点306和/或307处时，噪声计数的频率可以对基线中的变化是最为敏感的。针对第一脉冲高度阈值306，任何正基线偏移将引起频率快速地减小，而任何负基线偏移将引起第一脉冲高度阈值的越过频率快速地增加。
对于一阶，即时的基线偏移可以被近似为：
b(t)＝b0+c[H-H(p-)]，
其中，b(t)表示当前确定的基线，b0表示所述基线的初始值，c表示在所述基线与所述越过频率的变化之间的比例的常量，H表示超过所述第一脉冲阈的第一比率(第一越过频率)的参考值，并且H(p-)表示超过所述第一脉冲高度阈值p-的当前确定的第一比率(第一越过频率)。换言之，[H-H(p-)]表示所述第一比率(第一越过频率)的变化。然而，所述函数关系还可以包括更高阶的项。针对b0和c的值可以在对光子探测器的校准期间确定。
能够看到，第一比率309和310的变化强烈地取决于基线变化中的变化314和313。
在图4中，示出了根据示范性实施例的用于确定X射线检查设备的光子探测器的电信号中的基线偏移的方法的流程图。所述方法包括步骤S1：确定由所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化，其中，所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度。此外，所述方法包括步骤S2：基于所确定的第一比率的变化来确定所述电信号的基线偏移。
在图5中，示出了根据本发明的另一示范性实施例的用于确定X射线检查设备的光子探测器的电信号中的基线偏移的方法的另外的流程图。所述方法包括步骤S1：确定由所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化，其中，所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度。此外，所述方法包括步骤S3：确定所述电信号超过第二脉冲高度阈值的第二比率的变化，其中，所述第二脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的所述噪声峰的第二边缘处的脉冲高度。此外，所述方法包括：步骤S2，基于所确定的第一比率的变化来确定所述电信号的所述基线偏移；以及步骤S4，基于所确定的第二比率的变化来确定所述电信号的所述基线偏移。
尽管已经在附图和前面的描述中详细例示和描述了本发明，但这样的例示和描述应当被认为是例示性和/或示范性的，而非限制性的。本发明不限于公开的实施例。
本领域的技术人员通过研究附图、说明书和权利要求书，在实施请求保护的本发明时能够理解和实现对所公开实施例的其他变型。在权利要求书中，词语“包括”并不排除其它元件或步骤，并且词语“一”或“一个”并不排除多个。尽管在互不相同的从属权利要求中记载了特定措施，但是这并不指示不能有利地使用这些措施的组合。可以将计算机程序存储/分布在与其它硬件一起提供或者作为其它硬件的一部分提供的合适介质上，例如光存储介质或者固态介质，但是还可以以诸如经因特网或者其它有线或无线电信系统的其它形式分布。权利要求中的任何附图标记都不应解释为限制权利要求的范围。

Claims (15)

1.一种用于处理由X射线检查设备(101)的光子探测器(102)生成的电信号的处理单元(103)；
其中，所述处理单元被配置为通过确定由所述电信号超过第一脉冲高度阈值(306)的第一比率的变化(309、310)来确定所述电信号的基线偏移；并且
其中，所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱(300)中的噪声峰(303)的第一边缘(305)处的脉冲高度。
2.根据权利要求1所述的处理(103)单元，
其中，所述第一边缘(305)是所述噪声峰的上升边缘。
3.根据权利要求1或2所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元(103)还被配置为通过确定所述电信号超过第二脉冲高度阈值(307)的第二比率的变化来确定所述电信号的所述基线偏移；
其中，所述第二脉冲高度阈值(307)是在所述电信号的所述脉冲高度谱(300)中的所述噪声峰的第二边缘(304)上的脉冲高度；并且
其中，所述第二边缘是所述噪声边缘的下降边缘。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元被配置为确定针对所述第一比率的第一参考值(308)；并且
其中，所述处理单元被配置为通过从所述第一参考值减去由所述电信号超过所述第一脉冲高度阈值的当前测量到的比率来确定所述第一比率的所述变化。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元被配置为执行对所述电信号的阈值扫描，以确定所述电信号的所述脉冲高度谱(300)；并且
其中，所述单元被配置为将所述第一参考点设置在所确定的脉冲高度谱的所述噪声峰的边缘的拐点处。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元被配置为从所述电信号减去所述基线偏移。
7.根据前述权利要求中的任一项所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元被配置为将针对不同时间点的所确定的基线偏移保存在存储设备单元(108)中。
8.根据前述权利要求所述的处理单元(103)，
其中，所述处理单元被配置为基于所述基线偏移与所述第一比率的所述变化的函数关系来确定所述基线偏移。
9.一种包括根据前述权利要求中的任一项所述的处理单元(103)的用于X射线检查设备(101)的光子探测器(102)。
10.一种包括根据权利要求9所述的光子探测器(102)的X射线检查设备(101)。
11.根据权利要求11所述的X射线检查设备(101)，还包括：
X射线源(104)；
控制单元(110)，其用于在所述处理单元确定所述基线偏移时关闭所述X射线源。
12.一种用于确定X射线检查设备的光子探测器的电信号中的基线偏移的方法，所述方法包括以下步骤：
确定由所述电信号超过第一脉冲高度阈值的第一比率的变化，其中，所述第一脉冲高度阈值是在所述电信号的脉冲高度谱中的噪声峰的第一边缘处的脉冲高度(S1)；并且
基于所述第一比率的所确定的变化来确定所述电信号的所述基线偏移(S2)。
13.根据权利要求12所述的方法，还包括以下步骤：
确定由所述电信号超过第二脉冲高度阈值的第二比率的变化，其中，所述第二脉冲高度阈值是在所述电信号的所述脉冲高度谱中的所述噪声峰的第二边缘处的脉冲高度(S3)；并且
基于所述第二比率的所确定的变化来确定所述电信号的所述基线偏移(S4)。
14.一种程序单元，其在由处理单元执行时令所述处理单元执行根据权利要求12或13所述的方法。
15.一种存储有程序单元的计算机可读介质，所述程序单元在由处理单元执行时令所述处理单元执行根据权利要求12或13所述的方法。
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