CN106990852B - 输入装置以及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种输入装置，该输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

Description

输入装置以及电子设备

本申请基于2015年12月18日申请的特愿2015－247182号、2016年9月30日申请的特愿2016－192554号、2016年10月28日申请的特愿2016－211534号各日本专利申请来主张优先权，将这些申请的全部内容引入到本发明中。

技术领域

本发明涉及输入装置以及电子设备。

背景技术

以往公知有例如日本特开2010－74689号公报那样具备输入装置的电子设备，其中，所述输入装置具有：检测正被触碰的键的第1检测单元、和对被进行了使状态变位的操作的键加以检测的第2检测单元。

在以往的电子设备的输入装置中，在键的触摸操作时当然进行通过第1检测单元对触摸操作的检测，即便是键的按下操作时(参照专利文献1的图3(C))，也进行了通过第1检测单元对触摸操作的检测。即，需要在键向其按下方向位移的期间，也能够检测因对键的触摸操作而产生的静电电容的变化的构成。由此，设计能够检测对各键的触摸操作和按下操作双方的输入装置时的自由度受到限制。

发明内容

本发明鉴于上述课题而提出，其目的在于，提供一种输入装置，该输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态。

另外，本发明还提供一种电子设备，具备输入装置和控制部，上述输入装置具备：向某一方向位移的键；第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态，上述控制部根据上述第1检测电路以及上述第2检测电路的检测结果来执行至少一个功能。

附图说明

其中，附图中的各部件不一定相互成比例。

图1是表示本发明的实施方式涉及的作为输入装置的电子计算器10的俯视图。

图2是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入部11的数值键110的图，(A)是数值键110的俯视图，(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图，(C)是表示数值键110的键结构的触击操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。

图3是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的触摸检测片120上的导电图案的透视俯视图。

图4是本发明的实施方式涉及的电子计算器10的框图。

图5是表示使用了本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入操作检测处理的流程图。

图6是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的存储部400中存储的触摸输入图案的数据结构。

图7是表示使用了本发明的实施方式涉及的电子计算器10的用户操作的一个例子的图。

图8是表示本发明的第1变形例涉及的电子计算器10A的触摸检测片120上的导电图案的透视俯视图。

图9是本发明的第2变形例涉及的电子计算器10B的与Ⅱ-Ⅱ剖视图相当的剖视图，(A)是数值键110的俯视图，(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。

具体实施方式

首先，使用图1～图7对本发明的实施方式进行说明。

图1是表示本发明的实施方式涉及的作为输入装置的电子计算器10的俯视图。图2是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入部11的数值键110的图，(A)是数值键110的俯视图，(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时(第1检测状态)的Ⅱ-Ⅱ剖视图，(C)是表示数值键110的键结构的触击操作检测时(第2检测状态)的Ⅱ-Ⅱ剖视图。

如图1所示，电子计算器10具备输入部11、显示部12、太阳能电池面板13。输入部11具备全部清除键[AC]、清除当前输入键[C]、正负切换键[+/－]、数字键[0]～[9]、运算键[+][－][×][÷][＝]等键。每一个键都是构成为能够向某一方向(与纸面正交的方向)位移，并能够检测其触击的触击键。数字键[0]～[9]中的9个数值键[1]～[9]110、110…被配置为3×3的行列状。另外，这些数值键[1]～[9]110、110…不仅作为按键(stroke key)发挥功能，还作为触摸键发挥功能。

输入部11的键结构如在图2(B)、(C)中表示了剖面那样，具备数值键110、触摸检测片120、键施力片130、和基板140。

数值键110由导电性金属等具有导电性的材料构成，如图2(A)所示，俯视下在中央部具备键顶部111，并在其周边部以包围键顶部111的四方的形式具备ロ字状的凸缘部112。另外，在键顶部111的上表面印刷有该数值键所固有的数字。在图2(A)中，表示了数值键[9]110来进行说明，但任意的数值键[1]110～[8]110除了向键顶部111的印刷内容之外都相同。以下，在本说明书中有时将“数值键[1]～[9]110、110…”的每一个单独表现为“数值键110”。

触摸检测片120具备：绝缘片121，设有供各数值键110分别插入的多个孔121h、121h…；和导电图案(参照图3)，包括2个触摸检测电极122R、122L、与各触摸检测电极122R、122L连接的布线123R、123L，2个触摸检测电极122R、122L至少形成在绝缘片121的下表面的、各孔121h的周边部且与ロ字状的凸缘部112的对置的2条边相对应的各位置。

键施力片130由橡胶等弹性部件构成，具备整体俯视为近似矩形状的基部131、和该近似矩形状中的与各数值键110重合地配置的部分成为向上方(相对于键施力片130、配置各数值键110的一侧)隆起的形状的键上推部132。键上推部132具备：配置在数值键110的正下方的抵接部133、和伴随着数值键110的触击操作而变形来产生将抵接部133以及数值键110向上施力的弹性回弹力的裙状部134。在抵接部133的下表面(与基板140的上表面相对的面)设置有对置电极135。

基板140具备绝缘性的基部141和形成在基部141上表面的电极、布线、电子部件等，尤其在基部141上表面中的与键施力片130的各对置电极135相对的部分设置有触击检测电极(第1电极)142。

参照图2(B)、(C)，对触摸操作检测时和触击操作检测时的各键结构简单地进行说明。

如图2(B)所示，在不进行数值键110的触击操作的状态下，检测触摸操作。在该状态下，键施力片130基于其材质所具有的弹性回弹力而保持其本身原来的形状。由此，键上推部132的抵接部133的上表面与数值键110的下表面抵接(推压下表面)来对其进行支承，并且使凸缘部112的对置的2条边的上表面与触摸检测片120的触摸检测电极122R、122L抵接。键顶部111经由凸缘部112和触摸检测电极122R，与触摸检测电路(第1检测电路)211(参照图4)所具备的静电电容检测部的一个连接，并且经由凸缘部112和触摸检测电极122L，与触摸检测电路211所具备的其他静电电容检测部的一个连接。将包括这些键顶部111、凸缘部112、触摸检测电极122R、122L和具有多个静电电容检测部的触摸检测电路211的部分称为触摸操作检测部210。

另一方面，用户克服键施力片130的弹性回弹力而用指尖按压键顶部111时，数值键110沿着其触击方向(图2(C)的上下方向)向下位移。因该触击操作引起的数值键110的触击位移量(在图2(B)、(C)中为上下方向的数值键110的移动量)成为某一大小时，如图2(C)所示，键施力片130的对置电极135与基板140的触击检测电极142相互接触，而检测到触击操作。此时凸缘部112与触摸检测电极122R、122L分离，经由这些部件的键顶部111与上述的2个静电电容检测部的电连接被解除。

图3是表示本发明的实施方式涉及的电子计算器10的触摸检测片120上的导电图案中的触摸检测电极122以及布线123的透视俯视图。在图3中，从电子计算器10的上方(纸面近前侧)观察时的导电图案的配置被表示为透视俯视图，但实际的导电图案形成在绝缘片121的下方(相对于该绝缘片121，配置键施力片130、基板140的一侧)。触摸检测片120具备：以3×3的行列状设置有9个矩形状的孔121h1～121h9的近似矩形状的键用孔形成部、从键用孔形成部的右下部分以较细的宽度延伸出的引出线形成部、以及与引出线形成部的前端相连且设有静电电容检测部的未图示的静电电容检测部形成部。以下在本说明书中，在对全部的孔共同的特征进行说明的情况下，有时不对各个孔进行区别而记载为孔121h。

在各孔121h的周边以包围该孔的方式设有2个触摸检测电极122R、122L。俯视下右侧的触摸检测电极122R为右大括号状，并被设置成与孔121h的右边的全长在上下边的右侧部分相接，俯视下左侧的触摸检测电极122L为左大括号状，并被设置成与孔121h的左边的全长在上下边的左侧部分相接。2个触摸检测电极122R、122L在与孔121h的上下边邻接的部分相互分离。右侧的触摸检测电极122R经由布线123R与静电电容检测部的一个连接，左侧的触摸检测电极122L经由布线123L与其他静电电容检测部的一个连接。

另外，沿行方向(图的左右方向)排列的3个孔121h、例如最上一行的3个孔121h7、121h8、121h9的各右侧的触摸检测电极122R7、122R8、122R9通过1根布线123R3相互并列地与一个第3行位置检测用静电电容检测部212C(参照图4)连接。同样，对于正中的行而言，3个孔121h4、121h5、121h6的各右侧的触摸检测电极122R4、122R5、122R6通过1根布线123R2相互并列地与一个第2行位置检测用静电电容检测部212B连接。最下一行也同样，3个孔121h1、121h2、121h3的各右侧的触摸检测电极122R1、122R2、122R3通过1根布线123R1相互并列地与一个第1行位置检测用静电电容检测部212A连接。

另一方面，沿列方向(图的上下方向)排列的3个孔121h、例如以最右侧的列进行说明时，3个孔121h9、121h6、121h3的各左侧的触摸检测电极122L9、122L6、122L3通过1根布线123L3相互并列地与一个第3列位置检测用静电电容检测部213C(参照图4)连接。正中的列和最左侧的列也同样，3个孔121h8、121h5、121h2的各左侧的触摸检测电极122L8、122L5、122L2通过1根布线123L2相互并列地与一个第2列位置检测用静电电容检测部213B连接，3个孔121h7、121h4、121h1的各左侧的触摸检测电极122L7、122L4、122L1通过1根布线123L1相互并列地与一个第1列位置检测用静电电容检测部213A连接。

这6个静电电容检测部、即上述的第1至第3行位置检测用静电电容检测部212A、212B、212C以及第1至第3列位置检测用静电电容检测部213A、213B、213C都是相互不同且能够独立地检测静电电容的变化的静电电容检测部。6根布线123R1、123R2、123R3、123L1、123L2、123L3经由键用孔形成部中的多个孔121h、121h…之间以及引出线形成部，被绕到设置于静电电容检测部形成部的各对应的静电电容检测部。

以下对上述那样的本实施方式的电子计算器10的键结构中的触摸操作检测时的动作进行说明。以针对存在多个的数值键110、110…中任意一个数值键110，具体为数值键[9]110进行了触摸操作的情况的动作为例来进行说明，但即便是其他数值键110也同样地进行动作。在本说明书中，将用户的指尖等与数值键110接触或者用户的指尖等接近数值键110直至能够通过静电电容检测部检测静电电容的变化的位置中的任意一个、且数值键110的凸缘部112与触摸检测片120的触摸检测电极122R、122L相互接触的状态(第1检测状态)，设为进行了触摸操作的状态。在该状态时、即触摸操作检测时，数值键110的触击(stroke)位移量为零。另外，此时的键结构如图2(B)所示那样，键施力片130的对置电极135与基板140的触击检测电极142相互分离。

对数值键[9]110的键顶部111进行触摸操作时，通过经由凸缘部112、右侧的触摸检测电极122R9以及1根布线123R3与数值键[9]110的键顶部111连接的第3行位置检测用静电电容检测部来检测静电电容的变化。与此同时，通过经由凸缘部112、左侧的触摸检测电极122L9以及1根布线123L3与数值键[9]110的键顶部111连接的第3列位置检测用静电电容检测部来检测静电电容的变化。

这样，对多个键110、110…中的任意一个数值键110进行触摸操作时，通过6个静电电容检测部中的任意2个静电电容检测部来检测静电电容的变化，并能够基于检测出变化的2个静电电容检测部的组合来检测对哪一个数值键110进行了触摸操作。具体而言，在通过第3行位置检测用静电电容检测部和第3列位置检测用静电电容检测部检测出静电电容的变化时，视为对数值键[9]110进行了触摸操作而可确定被触摸的键。另外，在通过第3行位置检测用静电电容检测部和第2列位置检测用静电电容检测部检测出静电电容的变化时，可知对数值键[8]110进行了触摸操作，以下同样，在通过第1行位置检测用静电电容检测部和第1列位置检测用静电电容检测部检测出静电电容的变化时，可知对数值键[1]110进行了触摸操作。这样，在本实施方式中，如果布线为6根则可确定9个数值键[1]～[9]110中的哪一个数值键110被触摸。

接下来，以针对存在多个的数值键110中的任意一个数值键110，具体而言对数值键[9]110进行了触击操作的情况的动作为例来进行说明，但即便是其他数值键110也同样地进行动作。在本说明书中，将用户的指尖等与数值键110接触且键施力片130的对置电极135与基板140的触击检测电极142相互接触的状态(第2检测状态)设为进行了触击操作的状态。在该状态时、即触击操作检测时，数值键110的触击位移量成为某一大小。另外，此时的键结构如图2(C)所示那样，数值键110的凸缘部112与触摸检测片120的触摸检测电极122R、122L相互分离。

触击检测电极142经由基板140上的未图示的布线与触击检测电路(第2检测电路)221(参照图4)连接。对数值键[9]110进行触击操作时，键施力片130的对置电极135与基板140的触击检测电极142的接触由上述的触击检测电路221检测。将包括这些对置电极135、触击检测电极142、基板140上的布线和触击检测电路221的部分称为触击操作检测部220。

另外，在触摸检测时的第1检测状态与触击操作检测时的第2检测状态之间的状态、即数值键110的触击位移量大于零且小于上述的既定量时，数值键110的凸缘部112与触摸检测片120的触摸检测电极122R、122L相互分离，并且键施力片130的对置电极135与基板140的触击检测电极142相互分离。在该中间状态下，触摸操作和触击操作都不被检测。

本实施方式的电子计算器10由于具有上述那样的结构，所以具有能够针对某一键检测触摸操作以及触击操作双方，并且在该键的触击操作检测时不进行由用于检测该键的触摸操作的检测电路执行的触摸操作的检测的新的构成。

图4是本发明的实施方式涉及的电子计算器10的框图。电子计算器10具备输入检测部200、控制部(CPU)300、存储部400、以及显示部500。

输入检测部200包括输入部11。输入检测部200包括：具备触摸检测电路211的触摸操作检测部210，以及具备触击检测电路221的触击操作检测部220。所述触摸检测电路211包括前述的第1行位置检测用静电电容检测部212A、第2行位置检测用静电电容检测部212B以及第3行位置检测用静电电容检测部212C、和第1列位置检测用静电电容检测部213A、第2列位置检测用静电电容检测部213B以及第3列位置检测用静电电容检测部213C。

控制装置300接收来自电子计算器10的各部的信号，基于接收到的信号来生成控制信号，并向各部发送，基于这些控制信号对各部进行控制。

存储装置400包括：存储有电子计算器10的控制命令的ROM410、和暂时保持由显示部500显示的数据并为了控制装置300的计算处理而暂时展开数据的RAM420。

显示部500基于从控制装置300接收到的控制信号，来显示各种计算结果等信息。

在触摸操作检测时，根据用户的指尖接触或者接近的数值键110，在第1至第3行位置检测用静电电容检测部212A、212B以及212C中的一个行位置检测用静电电容检测部、和第1至第3列位置检测用静电电容检测部213A、213B以及213C中的一个列位置检测用静电电容检测部中检测静电电容的变化。触摸检测电路211根据各静电电容的变化量是否比预先决定的阈值大，来将各对应的检测信号向控制装置300发送。

在触击操作检测时，触击检测电路221根据被进行了触击操作的数值键110，将各对应的检测信号向控制装置300发送。

控制装置300基于从输入检测部200接收到的检测信号，能够检测被进行了输入操作的数值键110、和对该数值键110进行的操作的种类(触摸操作或者触击操作的哪一个操作)。

图5是表示使用了本发明的实施方式涉及的电子计算器10的输入操作检测处理的流程图。控制装置300以恒定的周期(例如10ms间隔)进行是否接收到与对任意键的触摸操作以及触击操作中的任意一个对应的检测信号的判定。图6是为了确定与触摸操作对应的功能而在RAM中存储的信息的数据结构。该信息包括作为第1、第2、第3以及第4数列P_i1～P_i4(以下称为触摸输入图案P_i1～P_i4。)的{9、5、1}、{8、5、2}、{7、5、3}以及{4、5、6}多个数列、与各数列建立了对应的检索标志以及特定的功能。在电子计算器10的电源接通时，作为初始化处理中的一个，针对全部的触摸输入图案将检索标志设定为1，后述的变量i、j的值也被改写为1。

在接收到与触摸操作以外的操作对应的检测信号(以下，为了方便起见而将此称为“检测到操作”。)的情况下、即检测到触击操作的情况下(步骤S10：是)或者检测到其他操作的情况下(步骤S10：否，步骤S15：否，步骤S85：是)，控制装置300将RAM中存储的检索标志改写为1并且将变量i改写为1(步骤S90、S95)，然后执行与检测到的触击操作或者其他操作对应的处理(步骤S100)。在没检测到任何操作的情况下(步骤S10：否，步骤S15：否，步骤S85：否)，结束本输入操作检测处理。因此，在检测到针对数值键[1]～[9]110、110…以外的键、即无法检测触摸操作的键的任意一个(例如，全部清除键[AC]或清除当前输入键[C]等)的触击操作的情况下(步骤S10：是)，由控制装置300执行与该触击操作对应的处理(步骤S100)。此外，虽然没有图示，但进行在步骤S100中接收到的操作与上次的检测结果是否相同的判定，在由控制装置300判定为与上次的检测结果相同的情况下，不进行处理而直接结束本输入操作检测处理。

如果控制装置300判定为未检测到触击操作且检测到了触摸操作(步骤S10：否，步骤S15：是)，则基于该检测信号来确定被进行了触摸操作的数值键110(步骤S20)。此时，取得与在该数值键110的键顶部111印刷的数字相同的数值作为键信息。控制装置300判定这次取得的键信息与上次取得的键信息是否相同(步骤S22)，在二者相同的情况下，结束本输入操作检测处理(步骤22：是)。在这次取得的键信息与上次取得的键信息不同的情况下(步骤S22：否)，接下来进行该键信息是否是预先决定出的几个键中的一个的判定。

具体而言，控制装置300首先取得登记完毕的触摸输入图案的个数M_a(步骤S25)且对变量j进行初始化(步骤S30)，然后从第1个触摸输入图案起按顺序判定检索标志是否是1(步骤S32)。如果检索标志为1(步骤S32：是)，则判定在步骤S20中取得的键信息是否与RAM中存储的触摸输入图案中的从开头起第j个图案的第i位数值Pij相等(步骤S35)。在这些值一致的情况下(步骤S35：是)，将该第j个图案的检索标志改写为1(步骤S40)，在不一致的情况下(步骤S35：否)将检索标志改写为0(步骤S45)。如果在步骤S32中检索标志不是1(步骤S32：否)，则在将变量j自加1(步骤S33)之后移至接下来的触摸输入图案的检索标志的判定处理(步骤S32)。

对RAM中存储的1个以上触摸输入图案反复进行判定处理(步骤S35)以及检索标志的改写处理(步骤S40、S45)(步骤S50、S55：否)，如果对全部(Ma个)的触摸输入图案结束了处理(步骤S50、S55：是)，则取得检索标志为1的触摸输入图案的个数M_b。如果个数M_b等于1(步骤S65：是)则执行与检索标志为1的该触摸输入图案建立对应地存储于RAM的特定的功能(步骤S80)。在个数M_b不等于1时(步骤S65：否)将变量i自加1(步骤S75)，然后结束处理。

若将以上的输入操作检测处理汇总，则如果键被触摸操作的顺序与预先登记的触摸输入图案相等(步骤S10：否，S15：是，S20、S25、S30、S35：是/否，S40、S45、S50、S55：是/否，S60、S65：是/否，S70、S75)，则执行与该图案对应的特定的功能(步骤S80)。如果在键被触摸操作的顺序与预先登记的触摸输入图案相等之前进行了触摸操作以外的操作、即触击操作或其他操作(步骤S10：是/否，S15：否，S85：是)，则对触摸输入图案检测用的变量进行初始化(步骤S90、S95)，然后执行与该操作建立了对应的处理(步骤S100)。

基于RAM中存储的具体例的触摸输入图案来进一步进行说明。图7是表示用户对电子计算器10的输入部11的操作的一个例子的图。第1个触摸输入图案是{9、5、1}。这对应于在配置有数值键[1]～[9]110、110…的近似矩形状的区域中从右上到左下以一条直线状使手指滑动的输入操作，对该触摸输入图案关联了以显示部12所显示的数值来计算百分率的功能。同样，第2触摸输入图案是{8、5、2}，这对应于在上述的近似矩形状的区域中从上到下使手指滑动的输入操作，并且对该触摸输入图案关联了与[M+]键相同的功能。第3个触摸输入图案是{7、5、3}，这对应于在上述的近似矩形状的区域中从左上到右下使手指滑动的输入操作，并且对该触摸输入图案关联了与[M－]键相同的功能。第4触摸输入图案是{4、5、6}，这对应于在上述的近似矩形状的区域中从左到右使手指滑动的输入操作，并且对该触摸输入图案关联了与[MRC]键相同的功能。

若在初始状态、即全部的检索标志为1且变量i为1时检测到触摸操作，则如果该被触摸的数值键110是[9]、[8]、[7]以及[4]的任意一个，那么与该数值键对应的触摸输入图案的检索标志被改写为1。在被触摸的数值键110具体为[9]时，第1个触摸输入图案{9、5、1}的检索标志被改写为1，第2～4个触摸输入图案的检索标志被改写为0。接下来，在检测到触击操作或者其他操作之前检测出触摸操作的情况下，当被触摸的数值键110不是[5]时，第1个触摸输入图案{9、5、1}的检索标志被改写为0，当被触摸的数值键110是[5]时，检索标志的值保持1不变。接下来，在检测到触击操作或者其他操作之前检测出对数值键[1]110的触摸操作的情况下，由于与第1个触摸输入图案{9、5、1}一致，所以由控制装置300执行与该图案建立了对应的特定的功能即计算百分率的功能。

由此，在本实施方式的电子计算器10中，由于能够至少不设置[M+]、[M－]、[MRC]、[％]这4个键地通过触摸操作来执行与各键对应的功能，所以能够实现输入部11、电子计算器10的小型化。此外，触摸输入图案并不限定于一条直线状的输入操作，也可以包括“[7]→[4]→[1]→[2]→[3]”(L字状的输入操作)、“[7]→[4]→[1]→[2]→[3]→[6]→[9]”(U字状的输入操作)等各种图案。通过使这些触摸输入图案与其他键的功能建立对应，能够针对更多的键不设置这些键地通过触摸操作来执行与各键对应的功能。

[第1变形例]

图8是表示本发明的第1变形例涉及的电子计算器10A的触摸检测片120A上的导电图案中的触摸检测电极122以及布线123的透视俯视图。与上述的实施方式等同的构成被赋予相同或者类似的附图标记并为了简要而省略了说明。在本变形例中，在设置于触摸检测片120A的各孔121h的周边只设有一个触摸检测电极122。另外，在各触摸检测电极122连接有1根布线123，各布线123相互独立地与能够检测静电电容的变化的9个静电电容检测部(未图示)的任意一个连接。若对数值键[1]～[9]110、110…的键顶部111、111…的任意一个进行触摸操作，则通过经由该数值键110的凸缘部112、对应的一个触摸检测电极122以及对应的1根布线123而与该键顶部111连接的任意一个检测用静电电容检测部来检测静电电容的变化。

这样，在本第1变形例中，与前述的实施方式相比，能够将触摸检测片120A中的形成触摸检测电极122的区域即触摸电极形成部中形成的电极的数量以及向该电极的引绕布线的数量抑制得较少。由此，本变形例的电子计算器10A与前述的实施方式同样，具有针对某一键检测触摸操作以及触击操作双方、并且在该键的触击操作检测时不进行由用于检测该键的触摸操作的检测电路执行的触摸操作的检测的新的构成，可进一步使触摸检测片120A的触摸电极形成部小型化、提高在该触摸电极形成部形成电极以及引绕布线时的设计自由度。

[第2变形例]

图9是本发明的第2变形例涉及的电子计算器10B的与Ⅱ-Ⅱ剖视图相当的剖视图，(A)是数值键110的俯视图，(B)是表示数值键110的键结构的触摸操作检测时的Ⅱ-Ⅱ剖视图。与上述的实施方式等同的构成被赋予相同或者类似的附图标记并且为了简要而省略了说明。在本变形例中，通过以覆盖数值键110的键顶部111整体的方式涂覆绝缘性的树脂而形成有绝缘膜113。该绝缘膜113例如也可以是为了对键顶部111的表面赋予所希望的色彩而被涂覆的树脂性的墨水。对数值键[1]～[9]110、110…的键顶部111、111…的任意一个进行触摸操作时，通过经由该数值键110的凸缘部112、对应的2个触摸检测电极122R、122L以及对应的2根布线123R3、123L3而与该键顶部111连接的任意2个检测用静电电容检测部来检测静电电容的变化。基于检测到变化的这2个静电电容检测部的组合，能够检测出对哪个数值键110进行了触摸操作。绝缘膜113的厚度大时，由于通过检测用静电电容检测部检测的静电电容的变化量变小、触摸检测电路211的灵敏度下降，所以需要适当地设计厚度以使在赋予所希望的色彩的同时检测灵敏度能满足需要。另外，绝缘膜113也可以不是赋予色彩的部件，而是在视觉上透明或者半透明，或者通过赋予光泽感、不光滑感来赋予所希望的视觉或者触觉效果的部件。

这样，本第2变形例的电子计算器10B与前述的实施方式相同，具有能够针对某一键检测触摸操作以及触击操作双方、并且在该键的触击操作检测时不进行由用于检测该键的触摸操作的检测电路执行的触摸操作的检测的新的构成，且能够进一步对键顶部111赋予所希望的色彩。本第2变形例并不限定于如上述那样在数值键[1]～[9]110、110…的各孔121h的周边设置有2个触摸检测电极122R、122L的情况，当然也能够应用于如前述的第1变形例那样在数值键[1]～[9]110、110…的各孔121h的周边只设有一个触摸检测电极122的情况。

此外，本申请发明不限定于各实施方式，在实施阶段中能够在不脱离其主旨的范围进行各种变形。并且，各实施方式中包括各种阶段的发明，可通过所公开的多个构成要件中的适当的组合来构成各种发明。例如，在即使从各实施方式所示的全部构成要件删除几个构成要件、或者几个构成要件为不同的形态并进行组合，也能够解决本说明书中叙述的课题、可获得本说明书中叙述的效果的情况下，通过删除该构成要件或者组合而得到的构成也可作为发明。

以上对本发明的实施方式进行了说明，但在不脱离本发明精神和主旨的范围内可以进行中变形，同样也属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种输入装置，具备：

向某一方向位移的键；

第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及

第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，

其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态，

上述键具备通过上述按压体而从上述输入装置的外部接触或者接近的导电性的第1导电部、和具有与该第1导电部电连接的导电性的第2导电部的凸缘，

上述输入装置还具备：

面板，设有供上述键从背面侧嵌入的孔；和

第3导电部，设置于上述面板的背面，并且在上述第1检测状态下，通过上述凸缘与该第3导电部电连接而经由该第3导电部使得上述按压体和上述第1检测电路的上述静电电容检测部电连接。

2.根据权利要求1所述的输入装置，其中，

根据上述键的位移量，以排他的方式切换上述第1检测状态和上述第1检测电路以及上述第2检测电路都不检测的中间状态，并且以排他的方式切换上述中间状态和上述第2检测状态。

3.根据权利要求1所述的输入装置，其中，

上述键还具备设置于该键的表面的绝缘层，

在上述按压体与上述绝缘层接触的状态下，该按压体与上述第1导电部隔着上述绝缘层而接近。

4.根据权利要求1所述的输入装置，其中，

多个上述键以平面的方式沿行列方向排列，

上述第1检测电路具备：

行位置检测部，构成为：多个上述键中的、沿行方向排列的两个以上的第1键包括两个以上的一对导电部，一对导电部包含一方导电部，两个以上的一方导电部相互并联连接；和

列位置检测部，构成为：多个上述键中的、沿列方向排列的两个以上的第2键包括2个以上的一对导电部，一对导电部包含一方导电部，两个以上的一方导电部相互并联连接，

上述第1检测电路基于由上述行位置检测部检测出的行位置、和由上述列位置检测部检测出的列位置，来确定多个上述键中的、通过上述按压体而接触或者接近的上述键。

5.根据权利要求4所述的输入装置，其中，

上述面板设置有供上述键嵌入的孔，

上述第3导电部具备设在上述孔的周边且相互分离的一对导电部，

上述第1检测电路的上述静电电容检测部具备相互不同的第1静电电容检测部和第2静电电容检测部，

上述一对导电部的一方导电部与上述第1静电电容检测部连接，上述一对导电部的另一方导电部与上述第2静电电容检测部连接，

在上述第1检测状态下，通过上述凸缘与上述一对导电部连接，而使得上述按压体与上述第1静电电容检测部经由上述一方导电部电连接，上述按压体与上述第2静电电容检测部经由上述另一方导电部电连接。

6.根据权利要求1所述的输入装置，其中，

多个上述键以平面的方式沿行列方向排列，

上述第1检测电路具备多个上述键的第3导电部的每一个以一对一的方式连接的多个位置检测部，

上述第1检测电路基于由上述位置检测部检测出的位置，来确定多个上述键中的、通过上述按压体而接触或者接近的上述键。

7.根据权利要求6所述的输入装置，其中，

上述面板设有供多个上述键嵌入的多个孔，

上述第3导电部具备设置在上述多个孔的各周边的导电部，

上述第1检测电路的上述静电电容检测部具备相互不同的第1静电电容检测部和第2静电电容检测部，

多个上述键中的一个键所对应的上述第3导电部的一个导电部与上述第1静电电容检测部连接，多个上述键中的其他键所对应的上述第3导电部的其他导电部与上述第2静电电容检测部连接，

在上述一个键为上述第1检测状态时，通过上述凸缘与上述一个导电部连接，使得上述按压体与上述第1静电电容检测部经由上述一个导电部电连接，在上述其他键为上述第1检测状态时，通过上述凸缘与上述其他导电部连接，使得上述按压体与上述第2静电电容检测部经由上述其他导电部电连接。

8.一种电子设备，

具备输入装置和控制部，

上述输入装置具备：

向某一方向位移的键；

第1检测电路，具备对因按压体向上述键的接触或者接近而产生的静电电容的变化进行检测的静电电容检测部；以及

第2检测电路，具有第1电极，并且检测与上述键的位移一起向上述某一方向位移的第2电极和上述第1电极的电连接，

其中，根据上述键的位移量，以排他的方式切换由上述第1检测电路检测并且同时上述第2检测电路不检测的第1检测状态和由上述第2检测电路检测并且同时上述第1检测电路不检测的第2检测状态，

上述控制部根据上述第1检测电路以及上述第2检测电路的检测结果来执行至少一个功能，

上述键具备通过上述按压体而从上述输入装置的外部接触或者接近的导电性的第1导电部、和具有与该第1导电部电连接的导电性的第2导电部的凸缘，

上述输入装置还具备：

面板，设有供上述键从背面侧嵌入的孔；和

第3导电部，设置于上述面板的背面，并且在上述第1检测状态下，通过上述凸缘与该第3导电部电连接而经由该第3导电部使得上述按压体和上述第1检测电路的上述静电电容检测部电连接。

Images