CN106935188A - 感测数据校正器、oled装置和补偿oled装置的图像质量的方法 - Google Patents

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Abstract

感测数据校正器、OLED装置和补偿OLED装置的图像质量的方法。公开了一种有机发光显示装置。在现有技术的有机发光显示装置中，在感测驱动晶体管的阈值电压的感测模式中，当在施加到驱动晶体管的漏极的驱动电压中出现波动时，在感测的阈值电压中出现误差。因此，当感测驱动晶体管的阈值电压时，本发明使用包括在另一条水平线每个像素的阈值电压来校正包括在具有由驱动电压的波动引起的误差的水平线中的每个像素的驱动晶体管的阈值电压。

Description

感测数据校正器、OLED装置和补偿OLED装置的图像质量的 方法
技术领域
本发明涉及一种感测数据校正器、有机发光显示装置，并且更具体地说，涉及一种补偿有机发光显示装置的图像质量的方法。
背景技术
有源矩阵型有机发光显示装置包括作为自发光器件的有机发光二极管(OLED)，并且通常具有快速响应时间，高发光效率，高亮度和宽视角。
作为自发光器件的OLED通常各自包括阳极电极，阴极电极和在它们之间形成的有机化合物层。有机化合物层通常包括空穴注入层(HIL)、空穴传输层(HTL：transport)、发射层(EML)、电子传输层(ETL)和电子注入层(EIL)。当将驱动电压施加到阳极电极和阴极电极时，经过HTL的空穴和经过ETL的电子移动到EML以生成激子，因此EML发射可见光。
在有机发光显示装置中，各自包括OLED的多个像素通常以矩阵式布置，并且可以基于视频数据的灰度(gray scale)来调整各个像素的亮度。各个像素通常包括用于控制在OLED中流动的驱动电流的驱动晶体管。优选地，可以将所有像素设计为具有诸如阈值电压、迁移率等的相同电特性的驱动晶体管，但是由于工艺条件、驱动环境等等，像素的驱动晶体管实际上具有不均匀的电特性。为此，即使当施加相同的数据电压时，像素的驱动电流也不同，因此，出现像素之间的亮度偏差。
为了解决这样的问题，图像质量补偿技术可以感测每个像素的驱动晶体管的阈值电压，并且根据感测的结果适当地校正输入数据，以减少亮度的不均匀性。在下文中，将简要描述感测驱动晶体管的阈值电压的方法和根据感测结果补偿输入数据的方法。
图1是例示感测驱动晶体管的阈值电压的方法的概念图。如图1所示，以源极跟随器模式驱动驱动晶体管Tdr，通过感测驱动晶体管Tdr的源极电压Vs生成感测数据Sdata，并且基于感测数据Sdata来计算驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth。随后，计算与所计算的驱动晶体管Tdr的阈值电压相对应的补偿数据，并且通过将所计算的补偿数据反映在输入数据中，对输入数据进行补偿。
然而，施加到驱动晶体管Tdr的漏极以感测驱动晶体管Tdr的阈值电压的驱动电压EVDD，被直接施加到驱动晶体管Tdr，而没有经过晶体管。因此，如图2所示，当在驱动电压中出现波动时，在从感测数据Sdata获得的阈值电压中也可能出现误差。为此，在基于阈值电压计算的补偿数据中可能不可避免地出现误差，因此，在通过在输入数据中反映补偿数据来补偿输入数据的情况下，如图3所示，在画面中出现了水平线缺陷。
发明内容
因此，本发明的实施方式旨在提供一种有机发光显示装置和补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，其基本上消除了由于现有技术的限制和缺点导致的一个或更多个问题。
本发明的目的旨在提供一种有机发光显示装置和补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，当感测到驱动晶体管的特征数据时，该装置校正由施加到驱动晶体管的驱动电压波动导致的特征数据的误差。
本发明的额外优点和特征和优点部分将在下面的描述中阐述，并且部分将基于下面的研究对本领域技术人员而言变得显而易见，或者可以通过本公开的实践获知。本公开的目的和其它优点将通过在书面描述和权利要求以及附图中具体指出的结构来实现和获得。
为了实现这些和其它优点，并且根据本发明的目的，如本文中具体实施和广泛描述的，提供了一种感测数据校正器，所述感测数据校正器包括：确定器，所述确定器被配置为确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；检测器，所述检测器被配置为当确定在所述驱动电压中出现波动时，基于针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差来检测具有误差的水平线，其中的“n”和“n+1”的指两个连续的数据时段；校正器，所述校正器被配置为使用包括在另一个水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在具有误差的所述水平线中的像素的第n+1个特征数据，并且将所校正的第n+1个特征数据存储在存储器中；以及数据处理器，所述数据处理器被配置为使用存储在所述存储器中的所述特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据。
在本发明的另一个方面中，提供了一种补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，所述方法包括以下步骤：确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；当确定在所述驱动电压中出现波动时，检测针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差，，其中的“n”和“n+1”的指两个连续的数据时段；从所述显示面板的水平线当中检测包括有所述偏差等于或大于基准值的像素的水平线；使用包括在另一个水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在检测到的水平线中的像素的第n+1个特征数据；以及使用所校正的第n+1个特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，其中，n是大于1的自然数。
应当理解，前面的一般描述和下面的详细描述都是示例性和说明性的，并且旨在提供对所要求保护的本发明的进一步解释。
附图说明
附图被包括以提供对本发明的进一步理解并且并入本申请并构成本申请的一部分，附图例示了本发明的实施方式，并且与描述一起用于解释本发明的原理。在附图中：
图1是例示感测驱动晶体管的阈值的一般原理的图；
图2是例示施加到驱动晶体管的驱动电压的波动的图；
图3是例示由于施加到驱动晶体管的驱动电压的波动而在画面中出现的水平线缺陷的图；
图4是示意性地例示根据本发明的实施方式的有机发光显示装置的配置的图；
图5是例示图4所示的像素的配置的电路图；
图6是示意性地例示图4所示的定时控制器的配置的框图；
图7是示意性地例示图6所示的感测数据校正器的配置的框图；
图8是概念性地例示根据本发明的实施方式的校正感测数据的方法的图；
图9是例示图4所示的数据驱动器的配置的框图；
图10是示出在感测模式期间施加到每个像素的信号的波形的波形图；
图11是示出在显示模式期间施加到每个像素的信号的波形的波形图；和
图12是例示根据本发明的实施方式的补偿有机发光显示装置的图像质量的方法的流程图。
具体实施方式
现在将详细参照本发明的示例性实施方式，在附图中示出了这些实施方式的示例。在可能的情况下，在整个附图中将使用相同的附图标记来指代相同或相似的部件。
在本说明书中描述的术语应当理解如下。
如本文所使用的，除非上下文另有明确说明，否则单数形式“一”、“一个”和“该”也旨在包括复数形式。术语“第一”和“第二”用于区分一个元件与另一个元件，并且这些元件不应受这些术语限制。
将进一步理解，术语“包括”、“包括有”、“具有”、“具有”、“包含”和/或“包含有”当在本文中使用时，指定所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或组件的存在，但不排除一个或更多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。
术语“至少一个”应当被理解为包括一个或更多个相关所列项的任何和所有组合。例如，“第一项、第二项、和第三项中的至少一个”的含义表示从第一项、第二项和第三项中的两个或更多个提出的所有项的组合，以及第一项、第二项或第三项。
在下文中，将参照附图详细描述本发明的实施方式。
图4是示意性地例示根据本发明的实施方式的有机发光显示装置的配置的图，并且图5是例示图4所示的像素的配置的电路图。
参照图4和图5，根据本发明的实施方式的有机发光显示装置可以包括显示面板100和面板驱动器200。
显示面板100可以包括第一扫描线SL1至第m扫描线SLm(其中m是自然数)、第一感测线SSL1至第m感测线SSLm、第一数据线DL1至第n数据线DLn(其中n是大于m的自然数)、第一基准线RL1至第n基准线RLn、多个高电平电压线PL、低电平电压线LVL和多个像素P。
第一扫描线SL1至第m扫描线SLm可以沿着显示面板100的第一方向(例如，宽度方向)以特定间隔平行布置。第一感测线SSL1至第m感测线SSLm可以以特定间隔与第一扫描线SL1至第m扫描线SLm平行布置。
第一数据线DL1至第n数据线DLn可以沿着显示面板100的第二方向(例如，长度方向)以特定间隔平行布置，以与第一扫描线SL1至第m扫描线SLm和第一感测线SSL1至第m感测线SSLm相交。第一基准线RL1至第n基准线RLn可以以特定间隔与第一数据线DL1至第n数据线DLn平行布置。
第一基准线RL1至第n基准线RLn中的每一个可以单独地连接到设置在与各条扫描线SL1至SLm的长度方向对应的水平线上的像素P，并且可以共同连接到布置在与数据线DL1至DLn中的相应数据线的长度方向对应的垂直线上的像素P。也就是说，第一基准线RL1至第n基准线RLn中的每一个可以共同连接到布置在显示面板100的像素列中的像素P，并且可以单独连接到布置在显示面板100的像素行中的多个像素P中的对应像素。
多个高电平电压线PL可以以特定间隔与数据线DL1至DLn平行布置。这里，多个高电平电压线PL可以以特定间隔与扫描线SL1至SLn平行布置。多个高电平电压线PL中的每一个可以通过驱动电源公共线(未示出)从外部高电平电压提供单元(未示出)提供高电平驱动电压EVDD，驱动电源公共线设置在显示面板100的上侧和/或下侧。
低电平电压线LVL可以以整体形式设置在显示面板100上，或者可以设置为多个。在设置多个低电平电压线LVL的情况下，多个低电平电压线LVL可以以特定间隔与数据线DL1至DLn或扫描线SL1至SLm平行布置。可以从外部低电平电压提供单元(未示出)向低电平电压线LVL提供低电平驱动电压EVSS。
多个像素P可以分别设置在由第一扫描线SL1至第m扫描线SLm和第一数据线DL1至第n数据线DLn限定的多个像素区域中。这里，多个像素P中的每一个可以是红色像素、绿色像素、蓝色像素和白色像素中的一个。此外，多个像素P中彼此相邻的i个像素(其中i是等于或大于3的自然数)可以配置显示一个图像的一个单位像素。例如，每个单位像素可以由彼此相邻的红色像素、绿色像素、蓝色像素和白色像素配置，或者可以由彼此相邻的红色像素、绿色像素和蓝色像素配置。
在一个实施方式中，如图5所示，多个像素P中的每一个可以配置有包括有机发光器件OLED、第一开关晶体管Tsw1、第二开关晶体管Tsw2、驱动晶体管Tdr和电容器Cst的像素电路PC。这里，晶体管Tsw1，Tsw2和Tdr中的每一个可以是N型薄膜晶体管(TFT)，并且例如可以是非晶硅(a-Si)TFT、多晶硅TFT、氧化物TFT，有机TFT等。
第一开关晶体管Tsw1可以通过经由扫描线SL提供的第一扫描脉冲SP1导通，并且可以根据有机发光显示装置的操作模式将通过数据线DL提供的电压Vdata或Vsen提供给驱动晶体管Tdr的栅极。第一开关晶体管Tsw1可以包括连接到与其相邻的扫描线SL的栅极、连接到与其相邻的数据线DL的第一电极以及连接到作为驱动晶体管Tdr的栅极的第一节点n1的第二电极。根据电流流动的方向，第一开关晶体管Tsw1的第一电极和第二电极中的每一个可以是源极或漏极。
第二开关晶体管Tsw2可以通过经由感测线SSL提供的第二扫描脉冲SP2导通，并且可以基于有机发光显示装置的操作模式将通过基准线RL提供的电压Vref或Vpre提供给作为驱动晶体管Tdr的源极的第二节点n2。第二开关晶体管Tsw2可以包括连接到与其相邻的感测线SSL的栅极、连接到与其相邻的基准线RL的第一电极、以及连接到第二节点n2的第二电极。根据电流流动的方向，第二开关晶体管Tsw2的第一电极和第二电极中的每一个可以是源极或漏极。
电容器Cst可以包括连接在驱动晶体管Tdr的栅极与源极(例如，第一节点n1与第二节点n2)之间的第一电极和第二电极。电容器Cst的第一电极可以连接到第一节点n1，电容器Cst的第二节点可以连接到第二节点n2。可以利用根据导通的第一开关晶体管Tsw1和第二开关晶体管Tsw2中的每一个分别提供给第一节点n1和第二节点n2的电压之间的差电压对电容器Cst进行充电，然后可以利用充入电容器Cst的电压来驱动驱动晶体管Tdr。
驱动晶体管Tdr可以利用栅极电压与源极电压之间的差电压来驱动，以控制从高电平电压线PL流向有机发光器件OLED的电流量。驱动晶体管Tdr可以包括连接到第一节点n1的栅极、连接到第二节点n2的源极以及连接到高电平电压线PL的漏极。
有机发光器件OLED可以利用根据驱动晶体管Tdr的驱动而流动的数据电流Ioled发光，从而发射具有对应于数据电流Ioled的亮度的单色光。有机发光二极管OLED可以包括连接到第二节点n2的第一电极(例如，阳极电极)、设置在第一电极上的有机层(未示出)、以及连接到有机层的第二电极(例如阴极)。
有机层可以被设置为具有空穴传输层/有机发光层/电子传输层的结构，或者可以被设置为具有空穴注入层/空穴传输层/有机发光层/电子传输层/电子注入层的结构。有机层还可以包括用于提高有机发光层的发光效率和/或寿命的功能层。第二电极可以连接到低电平电源线LVL，或者可以变为低电平电源线LVL。
进一步参照图1，面板驱动器200根据显示面板100的操作模式来操作显示面板100。在一个实施方式中，面板驱动器200在感测模式或显示模式下操作显示面板100。
感测模式表示用于感测阈值电压Vth的像素驱动模式，阈值电压Vth是多个像素中的每一个中的驱动晶体管Tdr的电特性。感测模式可以在每个预定时段执行，或者可以在有机发光显示装置的每个通电时段、有机发光显示装置的断电时段，预定驱动时间之后的通电时段或预定驱动时间之后的断电时段执行。在实施方式中，感测模式可以在用户不观看图像的断电时段中执行。
显示模式表示基于在感测模式中感测到的每个子像素P的电特性，通过校正提供给对应像素P的数据电压来在每个像素P上显示图像的像素驱动模式。
面板驱动器200包括定时控制器210、扫描驱动器230和数据驱动器250。
定时控制器210基于从外部驱动系统输入的定时同步信号TSS或者电源开/关信号PS的垂直同步信号，在感测模式或显示模式中操作扫描驱动器230和数据驱动器240中的每一个。定时同步信号TSS可以包括垂直同步信号、水平同步信号、数据使能信号、时钟信号等。
详细地，在感测模式中，定时控制器210在源极跟随器模式中操作每个像素P的驱动晶体管Tdr以生成控制信号DCS、RCS1和RCS2以及用于每个像素中的驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth的像素数据DATA。感测像素数据DATA可以具有与用于在源极跟随器模式中操作驱动晶体管Tdr的预定目标电压相对应的灰度值。
在显示模式中，定时控制器210基于从数据驱动器250提供的每个像素的感测数据Vsen生成补偿数据，并且利用对应像素的补偿数据来补偿从外部驱动系统(或图形卡)输入的基于像素的输入数据Idata以生成基于像素的像素数据DATA。在这种情况下，感测数据可以包括每个像素的驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth或迁移率。
定时控制器210将所生成的基于像素的像素数据DATA提供给数据驱动器250。基于定时同步信号TSS、定时控制器210生成用于控制数据驱动器250的数据控制信号DCS，以将数据控制信号DCS传送给数据驱动器250，并且生成用于控制扫描驱动器230的第一行控制信号RCS1和第二行控制信号RCS2，以将第一行控制信号RCS1和第二行控制信号RCS2传送给扫描驱动器230。
在设置在显示面板100中的一个单位像素由红色像素、绿色像素、蓝色像素和白色像素配置的情况下，定时控制器210可以基于四色数据转换方法(RGB到RWGB)将红色、绿色和蓝色输入数据Idata转换成四色数据(例如，红色、绿色、蓝色和白色数据)。可以基于如每个像素P的亮度和/或驱动等特性，根据每个单位像素的亮度特性来设置四色数据转换方法(RGB至RWGB)。定时控制器210可以基于包括在红色像素，绿色像素，蓝色像素和白色像素中的每一个中的驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth来校正通过转换所获得的四色数据，以生成基于像素的像素数据DATA。
在这种情况下，根据在韩国专利公开No.10-2013-0060476和No.10-2013-0030598中所公开的数据转换方法，定时控制器210可以将红色，绿色和蓝色输入数据Idata转换为四色数据(例如，红色，绿色，蓝色和白色数据)。
在下文中，将参照附图更详细地描述根据本发明的实施方式的定时控制器210。
图6是示意性地例示根据本发明的实施方式的定时控制器210的配置的框图。
如图6所示，根据本发明的实施方式的定时控制器210包括模式设置单元610、控制信号生成器620、数据处理器630和感测数据校正器640。
模式设置单元610基于从外部系统主体(未示出)或图形卡(未示出)输入的定时同步信号TSS和电源开/关信号PS，生成指示感测模式的第一逻辑电平模式信号MS或指示显示模式的第二逻辑电平模式信号MS。
控制信号生成器620基于定时同步信号TSS，生成数据控制信号DCS以及与从模式设置单元610提供的模式信号MS相对应的第一行控制信号RCS1和第二行控制信号RCS2。控制信号生成器620将数据控制信号DCS以及第一行控制信号RCS1和第二行控制信号RCS2传送到扫描驱动器230和数据驱动器250。
如果从模式设置单元610提供的模式信号MS是第一逻辑电平模式信号，则数据处理器630将感测像素数据DATA提供给数据驱动器250，并且基于从数据驱动器250传送的感测数据Sdata获得每个像素的阈值电压Vth，以将每个像素的阈值电压Vth存储在存储器650中。
此外，如果从模式设置单元610提供的模式信号MS是第二逻辑电平模式信号，则数据处理器630基于存储在存储器650中的每个像素的阈值电压生成补偿数据，并将该补偿数据反映在从外部输入的基于像素的输入数据Idata，以补偿输入数据，从而生成基于像素的像素数据DATA。
在这种情况下，数据处理器630可以针对每个像素的驱动晶体管Tdr计算与每个像素的阈值电压相对应的补偿值与初始补偿值(或先前的补偿值)之间的偏差，然后可以将计算的偏差加到初始补偿值(或先前的补偿值)或从初始补偿值(或先前的补偿值)中减去计算的偏差以生成补偿数据。
在感测模式中，感测数据校正器640基于提供给每个像素的驱动电压EVDD的波动是否出现，确定在从各个像素感测到的驱动晶体管的特征数据是否出现误差。当在特征数据中出现误差时，感测数据校正器640对特征数据进行校正。
在下文中，将参照图7更详细地描述感测数据校正器640。
图7是示意性地例示根据本发明的实施方式的感测数据校正器640的配置的框图。
如图7所示，根据本发明的实施方式的感测数据校正器640包括确定器642、检测器644和校正器646。
首先，确定器642确定从电源(未示出)提供给每个像素的驱动电压EVDD是否出现波动。为此，确定器642包括第一比较器642a、第二比较器642b和确定单元642c。
第一比较器642a确定提供给每个像素的驱动电压EVDD的电平是否等于或大于预定最大值。当确定驱动电压EVDD的电平等于或大于预定最大值时，第一比较器642a可以输出“1”，并且当确定驱动电压EVDD的电平小于预定最大值，第一比较器642a可以输出“0”。
第二比较器642b确定提供给每个像素的驱动电压EVDD的电平是否等于或小于预定最小值。当确定驱动电压EVDD的电平等于或小于预定最小值时，第二比较器642b可以输出“1”，并且当确定驱动电压EVDD的电平大于预定最小值，则第二比较器642b可以输出“0”。
确定单元642c基于第一比较器642a和第二比较器642b中的每一个的比较结果，确定在驱动电压EVDD中是否出现波动。具体地，当第一比较器642a和第二比较器642bb中的至少一个输出“1”时，确定单元642c可以确定在驱动电压EVDD中出现了波动。在一个实施方式中，确定单元642c可以用或门实现。
当确定器642确定出现驱动电压的波动时，检测器644计算针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差。在这种情况下，检测器644可以从存储器650接收第n个特征数据和第n+1个特征数据。这里，特征数据可以包括基于感测数据获得的驱动晶体管的阈值电压。
检测器644可以从对应像素的第n+1个特征数据中减去每个像素的第n个特征数据，以计算第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差。
例如，当图8的(a)部分中所示的第n个特征数据存储在存储器650中，并且图8的(b)部分中所示的第n+1特征数据存储在存储器650中时，检测器644可以从图8的(b)部分中所示的第n+1特征数据中减去图8的(a)部分中所示的第n个特征数据，以计算图8的(c)部分中所示的偏差。
随后，检测器644将包括在显示面板100中的水平线当中包括有由检测器644计算的偏差等于或大于基准值的像素的水平线检测为具有误差的水平线。
在实施方式中，当特定像素的第n个特征数据与特定像素的第n+1个特征数据之间的偏差等于或大于在包括所述特定像素的垂直线上布置在所述特定像素上方的m个像素的第n+1个特征数据与布置在所述特定像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值时，所述检测器644可以将包括所述特定像素的水平线检测为出现误差的水平线。
例如，在图8的(c)部分中，布置在第三水平线上的第一位置处的第一像素的偏差为70，并且在包括该第一像素的第一垂直线上布置在第一像素上方的两个像素的第n+1个特征数据和布置在第一像素下方的两个像素的第n+1个特征数据的平均值12，由此包括第一像素的第三水平线可以被确定为出现误差的水平线。
如上所述，根据本发明的实施方式，因为基于布置在特定像素上方和下方并且具有与特定像素的特征数据类似的特征数据的可能性高的像素的特征数据的平均值来检测出现误差的水平线，所以可以提高出现误差的水平线的检测精度。
参照图7，校正器646校正被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据。具体地，校正器646基于除了具有误差的水平线之外的另一个水平线中包括的像素的第n+1个特征数据，校正被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据。
在实施方式中，校正器646可以使用在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据来校正被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据。在这种情况下，如果被确定为具有误差的水平线是显示面板100中的最上面的水平线，则校正器646使用在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正下方的像素的第n+1个特征数据来校正包括在被确定为具有误差的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据。
例如，将参照在图8的(b)部分中示出的示例来详细描述由校正器646校正被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据的方法。
作为图8的(b)部分中所示的示例，出现误差的第三水平线上的第一像素的特征数据是80，并且布置在该第一像素上方的像素的特征数据是12，由此校正器646将第三水平线上的第一像素的特征数据校正为12。此外，出现误差的第三水平线上的第二像素的特征数据是84，并且设置在第二像素上方的像素的特征数据是12，由此校正器646将第三水平线上的第二像素的特征数据校正为12。另外，第三水平线上的第三像素的特征数据是78，并且布置在第三像素上方的像素的特征数据是12，由此校正器646将第三水平线上的第三像素的特征数据校正为12。因此，图8的(b)部分中所示的第n+1个特征数据可以被校正为如图8的(d)部分所示。
如上所述，根据本发明的实施方式，由于包括在出现误差的水平线中的每个像素的特征数据被校正为包括在预期具有与包括在出现误差的水平线中的像素的特征数据类似的特征数据的水平线(布置在出现误差的水平线上方或下方的水平线)中的像素的特征数据，因此可以提高出现误差的水平线的校正精度。
在上述实施方式中，已经描述了校正器646将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据。
然而，在示例修改的实施方式中，校正器646可以将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
在另一实施方式中，校正器646可以将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
在另一实施方式中，校正器646可以将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据或布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
如上所述，根据本发明的实施方式，由于包括在出现误差的水平线中的每个像素的特征数据被校正为包括在预期具有与包括在出现误差的水平线中的像素的特征数据类似的特征数据的水平线(布置在出现误差的水平线上方或下方的多个水平线)中的像素的特征数据的平均值或中间值，因此可以提高出现误差的水平线的校正精度。
校正器646将存储在存储器650中的第n+1个特征数据更新为校正后的第n+1个特征数据。因此，数据处理器630可以从存储器650读取更新后的第n+1个特征数据以生成补偿数据，并且可以将补偿数据反映在输入数据中以补偿输入数据。
当在最初感测每个像素时在驱动电压中出现波动时，检测器644可能不能计算特征数据之间的偏差，因此，校正器646可以将最初感测的特征数据校正为在发布产品时存储在存储器650中的初始特征数据，并且可以将校正后的特征数据存储在存储器650中。
如上所述，根据本发明的实施方式，可以确定在提供给每个像素的驱动电压中是否出现波动，并且当作为确定的结果在驱动电压中出现波动时，可以校正由波动引起的特征数据的误差，从而防止由于出现误差的特征数据的使用而出现画面的水平线缺陷。
进一步参照图4，扫描驱动器230连接到第一扫描线SL1至第m扫描线SLm和第一感测线SSL1至第m感测线SSLm，并且根据定时控制器210的模式控制在感测模式或显示模式下操作。
扫描驱动器230包括扫描线驱动器232和感测线驱动器234。扫描线驱动器232连接到第一扫描线SL1至第m扫描线SLm中的每一个的一侧和/或另一侧。扫描线驱动器232响应于基于感测模式或显示模式并从定时控制器210提供的第一行控制信号RCS1，生成第一扫描脉冲SP1并将第一扫描脉冲SP1提供给第一扫描线SL1至第m扫描线SLm。
感测线驱动器234连接到第一至第m感测线SSLl至SSLm中的每一个的一侧和/或另一侧。感测线驱动器234响应于基于感测模式或显示模式并从定时控制器210提供的第二行控制信号RCS2，生成第二扫描脉冲SP2并将第二扫描脉冲SP2提供给第一感测线SSL1至第m感测线SSLm。
在感测模式中，第一扫描脉冲SP1和第二扫描脉冲SP2中的每一个可以修改对应于感测驱动晶体管Tdr的阈值电压的像素布置结构和感测方法的各种形式。
数据驱动器250连接到第一数据线DL1至第n数据线DLn和第一基准线RL1至第n基准线RLn，并且根据定时控制器210的模式控制在感测模式或显示模式下操作。
在感测模式中，响应于数据控制信号DCS，数据驱动器250将感测像素数据DATA转换为感测数据电压Vsen，并将感测数据电压Vsen提供给对应的数据线DL。此外，数据驱动器250通过基准线RL1至RLn中相应的基准线来感测包括在每个像素P中的驱动晶体管Tdr的源极电压，以生成感测数据Sdata，并将生成的感测数据Sdata提供给定时控制器210。
在显示模式中，响应于数据控制信号DCS，数据驱动器250将以一个水平时段为单位输入的一个水平线的基于像素的像素数据DATA转换为数据电压Vdata。数据驱动器250将数据电压Vdata提供给相应的数据线DL。可选地，数据驱动器250可以将数据电压Vdata提供给相应的数据线DL，并且可以将从外部提供的基准电压Vref提供给相应的基准线RL。
图9是例示根据图4所示的本发明的实施方式的数据驱动器250的配置的框图。
参照图4、图5和图9，根据本发明的实施方式的数据驱动器250包括数据驱动单元252、切换单元254和感测单元256。响应于根据感测模式或显示模式从定时控制器210提供的数据控制信号DCS，数据驱动单元252将输入像素数据DATA转换为模拟电压Vdata或Vsen，并将模拟电压提供给相应的数据线DL。为此，数据驱动单元252包括移位寄存器、锁存单元、灰度电压生成器和数模转换器(DAC)。
移位寄存器通过使用包括在数据控制信号DCS中的源起始信号和源移位时钟来生成采样信号。具体地，移位寄存器根据源移位时钟使源起始信号移位，以顺序输出采样信号。
锁存单元可以根据采样信号顺序地采样和锁存输入像素数据DATA，并且可以根据数据控制信号DCS的源输出使能信号同时输出一个水平线的锁存数据。
灰度电压生成器可以通过使用从外部输入的多个伽马电压RGV来生成与像素数据DATA的灰度的数量相对应的多个不同的灰度电压GV。
DAC可以选择与从灰度级电压生成器提供的多个灰度级电压GV中的锁存数据相对应的灰度级电压作为数据电压Vdata，并且可以将数据电压Vdata输出到数据线DL1至DLn的相应数据线。
数据驱动单元252将感测模式下的感测数据电压Vsen和显示模式下的数据电压Vdata提供给相应的数据线DL。
切换单元254可以包括与第一基准线RL1至第n基准线RLn连接的第一开关电路S1至第n开关电路Sn，以及感测单元256，根据开关控制信号SCS开启。
在感测模式中，第一开关电路S1至第n开关电路Sn中的每一个可以将从外部提供的预充电电压Vpre(或基准电压Vref)提供给相应的基准线RL，并且可以将相应的基准线RL连接到感测单元256。
在显示模式中，第一开关电路S1至第n开关电路Sn中的每一个可以将从外部提供的基准电压Vref提供给相应的基准线RL，但是实施方式不限于此。
在感测模式中，感测单元256可以通过切换单元254连接到第一基准线RL1至第n基准线RLn，以感测第一基准线RL1至第n基准线RLn中的每一个的电压，并且可以生成与感测的电压对应的感测数据Sdata，以将感测数据Sdata提供给定时控制器210。为此，感测单元256可包括通过切换单元254分别连接到第一基准线RL1至第n基准线RLn的第一至第n模数转换器(ADC)。
图10是在根据本发明的实施方式的有机发光显示装置的感测模式中的一个代表性像素的驱动波形图。
下面将参照图4至图10来描述根据本发明的实施方式的有机发光显示装置在感测模式下的驱动方法。
在感测模式中，在第一时段t1中，第二开关晶体管Tsw2通过具有栅极导通电压的第二扫描脉冲SP2导通，因此，提供给基准线RL的预充电电压Vpre(或基准电压Vref)被提供给第二节点n2(即，驱动晶体管Tdr的源极)，由此将驱动晶体管Tdr的源极电压和基准线RL初始化为预充电电压Vpre。在初始化之后，第一开关晶体管Tsw1由具有栅极导通电压的第一扫描脉冲SP1导通，因此，提供给数据线DL的感测数据电压Vsen被提供给第一节点n1(即，驱动晶体管Tdr的栅极)。此时，为了防止有机发光器件OLED根据利用感测数据电压Vsen驱动的驱动晶体管Tdr发光，第一开关晶体管Tsw1可以比第二开关晶体管Tsw2晚一定时间导通。此时，在第一时段t1期间，有机发光器件OLED不利用通过第二开关晶体管Tsw2提供给第二节点n2的预充电电压Vpre发光。
随后，在第二时段t2中，当通过具有栅极导通电压的扫描脉冲SP1和SP2分别以线性驱动模式驱动第一开关晶体管Tsw1和第二开关晶体管Tsw2时，基准线RL改变为根据切换单元254的导通而处于浮置状态。因此，驱动晶体管Tdr在作为提供给栅极的偏置电压的感测数据电压Vsen的源跟随器模式下操作，因此，数据电压Vdata与驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth之间的差电压“Vsen-Vth”被充入处于浮置状态的基准线RL。
随后，在第三时段t3中，当第一开关晶体管Tsw1保持在导通状态时，第二开关晶体管Tsw2通过具有栅极截止电压的第二扫描脉冲SP2截止，同时，基准线RL通过切换单元254连接到感测单元256。因此，感测单元256感测充入基准线RL的电压，对感测的电压进行模数转换以生成感测数据Sdata，以及将感测数据Sdata提供给定时控制器210。
因此，定时控制器210基于在第三时段t3中从感测单元256提供的感测数据Sdata和感测数据电压Vsen来计算驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth，并且将所计算的驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth存储在存储器650中。在这种情况下，驱动晶体管Tdr的阈值电压Vth可以是通过从感测数据电压Vsen中减去感测单元256的感测电压而获得的电压。
图11是在根据本发明的实施方式的有机发光显示装置的显示模式中的一个代表性像素的驱动波形图。
下面将参照图4至图9和图11来描述根据本发明的实施方式的有机发光显示装置在显示模式下的驱动方法。
在显示模式中，可以在数据寻址时段DAT和发光时段ET中分开驱动一个像素。
在数据寻址时段DAT中，当第一开关晶体管Tsw1通过具有栅极导通电压的第一扫描脉冲SP1而导通时，提供给数据线DL的显示数据电压Vdata被提供给第一节点n1(即，驱动晶体管Tdr的栅极)。当第二开关晶体管Tsw2通过具有栅极导通电压的第二扫描脉冲SP2导通时，提供给基准线RL的基准电压Vref被提供给第二节点n2(即，驱动晶体管Tdr的源极)。
在数据寻址时段DAT中，充入电容器Cst的显示数据电压Vdata包括用于补偿相应的驱动晶体管Tdr的阈值电压的电压。此外，为了防止有机发光器件OLED根据用显示数据电压Vdata驱动的驱动晶体管Tdr发光，第一开关晶体管Tsw1可以在比第二开关晶体管Tsw2晚一定时间导通。因此，在数据寻址时段DAT期间，显示数据电压Vdata与基准电压Vref之间的差电压“Vdata-Vref”被充入连接到第一节点n1和第二节点n2的电容器Cst。此时，有机发光器件OLED不利用具有通过第二开关晶体管Tsw2提供给第二节点n2的基准电压Vref发光。
上面已经描述了在数据寻址时段DAT中，第二开关晶体管Tsw2导通以防止有机发光器件OLED发光，但是本实施方式不限于此。在其它实施方式中，第二开关晶体管Tsw2可以不操作，并且在这种情况下，显示数据电压Vdata与驱动晶体管Tdr的源极电压之间的差电压可以被充入电容器Cst。
随后，在发光时段ET中，通过具有栅极截止电压的第一扫描脉冲SP1和第二扫描脉冲SP2使第一开关晶体管Tsw1和第二开关晶体管Tsw2分别截止。因此，通过存储在电容器Cst中的电压“Vdata-Vref”使驱动晶体管Tdr导通。因此，基于显示数据电压Vdata与基准电压Vref之间的差电压“Vdata-Vref”确定的数据电流Ioled通过导通的驱动晶体管Tdr在有机发光器件OLED中流动，因此，有机发光器件OLED与在其中流动的数据电流Ioled成比例地发光。也就是说，在发光时段ET中，当第一开关晶体管Tsw1和第二开关晶体管Tsw2截止时，电流在驱动晶体管Tdr中流动，并且当有机发光器件OLED开始与电流成比例地发光时，第二节点n2的电压增加，并且第一节点n1的电压通过电容器Cst经第二节点n2的电压增加而增加，由此驱动晶体管Tdr的栅极-源极电压Vgs通过电压的电容器Cst连续保持。因此，有机发光器件OLED连续发光，直到下一帧的数据寻址时段DAT为止。这里，在有机发光器件OLED中流动的电流Ioled可以不受相应的由于包括补偿电压的显示数据电压Vdata的驱动晶体管Tdr的阈值电压变化的影响。
根据本发明的实施方式，在上述数据寻址时段DAT中，第二开关晶体管Tsw2可以比第一开关晶体管Tsw1早关断预定时间差“Δt”，因此，可以补偿驱动晶体管Tdr的迁移率特性变化。具体地，当第二开关晶体管Tsw2比处于导通状态的第一开关晶体管Tsw1更早地截止时，驱动晶体管Tdr的源极电压可以基于显示数据电压Vdata通过驱动晶体管Tdr的迁移率而增加，并且由于源极电压的增加，驱动晶体管Tdr的栅极-源极电压Vgs可能降低，由此在有机发光器件OLED中流动的电流可能减小。因此，可以补偿驱动晶体管Tdr的迁移率特性变化。
在下文中，将参照图12描述根据本发明的实施方式的补偿有机发光显示装置的图像质量的方法。
图12是示出根据本发明的实施方式的补偿有机发光显示装置的图像质量的方法的流程图。
图12所示的补偿图像质量的方法应用于具有图4所示的配置的有机发光显示装置，并且可以由具有图6和图7所示的配置的定时控制器来执行。
如图12所示，在操作S1200中，根据感测模式从每个像素的感测数据获得包括在显示面板中包含的多个像素的每一个中的驱动晶体管的特征数据。在实施方式中，驱动晶体管的特征数据可以包括驱动晶体管的阈值电压或迁移率。
随后，在操作S1210中，确定在提供给每个像素的驱动电压中是否出现波动。在实施方式中，当施加到每个像素的驱动电压的电平等于或大于预定最大值或者等于或小于预定最小值时，可以确定在驱动电压中出现波动。
当在操作S1210中确定在驱动电压中出现波动时，在操作S1220中计算通过针对每个像素的驱动晶体管的第n次感测获得的第n个特征数据与第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差。在这种情况下，可以通过从第n+1个特征数据中减去第n个特征数据来计算第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差。
随后，在操作S1230中确定在显示面板的水平线当中是否存在包括有具有等于或大于基准值的偏差的像素的水平线。当确定存在这样的水平线时，在操作S1240中将水平线确定为出现误差的水平线。
详细地说，可以将特定像素的第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差与在包括所述特定像素的垂直线上布置在所述特定像素上方的m个像素的第n+1个特征数据和布置在所述特定像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值相比较。当偏差等于或大于平均值时，可以将包括该特定像素的水平线确定为出现误差的水平线。
随后，在操作S1250中，通过使用在另一个水平线中包括的像素的第n+1个特征数据来校正包括在操作S1240中确定的水平线中的像素的第n+1个特征数据。
在实施方式中，可以将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据。在这种情况下，如果被确定为具有误差的水平线是显示面板中的最上面的水平线，则可以将被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正下方的第n+1个特征数据。
在另一实施方式中，被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据可以被校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
在另一实施方式中，被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据可以被校正为布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
在另一实施方式中，被确定为具有误差的水平线中包括的每个像素的第n+1个特征数据可以被校正为布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据或布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或中间值。
随后，在操作S1260中，通过操作S1250中的校正获得的第n+1个特征数据被存储在存储器中。
随后，在操作S1270中，通过使用存储在存储器中的特征数据来补偿将提供给每个像素的输入数据。
如上所述，根据本发明的实施方式，可以基于在感测时段期间感测的驱动晶体管的特征数据来生成补偿数据，并且将要提供给像素的输入数据可以基于补偿数据进行补偿，从而提高了图像质量。
此外，根据本发明的实施方式，通过在感测驱动晶体管的特征数据时校正由施加到驱动晶体管的驱动电压的变化引起的特征数据的误差，可以防止由于特征数据的误差引起的画面的水平线缺陷。
对于本领域技术人员显而易见的是，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，可以对本发明进行各种修改和变化。因此，本发明旨在涵盖落在所附权利要求及其等同物的范围内的针对本发明的修改和变化。
相关申请的交叉引用
本申请要求于2015年12月30日提交的韩国专利申请No.10-2015-0189917的权益，通过引用将该韩国专利申请并入本文，如同在本文中完全阐述一样。

Claims (11)

1.一种感测数据校正器，所述感测数据校正器包括：
确定器，所述确定器被配置为确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；
检测器，所述检测器被配置为当确定在所述驱动电压中出现波动时，基于针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差来检测具有误差的水平线；
校正器，所述校正器被配置为使用包括在另一条水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在具有误差的所述水平线中的像素的第n+1个特征数据，并且将经校正的第n+1个特征数据存储在存储器中；以及
数据处理器，所述数据处理器被配置为使用存储在所述存储器中的所述特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，
其中，n是大于1的自然数。
2.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，所述确定器包括：
第一比较器，所述第一比较器被配置为确定提供给所述多个像素中的每一个的驱动电压的电平是否等于或大于最大值；
第二比较器，所述第二比较器被配置为确定提供给所述多个像素中的每一个的驱动电压的电平是否等于或小于最小值；以及
确定单元，所述确定单元被配置为当所述驱动电压的电平等于或大于所述最大值或者等于或小于所述最小值时，确定在所述驱动电压中出现了波动。
3.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，当特定像素的第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差等于或大于在包括所述特定像素的垂直线上布置在所述特定像素上方的m个像素的第n+1个特征数据与布置在所述特定像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值时，所述检测器将包括所述特定像素的水平线检测为出现误差的水平线，
其中，m是小于n的自然数。
4.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，
所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据，并且
如果检测到的水平线是最上面的水平线，则所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正下方的第n+1个特征数据。
5.根据权利要求1所述的感测数据校正器，其中，
所述校正器将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值、布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或者布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据与布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值，
其中，m是小于n的自然数。
6.一种有机发光显示装置，所述有机发光显示装置包括：
根据权利要求1至5中的任一项所述的感测数据校正器。
7.一种补偿有机发光显示装置的图像质量的方法，所述方法包括以下步骤：
确定在提供给包括在显示面板中的多个像素中的每一个的驱动电压中是否出现波动；
当确定在所述驱动电压中出现波动时，检测针对每个像素的驱动晶体管通过第n次感测获得的第n个特征数据与通过第n+1次感测获得的第n+1个特征数据之间的偏差；
从所述显示面板的水平线当中检测包括有所述偏差等于或大于基准值的像素的水平线；
使用包括在另一条水平线中的像素的第n+1个特征数据来校正包括在检测到的水平线中的像素的第n+1个特征数据；以及
使用经校正的第n+1个特征数据来补偿将要提供给每个像素的输入数据，其中，n是大于1的自然数。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，确定步骤包括以下步骤：
当所述驱动电压的电平等于或大于最大值或者等于或小于最小值时，确定在所述驱动电压中出现了波动。
9.根据权利要求7所述的方法，其中，检测步骤包括以下步骤：
将特定像素的第n个特征数据与第n+1个特征数据之间的偏差与在包括所述特定像素的垂直线上布置在所述特定像素上方的m个像素的第n+1个特征数据和布置在所述特定像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值进行比较；以及
当所述偏差等于或大于所述平均值时，将包括所述特定像素的水平线检测为出现误差的水平线，其中，m是小于n的自然数。
10.根据权利要求7所述的方法，其中，校正步骤包括以下步骤：
将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正上方的像素的第n+1个特征数据；以及
如果检测到的水平线是最上面的水平线，则将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素正下方的第n+1个特征数据。
11.根据权利要求7所述的方法，其中，校正步骤包括以下步骤：
将包括在检测到的水平线中的每个像素的第n+1个特征数据校正为在包括对应像素的垂直线上布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值、布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据的平均值或者布置在每个像素上方的m个像素的第n+1个特征数据与布置在每个像素下方的m个像素的第n+1个特征数据二者的平均值，
其中，m是小于n的自然数。
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