CN106910274A - 一种介质厚度测量方法、装置及atm机 - Google Patents

一种介质厚度测量方法、装置及atm机 Download PDF

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Abstract

本发明属于测量领域，提供了一种介质厚度测量方法、装置及ATM机，所述方法获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节，具有较强的实用性。

Description

一种介质厚度测量方法、装置及ATM机
技术领域
本发明属于测量领域，尤其涉及一种介质厚度测量方法、装置及ATM机。
背景技术
对于介质类有价文件如纸币、支票、汇票等的厚度检测是鉴别变造币、胶带钞、重张钞的重要手段。由于介质的厚度很薄，因此，依据介质的厚度检测结果进行防伪、重张等判断时，厚度检测装置的检测精度要求就尤为之高。如在ATM和纸币清分机的纸币识别模块中，纸币的厚度测量是必备的功能，通过纸币的厚度特征可以来识别纸币的真伪、粘贴和重张等。
为了保证测量的精度，现有技术中通常采用静态测试进行非常细致的多点校正，并依据此静态测试结果进行建表，应用过程中可以根据厚度信号值查表找到对应的实际厚度值。该方案需要制作配套的高精度测试治具，且其静态校正环节较为繁琐。
发明内容
鉴于此，本发明实施例提供一种介质厚度测量方法及装置，以解决现有的介质厚度测量方法中需要制作配套的高精度测试治具，且其静态校正环节较为繁琐的问题。
本发明实施例提供的一种介质厚度测量方法，可以包括：
获取待测量介质的厚度信号值；
确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；
获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；
根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；
所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值可以包括：
根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；
根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；
根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值可以包括：
按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；
所述第一公式为：x'＝xn，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，xn为所述标准介质的实际厚度值；
所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值可以包括：
按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；
所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，yn为所述标准介质的厚度信号值，kn为所述转化系数；
所述根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值可以包括：
按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；
所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，在确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间之前还可以包括：
获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；
根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
进一步地，所述根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数可以包括：
获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
本发明实施例提供的一种介质厚度测量装置，可以包括：
厚度信号值获取模块，用于获取待测量介质的厚度信号值；
厚度区间确定模块，用于确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；
标准参数获取模块，用于获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；
计算模块，用于根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；
所述计算模块可以包括：
第一计算单元，用于根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；
第二计算单元，用于根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；
第三计算单元，用于根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述第一计算单元可以包括：
第一计算子单元，用于按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；
所述第一公式为：x'＝xn，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，xn为所述标准介质的实际厚度值；
所述第二计算单元可以包括：
第二计算子单元，用于按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；
所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，yn为所述标准介质的厚度信号值，kn为所述转化系数；
所述第三计算单元可以包括：
第三计算子单元，用于按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；
所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述介质厚度测量装置还可以包括：
标准介质信息获取模块，用于获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
厚度区间划分模块，用于根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；
转化系数计算模块，用于转化系数根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
进一步地，所述转化系数计算模块可以包括：
第一获取单元，用于获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
第二获取单元，用于获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
转化系数计算单元，用于根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
本发明实施例提供的一种ATM机，可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。
本发明实施例提供的一种纸币清分机，可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。
本发明实施例提供的一种点钞机，可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。
本发明实施例提供的一种验钞机，可以包括以上所述的任意一种介质厚度测量装置。
本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：本发明实施获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数按照对标准介质的测量结果进行预设，包括：标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节，具有较强的实用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例一提供的一种介质厚度测量方法的示意流程图；
图2是本发明实施例二提供的一种介质厚度测量装置的示意框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
实施例一：
参见图1，是本发明实施例一提供的一种介质厚度测量方法的示意流程图，所述介质厚度测量方法可以包括以下步骤：
步骤S101，获取待测量介质的厚度信号值。
当介质通过厚度传感器模块的上部模组和下部模组之间的滚轮时，上部模组滚轮会向上产生测厚介质厚度的位移，数据采集芯片会采集到一个厚度信号值，该厚度信号值为测厚工具对所述待测量介质进行测量的读数。当待测量介质厚度值为0时(即没有任何待测量介质)，该读数也应为0，但实际中，该读数可能并不为0。可以将介质厚度值为0时的测量读数作为预压信号值，用b来表示。
本申请中所有提到的厚度信号值可以是直接获取的测量读数，也可以是减去预压信号值后的测量读数，但在整个申请文件中保持含义一致。
为了叙述方便，以下所有提到的厚度信号值均采用减去预压信号值后的测量读数。
步骤S102，确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间。
例如，根据步骤S101获取待测量介质的厚度信号值为1210，预设的厚度区间分别为[0，1200)、[1200，1400)、[1400，1560)、[1560，1740]，则可确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间为[1200，1400)。
步骤S103，获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定。
优选地，所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数。
例如，与预设厚度区间[1200，1400)对应的标准参数包括：标准介质的厚度信号值为1200、标准介质的实际厚度值为80(单位为微米)和转化系数为10。
步骤S104，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
优选地，步骤S104具体可以包括：
步骤S1041，根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值。
优选地，可以按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值。
所述第一公式为：x'＝xn，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，xn为所述标准介质的实际厚度值。
在本例中，xn＝80，计算可得x'＝xn＝80，单位为微米。
步骤S1042，根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值。
优选地，可以按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值。
所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，yn为所述标准介质的厚度信号值，kn为所述转化系数。
在本例中，y＝1210，yn＝1200，kn＝10，计算可得单位为微米。
步骤S1043，根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
优选地，可以按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；
所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。
在本例中，x＝x'+x”＝80+1＝81，单位为微米。
优选地，在步骤S102之前还包括以下步骤：
步骤a，获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值。
例如，序号为1的标准介质的厚度信号值y1＝1200，实际厚度值x1＝80μm；序号为2的标准介质的厚度信号值y2＝1400，实际厚度值x2＝100μm；序号为3的标准介质的厚度信号值y3＝1560，实际厚度值x3＝120μm；序号为4的标准介质的厚度信号值y4＝1740，实际厚度值x4＝150μm。
一般地，默认虚拟的序号为0的标准介质的厚度信号值y0＝0，实际厚度值x0＝0μm。
步骤b，根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间。
例如，根据上述各个标准介质可以划分出一些厚度区间：序号为0的厚度区间为[0，1200)；序号为1的厚度区间为[1200，1400)；序号为2的厚度区间为[1400，1560)；序号为3的厚度区间为[1560，1740]，厚度区间的总个数N＝4。
步骤c，根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
优选地，步骤c具体可以包括：
获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
优选地，所述转化系数等于所述第二标准介质的厚度信号值与所述第一标准介质的厚度信号值之差除以所述第二标准介质的实际厚度值与所述第一标准介质的实际厚度值之差，即
例如，序号为0的厚度区间[0，1200)对应的转化系数序号为1的厚度区间[1200，1400)对应的转化系数序号为2的厚度区间[1400，1560)对应的转化系数序号为3的厚度区间[1560，1740)对应的转化系数
综上所述，本发明实施获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数按照对标准介质的测量结果进行预设，包括：标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节，具有较强的实用性。
实施例二：
参见图2，是本发明实施例二提供的一种介质厚度测量装置的示意框图，为了便于说明，仅示出与本发明实施例相关的部分。
该介质厚度测量装置可以是内置于各种设备(例如ATM机、纸币清分机、点钞机、验钞机等)内的软件单元、硬件单元或者软硬结合的单元，也可以作为独立的挂件集成到所述设备中。
所述介质厚度测量装置可以包括：
厚度信号值获取模块201，用于获取待测量介质的厚度信号值；
厚度区间确定模块202，用于确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；
标准参数获取模块203，用于获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；
计算模块204，用于根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述标准参数可以包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；
所述计算模块204可以包括：
第一计算单元2041，用于根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；
第二计算单元2042，用于根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；
第三计算单元2043，用于根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述第一计算单元2041可以包括：
第一计算子单元，用于按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；
所述第一公式为：x'＝xn，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，xn为所述标准介质的实际厚度值；
所述第二计算单元2042可以包括：
第二计算子单元，用于按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；
所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，yn为所述标准介质的厚度信号值，kn为所述转化系数；
所述第三计算单元2043可以包括：
第三计算子单元，用于按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；
所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。
进一步地，所述介质厚度测量装置还可以包括：
标准介质信息获取模块205，用于获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
厚度区间划分模块206，用于根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；
转化系数计算模块207，用于转化系数根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
进一步地，所述转化系数计算模块207可以包括：
第一获取单元2071，用于获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
第二获取单元2072，用于获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
转化系数计算单元2073，用于根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模块及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明实施例各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
实施例三：
本发明实施例三提供的一种ATM机，可以包括图2对应实施例中描述的任意一种的介质厚度测量装置。
本发明实施例三提供的一种纸币清分机，可以包括图2对应实施例中描述的任意一种的介质厚度测量装置。
本发明实施例三提供的一种点钞机，可以包括图2对应实施例中描述的任意一种的介质厚度测量装置。
本发明实施例三提供的一种验钞机，可以包括图2对应实施例中描述的任意一种的介质厚度测量装置。
可以理解地，除上述列举的设备外，任何包括图2对应实施例中描述的任意一种的介质厚度测量装置的设备都在本申请保护范围之内。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种介质厚度测量方法，其特征在于，包括：
获取待测量介质的厚度信号值；
确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；
获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；
根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
2.根据权利要求1所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述标准参数包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；
所述根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值包括：
根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；
根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；
根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
3.根据权利要求2所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值包括：
按照预设的第一公式根据所述标准介质的实际厚度值计算所述第一厚度值；
所述第一公式为：x'＝xn，其中，0≤n≤N-1；N为厚度区间的总个数，n为确定的所述厚度区间的序号，x'为所述第一厚度值，xn为所述标准介质的实际厚度值；
所述根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值包括：
按照预设的第二公式根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算所述第二厚度值；
所述第二公式为：其中，x”为所述第二厚度值，y为所述待测量介质的厚度信号值，yn为所述标准介质的厚度信号值，kn为所述转化系数；
所述根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值包括：
按照预设的第三公式据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值；
所述第三公式为：x＝x'+x”，其中，x为所述待测量介质的实际厚度值。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的介质厚度测量方法，其特征在于，在确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间之前还包括：
获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；
根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
5.根据权利要求4所述的介质厚度测量方法，其特征在于，所述根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数包括：
获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
6.一种介质厚度测量装置，其特征在于，包括：
厚度信号值获取模块，用于获取待测量介质的厚度信号值；
厚度区间确定模块，用于确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；
标准参数获取模块，用于获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；
计算模块，用于根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。
7.根据权利要求6所述的介质厚度测量装置，其特征在于，所述标准参数包括标准介质的厚度信号值、标准介质的实际厚度值和转化系数；
所述计算模块包括：
第一计算单元，用于根据所述标准介质的实际厚度值计算第一厚度值；
第二计算单元，用于根据所述待测量介质的厚度信号值、所述标准介质的厚度信号值和所述转化系数计算第二厚度值；
第三计算单元，用于根据所述第一厚度值和所述第二厚度值计算所述待测量介质的实际厚度值。
8.根据权利要求6至7中任一项所述的介质厚度测量装置，其特征在于，还包括：
标准介质信息获取模块，用于获取各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
厚度区间划分模块，用于根据所述各个标准介质的厚度信号值划分各个厚度区间；
转化系数计算模块，用于转化系数根据所述各个标准介质的厚度信号值和实际厚度值计算与所述各个厚度区间对应的转化系数。
9.根据权利要求8所述的介质厚度测量装置，其特征在于，所述转化系数计算模块包括：
第一获取单元，用于获取与所述各个厚度区间的下限值对应的第一标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
第二获取单元，用于获取与所述各个厚度区间的上限值对应的第二标准介质的厚度信号值和实际厚度值；
转化系数计算单元，用于根据所述第一标准介质的厚度信号值、所述第一标准介质的实际厚度值、所述第二标准介质的厚度信号值和所述第二标准介质的实际厚度值计算所述转化系数。
10.一种包括权利要求6至9中任一项所述的介质厚度测量装置的ATM机。
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