CN106909008A - 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法 - Google Patents

阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106909008A
CN106909008A CN201710208545.5A CN201710208545A CN106909008A CN 106909008 A CN106909008 A CN 106909008A CN 201710208545 A CN201710208545 A CN 201710208545A CN 106909008 A CN106909008 A CN 106909008A
Authority
CN
China
Prior art keywords
cabling
public electrode
switch module
electrode block
electrically connected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710208545.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106909008B (zh
Inventor
潘朝煌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd filed Critical Xiamen Tianma Microelectronics Co Ltd
Priority to CN201710208545.5A priority Critical patent/CN106909008B/zh
Publication of CN106909008A publication Critical patent/CN106909008A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106909008B publication Critical patent/CN106909008B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362—Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254—Checking; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本发明实施例公开了一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法。其中，阵列基板包括显示区和周边电路区；显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，第一开关模块通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，两个公共电极块对应不同的信号检测走线。本发明实施例提供的技术方案，可以有效检测第二公共电极走线是否发生短路或者断路，防止驱动IC、FPC、偏光片等物料的浪费，以及制程的浪费，节约资源。

Description

阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法。
背景技术
在出厂前一般会对显示面板进行检测，例如进行视觉检测(VT检测)来检测显示面板中的走线的连接是否正常。
参见图1，图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图。该显示面板包括多个公共电极100，相邻的公共电极100通过第一金属走线200分别与检测信号线401和检测信号线402电连接，各公共电极100通过第二金属走线300与驱动芯片500(驱动IC)电连接。在对显示面板进行VT检测时，通过检测信号线401和402向公共电极100输送相应的检测信号，不同检测信号线输送不同的检测信号。这样，对于一公共电极100，其对应的像素显示一灰阶画面，与其相邻的公共电极100对应的像素显示另一灰阶画面，可通过观测灰阶画面来确定第一金属走线200是否发生断路或者短路。组成模组之后，由驱动芯片500通过第二金属走线300向公共电极100输入灰阶信号。
在第二金属走线300发生短路或者断路时，在VT检测阶段无法检测出第二金属走线300的断路或者短路情况，只有在绑定驱动芯片500之后，才能通过驱动芯片500向公共电极100输入灰阶信号来确定第二金属走线300是否发生了断路或短路，造成驱动IC、FPC、偏光片等物料的浪费，还会造成制程的浪费。
发明内容
本发明提供一种阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法，以实现在VT检测阶段有效检测出显示面板中金属走线是否发生短路或者断路的情况，防止造成物料和制程浪费。
第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，该阵列基板包括显示区和周边电路区；
所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线，所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接。
第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括第一方面提供的阵列基板。
第三方面，本发明实施例还提供了一种显示面板检测方法，其中，显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区和非显示区；
所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线，所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接；
该方法可用于对第二方面提供的显示面板进行检测，该方法包括：
第一阶段，通过所述信号检测走线向所述信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号，不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号，同时控制所述第一开关模块关闭；
第二阶段，控制所述第一开关模块导通。
本发明实施例提供的技术方案，第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，并且该两个公共电极块对应不同的信号检测走线，第一开关模块的控制端与第一控制走线电连接。第一开关模块可以根据第一控制走线上的控制信号导通或者关闭，在第一开关模块关闭时，通过信号检测走线向信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号，不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号，然后控制第一开关模块导通，根据公共电极块对应的像素的灰阶画面，可以确定第二公共电极走线是否发生短路或者断路，在绑定驱动芯片之前即可有效检测第二公共电极走线是否正常，而不是在绑定驱动芯片和FPC，贴附偏光片之后才可通过驱动芯片检测第二公共电极走线是否正常，因此不会造成物料和制程浪费。
附图说明
图1是现有技术中一种显示面板的结构示意图；
图2A是本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图；
图2B是本发明实施例提供的阵列基板处于一种检测阶段的示意图；
图3A是本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图；
图3B是本发明实施例提供的再一种阵列基板的结构示意图；
图4A是本发明实施例提供的一种显示面板的剖面示意图；
图4B是本发明实施例提供的显示面板处于一种检测阶段的示意图；
图4C是本发明实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图；
图4D是本发明实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图；
图4E是本发明实施例提供的显示面板处于另一种检测阶段的示意图；
图5是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图2A是本发明实施例提供的一种阵列基板的结构示意图。该阵列基板包括显示区10和周边电路区20；
显示区10设置有多个矩阵排列的公共电极块11，周边电路区20设置有至少两条信号检测走线21；每一公共电极块11通过至少一第一公共电极走线12与一条信号检测走线21对应电连接，相邻的公共电极块11与不同的信号检测走线21电连接。例如，图2A中示例性的示出了两条信号检测走线21，分别为第一条信号检测走线211和第二条信号检测走线212，可以看到，对于一个与第一条信号检测走线211电连接的公共电极块11，与其相邻的公共电极块11均与第二条信号检测走线212电连接。
周边电路区20还设置有第一控制走线22和至少一个第一开关模块23，第一开关模块23的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线13与两个公共电极块11电连接，该两个公共电极块11对应不同的信号检测走线21，第一开关模块23的控制端与第一控制走线22电连接。例如对于图2A所示的最左边的第一开关模块23，其第一端和第二端分别与两个公共电极块11电连接，这两个公共电极块11中的一个与第一条信号检测走线211电连接，另一个与第二条信号检测走线212电连接。
在对本发明实施例提供的阵列基板形成的显示面板进行检测时，例如进行VT检测。可以控制第一开关模块23关闭，通过第一条信号检测走线211向其电连接的公共电极块11输入第一灰阶信号，通过第二条信号检测走线212向其电连接的公共电极块11输入第二灰阶信号，第一灰阶信号和第二灰阶信号不同。如此，第一信号检测走线211电连接的公共电极块11对应的像素显示的第一灰阶画面和第二信号检测走线212电连接的公共电极块11对应的像素显示的第二灰阶画面不同。其中，公共电极块11对应的像素为在该像素显示过程需要使用该公共电极块11上的信号的像素。如果监测到第一灰阶画面和第二灰阶画面相同，则可确定第二公共电极走线13有短路发生。如果判断没有短路发生，然后通过向第一控制走线22传输控制信号控制第一开关模块23导通，第一信号检测走线211电连接的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面和第二信号检测走线212电连的公共电极块对应的像素显示的灰阶画面相同，也就是说，整个像素会显示均一的灰阶画面，如果此时有像素显示的灰阶画面与其他像素显示的灰阶画面不同，则可判定第二公共电极走线13有断路发生，可根据像素的位置确定发生断路的第二公共电极走线13的位置。
可以看到，通过设置第一开关模块23，第一开关模块23的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线13与两个公共电极块11电连接，该两个公共电极块11对应不同的信号检测走线21。可以实现在VT检测时，检测出第二公共电极走线13是否发生短路或者断路的情况。即在绑定驱动IC之前，即可检测出第二公共电极走线13是否发生短路或者断路，不会造成漏检，防止驱动IC、FPC、偏光片等物料的浪费，以及制程的浪费，节约资源。
进一步的，本发明实施例提供的阵列基板中，公共电极块11可复用为触控电极块。具体地，公共电极块11可分时复用为触控电极块。在显示时间段，向公共电极块11输入公共电极信号，在触控时间段，公共电极块11复用为触控电极块，向公共电极块11输入触控驱动信号。公共电极块11复用为触控电极块，无需在阵列基板上单独设置触控电极，节省材料，阵列基板也易于做薄。例如，公共电极块11可通过第二公共电极走线13与阵列基板上驱动芯片电相连，在触控时间段，驱动芯片通过第二公共电极走线13向公共电极块11传输触控驱动信号，例如传输脉冲信号，然后通过第二公共电极走线13检测公共电极块11上的电流的变化来计算电容的变化，确定公共电极块11对应的区域是否有触摸发生。
在本发明实施例中，第一公共电极走线12和第二公共电极走线13均与公共电极块11电连接，第一公共电极走线12与第二公共电极走线13可同层设置，如此，可降低阵列基板的厚度。而且第一公共电极走线12和第二公共电极走线13同层设置，第一公共电极走线12和第二公共电极走线13可以在同一道工艺中形成，节省工艺步骤。
继续参见图2A，该阵列基板中的公共电极块11可呈多行多列排布。例如，公共电极块11沿X方向成多行排布，沿Y方向成多列排布。公共电极块11的行排布方向可与阵列基板的栅极线平行，栅极线用于逐行提供选通信号以驱动像素显示。第一开关模块23的第一端和第二端分别与每一列中相邻两行的公共电极块11电连接。假设图2A所示的最左边的一列公共电极块11为第一列公共电极块，可以看到第一开关模块23的第一端和第二端分别与该列中相邻两行的公共电极11电连接，可降低阵列基板中器件排布的复杂度。
需要说明的是，在本发明实施例中，信号检测走线21的条数可大于等于两条。在信号检测走线21为两条时，任意一列公共电极块11中，相邻两行公共电极块11分别电连接于不同的信号检测走线21。如此，会形成如图2B所示排布结构，该图中示例性地以不同的颜色来区分连接不同信号检测走线21的公共电极块11。其中，同一种颜色的触控电极块11与同一条信号检测走线21电连接，会形成“棋盘格式”的排布结构。由于相邻的触控电极块11电连接的第一公共电极走线12之间容易出现短路情况，以及相邻的触控电极块11电连接的第二公共电极走线13之间容易出现短路情况，如此设置，可以方便的通过监测画面，监测到相邻触控电极块11电连接的第一公共电极走线12之间或者第二公共电极走线13之间是否出现短路情况。而且只是用两条信号检测走线21，即在保证有效检测出第一公共电极走线12之间以及第二公共电极走线13之间是否发生短路或者断路的情形下，使用最少数量的信号检测走线21。
图3A是本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图。参见图3A，在本发明任意实施例提供的阵列基板的基础上，在该阵列基板中，周边电路区20还设置有多个第二开关模块24和第二控制走线25。
每一第一公共电极走线12和其对应的信号检测走线21之间设置一第二开关模块24，即每一第一公共电极走线12和其电连接的信号检测走线21之间设置一第二开关模块24，每一第一公共电极走线12通过设置的一第二开关模块24和信号检测走线21电连接；第一公共电极走线12与第二开关模块24的第一端电连接，该第一公共电极走线12对应的信号检测走线21与第二开关模块24的第二端电连接，第二开关模块24的控制端与第二控制走线25电连接。
在对阵列基板形成的显示面板进行VT检测时，可首先通过向第一控制走线22传输控制信号控制第一开关模块23关闭，通过向第二控制走线25传输控制信号控制第二开关模块24导通，通过信号检测走线21向公共电极块11输入灰阶信号，根据公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面确定第一信号走线12是否发生短路，确定第二公共电极走线13之间是否发生短路。通过信号检测走线21向公共电极块11输入相应的灰阶信号，不同信号检测走线21对应的公共电极块11输入不同的灰阶信号，同时控制第一开关模块23导通，控制第二开关模块24关闭，根据像素显示的灰阶画面确定第二公共电极走线13是否发生断路。
图3B是本发明实施例提供的又一种阵列基板的结构示意图。参见图3B，在本发明任意实施例提供的阵列基板的基础上，在该阵列基板中，第一开关模块包括第一晶体管231，第二开关模块包括第二晶体管241；
第一晶体管231的第一极和第二极分别电连接于第一开关模块的第一端和第二端，第一晶体管231栅极与第一开关模块的控制端电连接；
第二晶体管241的第一极和第二极分别电连接于第二开关模块的第一端和第二端，第二晶体管241的栅极与第二开关模块的控制端电连接。
具体地，在对阵列基板形成的显示面板进行VT检测时，可先控制第一晶体管231关闭，控制第二晶体管241导通，通过信号检测走线21向公共电极块11输入灰阶信号，根据公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面确定第一信号走线12是否发生短路，确定第二公共电极走线13之间是否发生短路。若第一信号走线12未发生短路，则通过信号检测走线21向公共电极块11输入相应的灰阶信号，不同信号检测走线21对应的公共电极块11输入不同的灰阶信号，然后控制第一晶体管231导通，控制第二晶体管241关闭，根据像素显示的画面确定第二公共电极走线13是否发生断路。
其中，第一晶体管231的类型和第二晶体管241的类型可以相同也可以不同，优选将第一晶体管231和第二晶体管241设置为不同类型，此种情况下，第一晶体管231和第二晶体管可241以电连接同一条控制走线，只需一条控制走线即可实现对第一晶体管231和第二晶体管241的控制，优化布线设计。
本发明实施例还提供了一种显示面板，该显示面板包括本发明任意实施例提供的阵列基板。示例性的，参见图4A，图4A是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，该显示面板包括本发明任意实施例提供的阵列基板41，和与阵列基板41相对设置的彩膜基板42，以及位于阵列基板41和彩膜基板42之间的液晶层40，液晶层40包括多个液晶分子401。
进一步的，在该显示面板中，阵列基板41的周边电路区还设置有驱动芯片，各第一开关模块的第一端和第二端分别与驱动芯片各引脚电连接。
本发明实施例还提供的一种显示面板的检测方法，可用于对本发明任意实施例提供的显示面板进行检测。
其中，显示面板所包括的阵列基板包括显示区和非显示区；
显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，两个公共电极块对应不同的信号检测走线，第一开关模块的控制端与第一控制走线电连接；
参见图5，图5是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图。该检测方法包括：
步骤S510，也即第一阶段，通过信号检测走线向信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号，不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号，同时控制第一开关模块关闭；
步骤S520，也即第二阶段，控制第一开关模块导通。
示例性的，下面详细介绍通过该方法对显示面板进行检测的过程，其中，显示面板包括图2A所示的阵列基板。第一阶段，控制第一开关模块23关闭，通过第一条信号检测走线211向第一条信号检测走线211电连接的公共电极块11输入第一灰阶信号，通过第二条信号检测走线212向第二条信号检测走线212电连接的公共电极块11输入第二灰阶信号，其中第一灰阶信号和第二灰阶信号不同。这样第一条信号检测走线211电连接的公共电极块对应的像素会显示第一灰阶画面，第二条信号检测走线电连接的公共电极块对应的像素会显示第二灰阶画面。示例性的，参见图4B，图4B是本发明实施例提供的显示面板处于一种检测阶段的示意图。其中，公共电极块11的颜色可表示其对应的像素显示的灰阶画面。可以看到，相邻的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面不同。如果相邻的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面相同，则说明第一公共电极走线12或第二公共电极走线13出现了短路。例如，参见图4C，在131位置处的两条第二公共电极走线13发生短路，这两条第二公共电极走线13电连接的公共电极块11对应的像素将显示相同的灰阶。
参见图4D，第二阶段，控制第一开关模块23导通，第一条信号检测走线211电连接的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面和第二条信号检测走线212电连接的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面将变为一致，即像素显示均一的灰阶画面。如果相邻的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面不同，则确定第二公共电极走线23出现了断路。例如，参见图4E，在132位置处的一条第二公共电极走线13发生了断路，该条第二公共电极走线13电连接的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面，以及与其电连接同一第一开关模块23的另一公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面，与周边相邻的公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面均不同，即在此阶段，这两个公共电极块11对应的像素显示的灰阶画面与第一阶段的相同，没有发生变化。
另外，也可控制第一开关模块23关闭，通过信号检测走线21向公共电极块11输入灰阶信号，不同的信号检测走线21传输不同的灰阶信号，如果第一公共电极走线12断路，则其电连接的公共电极块11对应的像素将不显示灰阶画面。如果有相邻的第一公共电极走线12短路，短路的第一公共电极走线12电连接的公共电极块11对应的像素将显示相同的灰阶画面。可以根据上述情况确定第一公共电极走线12是否发生短路或者断路。
进一步的，本发明实施例还提供了又一种显示面板的检测方法，其中，显示面板还包括：显示区和非显示区；显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，两个公共电极块对应不同的信号检测走线，第一开关模块的控制端与第一控制走线电连接；
设置于周边电路区的第二开关模块和第二控制走线；
每一第一公共电极走线和其对应的信号检测走线之间设置一第二开关模块；第一公共电极走线与第二开关模块的第一端电连接，其对应的信号检测走线与第二开关模块的第二端电连接，第二开关模块的控制端与第二控制走线电连接；
该检测方法还包括：
在第一阶段，通过信号检测走线向信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号，不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号，同时控制第一开关模块关闭，控制第二开关模块导通；
在第二阶段，控制第一开关模块导通，同时，控制第二开关模块关闭。
在对显示面板进行VT检测之后，将显示面板组成模组，可通过显示面板内的控制电路控制第一开关模块23及第二开关模块24关闭，防止电连接不同信号检测走线21的不同公共电极块11电连接起来，以通过个第二公共电极走线13实现对各个公共电极块11的独立驱动，实现公共电极块11复用为触控电极块。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (11)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和周边电路区；
所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线，所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述公共电极块复用为触控电极块。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一公共电极走线与所述第二公共电极走线同层设置。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关模块的第一端和第二端分别与每一列中相邻两行的公共电极块电连接。
5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述信号检测走线为两条，任意一列公共电极块中，相邻两行所述公共电极块分别电连接于不同的信号检测走线。
6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述周边电路区还设置有多个第二开关模块和第二控制走线；
每一所述第一公共电极走线和其对应的信号检测走线之间设置一所述第二开关模块；所述第一公共电极走线与所述第二开关模块的第一端电连接，其对应的信号检测走线与所述第二开关模块的第二端电连接，所述第二开关模块的控制端与所述第二控制走线电连接。
7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述第一开关模块包括第一晶体管，所述第二开关模块包括第二晶体管；
所述第一晶体管的第一极和第二极分别电连接于所述第一开关模块的第一端和第二端，所述第一晶体管的栅极与所述第一开关模块的控制端电连接；
所述第二晶体管的第一极和第二极分别电连接于所述第二开关模块的第一端和第二端，所述第二晶体管的栅极与所述第二开关模块的控制端电连接。
8.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的阵列基板。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述阵列基板的周边电路区还设置有驱动芯片，各所述第一开关模块的第一端和第二端分别与所述驱动芯片各引脚电连接。
10.一种显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区和非显示区；
所述显示区设置有多个矩阵排列的公共电极块，所述周边电路区设置有至少两条信号检测走线；每一公共电极块通过至少一第一公共电极走线与一条所述信号检测走线对应电连接，相邻的公共电极块与不同的信号检测走线电连接；
所述周边电路区还设置有第一控制走线和至少一个第一开关模块，所述第一开关模块的第一端和第二端分别通过两条第二公共电极走线与两个公共电极块电连接，所述两个公共电极块对应不同的所述信号检测走线，所述第一开关模块的控制端与所述第一控制走线电连接；
所述检测方法包括：
第一阶段，通过所述信号检测走线向所述信号检测走线电连接的公共电极块输入灰阶信号，不同信号检测走线电连接的公共电极块输入不同的灰阶信号，同时控制所述第一开关模块关闭；
第二阶段，控制所述第一开关模块导通。
11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板还包括：
设置于所述周边电路区的第二开关模块和第二控制走线；
每一所述第一公共电极走线和其对应的信号检测走线之间设置一所述第二开关模块；所述第一公共电极走线与所述第二开关模块的第一端电连接，其对应的信号检测走线与所述第二开关模块的第二端电连接，所述第二开关模块的控制端与所述第二控制走线电连接；
所述检测方法还包括：
在第一阶段，控制所述第一开关模块关闭的同时，控制所述第二开关模块导通；
在第二阶段，控制所述第一开关模块导通的同时，控制所述第二开关模块关闭。
CN201710208545.5A 2017-03-31 2017-03-31 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法 Active CN106909008B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710208545.5A CN106909008B (zh) 2017-03-31 2017-03-31 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710208545.5A CN106909008B (zh) 2017-03-31 2017-03-31 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106909008A true CN106909008A (zh) 2017-06-30
CN106909008B CN106909008B (zh) 2019-12-31

Family

ID=59195882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710208545.5A Active CN106909008B (zh) 2017-03-31 2017-03-31 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106909008B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111681552A (zh) * 2020-06-30 2020-09-18 上海中航光电子有限公司 阵列基板及显示面板
CN111755465A (zh) * 2020-06-30 2020-10-09 厦门天马微电子有限公司 显示模组及显示装置
CN112309331A (zh) * 2019-07-31 2021-02-02 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其控制方法、显示装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004004701A (ja) * 2002-04-08 2004-01-08 Seiko Instruments Inc 液晶表示装置の検査方法
CN102540508A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN104536609A (zh) * 2014-12-30 2015-04-22 深圳市华星光电技术有限公司 具有触控功能的显示面板以及故障检测方法
CN105093607A (zh) * 2015-05-08 2015-11-25 上海天马微电子有限公司 阵列基板、触控显示面板以及触控显示装置
CN105093025A (zh) * 2015-08-18 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 In Cell触控显示面板的检测电路及检测方法
CN106201069A (zh) * 2016-06-29 2016-12-07 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 内嵌式触控装置及其检测方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004004701A (ja) * 2002-04-08 2004-01-08 Seiko Instruments Inc 液晶表示装置の検査方法
CN102540508A (zh) * 2010-12-30 2012-07-04 上海天马微电子有限公司 液晶显示装置的线路检测结构及检测方法
CN104536609A (zh) * 2014-12-30 2015-04-22 深圳市华星光电技术有限公司 具有触控功能的显示面板以及故障检测方法
CN105093607A (zh) * 2015-05-08 2015-11-25 上海天马微电子有限公司 阵列基板、触控显示面板以及触控显示装置
CN105093025A (zh) * 2015-08-18 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 In Cell触控显示面板的检测电路及检测方法
CN106201069A (zh) * 2016-06-29 2016-12-07 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 内嵌式触控装置及其检测方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112309331A (zh) * 2019-07-31 2021-02-02 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其控制方法、显示装置
US11205385B2 (en) 2019-07-31 2021-12-21 Hefei Boe Joint Technology Co., Ltd. Display panel and method of controlling the same, and display apparatus
CN111681552A (zh) * 2020-06-30 2020-09-18 上海中航光电子有限公司 阵列基板及显示面板
CN111755465A (zh) * 2020-06-30 2020-10-09 厦门天马微电子有限公司 显示模组及显示装置
CN111755465B (zh) * 2020-06-30 2022-09-23 厦门天马微电子有限公司 显示模组及显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN106909008B (zh) 2019-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106933426B (zh) 一种触控显示面板、其测试方法及显示装置
CN104516609B (zh) 内嵌式触摸面板的检测方法及制造方法
CN104699347B (zh) 一种阵列基板、显示面板及电子设备
CN206039486U (zh) 触控显示面板及显示装置
US10514812B2 (en) Array substrate, display panel and driving method
CN106909253A (zh) 触控显示面板和触控显示装置
US10977970B2 (en) Array substrate, display apparatus, detecting apparatus and detecting method for detecting defect connection of data line
CN107463295A (zh) 一种显示面板及其驱动方法、显示装置
CN107037928A (zh) 一种触控面板及其测试方法
CN106909008A (zh) 阵列基板、显示面板和显示面板的检测方法
CN106095198B (zh) 一种触控显示装置、触控显示面板及其驱动方法
CN105739768A (zh) 一种触控显示面板和一种触控显示设备
CN106707641A (zh) 具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置
CN106291216A (zh) 内嵌式触摸屏、测试电路及测试方法
CN106873225A (zh) 阵列基板、显示面板、显示装置和阵列基板驱动方法
CN109859672A (zh) 显示面板组件、显示装置以及显示面板组件的驱动方法
CN105426015B (zh) 阵列基板、显示面板以及用于显示面板的检测修复方法
CN106128342A (zh) 阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法
CN108962162A (zh) 一种goa电路及嵌入式触控显示面板
CN106940500A (zh) 阵列基板、显示面板、显示装置以及阵列基板的驱动方法
CN105739149B (zh) 内嵌式触摸液晶显示设备及其操作方法和制造方法
CN104317456B (zh) 内嵌式触摸屏及其驱动方法和显示装置
CN106773412B (zh) 一种显示基板、显示装置及驱动方法
CN107230443B (zh) 内嵌式触摸屏测试电路
CN110232888A (zh) 一种显示面板、显示装置和显示装置的驱动方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant