CN106888344A - 摄像模组及其像面倾斜的获取方法和调整方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一摄像模组及其倾斜像面的获取方法和调整方法，其中所述获取方法包括步骤判断在获取所述摄像模组的像面倾斜时是否需要进行插值操作；通过所述摄像模组拍摄一立体标版的测试图案，以获得所述摄像模组的解像力数据；以及根据所述摄像模组的解像力数据，获得所述摄像模组的像面倾斜，通过这样的方式，所述获取方法能够提高测试所述摄像模组的像面倾斜的精度和效率。

Description

摄像模组及其像面倾斜的获取方法和调整方法

技术领域

本发明涉及光学成像领域，特别涉及一摄像模组及其像面倾斜的获取方法和调整方法。

背景技术

近年来，用于帮助使用者获取影像(例如视频或者图像)的摄像模组逐渐成为了电子设备(例如移动电子设备，如手机)的标准配置，此外，摄像模组在诸如教育、医疗、交通、工业生产等领域也得到了大规模的推广和应用。在这种背景下，使用者对于摄像模组的成像品质的要求越来越高，市场的这种需求不仅要求摄像模组制造商提供具有更高像素的摄像模组，而且也给摄像模组的制造过程提出了更高和更为苛刻的要求。

摄像模组主要包括感光芯片和光学镜头，光学镜头被设置在感光芯片的感光路径上，为了保证摄像模组的成像品质，要求摄像模组的感光芯片的像面和光学镜头的像面尽可能地平行，而且在测试摄像模组的过程中，摄像模组的解像力是评价其像面是否存在倾斜以及倾斜程度的重要指标。可以理解的是，通过分析摄像模组的解像力，可以拟合出摄像模组的离焦曲线，从而计算摄像模组的像面倾斜，并且可以是通过摄像模组拍摄立体标版的方式分析摄像模组的解像力。还可以理解的是，获得摄像模组的像面倾斜的方式是通过分析解像力拟合离焦曲线和计算像面倾斜两个过程，而在摄像模组的制造过程中，对摄像模组进行拟合离焦曲线和计算像面倾斜的精度和效率是同等重要的，尤其是对于高像素高规格的摄像模组来说，在对精度的要求越来越高的情况下，如何保证摄像模组被进行拟合离焦曲线和计算像面倾斜的效率是关乎摄像模组制造商成败的关键。单纯地依靠摄像模组提供的景物深度信息来进行拟合离焦曲线，这样的做法一方面导致摄像模组被进行拟合离焦曲线的过程中的精度受限于立体标版，以至于造成标版设计和拟合离焦曲线精度相互制约的情况，另一方面还导致摄像模组被进行拟合离焦曲线和计算像面倾斜的效率低下，不符合摄像模组行业的发展趋势。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法能够提高对所述摄像模组的解像力进行离焦曲线的拟合的精度和效率。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法能够提高对所述摄像模组的像面倾斜的计算的精度和效率。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法特别适用于具有高像素、高品质的所述摄像模组，以降低具有高像素、高品质的所述摄像模组的生产成本。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法最少仅需移动一步就可以采集立体标版的测试图案以用于计算所述摄像模组的像面倾斜，通过这样的方式，能够提高所述摄像模组的像面倾斜的获取效率和调整效率。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法对处于所述立体标版的不同深度的所述测试图案进行灰度系数加乘，以使不同深度的所述测试图案被所述摄像模组采集的图像的对比度一致，通过这样的方式，能够进一步提高所述摄像模组的离焦曲线的拟合精度。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法能够减少所述摄像模组的像面倾斜被调整的次数，从而有利于提高所述摄像模组的生产效率。

本发明的一个目的在于提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法在拍摄所述立体标版的所述测试图案之前在获取所述摄像模组的像面倾斜之前是否需要对所述摄像模组进行插值操作，以提高所述摄像模组的像面倾斜被测试的效率。

本发明的摄像模组的像面倾斜的获取方法，通过判断在获取所述摄像模组的像面倾斜时是否需要进行插值操作，能够大幅度地提高测试所述摄像模组的像面倾斜的效率。具有不同的像素数量和成像品质的所述摄像模组需要不同的拟合精度，用于提供具有不同深度的所述测试图案的所述立体标版具有不同的拟合步长，在本发明中，根据所述摄像模组所需的拟合精度和所述立体标版的拟合步长，可以获得对所述摄像模组进行所述插值操作的步骤。例如，在本发明中，当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组需要被进行所述插值操作。所述插值操作的步骤可以是改变所述摄像模组感光芯片和光学镜头以及所述立体标版的任意两者之间的位置来实现，以便于操作。

另外，在对所述摄像模组进行离焦曲线拟合之前，根据所述测试图案所处的所述立体标版的层数，对所述测试图案分别进行灰度系数加乘，通过这样的方式，所述摄像模组通过拍摄获取的处于不同深度的所述测试图案的图像对比度一致，从而基于所述测试图案的图像对所述摄像莫组进行离焦曲线拟合的精度能够得到提高。

为了达到上述目的，本发明提供一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其中所述获取方法包括如下步骤：

(a)判断在获取所述摄像模组的像面倾斜时是否需要进行插值操作；

(b)通过所述摄像模组拍摄一立体标版的测试图案，以获得所述摄像模组的解像力数据；以及

(c)根据所述摄像模组的解像力数据，获得所述摄像模组的像面倾斜。

根据本发明的一个优选的实施例，在所述步骤(a)之前还包括步骤：

(d)根据所述摄像模组所需的拟合精度和所述立体标版的拟合步长，获得对所述摄像模组进行所述插值操作的步骤。

根据本发明的一个优选的实施例，在所述步骤(c)之前还包括步骤：

(e)根据所述测试图案在所述立体标版中所处的层数，对处于不同深度的所述测试图案分别加乘灰度系数。

根据本发明的一个优选的实施例，设被加乘的灰度系数参数为C，被进行灰度系数加乘的所述测试图案在所述立体标版中所处的层数参数为i，其中被加乘的灰度系数是关于所述测试图案在所述立体标版中所处的层数的函数：C_i＝F(i)。

根据本发明的一个优选的实施例，其中在所述步骤(b)中，当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组拍摄所述立体标版以获得所述立体标版的所述测试图案的图像，当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组需要进行所述插值操作。

根据本发明的一个优选的实施例，所述立体标版包括至少两标版层，每个所述标版层分别设有至少一个所述测试图案，以使所述立体标版提供具有深度信息的所述测试图案，其中所述立体标版的拟合步长是相邻所述标版层之间的距离。

根据本发明的一个优选的实施例，其中所述测试图案是“十”字形测试图案。可以理解的是，这里的“十”字形测试图案只作为优选的示例而并不限制本发明。

根据本发明的一个优选的实施例，各层所述测试图案沿着深度方向不重叠。

根据本发明的一个优选的实施例，所述立体标版的各个拟合步长为等步长或不等步长，在所述插值操作中的步长为等步长或不等步长。

根据本发明的一个优选的实施例，所述摄像模组包括一感光芯片和被设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，其中所述插值操作是改变所述摄像模组的所述感光芯片和所述光学镜头以及所述立体标版中的至少两个的相对位置。

根据本发明的一个优选的实施例，所述摄像模组包括一感光芯片和被设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，其中在所述插值操作藉由移动所述感光芯片、所述光学镜头以及所述立体标版中的至少其中一个来实现。

根据本发明的另外一方面，本发明提供一摄像模组的像面倾斜调整方法，其中所述方法藉由一立体标版来实现，所述立体标版包括沿着深度方向布置的多层标版层，各层所述标版层具有至少一测试图案，并且相邻两层所述标版层之间具有预设的拟合步长，其中所述方法包括步骤：

(A)判断是否需要进行插值操作：当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版的所述拟合步长时，不需要进行所述插值操作；当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组需要进行所述插值操作；

(B)所述摄像模组拍摄所述立体标版以获得所述立体标版的所述测试图案的图像并且根据所述步骤(A)的判断结果决定是否执行所述插值操作；

(C)根据所述步骤(B)采集到的所述图像的信息计算得到不同离焦量对应的成像清晰度数据并且拟合离焦曲线，根据所述离焦曲线计算得到所述感光芯片的像面倾斜数据；以及

(D)基于所述步骤(C)得到的所述像面倾斜数据对所述摄像模组进行校正。

根据本发明的另外一方面，本发明还提供一摄像模组，其基于本发明的上述像面倾斜调整方法对其感光芯片和光学镜头进行像面倾斜校正后制得，从而保证了所述摄像模组的成像品质。

附图说明

图1是根据本发明的一优选实施例的示意图，其描述了摄像模组在拍摄立体标版的测试图案时的状态。

图2是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了立体标版的拟合步长与摄像模组的离焦量之间的关系。

图3A是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了摄像模组通过拍摄立体标版获得的立体标版提供的具有不同深度的测试图案的图像。

图3B是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了在对测试图案加乘灰度系数之后，所述摄像模组通过拍摄立体标版获得的立体标版提供的具有不同深度的测试图案的图像。

图4是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了摄像模组的像面倾斜的获取过程。

图5是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了摄像模组直接根据立体标版的测试图案得到的离焦曲线。

图6是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了根据图5的离焦曲线进行多次拟合和平滑处理后的得到的离焦曲线。

图7是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了根据图6进行插值计算后得到的离焦曲线。

图8是根据本发明的上述优选实施例的示意图，其描述了根据图7进行灰度系数加乘后得到的离焦曲线。

图9是根据本发明的上述优选实施例的摄像模组的像面倾斜的获取方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将通过结合附图和实施例对本发明作进一步说明，以使任何所属领域的技术人员能够制造和使用本发明。在下面的描述中的实施例仅作为例子和修改物对该领域熟练的技术人员将是显而易见的。在下面的描述中定义的一般原理将适用于其它实施例，替代物，修改物，等效实施和应用中，而不脱离本发明的精神和范围。

参考附图之图1至图4，依据本发明的一优选实施例的摄像模组10的像面倾斜的获取方法被阐明，其中所述摄像模组10包括一感光芯片11和一光学镜头12，所述光学镜头12被设置于所述感光芯片11的感光路径，被物体反射的光线通过所述光学镜头12进入所述摄像模组10内部并被所述感光芯片11接收和进行光电转化，从而在后续所述摄像模组10生成与该物体相关的影像(例如视频或者图像)。

值得一提的是，所述摄像模组10的成像品质一方面受限于所述摄像模组10的像素数量，另一方面受限于所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的平整度。可以理解的是，在所述摄像模组10的像素数量一定的情况下，所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的平整度越好，则所述摄像模组10的成像品质越高，所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间存在像面倾斜并且倾斜的角度越大，则所述摄像模组10的成像品质越受到影响。换言之，所述摄像模组10的成像品质与所述摄像模组10的所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的平整度呈正相关，因此，在所述摄像模组10被制造的过程中，测试所述摄像模组10的所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的像面倾斜和调整所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的像面倾斜，使存在于所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的像面倾斜被控制在可被接收的范围内，对于所述摄像模组10的成像品质具有至关重要的作用。

本发明提供一立体标版20以用于在所述摄像模组10的制造过程中辅助测试所述摄像模组10的所述感光芯片11的像面和所述光学镜头12的像面之间的像面倾斜，并且所述摄像模组10拍摄的所述立体标版20的图像能够用于在后续评价所述摄像模组10的解像力，从而通过拟合所述摄像模组10的离焦曲线，来计算所述摄像模组10的像面倾斜，以在后续基于计算获得的所述摄像模组10的像面倾斜的量来调整所述摄像模组10的像面倾斜。所述立体标版20提供具有深度信息的多个测试图案210，以在后续供所述摄像模组10通过拍摄所述立体标版20的方式获得与具有深度信息的所述测试图案210相关的具有景物深度信息的图像。在本发明的这个具体的示例中，所述立体标版20包括至少两标版层21，每个所述标版层21分别具有至少一个所述测试图案210，并且因为每个所述标版层21均不共面，因此，使得所述立体标版20提供的所述测试图案210具有不同的深度。值得一提的是，所述测试图案210的类型不受限制，例如所述测试图案210能够被实施为“一”字形、“十”字形等任何能够评价所述摄像模组10的解像力的图案，在本发明的这个具体的示例中，所述测试图案210被优选为“十”字形测试图案210，以减少在评价所述摄像模组10的解像力的过程中，同层相邻所述测试图案210或者异层相邻所述测试图案210之间出现相互干涉的现象。并且可以理解的是,各层所述测试图案210沿着深度方向不重叠,而是错位地布置,从而这些测试图案210之间不会互相影响。

本领域的技术人员能够理解，在测试和计算所述摄像模组10的像面倾斜的过程中，精度和效率是同等重要的。现有技术的用于测试所述摄像模组10的像面倾斜的方式的效率和精度都比较低，无法满足具有高像素和高品质的所述摄像模组10的测试和调整需要。现有技术的用于测试所述摄像模组10的像面倾斜的方式是通过多次改变所述摄像模组10与所述立体标版20之间的位置或者所述摄像模组10的所述感光芯片11和所述光学镜头12之间的位置实现的，在改变其位置的过程中必然消耗一定的时间，这是导致所述摄像模组10的像面倾斜被测试的效率比较低的重要原因，而且改变其位置难以保证其精度。另外，在使用立体标版时，用于测试所述摄像模组10的像面倾斜的过程主要依赖于所述立体标版20的具有深度信息的所述测试图案210，而由于作为介质层的所述标版层21的限制，导致所述摄像模组10在拍摄被所述标版层21承载的所述测试图案210的图像时，越是远离所述摄像模组10的所述测试图案210被所述摄像模组10拍摄获得的图像的对比度越弱，如图3所示，更为重要的是，因为所述摄像模组10采集的所述测试图案210的数量较少而造成在拟合所述摄像模组10的离焦曲线时出现拟合精度低的问题，以至于使得现有技术的用于测试所述摄像模组10的像面倾斜的精度和效率都比较低，从而使得现有技术的用于测试所述摄像模组10的像面倾斜的方式不适用于具有高像素和高品质的所述摄像模组对于像面倾斜的测试需要。

在本发明中，所述立体标版20具有拟合步长，本发明的所述立体标版20的拟合步长指的是相邻两层所述标版层21的成像的离焦量，如图2所示。具体地说，设所述立体标版20的所述标版层21的层数参数为n，并且定义所述摄像模组10在拍摄所述立体标版20的图像时距离所述光学镜头12最远的一层所述标版层21为所述立体标版20的第一层所述标版层21，即n＝1，设所述立体标版20的拟合步长参数为L，设所述摄像模组10的焦距参数为f，所述立体标版20的拟合步长L与所述摄像模组10的焦距参数f满足函数表达式：L_j-1＝f_j-f_j-1，如L₁＝f₂-f₁，其中j表示所述立体标版20的第j个拟合步长对应的所述摄像模组10的第j个离焦量，因此，可以理解的是，j的取值范围是：1≤j≤n。值得一提的是，在本发明的一个实施方式中，所述立体标版20的所有所述标版层21之间的拟合步长为等步长，即从L₁到L_j为等步长，在本发明的另一个实施方式中，所述立体标版20的所有所述标版层21之间的拟合步长也可以为不等步长，即从L₁到L_j为不等步长，其根据所述摄像模组10的测试需要被设置和提供，因此，本发明在这方面可以不受限制。

如图4所示是根据本发明的所述摄像模组10的像面倾斜的获取流程400。

在阶段401：确定所述摄像模组10所需的拟合精度。本领域的技术人员能够理解，具有不同像素和不同品质的所述摄像模组10对于所需的拟合精度的要求不同，一般情况下，所述摄像模组10的成像品质被要求越高，所述摄像模组10所需的拟合精度越高，因此，当所述摄像模组10的类型被确定之后，所述摄像模组10所需的拟合精度也随之确定。

在阶段402，根据所述立体标版20的拟合步长和所述摄像模组10所需的拟合精度确定插值步骤。本领域的技术人员能够理解，所述摄像模组10所需的拟合精度的离焦量会大于或者小于所述立体标版20的拟合步长，因此，在通过所述摄像模组10拍摄所述立体标版20的图像之间需要判断在获取所述摄像模组10的像面倾斜时是否需要进行插值操作。换句话说，当所述摄像模组10所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版20的拟合步长时，所述摄像模组10不需要被进行插值操作，即所述摄像模组10直接采集所述立体标版20的所述测试图案210的图像以在后续进行离焦曲线拟合和像面倾斜计算，当所述摄像模组10所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版20的拟合步长时，所述摄像模组10需要被进行插值操作。例如在一个具体的实施方式中，设所述摄像模组10所需的拟合精度的后焦位置的离焦量参数为S，被进行所述插值操作后的所述摄像模组10所需的拟合精度的后焦位置的离焦量为L_n，本领域的技术人员能够理解，本发明的插值操作的基本原则为L_n≤S，插值操作实现的方法是改变所述摄像模组10的所述感光芯片11和所述光学镜头12以及所述立体标版20中的至少两个的相对位置，即移动所述摄像模组10的所述感光芯片11和所述光学镜头12以及所述立体标版20中的至少一个，如图1所示，所述摄像模组10的所述感光芯片11、所述光学镜头12以及所述立体标版20被移动的距离根据所述摄像模组10所需的拟合精度的后焦位置的离焦量需求进行计算。本领域的技术人员还能够理解，在进行插值操作时可以为等步长，也可以根据需要进行离焦曲线在某一段离焦量范围内后焦位置的离焦量较小，其余范围后焦位置的离焦量较大。

在阶段403，通过采集所述立体标版20的所述测试图案210的图案获得所述摄像模组10的解像力数据。在插值步骤确定之后，在调整所述摄像模组10的所述感光芯片11、所述光学镜头12和所述立体标版20的位置之后采集，通过所述摄像模组10拍摄所述立体标版20，以获得被所述立体标版20提供的具有深度信息的所述测试图案210的图像，从而得到所述摄像模组10的解像力数据。

在阶段404，进行插值计算和拟合离所述摄像模组10的离焦曲线。根据所述摄像模组10采集的所述测试图案210的图像，计算所述摄像模组10的成像清晰度，将每一个离焦量位置的图像清晰度计算出来，可以得到如图5所示的所述摄像模组10的离焦曲线。图6是根据图5进行多次拟合和平滑处理后的所述摄像模组10的离焦曲线，本领域的技术人员可以理解的是，图6示出的所述摄像模组10在被拟合和平滑后得到的离焦曲线仅为一个示例性的描述，所述立体标版20的所述标版层21的实际层数以及对应的后焦位置的离焦量需要根据实际的需要进行涉及。另外，图7为在图6的基础上进行插值计算后得到的所述摄像模组10的离焦曲线。

在阶段405，定义所述立体标版20的每个所述标版层21的解像力灰度系数。本领域的技术人员能够理解，受限于所述立体标版20的作为介质层的所述标版层21，所述摄像模组10采集的被所述标版层21承载的所述测试图案210由于其深度的位置而导致对比度存在差异，如图2所示，越是远离所述摄像模组10的所述光学镜头12的所述测试图案210，在被所述摄像模组10拍摄后生成的与所述测试图案210相关的图像的对比度越弱。现有技术是对所述摄像模组10拍摄的所述立体标版20后生成的与所述测试图案210相关的图像直接进行离焦曲线的拟合，导致其精度较差。在本发明中，在对所述摄像模组10的离焦曲线进行拟合之前，根据所述立体标版20的所述标版层21所在的位置分别加乘不同的灰度系数，以使所述摄像模组10生成的与不同深度的所述测试图案210相关的图像的对比度一致。值得一提的是，设被加乘的灰度系数参数是C，设所述标版层21的层数参数为i，被加乘的灰度系数是关于经过所述标版层21的层数的函数，即C_i＝F(i)，其中C_i为第i层所述标版层21的灰度系数，图8为在图7的基础上，对所述立体标版20的不同层的所述测试图案210进行加乘灰度系数后得到的所述摄像模组10的离焦曲线。

值得一提的是，当所述摄像模组10的离焦曲线被拟合完成之后，可以获得所述摄像模组10的像面倾斜。因此，如图9所示，本发明提供了一摄像模组10的像面倾斜的获取方法，其中所述后去方法包括如下步骤：

(a)判断在获取所述摄像模组10的像面倾斜时是否需要进行插值操作。

(b)通过所述摄像模组10拍摄一立体标版20的测试图案210，以获得所述摄像模组10的解像力数据。当所述摄像模组10所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版20的拟合步长时，所述摄像模组10拍摄所述立体标版20以获得所述立体标版20的所述测试图案210的图像，当所述摄像模组10所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版20的拟合步长时，所述摄像模组10被进行所述插值操作后拍摄所述立体标版20以获得所述立体标版20的所述测试图案210的图像。

(c)根据所述摄像模组10的解像力数据，获得所述摄像模组10的像面倾斜。

优选地，在所述步骤(a)之前还包括步骤：

(d)根据所述摄像模组10所需的拟合精度和所述立体标版20的拟合步长，获得对所述摄像模组10进行所述插值操作的步骤。

优选地，在所述步骤(c)中还包括步骤：

(c.1)根据所述摄像模组10的解像力数据，获得所述摄像模组10在每个离焦位置的成像清晰度；和

(c.2)拟合所述摄像模组10的离焦曲线，以获得所述摄像模组10的像面倾斜。

优选地，在所述步骤(c)之前还包括步骤：

(e)根据所述测试图案210在所述立体标版20中所处的层数，对处于不同深度的所述测试图案210分别加乘灰度系数。设被加乘的灰度系数参数为C，被进行灰度系数加乘的所述测试图案210在所述立体标版20中所处的层数参数为i，其中被加乘的灰度系数是关于所述测试图案210在所述立体标版20中所处的层数的函数：C_i＝F(i)。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本发明的实施例只作为举例而并不限制本发明。本发明的目的已经完整并有效地实现。本发明的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本发明的实施方式可以有任何变形或修改。

Claims (22)

1.一摄像模组的像面倾斜的获取方法，其特征在于，包括步骤：

(a)判断在获取所述摄像模组的像面倾斜时是否需要进行插值操作；

(b)通过所述摄像模组拍摄一立体标版的测试图案，以获得所述摄像模组的解像力数据；以及

(c)根据所述摄像模组的解像力数据，获得所述摄像模组的像面倾斜。

2.根据权利要求1所述的获取方法，其中在所述步骤(a)之前还包括步骤：

(d)根据所述摄像模组所需的拟合精度和所述立体标版的拟合步长，获得对所述摄像模组进行所述插值操作的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其中在所述步骤(c)中还包括步骤：

(c.1)根据所述摄像模组的解像力数据，获得所述摄像模组在每个离焦位置的成像清晰度；和

(c.2)拟合所述摄像模组的离焦曲线，以获得所述摄像模组的像面倾斜。

4.根据权利要求2所述的方法，其中在所述步骤(c)中还包括步骤：

(c.1)根据所述摄像模组的解像力数据，获得所述摄像模组在每个离焦位置的成像清晰度；和

(c.2)拟合所述摄像模组的离焦曲线，以获得所述摄像模组的像面倾斜。

5.根据权利要求1、2或3中任一所述的方法，在所述步骤(c)之前还包括步骤：

(e)根据所述测试图案在所述立体标版中所处的层数，对处于不同深度的所述测试图案分别加乘灰度系数。

6.根据权利要求4所述的方法，在所述步骤(c)之前还包括步骤：

(e)根据所述测试图案在所述立体标版中所处的层数，对处于不同深度的所述测试图案分别加乘灰度系数。

7.根据权利要求6所述的方法，其中设被加乘的灰度系数参数为C，被进行灰度系数加乘的所述测试图案在所述立体标版中所处的层数参数为i，其中被加乘的灰度系数是关于所述测试图案在所述立体标版中所处的层数的函数：C_i＝F(i)。

8.根据权利要求6所述的方法，其中在所述步骤(b)中，当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组拍摄所述立体标版以获得所述立体标版的所述测试图案的图像，当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组需要进行所述插值操作。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述立体标版包括至少两标版层，每个所述标版层分别设有至少一个所述测试图案，以使所述立体标版提供具有深度信息的所述测试图案，其中所述立体标版的拟合步长是相邻所述标版层之间的距离。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述测试图案是“十”字形测试图案。

11.根据权利要求9所述的方法，其中各层所述测试图案沿着深度方向不重叠。

12.根据权利要求9所述的方法，其中所述立体标版的各个拟合步长为等步长或不等步长，在所述插值操作中的步长为等步长或不等步长。

13.根据权利要求1至4以及6-12中任一所述的方法，其中所述摄像模组包括一感光芯片和被设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，其中所述插值操作是改变所述摄像模组的所述感光芯片和所述光学镜头以及所述立体标版中的至少两个的相对位置。

14.根据权利要求1至4以及6-12中任一所述的方法，其中所述摄像模组包括一感光芯片和被设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，其中在所述插值操作藉由移动所述感光芯片、所述光学镜头以及所述立体标版中的至少其中一个来实现。

15.一摄像模组的像面倾斜调整方法，其特征在于，所述方法藉由一立体标版来实现，所述立体标版包括沿着深度方向布置的多层标版层，各层所述标版层具有至少一测试图案，并且相邻两层所述标版层之间具有预设的拟合步长，其中所述方法包括步骤：

(A)判断是否需要进行插值操作：当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量大于所述立体标版的所述拟合步长时，不需要进行所述插值操作；当所述摄像模组所需的拟合精度的离焦量小于所述立体标版的拟合步长时，所述摄像模组需要进行所述插值操作；

(B)所述摄像模组拍摄所述立体标版以获得所述立体标版的所述测试图案的图像并且根据所述步骤(A)的判断结果决定是否执行所述插值操作；

(C)根据所述步骤(B)采集到的所述图像的信息计算得到不同离焦量对应的成像清晰度数据并且拟合离焦曲线，根据所述离焦曲线计算得到所述感光芯片的像面倾斜数据；以及

(D)基于所述步骤(C)得到的所述像面倾斜数据对所述摄像模组进行校正。

16.根据权利要求15所述的方法，其中还包括步骤：根据所述测试图案在所述立体标版中所处的层数，对处于不同深度的所述测试图案分别加乘灰度系数。

17.根据权利要求16所述的方法，其中设被加乘的灰度系数参数为C，被进行灰度系数加乘的所述测试图案在所述立体标版中所处的层数参数为i，其中被加乘的灰度系数是关于所述测试图案在所述立体标版中所处的层数的函数：C_i＝F(i)。

18.根据权利要求15至17中任一所述的方法，其中所述立体标版相邻两层所述标版层之间的所述拟合步长为等步长或不等步长，在所述插值操作中的步长为等步长或不等步长。

19.根据权利要求15至17中任一所述的方法，其中所述立体标版的各层所述测试图案沿着深度方向不重叠。

20.根据权利要求15至17中任一所述的方法，其中所述测试图案是“十”字形测试图案。

21.根据权利要求15至17中任一所述的方法，其中所述摄像模组包括一感光芯片和被设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，其中所述插值操作藉由移动所述感光芯片、所述光学镜头以及所述立体标版中的至少其中一个来实现。

22.一摄像模组，其特征在于，包括一感光芯片和设置于所述感光芯片的感光路径的一光学镜头，并且通过权利要求15至21中任一所述的方法对所述感光芯片和所述光学镜头进行像面倾斜的校正而制得。