CN106802386A - 一种具有叠层母排的低感测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种具有叠层母排的低感测试设备，包括电流传感器、穿过电极、外壳电极和吸收电容，穿过电极从电流传感器中间穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极连接外壳电极一端，外壳电极另一端作为测试设备的另一个端口，并且外壳电极端部与穿过电极端部平行。本发明的外壳电极端部与穿过电极端部平行，这样能够有效减小测试设备的寄生电感，提高测试的准确度。

Description

一种具有叠层母排的低感测试设备
技术领域
本发明涉及电力电子领域，特别是涉及一种具有叠层母排的低感测试设备。
背景技术
电力电子技术在当今快速发展的工业领域占有非常重要的地位，功率半导体器件作为电力电子技术的代表，已广泛应用于电动汽车，光伏发电，风力发电，工业变频等行业。随着我国工业的崛起，功率半导体器件有着更加广阔的市场前景。
功率半导体器件的电气性能参数是应用工程师非常关注的指标，此指标会作为系统电气设计的依据，往往对设计产品的质量起着至关重要的作用。功率半导体器件的电气性能参数需要借助专业的动、静态测试机构来评价，但目前成熟的动态测试机构寄生电感较大，往往在70nH左右，会直接造成动态参数出现较大偏差，甚至限制了高速开关器件的测试，如SiC器件。
发明内容
发明目的：本发明提供了一种能够有效降低寄生电感的具有叠层母排的低感测试设备。
技术方案：本发明所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：包括电流传感器、穿过电极、外壳电极和吸收电容，穿过电极从电流传感器中间的孔中穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极连接外壳电极一端，外壳电极另一端作为测试设备的另一个端口，并且外壳电极端部与穿过电极端部平行。
进一步，所述外壳电极罩设在电流传感器的局部，这样能够进一步降低测试设备的寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述外壳电极的端部和穿过电极的端部均为扁平形状，这样能够进一步降低测试设备的寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述外壳电极包括分离的第一电极部和第二电极部，第一电极部罩设在电流传感器的上半部，第二电极部罩设在电流传感器的下半部，穿过电极从第一电极部和第二电极部中间穿过。
进一步，所述穿过电极另一端具有多个穿过电极端子，穿过电极端子连接吸收电容的一个电极，这样能够形成多组电流通路，既可以减小电阻，也可以降低寄生电感。
进一步，所述外壳电极一端具有多个外壳电极端子，外壳电极端子连接吸收电容的另一个电极，这样能够形成多组电流通路，既可以减小电阻，也可以降低寄生电感。
进一步，所述穿过电极另一端具有穿过电极端子，穿过电极端子连接吸收电容的一个电极；外壳电极一端具有外壳电极端子，外壳电极端子连接吸收电容的另一个电极；穿过电极端子与外壳电极端子交错设置，这样能够减小电流通路的面积，从而降低寄生电感。
进一步，所述穿过电极一端具有穿过电极端子，外壳电极另一端具有外壳电极端子，穿过电极端子与外壳电极端子交错设置，这样能够减小电流通路的面积，从而降低寄生电感。
进一步，所述电流传感器为皮尔森电流传感器。
进一步，所述外壳电极包括第一电极部和第二电极部，第一电极部和第二电极部之间连接，第一电极部罩设在电流传感器的上半部，第二电极部罩设在电流传感器的下半部，穿过电极从第一电极部和第二电极部中间穿过。
有益效果：本发明公开了一种具有叠层母排的低感测试设备，外壳电极端部与穿过电极端部平行，这样能够有效减小测试设备的寄生电感，提高测试的准确度。
附图说明
图1为采用本发明具体实施方式的测试设备对功率模块进行测试的示意图；
图2为本发明具体实施方式的外壳电极和穿过电极的结构示意图；
图3为本发明具体实施方式的穿过电极的结构示意图；
图4为本发明具体实施方式的外壳电极的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，对本发明的技术方案作进一步的介绍。
本具体实施方式公开了一种具有叠层母排的低感测试设备，如图1所示，包括电流传感器1、穿过电极5、外壳电极4和吸收电容2。
穿过电极5从电流传感器1中间的孔中穿过，如图3所示，穿过电极5包括分置于电流传感器1两侧的穿过电极左端部51和穿过电极右端部52，穿过电极左端部51和穿过电极右端部52均为扁平状，穿过电极左端部51具有一个穿过电极左端子511，穿过电极右端部52具有三个穿过电极右端子521。
外壳电极4罩设在电流传感器1的局部，外壳电极4上设有供穿过电极5穿过的孔，如图2所示。外壳电极4向两侧延伸出外壳电极左端部41和外壳电极右端部42，如图4所示，外壳电极左端部41和外壳电极右端部42均为扁平状，外壳电极左端部41具有一个外壳电极左端子411，外壳电极右端部42具有三个外壳电极右端子421。
如图2所示，穿过电极左端部51与外壳电极左端部41平行正对，穿过电极右端部52与外壳电极右端部42也平行正对，穿过电极左端子511与外壳电极左端子411交错设置，穿过电极右端子521与外壳电极右端子421也交错设置。
穿过电极左端子511作为测试设备的一个端口，用于连接待测试的功率模块3。穿过电极右端子521连接吸收电容2的一个电极，吸收电容2的另一个电极连接外壳电极右端子421，外壳电极左端子411作为测试设备的另一个端口，用于连接待测试的功率模块3。
电流传感器1可采用皮尔森电流传感器。
此外，外壳电极4可以包括分离的第一电极部和第二电极部，第一电极部罩设在电流传感器1的上半部，第二电极部罩设在电流传感器1的下半部，穿过电极5从第一电极部和第二电极部中间穿过。
外壳电极4还可以包括第一电极部和第二电极部，第一电极部和第二电极部之间连接，第一电极部罩设在电流传感器1的上半部，第二电极部罩设在电流传感器1的下半部，穿过电极5从第一电极部和第二电极部中间穿过。
考虑到爬电距离、电气间隙等电气安全问题，在低感测试设备的不同电极之间以及电极与电流传感器之间均设有绝缘介质，而且绝缘介质的尺寸要大于电极的尺寸，从而增加爬电距离。

Claims (10)

1.一种具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：包括电流传感器、穿过电极、外壳电极和吸收电容，穿过电极从电流传感器中间的孔中穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极连接外壳电极一端，外壳电极另一端作为测试设备的另一个端口，并且外壳电极端部与穿过电极端部平行。
2.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极罩设在电流传感器的局部。
3.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极的端部和穿过电极的端部均为扁平形状。
4.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极包括分离的第一电极部和第二电极部，第一电极部罩设在电流传感器的上半部，第二电极部罩设在电流传感器的下半部，穿过电极从第一电极部和第二电极部中间穿过。
5.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述穿过电极另一端具有多个穿过电极端子，穿过电极端子连接吸收电容的一个电极。
6.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极一端具有多个外壳电极端子，外壳电极端子连接吸收电容的另一个电极。
7.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述穿过电极另一端具有穿过电极端子，穿过电极端子连接吸收电容的一个电极；外壳电极一端具有外壳电极端子，外壳电极端子连接吸收电容的另一个电极；穿过电极端子与外壳电极端子交错设置。
8.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述穿过电极一端具有穿过电极端子，外壳电极另一端具有外壳电极端子，穿过电极端子与外壳电极端子交错设置。
9.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述电流传感器为皮尔森电流传感器。
10.根据权利要求1所述的具有叠层母排的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极包括第一电极部和第二电极部，第一电极部和第二电极部之间连接，第一电极部罩设在电流传感器的上半部，第二电极部罩设在电流传感器的下半部，穿过电极从第一电极部和第二电极部中间穿过。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111562479A (zh) * 2020-05-15 2020-08-21 华北电力大学 一种功率半导体器件的高低温动态特性远程测试系统
US11307247B2 (en) 2019-01-31 2022-04-19 Infineon Technologies Ag Prober with busbar mechanism for testing a device under test
WO2024004988A1 (ja) * 2022-06-28 2024-01-04 ニデックアドバンステクノロジー株式会社 検査治具、及び検査装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101344572A (zh) * 2008-09-04 2009-01-14 铁道部运输局 一种半导体功率器件斩波测试电路及方法
CN102064161A (zh) * 2010-11-12 2011-05-18 嘉兴斯达微电子有限公司 一种最优化的智能功率模块的功率封装结构
CN204832440U (zh) * 2015-07-13 2015-12-02 许继电气股份有限公司 一种igbt串并联测试系统
JP2016011952A (ja) * 2014-06-04 2016-01-21 株式会社Ｔｏｐ パワー半導体用試験装置
CN206546411U (zh) * 2017-02-27 2017-10-10 扬州国扬电子有限公司 一种具有叠层母排的低感测试设备

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101344572A (zh) * 2008-09-04 2009-01-14 铁道部运输局 一种半导体功率器件斩波测试电路及方法
CN102064161A (zh) * 2010-11-12 2011-05-18 嘉兴斯达微电子有限公司 一种最优化的智能功率模块的功率封装结构
JP2016011952A (ja) * 2014-06-04 2016-01-21 株式会社Ｔｏｐ パワー半導体用試験装置
CN204832440U (zh) * 2015-07-13 2015-12-02 许继电气股份有限公司 一种igbt串并联测试系统
CN206546411U (zh) * 2017-02-27 2017-10-10 扬州国扬电子有限公司 一种具有叠层母排的低感测试设备

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11307247B2 (en) 2019-01-31 2022-04-19 Infineon Technologies Ag Prober with busbar mechanism for testing a device under test
CN111562479A (zh) * 2020-05-15 2020-08-21 华北电力大学 一种功率半导体器件的高低温动态特性远程测试系统
CN111562479B (zh) * 2020-05-15 2021-04-23 华北电力大学 一种功率半导体器件的高低温动态特性远程测试系统
WO2024004988A1 (ja) * 2022-06-28 2024-01-04 ニデックアドバンステクノロジー株式会社 検査治具、及び検査装置

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