CN206584012U - 一种低感测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种低感测试设备，包括电流传感器、穿过电极、外壳电极、吸收电容、上连接板和下连接板；穿过电极从电流传感器中间的孔中穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端通过下连接板连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极通过上连接板连接外壳电极的一端，外壳电极的另一端作为测试设备的另一个端口。本实用新型能够有效降低寄生电感，提高测试的准确度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电力电子领域，特别是涉及一种低感测试设备。
背景技术
电力电子技术在当今快速发展的工业领域占有非常重要的地位，功率半导体器件作为电力电子技术的代表，已广泛应用于电动汽车，光伏发电，风力发电，工业变频等行业。随着我国工业的崛起，功率半导体器件有着更加广阔的市场前景。
功率半导体器件的电气性能参数是应用工程师非常关注的指标，此指标会作为系统电气设计的依据，往往对设计产品的质量起着至关重要的作用。功率半导体器件的电气性能参数需要借助专业的动、静态测试机构来评价，但目前成熟的动态测试机构寄生电感较大，往往在70nH左右，会直接造成动态参数出现较大偏差，甚至限制了高速开关器件的测试，如SiC器件。
实用新型内容
实用新型目的：本实用新型提供了一种能够有效降低寄生电感的低感测试设备。
技术方案：本实用新型所述的低感测试设备，包括电流传感器、穿过电极、外壳电极、吸收电容、上连接板和下连接板；穿过电极从电流传感器中间的孔中穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端通过下连接板连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极通过上连接板连接外壳电极的一端，外壳电极的另一端作为测试设备的另一个端口。
进一步，还包括设于上连接板上方的上绝缘压柱和设于下连接板下方的下绝缘压柱；上绝缘压柱向下压住上连接板，下绝缘压柱向上顶住下连接板。这样能够使上连接板与外壳电极一端、吸收电容的另一个电极均充分接触，下连接板与穿过电极另一端、吸收电容的一个电极均充分接触，进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述上绝缘压柱和下绝缘压柱之间通过螺栓连接，螺栓贯穿上连接板和下连接板，且螺栓与上连接板、下连接板均不接触。这样通过螺栓就能使上连接板与外壳电极一端、吸收电容的另一个电极均充分接触，下连接板与穿过电极另一端、吸收电容的一个电极均充分接触，进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。并且，螺栓与上连接板、下连接板均不接触，这样也不会使得上连接板和下连接板被导通。
进一步，所述外壳电极端部与穿过电极端部平行，这样能够进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述外壳电极罩设在电流传感器的局部，这样能够进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述电流传感器仅有引线端露在外面，电流传感器其他部位均被外壳电极罩住。这样能够更进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述吸收电容的两个电极平行，这样能够进一步降低寄生电感，提高测试的准确度。
进一步，所述吸收电容的两个电极设于吸收电容一侧的中间，这样不仅能够进一步降低寄生电感，提高测试的准确度，还能够方便测试，分别对上半桥和下半桥进行测试时不用翻转吸收电容。
进一步，所述穿过电极位于电流传感器中间的部分为圆柱状，这样能够减小穿过电极与外壳电极之间的距离，从而能够有效降低寄生电感，提高测试的准确度。
有益效果：本实用新型公开了一种低感测试设备，穿过电极的另一端通过下连接板连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极通过上连接板连接外壳电极的一端，这样能够使穿过电极的另一端与吸收电容的一个电极更好地连接，吸收电容的另一个电极与外壳电极的一端也更好地连接，从而能够有效降低寄生电感，提高测试的准确度。
附图说明
图1为本实用新型具体实施方式的测试设备的结构示意图；
图2为本实用新型具体实施方式的测试设备的上下拆分结构示意图；
图3为本实用新型具体实施方式的测试设备的左右拆分结构示意图；
图4为本实用新型具体实施方式的测试设备的外壳电极的结构示意图；
图5为本实用新型具体实施方式的测试设备的穿过电极的结构示意图；
图6为本实用新型具体实施方式的测试设备的吸收电容的结构示意图；
图7为图6中A处的放大图；
图8为本实用新型具体实施方式的测试设备的吸收电容的内部结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，对本实用新型的技术方案作进一步的介绍。
本具体实施方式公开了一种低感测试设备，如图1和图2所示，包括电流传感器1、吸收电容2、外壳电极3、穿过电极4、上连接板51、下连接板52、第一上绝缘压柱61、第二上绝缘压柱62、第一下绝缘压柱63和第二下绝缘压柱64。
外壳电极3包括左电极部31和右电极部32，左电极部31和右电极部32通过螺丝固定，如图3和图4所示，外壳电极3罩设在电流传感器1外侧，并且外壳电极3只有一处开口33，如图4所示，外壳电极3其他部位均封闭。如图4所示，左电极部31向左延伸出外壳电极左端部311，外壳电极左端部311上设有贯穿的外壳电极通孔3111，右电极部32向右延伸出外壳电极右端部321。
穿过电极4从电流传感器1中间的孔中穿过，穿过电极4包括位于电流传感器1中间的圆柱状的穿过电极中间部43，如图5所示，穿过电极4还包括位于电流传感器1左侧的穿过电极左端部41以及位于电流传感器1右侧的穿过电极右端部42。穿过电极左端部41上设有贯穿的穿过电极通孔411。
吸收电容2包括上极板23、下极板24和电容芯组25，电容芯组25位于上极板23和下极板24之间，如图8所示，下极板24向一侧延伸出第一电极21，上极板23先向下极板24方向垂直弯折，再垂直于弯折面延伸出第二电极22，如图6、图7和图8所示，第一电极21与第二电极22平行。此外，第一电极21上还设有贯穿的第一电极通孔211，如图6所示，第二电极22上也设有贯穿的第二电极通孔(图未示)。
外壳电极3、穿过电极4和电流传感器1三者不接触。穿过电极右端部42作为测试设备的一个端口，用于连接待测试的功率模块8，如图2所示，穿过电极左端部41通过下连接板52连接第二电极22，第一电极21通过上连接板51连接外壳电极左端部311，外壳电极右端部321作为测试设备的另一个端口，用于连接待测试的功率模块8。上连接板51上设有贯穿的上连接孔511，如图2所示。同理，下连接板52上也设有下连接孔(图未示)。此外，上连接板51上方还设有第一上绝缘压柱61和第二上绝缘压柱62，下连接板52下方还设有第一下绝缘压柱63和第二下绝缘压柱64，其中第一上绝缘压柱61与第一下绝缘压柱63平行正对，构成第一组绝缘压柱；第二上绝缘压柱62与第二下绝缘压柱64也平行正对，构成第二组绝缘压柱。通过两组螺栓自下而上将两组绝缘压柱分别固定，使得下连接板52与穿过电极左端部41、第二电极22均充分接触，上连接板51与外壳电极左端部311、第一电极21均充分接触。其中，第一组螺栓71用于固定第一上绝缘压柱61与第一下绝缘压柱63，第二组螺栓72用于固定第二上绝缘压柱62与第二下绝缘压柱64，如图2所示。第一组螺栓71依次从第一下绝缘压柱63、下连接孔(图未示)、第二电极通孔(图未示)、第一电极通孔211、上连接孔511和第一上绝缘压柱61中穿过，并且，第一组螺栓71与下连接孔(图未示)、第二电极通孔(图未示)、第一电极通孔211和上连接孔511均不接触。第二组螺栓72依次从第二下绝缘压柱64、下连接孔(图未示)、穿过电极通孔411、外壳电极通孔3111、上连接孔511和第二上绝缘压柱62中穿过，并且，第二组螺栓72与下连接孔(图未示)、穿过电极通孔411、外壳电极通孔3111和上连接孔511均不接触。
考虑到爬电距离、电气间隙等电气安全问题，在低感测试设备的不同电极之间以及电极与电流传感器之间均设有绝缘介质，而且绝缘介质的尺寸要大于电极的尺寸，从而增加爬电距离。
Claims (9)
1.一种低感测试设备，其特征在于：包括电流传感器、穿过电极、外壳电极、吸收电容、上连接板和下连接板；穿过电极从电流传感器中间的孔中穿过，外壳电极、穿过电极和电流传感器三者不接触，外壳电极向两侧延伸出端部，穿过电极的一端作为测试设备的一个端口，穿过电极的另一端通过下连接板连接吸收电容的一个电极，吸收电容的另一个电极通过上连接板连接外壳电极的一端，外壳电极的另一端作为测试设备的另一个端口。
2.根据权利要求1所述的低感测试设备，其特征在于：还包括设于上连接板上方的上绝缘压柱和设于下连接板下方的下绝缘压柱；上绝缘压柱向下压住上连接板，下绝缘压柱向上顶住下连接板。
3.根据权利要求2所述的低感测试设备，其特征在于：所述上绝缘压柱和下绝缘压柱之间通过螺栓连接，螺栓贯穿上连接板和下连接板，且螺栓与上连接板、下连接板均不接触。
4.根据权利要求1所述的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极端部与穿过电极端部平行。
5.根据权利要求1所述的低感测试设备，其特征在于：所述外壳电极罩设在电流传感器的局部。
6.根据权利要求5所述的低感测试设备，其特征在于：所述电流传感器仅有引线端露在外面，电流传感器其他部位均被外壳电极罩住。
7.根据权利要求1所述的低感测试设备，其特征在于：所述吸收电容的两个电极平行。
8.根据权利要求7所述的低感测试设备，其特征在于：所述吸收电容的两个电极设于吸收电容一侧的中间。
9.根据权利要求1所述的低感测试设备，其特征在于：所述穿过电极位于电流传感器中间的部分为圆柱状。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720177336.4U CN206584012U (zh) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | 一种低感测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720177336.4U CN206584012U (zh) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | 一种低感测试设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206584012U true CN206584012U (zh) | 2017-10-24 |
Family
ID=60092437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201720177336.4U Active CN206584012U (zh) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | 一种低感测试设备 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN206584012U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106802387A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-06 | 扬州国扬电子有限公司 | 一种低感测试设备 |
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2017
- 2017-02-27 CN CN201720177336.4U patent/CN206584012U/zh active Active
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| CN106802387A (zh) * | 2017-02-27 | 2017-06-06 | 扬州国扬电子有限公司 | 一种低感测试设备 |
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