一种大提花面料纹版自动复制的系统和方法
技术领域
本发明涉及一种大提花面料的系统和方法,具体涉及一种大提花面料版纹自动复制的系统方法。
背景技术
提花织物是利用各色的经纱和纬纱编织而形成具有图案的织物,提花织物的图案主要由经纱的提升和不提升的不同组合而获得。提花机是织造提花织物的机电一体化设备,它通过控制各种颜色的经纱的沉浮和梭子的动作实现提花织造。
国内对于提花工艺过程中的问题研究已有较长的时间,随着计算机技术的加入,提花纺织的纹织信息不再是由人工使用打孔纸板进行操作,取而代之是计算机的CAD技术。目前国内较为常见的国产的CAD软件最为突出的是由浙大经纬计算机系统工程有限公司开发的纺织类CAD,根据其提供软件技术可分为四类24款软件。
对于传统的提花纺织工艺流程,一般由计算机辅助设计系统和电子提花机的机电控制系统两大部分组成,并且这两个部分是以纹织信息文件作为接口码,从而可以实现协同作用。其中计算机辅助设计系统包含的基本流程有:图像及其粉色处理、工艺设计、计算机织物模拟和纹版生成。
纹版图是控制综框运动规律的图解,它是多臂开口机构植纹钉的依据。此种方法绘图方便、校对简捷,所以工厂尤其是色织厂,一般采用此法。纹版图中每一纵行表示对应的一页(列)综片,其顺序是自左向右,其纵行数等于综页(列)数。每一横行表示一块纹版(单动式多臂织机)或一排纹钉孔(复列式多臂织机)。其横行数等于组织图中的纬纱根数。纹版图的画法是:根据组织图中经纱穿入综片的次序依次按该经纱组织点交错规律填入纹版图对应的纵行中。在定植纹钉时,考虑减少经纱开口张力及操作方便,应使用机前部分的纹钉。
目前对面料的纹版都是利用提花纹织CAD系统进行扫描、人工描稿、人工针对当前面料分析组织、人工将组织铺设到描好的图像各色块上。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种大提花面料纹版自动复制的系统和方法,以克服现有技术中人工量大,制作周期长的缺陷。
为了实现上述目的或者其他目的,本发明是通过以下技术方案实现的。
本发明公开了一种大提花面料纹版自动复制的系统,所述系统包括
大提花面料组织图像信息采集模块,用于控制组织图像信息采集装置采集大提花面料中一个完整的循环组织的图像;
图像识别模块,接收图像并识别图像中一个完整的循环组织包含的组织结构信息;
自动提花纹织物CAD模块,接收和分析组织结构信息生成并输出大提花面料纹版。
优选地,所述组织结构信息包括大提花面料的一个完整循环组织的宽度和高度以及一个完整循环组织的经纱根数、一个完整循环组织的纬纱根数、组织枚数和组织点数。
优选地,所述组织结构信息还包括间隔根数。
优选地,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
优选地,所述组织图像信息采集装置为高精度扫描仪。
本发明公开了一种大提花面料纹版自动复制的方法,所述方法包括如下步骤:
采集大提花面料中一个完整的循环组织的图像;
识别图像中一个完整的循环组织包含的组织结构信息;
接收和分析组织结构信息并输出大提花面料纹版。
优选地,上述方法中,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
优选地,上述方法中,采集图像时使用高精度扫描仪,并按照经纱密度的5倍的分辨率进行扫描。
优选地,上述方法中,所述大提花面料为单色经纱和单色纬纱。
优选地,上述方法中,所述组织结构信息包括大提花面料的宽度和高度以及大提花面料每一个组织的经纱根数、纬纱根数、组织枚数、间隔根数和组织点数。
优选地,在上述方法中,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
本发明中宽度方向上对应的经线根数,高度方向上对应的是纬线根数。
优选地,将目标大提花面料按照经纱垂直、纬纱水平的原则平整铺放到高精度扫描仪的玻璃板上。
单色经纱组织和单色纬纱组织,从面料正面都能完全显示出组织的特征,根据纹织的规律分析,辅以经纱密度和纬纱密度信息可以分析出组织结构。系统根据经纱根数、纬纱根数、经纱密度、纬纱密度和一个循环组织的循环尺寸获得循环根数以此确定枚数,根据经纱密度、纬纱密度以及相邻的两个相同组织点间距可以分析出来间隔根数即飞数。根据经纱密度、纬纱密度及每个组织图像上的每个组织点所占循环中的比例即可分析出组织点数。
本发明中所述经纱根数和纬纱根数可以根据组织图像信息获得。自动识别模块根据组织方法不同显示的图像特征也是不同的原理进行区分识别。
本发明提供了一种可以替代纹织设计人员描稿、纹版制作等繁琐复杂工作而实现自动处理生成纹版的方法。利用高精度扫描仪,使用专业图像识别技术,结合自动纹版生成CAD程序系统,使以往的描稿、人工组织分析、图像描稿、纹版制作等传统多道人工工序进行替代,具有省时省力、准确、高效率的优势。本发明可以将一个传统纹版的制作时间由一到三天,降低到十到三十分钟。
附图说明
图1为本发明中基于CAD系统进行纹版制作时大提花面料纹版自动复制系统的示意图。
图2为本发明中基于CAD系统进行纹版制作时大提花面料纹版自动复制方法的示意图。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。
下面借助具体实施例来描述本发明。在下面的描述中,阐述了许多具体细节以便使所属技术领域的技术人员能够更好地了解本发明。但是,对于所属技术领域内的技术人员来说明显的是,本发明的实现可不具有这些具体细节中的一些。此外,应当理解的是,本发明并不限于所介绍的特定实施例。相反,可以考虑用下面的特征的任意组合来实施本发明,而无论它们是否涉及不同的实施例。因此,下面的实施例和优点仅作说明之用,而不应被看作是对权利要求的限定,除非在权利要求中明确提出。
如图1所示,本发明实施例中公开了一种大提花面料纹版自动复制的系统,所述系统包括
大提花面料组织图像信息采集装置110,用于采集大提花面料中一个完整的循环组织的图像;
图像识别模块120,接收图像并识别图像中一个完整的循环组织包含的组织结构信息;
自动提花纹织物CAD模块130,接收和分析组织结构信息生成并输出大提花面料纹版。
在一个更为具体的实施例中,所述组织结构信息包括大提花面料的一个完整的循环组织的宽度和高度以及大提花面料每一个组织的经纱根数、每一个组织的纬纱根数、组织枚数、间隔根数和组织点数。
在一个具体的实施例中,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
在一个具体的实施例中,所述组织图像信息采集装置为高精度扫描仪。
如图2所示,本发明实施例还公开了一种大提花面料纹版自动复制的方法,所述方法包括如下步骤:
S110:采集大提花面料中一个完整的循环组织的图像;
S120:识别图像中一个完整的循环组织包含的组织结构信息;
S130:接收和分析组织结构信息并输出大提花面料纹版。
在一个实施例中,上述方法中,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
在一个更为具体的实施例中,上述方法中,采集图像时使用高精度扫描仪,并按照经纱密度的5倍的分辨率进行扫描。
在一个更为具体的实施例中,上述方法中,所述大提花面料为单色经纱和单色纬纱。
在一个更为具体的实施例中,上述方法中,所述组织结构信息包括大提花面料的宽度和高度以及大提花面料每一个组织的经纱根数、纬纱根数、组织枚数、间隔根数和组织点数。
在一个更为具体的实施例中,在上述方法中,所述大提花面料为色织和套染过的大提花面料。
在织物中经纱和纬纱相互交错或彼此沉浮的规律叫织物组织。织物的组织结构是指经纬纱线在织物中的几何形态。在经纬纱相交处,即为组织点(也可称为浮点)。凡经纱浮在纬纱上,称经组织点;凡纬纱浮在经纱上,称纬组织点。当经组织点和纬组织点沉浮规律达到循环时,称为一个组织循环(组织枚数)。组织点飞数是指一个系统中相邻两根纱线上相应组织点的位置关系,即相应经(纬)组织点相距的组织点数。沿经纱方向计算相邻两个组织点间距离的组织点数是经向飞数,沿纬纱方向计算相邻两根纬纱上相应组织点相距的组织数是纬向飞数。
本发明中从宽度方向上看存在多少根经线,从高度方向上看存在多少根纬线。
由一个完整的循环组织的宽度和高度以及整个循环组织里的经纱根数和纬纱根数可以获得整个循环组织的经纱密度和纬纱密度;所获得的经纱密度和纬纱密度均是平均密度。
由经纱密度、纬纱密度和循环组织的循环尺寸计算出循环组织的循环根数即获得组织枚数。由经纱密度、纬纱密度和每种组织点在组织循环内沿着经纱或纬纱方向所占的比例获得组织点数。
优选地,由经纱密度、纬纱密度以及相邻两个相同组织点间距获得间隔根数(也成为飞数)。
在一个具体的实施例中,将目标大提花面料按照经纱垂直、纬纱水平的原则平整铺放到高精度扫描仪的玻璃板上。
单色经纱组织和单色纬纱组织,从面料正面都能完全显示出组织的特征,根据纹织的规律分析,辅以经纱密度和纬纱密度信息可以分析出组织结构。系统根据经纱根数、纬纱根数、经纱密度、纬纱密度和一个循环组织的循环尺寸获得循环根数以此确定枚数,根据经纱密度、纬纱密度以及相邻的两个相同组织点间距可以分析出来间隔根数即飞数。根据经纱密度、纬纱密度及每个组织图像上的每个组织点所占循环中的比例即可分析出组织点数。本发明中所述经纱根数和纬纱根数可以根据组织图像信息获得。自动识别模块根据组织方法不同显示的图像特征也是不同的原理进行区分识别。
本发明提供了一种可以替代纹织设计人员描稿、纹版制作等繁琐复杂工作而实现自动处理生成纹版的方法。利用高精度扫描仪,使用专业图像识别技术,结合自动纹版生成CAD程序系统,使以往的描稿、人工组织分析、图像描稿、纹版制作等传统多道人工工序进行替代,具有省时省力、准确、高效率的优势。本发明可以将一个传统纹版的制作时间由一到三天,降低到十到三十分钟。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。