CN106610862B - 支持eeprom掉电测试的仿真器 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，包括：一EEPROM存储器，一仿真芯片，一机具电源检测模块，一电源模块；所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。本发明能够方便用户程序的开发、调试和测试，提高代码开发效率。

Description

支持EEPROM掉电测试的仿真器
技术领域
本发明涉及仿真器领域，特别是涉及一种支持EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory，电可擦可编程只读存储器)掉电测试的仿真器。
背景技术
处理器芯片内有用户开发的用户程序，在用户程序的编写和调试中，所使用的工具一般是仿真器。仿真器内使用包含产品处理器芯片各项功能的仿真芯片，用于模拟产品处理器芯片的工作行为，仿真芯片与仿真器其他部件(存放用户程序的程序存储器、存放数据的数据存储器，以及用户电脑上的集成开发环境连接等)配合实现用户程序的仿真运行和各项调试功能。
对于含有片内EEPROM的智能卡芯片，现有的仿真器设计中，以仿真芯片替代产品芯片，同时考虑到代码调试过程中会有大量正常和异常写EEPROM的操作，而EEPROM的写寿命较短，一般为十万到数十万次，所以为提高仿真器中仿真芯片的使用寿命，现有仿真芯片内采用SRAM(Static Random Access Memory，静态随机存取存储器)来等效替代产品芯片中的EEPROM存储器，并通过增加等效逻辑尽可能做到与真实EEPROM在访问时序上的等效。
智能卡芯片是通过接触式触点或非接触式的载波从机具供电的，因此在智能卡操作过程中可能会因为机具的原因突然停止供电，即智能卡掉电。EEPROM具有字节读、写、页擦、页写、片擦等功能，且在页写前，必须先做页擦，如果没有完成页擦或没有擦干净(即全页数据为0)，是无法完成页写的。EEPROM的页擦和片擦耗时相对芯片其他功能的操作时间要长很多，而EEPROM擦写的操作在功能代码中又非常多，在擦写过程中发生智能卡掉电的概率很高。如果在EEPROM擦写过程中发生掉电，就会出现EEPROM数据未擦完、数据错误等异常情况，故而程序代码会对EEPROM擦写操作过程中发生掉电进行保护和数据恢复，保障掉电发生后EEPROM数据的正确性。程序中这部分代码就是掉电保护代码，也需要在仿真器上调试和测试其功能正确性。这就要求仿真器尽可能真实地模拟产品芯片中EEPROM檫写时发生掉电的特性，即EEPROM某一页擦时发生掉电，该页内数据部分擦除、数据错误等数据异常情况，程序就可以对所述发生错误的EEPROM页和错误情况进行处理、恢复和重新操作等。但现有仿真器中，仿真芯片使用SRAM替代EEPROM，而SRAM实际不需要进行擦除就可以写入，也没有页的结构，这就造成了无法模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码也无法在仿真器上调试和测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，能够方便用户程序的开发、调试和测试，提高代码开发效率。
为解决上述技术问题，本发明的支持EEPROM掉电测试的仿真器，包括：
一EEPROM存储器；
一仿真芯片，通过标准数据/地址总线与所述EEPROM存储器相连接；对EEPROM存储器进行包括读、写、页擦和片擦在内的所有EEPROM的操作；
一机具电源检测模块，通过复位信号线与所述仿真芯片相连接；
一电源模块，通过电源线与所述EEPROM存储器相连接，通过控制信号线与所述机具电源检测模块相连接；
所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；
所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；
所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。
采用本发明的支持EEPROM掉电测试的仿真器，由于使用外置于仿真芯片之外的EEPROM存储器替代产品芯片的EEPROM，随机具掉电该仿真器内仿真芯片同时停止工作，EEPROM存储器也发生掉电。所述仿真器能够真实模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码可以在仿真器上真实地进行调试和测试。因此，本发明方便了用户程序的开发、调试和测试，有助于提高代码开发效率。同时，由于EEPROM存储器是可替换的独立芯片，在EEPROM芯片擦写寿命用完后也可以进行替换，保证了仿真器的整体使用寿命。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：
图1是所述支持EEPROM掉电测试的仿真器的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，所述支持EEPROM掉电测试的仿真器1在下面的实施例中，包括仿真芯片2，机具电源检测模块3，电源模块4，EEPROM存储器5。所述仿真芯片2通过标准数据/地址总线7与EEPROM存储器5连接，并通过复位信号线8与机具电源检测模块3连接。所述电源模块4通过电源线6与EEPROM存储器5连接，并通过控制信号线9与机具电源检测模块3连接。EEPROM存储器5是独立芯片，可以替换。
在程序调试、测试过程中，所述仿真芯片2能通过标准数据/地址总线7对EEPROM存储器5进行读、写、页擦、片擦等所有EEPROM的操作，完全可以模拟产品芯片中对EEPROM的各种操作。所述机具电源检测模块3能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，所述机具电源检测模块3通过复位信号线8控制仿真芯片2不处于复位状态(正常工作状态)，同时电源检测模块3通过控制信号9控制电源模块4经电源线6向EEPROM存储器5供电，此时仿真芯片2可以正常执行程序，操作EEPROM存储器5和仿真芯片2内的各个功能模块。在机具不供电时(发生掉电)，所述机具电源检测模块3通过复位信号线8控制仿真芯片2进入复位状态(仿真芯片不工作)，通过控制信号9控制电源模块4不再经电源线6向EEPROM存储器5供电，即EEPROM存储器5无电源。此时仿真芯片2不能工作也不能执行程序，模拟了产品芯片发生掉电后的状态，如果机具掉电发生在EEPROM存储器5执行页擦或片擦过程中，由于随机具掉电，机具电源检测模块3也同时控制电源模块4不再向EEPROM存储器5供电，EEPROM存储器就非常真实地模拟出了产品芯片在页擦、片擦时发生掉电的情况。
这样，采用本发明的仿真器就能够真实模拟产品芯片EEPROM擦写时发生掉电的情况，程序中的掉电保护代码可以在仿真器上真实地进行调试和测试了。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明，但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本发明的保护范围。

Claims (3)

1.一种支持EEPROM掉电测试的仿真器，其特征在于，包括：
一EEPROM存储器；
一仿真芯片，通过标准数据/地址总线与所述EEPROM存储器相连接；对EEPROM存储器进行包括读、写、页擦和片擦在内的所有EEPROM的操作；
一机具电源检测模块，通过复位信号线与所述仿真芯片相连接；
一电源模块，通过电源线与所述EEPROM存储器相连接，通过控制信号线与所述机具电源检测模块相连接；
所述机具电源检测模块能自动检测接触式或非接触式机具供电情况，在机具供电时，通过复位信号线控制仿真芯片不处于复位状态，即正常工作状态；
所述机具电源检测模块通过控制信号控制电源模块经电源线向EEPROM存储器供电；
所述机具电源检测模块在机具不供电即发生掉电时，通过复位信号线控制仿真芯片进入复位状态，使仿真芯片不工作；通过控制信号控制电源模块不再经电源线向EEPROM存储器供电，即EEPROM存储器无电源。
2.如权利要求1所述的仿真器，其特征在于：所述EEPROM存储器是独立芯片，能够替换。
3.如权利要求1所述的仿真器，其特征在于：如果机具掉电发生在EEPROM存储器执行页擦或片擦过程中，所述机具电源检测模块也同时控制电源模块不再向EEPROM存储器供电。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108664399A (zh) * 2018-05-10 2018-10-16 上海市信息网络有限公司 处理器芯片仿真器及掉电测试方法
CN109101386B (zh) * 2018-06-26 2021-11-09 北京中电华大电子设计有限责任公司 一种支持ram测试的仿真器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101645014A (zh) * 2008-08-09 2010-02-10 海信（北京）电器有限公司 利用单片机内置flash程序存贮器模拟eeprom的数据存储方法
CN103678067A (zh) * 2013-12-19 2014-03-26 大唐微电子技术有限公司 一种智能卡掉电测试方法、测试设备和被测设备

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100250875A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Silicon Laboratories Inc. Eeprom emulation using flash memory

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101645014A (zh) * 2008-08-09 2010-02-10 海信（北京）电器有限公司 利用单片机内置flash程序存贮器模拟eeprom的数据存储方法
CN103678067A (zh) * 2013-12-19 2014-03-26 大唐微电子技术有限公司 一种智能卡掉电测试方法、测试设备和被测设备

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Design and Implementation for IC Card File System Power-Down Protection;Bin ZHENG等;《2010 International Conference On Computer Design and Applications》;IEEE;20100809;全文 *

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