CN106597198A - 一种检测装置、方法及电子设备 - Google Patents

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CN106597198A CN201611142994.6A CN201611142994A CN106597198A CN 106597198 A CN106597198 A CN 106597198A CN 201611142994 A CN201611142994 A CN 201611142994A CN 106597198 A CN106597198 A CN 106597198A
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Abstract

本发明提供一种检测装置,所述检测装置包括:发送模块、接口模块、及检测模块;发送模块,用于确定需要检测交流电容耦合信号电路的工作状态时,将高电平状态指示信息发送给接口模块;在接口模块的工作状态转化为高电平状态的预设时间段后,将读取状态指示信息发送给接口模块;接口模块,用于收到高电平状态指示信息时,根据高电平状态指示信息将自身的工作状态转化为高电平状态;收到读取状态指示信息时,根据读取状态指示信息将自身的工作状态转化为读取状态;检测模块,用于在接口模块的工作状态转化为读取状态时,检测接口模块的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为延时值,根据延时值及对应的预定延时值确定交流电容耦合信号电路的工作状态。本发明还提供一种检测方法及电子设备。

Description

一种检测装置、方法及电子设备
技术领域
本发明涉及一种测控技术领域,特别是涉及一种检测装置、方法及电子设备。
背景技术
由于在高速信号中,Sink端的直流偏置电压和source端的直流偏置电压不一样,故要采用交流电容耦合信号,所以SATA、PCIE、USB3.0等差分线通常都会串接0.1uf的电容。
基于电容的特性,加入了0.1uf电容的线路,会隔断整条交流电容耦合信号线路,普通检测电路只能检测交流电容耦合信号线路是否有短路,对于交流电容耦合信号线路中是否有缺件、错件及开路的情况则无法检测。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种检测装置、方法及电子设备,用于解决现有技术中无法检测交流电容耦合信号电路中是否有缺件、错件及开路的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种检测装置,包括一交流电容耦合信号电路,所述交流电容耦合信号电路包括一第一电容及一第一电阻,所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置连接,所述第一电容的另一端连接第一电源,所述第一电阻的另一端接地;所述检测装置包括:一发送模块、一接口模块、及一检测模块;其中,
所述发送模块,用于确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的一工作状态时,将一高电平状态指示信息发送给所述接口模块;在所述接口模块的一工作状态转化为一高电平状态的一预设时间段后,将一读取状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块,用于接收到所述高电平状态指示信息时,根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;接收到所述读取状态指示信息时,根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为一读取状态;
所述检测模块,用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块的一工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为一延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
优选地,所述检测模块具体用于:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一开路状态;否则,将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第二延时值进行比较;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一正常状态;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一错件或缺件状态。
优选地,所述检测模块具体用于:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的差值;
将所述差值与一阈值进行比较;
若所述差值小于或等于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述差值大于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
优选地,所述检测模块,还用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后,且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下,确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一短路状态。
基于上述装置,本发明实施例提供了一种检测方法,所述方法包括:所述发送模块确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态时,将所述高电平状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;
所述发送模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述高电平状态的所述预设时间段后,将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态;
所述检测模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为所述延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
优选地,所述根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态,包括:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值进行比较;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
优选地,所述根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态,包括:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的差值;
将所述差值与所述阈值进行比较;
若所述差值小于或等于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述差值大于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
优选地,所述方法还包括:
所述检测模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后,且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下,确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述短路状态。
基于上述装置,本发明实施例还提供了一种电子设备,所述电子设备包括:上述的检测装置。
如上所述,本发明提供的检测装置、方法及电子设备,包括交流电容耦合信号电路,所述交流电容耦合信号电路包括第一电容及第一电阻,所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置连接,所述第一电容的另一端连接第一电源,所述第一电阻的另一端接地;所述检测装置包括:发送模块、接口模块、及检测模块;其中,所述发送模块,用于确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的工作状态时,将高电平状态指示信息发送给所述接口模块;在所述接口模块的工作状态转化为高电平状态的预设时间段后,将读取状态指示信息发送给所述接口模块;所述接口模块,用于接收到所述高电平状态指示信息时,根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;接收到所述读取状态指示信息时,根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为读取状态;所述检测模块,用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。如此,本发明实施例中利用电容的充放电特性,检测所述接口模块的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为延时值,从而能够根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的预定延时值来检测所述交流电容耦合信号电路中是否有缺件、错件及开路的情况。
附图说明
图1显示为本发明提供的检测装置的组成结构示意图;
图2显示为本发明提供的检测方法的实现流程示意图;
图3显示为本发明提供的具体实施例的示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用,本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用,在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是,在不冲突的情况下,以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想,遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制,其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变,且其组件布局型态也可能更为复杂。
下面结合附图及具体实施例对本发明做进一步详细的说明。
本发明实施例提出了一种检测装置,应用于对交流电容耦合信号电路的工作状态进行检测,所述交流电容耦合信号电路包括第一电容及第一电阻,所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置连接,所述第一电容的另一端连接第一电源,所述第一电阻的另一端接地;如图1所示,所述检测装置包括:发送模块100、接口模块101、及检测模块102;其中,
所述发送模块100,用于确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的工作状态时,将高电平状态指示信息发送给所述接口模块101;在所述接口模块的工作状态转化为高电平状态的预设时间段后,将读取状态指示信息发送给所述接口模块101;
所述接口模块101,用于接收到所述高电平状态指示信息时,根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;接收到所述读取状态指示信息时,根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为读取状态;
所述检测模块102,用于在所述接口模块101的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块101的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
具体的,所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置中的接口模块101连接。
以上功能模块的划分方式仅为本发明实施例给出的一种优选实现方式,功能模块的划分方式不构成对本发明的限制。为了描述的方便,以上所述装置的各部分以功能分为各种模块分别描述。
在实际应用中,上述功能模块可以集成到一个硬件设备中实现,例如,所述发送模块100、接口模块101、及检测模块102集成到一个单片机、数字信号处理器、或现场可编程门阵列中实现,所述接口模块101可由所述单片机、所述数字信号处理器、或所述现场可编程门阵列中的输入/输出(Input/Output,I/O)接口实现。
基于相同的技术构思,本发明实施例还提供了一种电子设备,所述电子设备包括:上述的检测装置。
基于相同的技术构思,本发明实施例提供了一种基于上述检测装置实现的检测方法,应用于对所述交流电容耦合信号电路的工作状态进行检测,如图2所示,所述方法包括:
步骤S200:所述发送模块100确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态时,将所述高电平状态指示信息发送给所述接口模块101。
本步骤中,所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态包括:开路状态、正常状态、错件或缺件状态、短路状态。
步骤S201:所述接口模块101根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态。
本步骤中,所述接口模块101可由所述单片机、所述数字信号处理器、或所述现场可编程门阵列中的I/O接口实现。
本步骤中,所述接口模块101自身的工作状态包括:高电平状态及读取状态;所述接口模块101根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态,即:I/O接口将自身的工作电压拉高为5V。
步骤S202:所述发送模块100在所述接口模块101的所述工作状态转化为所述高电平状态的所述预设时间段后,将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块101。
本步骤中,所述接口模块101在自身工作状态转化为所述高电平状态之后延时所述预设时间段,通常所述预设时间段为很短,可以达到us微秒级,之后所述发送模块100将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块101,所述读取状态指示信息用于指示所述接口模块101将自身的所述工作状态转化为所述读取状态。
步骤S203:所述接口模块101根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态。
本步骤中,所述接口模块101在自身工作状态转化为所述高电平状态之后延时所述预设时间段,之后所述接口模块101根据所述读取状态指示信息将自身工作状态切换为读取状态。
步骤S204:所述检测模块102在所述接口模块101的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块101的所述工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为所述延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
本步骤中,所述接口模块101根据所述读取状态指示信息将自身工作状态切换为读取状态,这个时候所述接口模块101的工作电压会慢慢降低,最后降低为零,所述检测模块102记录这个降低到零的时间以作为延时值。
具体地,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值,可以采用以下两种方式确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态:
方式一:首先将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值进行比较;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
方式二:首先将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的差值;
将所述差值与所述阈值进行比较;
若所述差值小于或等于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述差值大于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
其中,上述阀值为一预先设定的时长,其作用为:在所述延时值与理论时间不相同时,将该预先设定的时长同该延时值与理论时间之间的时间差进行比较。
需要说明的是:若所述交流电容耦合信号电路为开路状态,则利用电容的充放电特性,所述接口模块101的工作电压会瞬间降低为零,即:所述接口模块的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间几乎为零,因此,可以将所述第一延时值设置为零或微秒级的时间值,具体需要根据实际情况设置所述第一延时值,这里对所述第一延时值不作具体限定。若所述交流电容耦合信号电路为非开路状态,则继续判断所述交流电容耦合信号电路是否为错件或缺件状态,此时需要利用电容的充放电特性,根据所述第一电阻的阻值、所串联的所述第一电容的容值、及所述第一电源的电压值,并通过以下公式计算出正常情况下,所述接口模块101的工作电压自开始降低至最后电压为零的理论时间Ut:Ut=U0*e(-T/RC);其中,U0所述第一电源的电压值,R为所述第一电阻的阻值,C为所述第一电容的容值,RC又称为时间常数。将所述第二延时值设置为所述理论时间,以实现对所述交流电容耦合信号电路的错件或缺件状态的检测,若所述延时值与所述理论时间相同或差值在所述阈值范围之内,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态,若所述延时值与所述理论时间不相同或差值未在所述阈值范围之内,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;如此,利用电容的充放电特性,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的预定延时值能够检测出所述交流电容耦合信号电路中是否有缺件、错件及开路的情况。
进一步地,在所述交流电容耦合信号电路为非短路状态时,由于所述接口模块101通过所述第一电阻接地,因此,所述接口模块101转化为读取状态后的工作电压应该能够降低到零,若所述检测模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后,且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下,则可以确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述短路状态。
为了更清楚地对本发明实施例进行说明,下面在实际应用中结合具体实施例对所述交流电容耦合信号电路的检测流程进行详细描述。
本发明实施例中,所述交流电容耦合信号电路包括第一电容C及第一电阻R,所述第一电容C的一端与所述第一电阻的一端连接,所述第一电容C的另一端连接第一电源VDD高电位,所述第一电阻R的另一端接地GND低电位;所述第一电容C的一端及所述第一电阻R的一端接入单片机的I/O接口。
在不做任何动作的情况下,此时单片机的I/O接口的实际工作电压应该是低电位,读到的数据应该是低电位‘0’,通过所述单片机的I/O接口的实际工作电压是否为低电位‘0’来检测所述交流电容耦合信号电路是否处于短路状态;
将单片机的I/O接口的工作电压拉高为5V,延时预设时间段(很短us微秒级),之后将单片机的I/O接口切换为读取状态,这个时候单片机的I/O接口的工作电压会慢慢降低,最后降低为“0”,记录这个降低到“0”的时间;
若降低到“0”的时间为零,则判断所述交流电容耦合信号电路的工作状态为开路状态;否则,根据降低到“0”的时间及理论时间判断所述交流电容耦合信号电路的工作状态,若降低到“0”的时间与理论时间不相同,则判断所述交流电容耦合信号电路的工作状态为错件或缺件状态,若降低到“0”的时间与理论时间相同,则判断所述交流电容耦合信号电路的工作状态为正常状态,从而实现对所述交流电容耦合信号电路工作状态的快速检测。
综上所述,本发明实施例中所述发送模块100确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态时,将所述高电平状态指示信息发送给所述接口模块101;所述接口模块101根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;所述发送模块100在所述接口模块101的所述工作状态转化为所述高电平状态的所述预设时间段后,将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块101;所述接口模块101根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态;所述检测模块102在所述接口模块101的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块101的所述工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为所述延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态;如此,本发明实施例中利用电容的充放电特性,检测所述接口模块的工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为延时值,从而能够根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的预定延时值来检测所述交流电容耦合信号电路中是否有缺件、错件及开路的情况。所以,本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修饰或改变。因此,举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变,仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (9)

1.一种检测装置,其特征在于,包括一交流电容耦合信号电路,所述交流电容耦合信号电路包括一第一电容及一第一电阻,所述第一电容的一端与所述第一电阻的一端及所述检测装置连接,所述第一电容的另一端连接第一电源,所述第一电阻的另一端接地;所述检测装置包括:一发送模块、一接口模块、及一检测模块;其中,
所述发送模块,用于确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的一工作状态时,将一高电平状态指示信息发送给所述接口模块;在所述接口模块的所述工作状态转化为所述高电平状态的一预设时间段后,将一读取状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块,用于接收到所述高电平状态指示信息时,根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;接收到所述读取状态指示信息时,根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态;
所述检测模块,用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块的一工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为一延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述检测模块具体用于:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一开路状态;否则,将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的一第二延时值进行比较;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一正常状态;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一错件或缺件状态。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于:所述检测模块具体用于:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的一差值;
将所述差值与一阈值进行比较;
若所述差值小于或等于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述差值大于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于:所述检测模块,还用于在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后,且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下,确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为一短路状态。
5.一种基于权利要求1至4任一项所述检测装置实现的检测方法,其特征在于,所述方法包括:
所述发送模块确定需要检测所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态时,将所述高电平状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块根据所述高电平状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述高电平状态;
所述发送模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述高电平状态的所述预设时间段后,将所述读取状态指示信息发送给所述接口模块;
所述接口模块根据所述读取状态指示信息将自身的所述工作状态转化为所述读取状态;
所述检测模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态时,检测所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为零的时间以作为所述延时值,根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态,包括:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,将所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值进行比较;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值不相同,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所检测的所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述预定延时值确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态,包括:
将所述延时值及所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值进行比较;
若所述延时值小于或等于所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第一延时值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述开路状态;否则,计算所述延时值与所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态对应的所述第二延时值的差值;
将所述差值与所述阈值进行比较;
若所述差值小于或等于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述正常状态;
若所述差值大于所述阈值,则确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述错件或缺件状态;
其中,所述第一延时值小于所述第二延时值。
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
所述检测模块在所述接口模块的所述工作状态转化为所述读取状态后,且所述接口模块的所述工作电压自开始降低至最后电压为接近零的情况下,确定所述交流电容耦合信号电路的所述工作状态为所述短路状态。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:如权利要求1至4任一项所述的检测装置。
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